SU907466A1 - Device for measuring characteristics of pass-through microwave elements in a waveband - Google Patents

Device for measuring characteristics of pass-through microwave elements in a waveband Download PDF

Info

Publication number
SU907466A1
SU907466A1 SU792766536A SU2766536A SU907466A1 SU 907466 A1 SU907466 A1 SU 907466A1 SU 792766536 A SU792766536 A SU 792766536A SU 2766536 A SU2766536 A SU 2766536A SU 907466 A1 SU907466 A1 SU 907466A1
Authority
SU
USSR - Soviet Union
Prior art keywords
frequency
pass
microwave
modulated
reference load
Prior art date
Application number
SU792766536A
Other languages
Russian (ru)
Inventor
Михаил Максимович Власов
Николай Константинович Чернухин
Original Assignee
Предприятие П/Я В-2489
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Предприятие П/Я В-2489 filed Critical Предприятие П/Я В-2489
Priority to SU792766536A priority Critical patent/SU907466A1/en
Application granted granted Critical
Publication of SU907466A1 publication Critical patent/SU907466A1/en

Links

Landscapes

  • Measurement Of Resistance Or Impedance (AREA)

Description

(54) УСТРОЙСТВО ДЛЯ ИЗМЕРЕНИЯ ХАРАКТЕРИСТИК ПРОХОДНЫХ СВЕРХВЫСОКОЧАСТОТНЫХ ЭЛЕМЕНТОВ В ПОЛОСЕ ЧАСТОТ(54) DEVICE FOR MEASURING THE CHARACTERISTICS OF ULTRA-HIGH-FREQUENCY PASSAGING ELEMENTS IN THE FREQUENCY STRIP

Изобретение относитс  к радиоизмерительной технике.This invention relates to a radio measuring technique.

Известно устройство дл  измерени  характеристик проходных сверхвысокочастотных элементов в полосе частот, содержащее частотно-модулированный рефлектометр с клеммами дл  подключени  входа исследуемого проходного сверхвысокочастотного элемента и эталонную нагрузк/ 1.A device for measuring the characteristics of pass-through microwave elements in a frequency band is known, which contains a frequency-modulated reflectometer with terminals for connecting the input of the pass-through microwave element being studied and a reference load / 1.

Однако известное устройство не обеспечивает высокую точность измерений .However, the known device does not provide high accuracy measurements.

Цель изобретени  - повышение точности измерений.The purpose of the invention is to improve the measurement accuracy.

Поставленна  цель достигаетс  тем, что в устройство дл  измерени  характеристик проходных сверхвысокочастотных элементов в полосе частот, содержащее частотно-модулированный рефлектометр с клеммами дл  подключени  входа исследуемого проходного сверхвысокочастотного элемента, и эталонную нагрузку, введен отрезок регул рного сверхвысокочастотного тракта, выход которого подсоединен к эталонной нагрузке, а его вход служит дл  подключени  выхода исследуемого проходного сверхвысокочастотного элемента.The goal is achieved by the fact that a device for measuring the characteristics of pass-through microwave elements in the frequency band, containing a frequency-modulated reflectometer with terminals for connecting the input of the studied pass-through microwave element, and a reference load, is inserted into the section of the regular microwave path, the output of which is connected to the reference load and its input serves to connect the output of the microwave pass-through element under study.

На чертеже приведена структурна  схема устройства.The drawing shows a block diagram of the device.

Устройство дл  измерени  характеристик проходных сверхвысокочастотных элементов в полосе частот содержит частотно-модулированный рефлектометр 1 с клеммами дл  подключени  входа исследуемого проходного сверхвысокочастотного элемента 2, эталон10 ную нагрузку 3 и отрезок 4 регул рного сверхвысокочастотного тракта, выход которого подсоединен к эталонной нагрузке 3, а его вход служит дл  подключени  выхода исследуемого A device for measuring the characteristics of pass-through microwave elements in the frequency band contains a frequency-modulated reflectometer 1 with terminals for connecting the input of the pass-through microwave element 2 under investigation, a reference load 3 and a cut 4 of a regular microwave path, the output of which is connected to a reference load 3, and its input serves to connect the output of the test

15 проходного.сверхвысокочастотного элемента 2.15 pass-through ultrahigh-frequency element 2.

Устройство работает следующим образом .The device works as follows.

Зондирующий линейно-частотно-мо20 дулированный (ЛЧМ) сверхвысокочастотный (СЕЧ) сигнал частотно-модулированного рефлектора 1 распростран етс  через исследуемый проходной сверхвысокочастотный элемент,отрезок 4 регул рного сверхвысокочастотного трак та и отразившись от эталонной нагрузки з, распрастран етс  обратно.The probing linear-frequency-modulated (LFM) microwave signal (SECH) signal of the frequency-modulated reflector 1 propagates through the microwave transmission element under study, section 4 of the regular microwave track, reflected from the reference load H, spreads back.

