SU1099303A1 - Интерференционный фильтр - Google Patents

Интерференционный фильтр Download PDF

Info

Publication number
SU1099303A1
SU1099303A1 SU792795075A SU2795075A SU1099303A1 SU 1099303 A1 SU1099303 A1 SU 1099303A1 SU 792795075 A SU792795075 A SU 792795075A SU 2795075 A SU2795075 A SU 2795075A SU 1099303 A1 SU1099303 A1 SU 1099303A1
Authority
SU
USSR - Soviet Union
Prior art keywords
wavelength
wedges
filter
refractive index
wedge
Prior art date
Application number
SU792795075A
Other languages
English (en)
Inventor
Юрий Георгиевич Козлов
Лев Евгеньевич Соловьев
Original Assignee
Ленинградский Ордена Ленина И Ордена Трудового Красного Знамени Государственный Университет Им.А.А.Жданова
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Ленинградский Ордена Ленина И Ордена Трудового Красного Знамени Государственный Университет Им.А.А.Жданова filed Critical Ленинградский Ордена Ленина И Ордена Трудового Красного Знамени Государственный Университет Им.А.А.Жданова
Priority to SU792795075A priority Critical patent/SU1099303A1/ru
Application granted granted Critical
Publication of SU1099303A1 publication Critical patent/SU1099303A1/ru

Links

Landscapes

  • Spectrometry And Color Measurement (AREA)
  • Optical Filters (AREA)

Abstract

ИНТЕРФЕРЕНЦИОННЫЙ ФИЛЬТР, содержащий два оптически однородных клина, материалы каждого из которых имеют различную зависимость показател  преломлени  от длины волны и показатели преломлени  которых дл  заданной длины волны одинаковы, о т л и ч а ющ и и с   тем,что,с целью упрощени  конструкции,внутренние грани клиньев соприкасаютс , а на наружных противоположных гран х нанесены частично пропускащие зеркальные покрыти .

Description

Од
о
00Изобретение относитс  к технике спектроскопии и может-быть использо вано дл  определени  частотного сос ва электромагнитн.ого излучени  при качественном и количественном спект ральном анализе. Известны многолучевые интерферометры , использующиес  как спектроме ры высокой разрешающей способности, например эталон Фабри-Перо lj . Частично отражающие зеркала, уста новленные на пути проход щего через эталон светового пучка, заставл ют свет многократно отражатьс  внутри эталона. При каждом проходе лишь часть излучени  выходит из резонатор образу  бесконечное множество интерферирующих на выходе фронтов. Таким образом увеличиваетс  эффективна  разность хода, котора  пр мо пропоргдиональна разрешающей способности. При наличии сложного спектрального состава анализируемого излучени  раз личные пор дки интерференции перекладываютс  друг с другом, поэтому практически в.сегда осуществл ют допо нительную селекцию частот излучени  скрещива  эталон Фабри- Перо со спектрографом. Известно устройство, содержащее два оптически однородных клина, мате риалы каж.цого из которых имеют§ различную зависимость показател  прелом лени  от длины волны и показатели пр ломлени  которых дл  заданной длины волны одинаковы. Клинь  установлены таким образом что свет от анализируемого источника проходит через прозрачные внешнюю и внутреннюю грани первого клина, зате попадает на полупрозрачную пластину котора  образует две волны - отраженную и пропущенную. Перва  из них вторично проходит внутреннюю грань первого клина и после отражени  от покрыти  внешней грани возвращаетс  на светоделитель. Пропущенна  полупр зрачной пластинкой волна проходит в пр мом и обратном направлении второй клин, отразившись от покрыти  внешней грани второго клина. Обе вол ны сход тс  на светоделителе, и пройд  прозрачные грани клина, интер ферируют в направлении наблюдени . Поскольку клинь  на длине волны имеют одинаковые показатели преломлени , то интерферирующие фронты после прохождени  системы под любьм углом будут параллельны друг другу. Как известно из теории снсама, при идеальной настройке световой поток будет промодулирован полностью при изменении разности хода только на той длине волны, дл  которой интерферирукщие фронты строго параллельны z. Недостатком этого устройства  вл етс  необходимость введени  полупрозрачного зеркала лежду гран м клиньев. Целью изобретени   вл етс  упрощение устройства. Поставленна  иель достигаетс  тем, что в устройствеJсодержащем дваоптически однородных клина, материалы каждого из которых имеют различную зависимость показател  преломлени  от длины волны и показатели преломлени  которых дл  заданной длины волны одинаковы, внутренние грани клиньев соприкасаютс , а на наружных противоположных гран х нанесены частично пропускающие зеркальные покрыти . На чертеже представлена оптическа  схема- интерференционного фильтра. Позици ми 1 и 2 обозначены клинь , имеющие одинаковый показатель преломлени  вблизи исследуемой длины волны, но разные дисперсии показател  преломлени , и углы при вер- шинах А и А2 . Частично пропускающие зеркальные покрыти  показаны прерывистой линией и обозначены М и МоПри одинаковых углах при вершинах () на длине волны flg , где показатели преломлени  строго одинаковы , совокупность клиньев образует плоско-параллельную пластинку, и устройство работает как обычный эталон Фабри- Перо. Близлежаща  длина волны , испытывает преломление на границе клиньев, поэтому выход щие волновые фронты будут при каждом следующем прохождении наклон тьс  все больше относительно оси интерферометра (на чертеже пунктирна  лини ). Дл  этих длин волн система аналогична эталону, не настроенному на параллельность зеркал. Дл  того, чтобы отфильтровать соседнюю с Q длину волны , достатрчио изготовить один из клиньев с таким углом А , чтобы частично пропускающа  поверхность стала перпендикул рна преломленному лучу. Разность углов клиньев можно определить по формуле ,
гле Л п разность показателей преломлени  на длине волны .
Таким образом, настройку фильтра на ту или иную длину волны можно осу ществить в достаточно большом диапазо-i 5 не длин волн при любых материалах клиньев , имеющих различную дисперсию.
Система не требует введени  интерференционной модул ции дп  отделени  переменной составл ющей от посто нной 10 засветки, так как углова  селекци  приводит к тому, что свет всех длин волн, кроме длины волны настройки.
не проходит сквозь расстроенный pesoнатор .
Требование пересечени  дисперсионных кривых показател  преломлени  много м гче требовани  пересечени  кривых двyпpeлo meни . В св зи с этим, во-первых, расшир етс  круг материалов, из которых фильтр может быть изготовлен. Во-вторых, практически на любом участке спектра можно подобрать соответствующие материал В св зи с этим производство фильтров может быть удешевлено в дес тки раз.

