SU519651A1 - Device for measuring dielectric constant materials - Google Patents
Device for measuring dielectric constant materialsInfo
- Publication number
- SU519651A1 SU519651A1 SU2062775A SU2062775A SU519651A1 SU 519651 A1 SU519651 A1 SU 519651A1 SU 2062775 A SU2062775 A SU 2062775A SU 2062775 A SU2062775 A SU 2062775A SU 519651 A1 SU519651 A1 SU 519651A1
- Authority
- SU
- USSR - Soviet Union
- Prior art keywords
- dielectric constant
- measuring
- constant materials
- measuring dielectric
- resonator
- Prior art date
Links
Description
(54) УСТРОЙСТВО ДЛЯ ИЗМЕРЕНИЯ ДИЭЛЕКТРИЧЕСКОЙ ПОСТОЯННОЙ МАТЕРИАЛОВ(54) DEVICE FOR MEASUREMENT OF DIELECTRIC CONSTANT MATERIALS
1one
Изобретение относитс к измерительной технике и может использоватьс при исследовании материалов на СВЧ при воздействии на них климатических факторов.The invention relates to a measuring technique and can be used in the study of materials on the microwave when exposed to climatic factors.
Из известных устройств дл измерени диэлектрической посто нной материалов наиболее близкими по технической сущности вл ютс устройства, состо щие из генератора, измерительного канала с резонатором и схемы индикации 1.Of the known devices for measuring dielectric constant materials, the closest to the technical essence are devices consisting of a generator, a measuring channel with a resonator, and a display circuit 1.
Известно устройство дл измерени диэлектрической посто нной материалов, содержащее генератор, измерительный и опорный канал, схему индикации 2.A device for measuring dielectric constant materials is known, comprising a generator, a measuring and reference channel, a display circuit 2.
В известном устройстве измерени основаны на сравнении резонансных частот в опорном и измерительном канале, при этом из-за сложности поддержани одинаковых условий в обоих каналах точность измерений снижаетс .In the known device, the measurements are based on a comparison of the resonant frequencies in the reference and measurement channels, while due to the difficulty of maintaining the same conditions in both channels, the measurement accuracy decreases.
Целью изобретени вл етс повышение точности измерений.The aim of the invention is to improve the measurement accuracy.
Дл этого введен пр моугольный резонатор с элементами св зи в противоположных параллельных стенках, одними из которых он включен в измерительный канал, & другими - в опорный канал, причем измер емый образец расположен в максимуме электрической .волны типа ТЕ 102 и минимуме электрической волны типа ТЕ 201.For this purpose, a rectangular resonator with coupling elements in opposite parallel walls is introduced, some of which are included in the measuring channel, & by others, to the reference channel, with the measured sample being located at the maximum of the electric wave of type TE 102 and the minimum of electric wave of type TE 201.
Такое устройство позвол ет свести к нулю ощибки, св занные с неодинаковостью условий измерительного и опорного каналов.Such a device allows the faults associated with the different conditions of the measuring and reference channels to be reduced to zero.
На чертеже приведена структурна электрическа схема устройства.The drawing shows a structural electrical circuit of the device.