Claims (2)

В частотно-модулированном рефлекторе 1 происходит смешение отраженного СЕЧ сигнала с опорным ЛЧМ сигНсшом квадратурным смесителем. Амплитуды квадратурных низкочастотных сигнашов (биений), полученные на выходе смесител , определ ютс  коэффициентом отражени  эталонной нагрузки 3, и промодулированы частотной характеристикой исследуемого проходного сверхвысокочастотного элемента 2 и отражени ми от неоднородностей отрезка 4. Причем частота модул ции за счет отражений тем выше, чем даль ше по рассто нию разнесены плосйость отражени  эталонной нагрузки 3 и местоположение нерегул рностей отреЗ ка 4. Частота модуд ции за счет частотной характеристики иссле .уемого проходного сверхвысокочастотного эле мента 2 определ етс  только параметрами ЛЧМ сигнала и не зависит от длины отрезка 4. Поскольку частотные составл ющие спектров квадратурных сигналов, определенные отражени ми от неоднородностей, представл ют собой ошибку измерени  и отфильтровываютс  фильтрами частотно-модулированного рефлектометра 1, а частотные составл ющие спектров, определ ющие частотную характеристику исследуемого проходного с верхвысокочастотного элемента 2 должны пройти в полосу пропускани  фильтров, длина отрезка 4 выбираетс  не менее электрической длины исследуемого проходного сверхвысокочастотного элемента In the frequency-modulated reflector 1, the reflected SEC signal is mixed with the reference chirp of the signal quadrature mixer. The amplitudes of the quadrature low-frequency signal sinks (beats) obtained at the mixer output are determined by the reflection coefficient of the reference load 3 and modulated by the frequency characteristic of the microwave transmission element 2 under investigation and by reflections from the inhomogeneities of the segment 4. Moreover, the modulation frequency due to reflections is higher than distance The distance between the reference load 3 and the location of cutoff irregularities are separated apart by distance. The modulation frequency is due to the frequency response of the test The microwave element 2 is determined only by the parameters of the LFM signal and does not depend on the length of section 4. Since the frequency components of the spectra of the quadrature signals, determined by reflections from inhomogeneities, are the measurement error and filtered by the filters of the frequency modulated reflectometer 1, and the frequency components spectra, which determine the frequency response of the pass through element from the upper frequency element 2, must pass into the passband of the filters; irats not less than the electrical length of the pass through microwave element under study 2. Устройство по сравнению с известным обеспечивает более высокую точность измерений. Формула изобретени  Устройство дл  измерени  характеристик проходных сверхвысокочастотных элементов в полосе частот, содержащее частотно-модулированный рефлектометр с клеммами дл  подключени  входа исследуемого проходного сверхвысокочастотного элемента, и эталонную нагрузку, отличающеес  тем, что, с целью повышени  точности измерений, введен отрезок регул рного сверхвысокочастотного тракта, выход которого подсоединен к эталонной нагрузке, а его вход служит дл  подключени  выхода исследуемого проходного сверхвысокочастотного элемента. Источники информации, прин тые во внимание при экспертизе 1.Авторское свидетельстпо СССР № 406172, кл. G 01 R 27/28, 1971 (прототип)2. The device in comparison with the known provides a higher accuracy of measurements. An apparatus for measuring the characteristics of pass-through microwave elements in a frequency band, containing a frequency-modulated reflectometer with terminals for connecting the input of the studied pass-through microwave element, and a reference load, characterized in that, in order to improve the accuracy of measurements, a section of the regular microwave frequency path was inserted, the output of which is connected to the reference load, and its input serves to connect the output of the investigated pass-through microwave an item. Sources of information taken into account in the examination 1. The author's testimony of the USSR № 406172, cl. G 01 R 27/28, 1971 (prototype)
SU792766536A 1979-05-17 1979-05-17 Device for measuring characteristics of pass-through microwave elements in a waveband SU907466A1 (en)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
SU792766536A SU907466A1 (en) 1979-05-17 1979-05-17 Device for measuring characteristics of pass-through microwave elements in a waveband

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
SU792766536A SU907466A1 (en) 1979-05-17 1979-05-17 Device for measuring characteristics of pass-through microwave elements in a waveband

Publications (1)

Publication Number Publication Date
SU907466A1 true SU907466A1 (en) 1982-02-23

Family

ID=20827863

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
SU792766536A SU907466A1 (en) 1979-05-17 1979-05-17 Device for measuring characteristics of pass-through microwave elements in a waveband

Country Status (1)

Country Link
SU (1) SU907466A1 (en)

Similar Documents

Publication Publication Date Title
US4004230A (en) Critical parameter receiver tester
SU907466A1 (en) Device for measuring characteristics of pass-through microwave elements in a waveband
EP0391564A2 (en) Noise parameter determination method
SU406171A1 (en) DEVICE FOR MEASUREMENT OF DIELECTRICS IN THE STRIP
US2927272A (en) Wave analyzer
SU406172A1 (en) In P T B
de Jong Measuring the propagation time of coaxial cables used with GPS receivers
SU1215064A1 (en) Apparatus for measuring signal-to-noise ratio
SU1742748A1 (en) Method of measurement of spatial decoupling between transmitting and receiving antennas of an aircraft
SU1167542A1 (en) Device for automatic measuring and recording of phase characteristics of radiating apertures
RU1840971C (en) Wide band spectrum analyser
SU1083136A1 (en) Uhf transistor parameter measuring method
FR2451584A1 (en) Noise measurement on spectrally pure oscillator output - utilises narrow band filter tuned to difference between two oscillators
SU677109A1 (en) Panoramic receiving device
SU1663576A1 (en) Method of determination of reflection ratio of material
SU104573A1 (en) The method of calibration attenuators (attenuators) at microwave frequencies (UHF)
SU718801A1 (en) Method of measuring amplitude-phase error of phase meters
SU928256A1 (en) Device for measuring noise factor
SU970257A1 (en) Signal phase fluctuation measuring method
SU1107077A1 (en) Device for measuring aerial scattering coefficient
SU983565A2 (en) Device for measuring frequency ratio
SU809661A1 (en) Differential phase measuring device vision communication channel
SU1739758A1 (en) ANGULAR COORDINATES METER
SU466468A1 (en) Device for measuring the complex reflection coefficient
SU924622A1 (en) Device for measuring communication line phase-frequency characteristics non-linearity