Claims (1)

  1. ИНТЕРФЕРЕНЦИОННЫЙ ФИЛЬТР, содержащий два оптически однородных клина, материалы каждого из которых имеют различную зависимость показателя преломления от длины волны и показатели преломления которых для заданной длины волны одинаковы, о т л и ч a root и й с я тем,что,с целью упрощения конструкции,внутренние грани клиньев соприкасаются, а на наружных противоположных гранях нанесены частично пропускающие зеркальные покрытия.
    .1099'303
SU792795075A 1979-07-05 1979-07-05 Интерференционный фильтр SU1099303A1 (ru)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
SU792795075A SU1099303A1 (ru) 1979-07-05 1979-07-05 Интерференционный фильтр

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
SU792795075A SU1099303A1 (ru) 1979-07-05 1979-07-05 Интерференционный фильтр

Publications (1)

Publication Number Publication Date
SU1099303A1 true SU1099303A1 (ru) 1984-06-23

Family

ID=20840120

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
SU792795075A SU1099303A1 (ru) 1979-07-05 1979-07-05 Интерференционный фильтр

Country Status (1)

Country Link
SU (1) SU1099303A1 (ru)

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US5510928A (en) * 1989-11-07 1996-04-23 Rockwell International Corporation Multiple pass optical filter
CN107402415A (zh) * 2016-05-20 2017-11-28 福州高意光学有限公司 一种复合光学楔角片及其制作方法

Non-Patent Citations (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Title
1. Зайдель А.Н., Островска Г.В. Островский Ю.И. Техника и практика спектроскопии. М., Наука, 1976. . 2, Авторское свидетельство СССР № 2777541, кл. G 02 В 5/28, 1979 (прототип). *

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US5510928A (en) * 1989-11-07 1996-04-23 Rockwell International Corporation Multiple pass optical filter
CN107402415A (zh) * 2016-05-20 2017-11-28 福州高意光学有限公司 一种复合光学楔角片及其制作方法

Similar Documents

Publication Publication Date Title
US6519269B1 (en) Wavelength tuneable laser source
US7952807B2 (en) Tunable Michelson and Mach-Zehnder interferometers modified with Gires-Tournois interferometers
KR100356108B1 (ko) 이중 통과 에탈론 분광계
US4259009A (en) Far field target designators
US3917406A (en) Optical beam splitter
US4565426A (en) Beam splitter
US20050122529A1 (en) Measurement system of three-dimensional shape of transparent thin film using acousto-optic tunable filter
SU1099303A1 (ru) Интерференционный фильтр
SU495945A1 (ru) Спектрометр с интерференционной селективной амплитудной модул цией
US6819429B2 (en) Multi-pass optical spectrum analyzer having a polarization-dependent tunable filter
EP0163613B1 (en) Optical interferometer with dispersion deviator
US10240981B2 (en) Optical spectrometer configuration including spatially variable filter (SVF)
JP4794720B2 (ja) 付与された自発的放出物を一体にフィルタリングするレーザ源
SU1097961A1 (ru) Интерференционный фильтр
Houston Jr The potential for acousto-optics in instrumentation: an overview for the 1980s
SU1682950A1 (ru) Отражающий интерференционный светофильтр
SU1154527A1 (ru) Многолучевой интерферометр
RU2697892C1 (ru) Двухлучевой интерферометр
RU2209389C1 (ru) Двухлучевой интерферометр
SU939933A1 (ru) Многолучевой интерферометр с боковым входом лучей
SU1268948A1 (ru) Устройство дл контрол угловых параметров плоскопараллельных пластин
SU1659949A1 (ru) Пол ризационный фазосдвигающий светоделитель
SU864942A1 (ru) Дисперсионный интерферометр
SU1239558A1 (ru) Абсорбционный спектрометр
SU754221A1 (ru) Интерференционный фильтр с селективной амплитудной модуляцией1