Устройство дл измерени диэлектрической посто нной материалов содержит генератор 1, например клистронныи свип-генератор, св занный через волноводный разветвитель 2 с двум волноводными каналами: измерительным с волноводным вводом 3 и опорным с волнозодным вводом 4, резонатор 5 с элементами св зи 6 в противоположных параллельных стенках, одними из которых он включен в измерительный канал, & другими - в опорный канал, схему индикации 7, соединенную с волноводнымн выводами 8, 9 измерительного и опорного каналов соответственно, причем измер емый образец 10 расположен в максимуме электрической волны типа ТЕ 102 и минимуме электрической волны типа ТЕ 201. Устройство работает следующим образом. Частотно-модулированный сигнал с генератора 1 через волноводный разветвнтель 2 подаетс по двум одинаковым волноводным каналам в резонатор 5. Со стороны ввода 3 в резонаторе 5 возбуждают колебани типа ТЕ 102, электрическое поле которого взаимодействует с образцом 10, за счет чего частотаA device for measuring dielectric constant materials contains a generator 1, for example, a klystron sweep generator connected via waveguide splitter 2 with two waveguide channels: measuring with waveguide input 3 and reference with waveguide input 4, resonator 5 with communication elements 6 in opposite parallel the walls, one of which is included in the measuring channel, & others - to the reference channel, display circuit 7, connected to the waveguide terminals 8, 9 of the measuring and reference channels, respectively, with the measured sample 10 located at the maximum of the TE 102 electric wave and the minimum of the TE 201 electric wave. The device works as follows. The frequency-modulated signal from generator 1 through waveguide splitter 2 is fed through two identical waveguide channels to resonator 5. On input side 3 in resonator 5, oscillations of type TE 102 are excited, whose electric field interacts with sample 10, due to which the frequency
резонатора нзмен етс (уменьшаетс ). Со стоthe resonator is replaced (reduced). With a hundred
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
SU2062775A SU519651A1 (en) | 1974-09-30 | 1974-09-30 | Device for measuring dielectric constant materials |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
SU2062775A SU519651A1 (en) | 1974-09-30 | 1974-09-30 | Device for measuring dielectric constant materials |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
SU519651A1 true SU519651A1 (en) | 1976-06-30 |
Family
ID=20596895
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
SU2062775A SU519651A1 (en) | 1974-09-30 | 1974-09-30 | Device for measuring dielectric constant materials |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
SU (1) | SU519651A1 (en) |
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US4581574A (en) * | 1984-02-21 | 1986-04-08 | The Boeing Company | Method of testing dielectric materials |
-
1974
- 1974-09-30 SU SU2062775A patent/SU519651A1/en active
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US4581574A (en) * | 1984-02-21 | 1986-04-08 | The Boeing Company | Method of testing dielectric materials |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
US2498548A (en) | Comparator circuit | |
Gordy | Microwave spectroscopy | |
US2630472A (en) | Method and apparatus for inspecting cavities | |
Sproull et al. | Resonant-cavity measurements | |
SU519651A1 (en) | Device for measuring dielectric constant materials | |
Unterberger et al. | A microwave secondary frequency standard | |
US3319165A (en) | Apparatus for measuring the phase delay of a signal channel | |
Gaffney | Microwave measurements and test equipments | |
US2778993A (en) | Impedance bridge | |
SU425096A1 (en) | DEVICE FOR MEASUREMENT OF DIELECTRIC PERMITTIVITY OF SUBSTANCES | |
SU564609A2 (en) | Device for measuring materials dielectric constant | |
Husten et al. | Microwave frequency measurements and standards | |
US2518926A (en) | Radio-frequency power measuring circuit | |
SU968717A1 (en) | Measuring rectangular resonator for electronic paramagnetic resonance | |
SU1337825A1 (en) | Device for measuring parameters of materials | |
SU494707A1 (en) | Method for measuring nonlinearity coefficient of semiconductor conductivity | |
SU761910A1 (en) | Microstrip-type measuring line | |
SU786021A1 (en) | Cable length measuring device | |
SU1041959A1 (en) | Device for measuring non-uniformity of readjustable generator amplitude frequency characteristics | |
SU533893A1 (en) | Method for measuring the frequency of the flight of electrons in the Gunn diode | |
SU1084696A1 (en) | Phase shift meter of non-reciprocal uhf device | |
RABINOVICH | An instrument for calibrating and tuning waveguide reflectometers | |
SU1002926A1 (en) | Uhf pickup for measuring one component percentage in mixture | |
SU124014A1 (en) | Method for measuring complex reflection coefficient on microwave using phase modulation | |
SU1283665A1 (en) | Device for measuring parameters of dielectric materials |