SU406171A1

SU406171A1 - DEVICE FOR MEASUREMENT OF DIELECTRICS IN THE STRIP

Info

Publication number: SU406171A1
Application number: SU1713660A
Authority: SU
Inventors: В. И. Захаров витель
Original assignee: Сибирский государственный научно исследовательский институт метрологии
Priority date: 1971-11-11
Filing date: 1971-11-11
Publication date: 1973-11-05

Description

1one

Изобретение относитс к радиоизмерительliioii технике СВЧ.The invention relates to a microwave microwave measurement technique.

Устройство может быть использова 1О при излюрении параметров диэлектриков, в частности , дл сравнени диэлектрических проницаемостей двух образцов диэлектриков в широкой полосе частот.The device can be used by 10O for elution of the parameters of dielectrics, in particular, for comparing the dielectric constant of two samples of dielectrics in a wide frequency band.

. В насто щее врем диэлектрические проницаемости образцов диэлектриков сравнивают только иа фиксированных частотах после раздельного измерени диэлектрической проницаемости каждого образца. При уменьшении разницы диэлектрических проницаемостей образцов требуетс более высока точность измерений , ие достигаема известными устройствами , не позвол ющими разделить отражени от исследуемой нерегул рности и от других, наход щихс в линии передачи.. At present, the dielectric constants of dielectric samples are compared only to fixed frequencies after a separate measurement of the dielectric permeability of each sample. When the difference in dielectric permeability of the samples is reduced, a higher accuracy of measurements is required, which is not achieved by known devices, which do not allow separation of reflections from the irregularity under study from others in the transmission line.

Известно устройство дл измерени параметров диэлектриков в полосе частот, содержаидес ЧМ-рефлектометр, работающее следуюииьм образом.A device is known for measuring the parameters of dielectrics in a frequency band, comprising an FM reflectometer operating in the following manner.

В исследуемую систему с распределенны.ми источниками отражени излучают сигнал посто нной амплитуды с модул цией частоты по линейному (пилообразному) закопу; отраженный от нерегул рностей сигнал смешиваетс с излученным, и сигнал разностной частоты (биений) подаетс в индикаторный канал. Вследствие линейности ЧМ частота биенийIn the studied system with distributed sources of reflection, a constant amplitude signal is emitted with frequency modulation along a linear (sawtooth) burial; the signal reflected from the irregularities is mixed with the emitted signal, and the signal of the difference frequency (beat) is fed into the indicator channel. Due to the linearity of the FM beat frequency

строго пропорциональна рассто нию от зонда сместител до исследуемой нерегул рности, т. е. спектр биений повтор ет распределение источииков отражени вдоль исследуемой системы . Это позвол ет с помощью НЧ перестраиваемого полосового фильтра выделить любой конкретный источиик отражени и по амплитуде биеннй определить значеиие этого отражени .strictly proportional to the distance from the displacement probe to the irregularity under study, i.e., the beat spectrum repeats the distribution of reflection sources along the system under study. This makes it possible to isolate any particular source of reflection with the help of a tunable low pass filter and to determine the value of this reflection from the amplitudes of the biennials.

С целью измерени разница диэлектрических проницаемостей двух образцов диэлектриков , в предлагаемом устройстве к выходу ЧМрефлектометра подключают отрезок линии передачи с, эталонным образцом диэлектрика, аIn order to measure the difference in dielectric constant of two samples of dielectrics, in the proposed device, a segment of the transmission line is connected to the output of an FMC reflectometer with a reference dielectric sample, and

измер емый образец помещают за опорным образцом диэлектрика вплотиую к нему; Ч.Мрефлектометр настраивают на измерение коэффициента отраженн нергул рности, образованной границей раздела оиорного и измер емого образцов диэлектриков.The sample to be measured is placed adjacent to the dielectric reference sample; The MF meter is tuned to measure the coefficient of reflected irregularity formed by the interface between the oior and the measured dielectric samples.

Па чертеже представлена блок-схема устройства .Pa drawing presents a block diagram of the device.

СВЧ сигнал, распростран ющийс в отрезке линии передачи, отражаетс от передней граниThe microwave signal propagating in the section of the transmission line is reflected from the front edge

эталонного образца, от общей грани эталонного и измер емого образцов, от задпей грани измер емого образца. Сигнал, отраженный от общей грани образцов, возвраща сь на выход ЧМ рефлектора, частично отражаетс при прохождении передней грани эталонного образца.reference sample, from the common face of the reference and measured samples, from the rear face of the measured sample. The signal reflected from the common face of the samples, returning to the output of the FM reflector, is partially reflected when the front face of the reference sample passes.