SU382041A1 - Интерференционный фильтр - Google Patents

Description

1

Известны интерференционные фильтры, содержащие Подложку с нанесенным на ней интерферепциопным покрытием.

В предлагаемом интерференционном фильтре подложка выполнена в виде клина, покрытого со стороны, противоположной интерференционному покрытию, отражающим слоем из материала с пропусканием в полуинтервале , где Ki - верхн   граница побочной полосы пропускани  интерференционного покрыти .

Такое выполнение фильтра увеличивает крутизну епектральиой характеристики и уменьшает паразитное излучение.

На фиг. 1 а, б приведены спектральные кривые пропускани  многослойного интерференционного покрыти  и подложки соответственно; на фиг. 1 в, г-характеристики спектрального отражени  отражательного покрыти  и всего фильтра соответственно; на фиг. 2 - вариаит выполнени  оиисываемого фильтра и ход лучей в нем.

Устройство состоит из клиновидной подложки /, изготовленной из селективно поглощающего материала, миогослойиого интерференцноиного покрыти  2 и отражающего покрыти  3.

Рабочий луч, т. е. попадающий в прибор, проходит через иитерференционное покрыгие 2, подложку / и, отразивщись от покрыти  3, снова проходит через подложку и покрытие 2.

Этот луч обоз1 ачен непрерывной линией на фиг. 2.

Положение границы нропускани  Лгр интерференционного покрыти  2 (фиг. 1,а) совпадает с границей рабочей области светоф11льтра . Паразитный «всплеск пропускани  интерференционного покрыти  2 в ннтервале длин волн от О до А  вл етс  свойством отрезаюни1х пнтерференциоиных фильтров. Поэтому коротковолнова  граница иронусканн  материала иодложки должна быть равна л илн находитьс  в ннтервале длии волн от /л до Лгр (фиг. 1,а). При падении излученн  па покрытие 2 радиаци  с длиной волны в интервале от Я до Лгр полностью отразитс . Излучение с длино волны в интервале от О до Ль нрошедшее нокрытие 2, будет полностью ноглощено нодложкой. Таким образом, в спектре излучени , отражениого покрытием 3, будет радиаци  с длиной волны, большей Лгр.

Так как подложка имеет форму клина, то рабочий луч, выходит под углом по отнощению к лучу, отразнвшемус  от покрыти  2

(обозначен иунктнром на фиг. 2). Угол клина а выбирают таким,.чтобы луч, отразнвшнйс  от покрыти  2, не попадал в прибор.

Измен   ноложепне границы нропусканл  многослойного интерференцнонного нокрыти 

Лгр, можно получать отражатели с различнымн положенн ми коротковолновой граннцы

рабочей области. При этом спектральна  характеристика селективного отражател  имеет большую крутизну, так как рабочий луч дважды проходит через интерференционное покрытие 2.

Предмет изобретени 

Интер-ференционный фильтр, содержащий подложку с нанесенным на ней интерференционным покрытием, отличающийс  тем, ч го, с целью увеличени  крутизны спектральной характеристики и уменьшени  паразитного излучени , подложка выполнена в виде клина , покрытого со стороны, противоположной интерференционному покрытию, отражаюш,им слоем из материала с пропусканием в полуинтервале , где AI - верхн   граница побочной полосы пропускани  интерференционного покрыти .

7J

ff 25 О S 100

50 О

/,%

г

75-5025

иг. 2