SU370454A1 - CONTACT INTERFEROMETER FOR MEASUREMENT OF LINEAR MOVEMENT OF OBJECT - Google Patents
CONTACT INTERFEROMETER FOR MEASUREMENT OF LINEAR MOVEMENT OF OBJECTInfo
- Publication number
- SU370454A1 SU370454A1 SU1641533A SU1641533A SU370454A1 SU 370454 A1 SU370454 A1 SU 370454A1 SU 1641533 A SU1641533 A SU 1641533A SU 1641533 A SU1641533 A SU 1641533A SU 370454 A1 SU370454 A1 SU 370454A1
- Authority
- SU
- USSR - Soviet Union
- Prior art keywords
- interferometer
- measurement
- linear movement
- measuring
- interference
- Prior art date
Links
Landscapes
- Instruments For Measurement Of Length By Optical Means (AREA)
Description
1one
Изобретение относитс к области контрольно-измерительной техники, в частности к области измерени линейных размеров в машиностроении .The invention relates to the field of instrumentation technology, in particular to the field of measuring linear dimensions in mechanical engineering.
Известен контактный интерферометр дл измерени линейного перемещени объекта, содержащий источник света с конденсором, блок, раздел ющий световой пучок -на два пучка, неподвижное зеркало, установленное на пути одного пучка, подвижное зеркало, св занное с измерительным наконечником и установленное на пути другого пучка, окул р, фотоэлектрический преобразователь и счетчик интерференционных полос. Счет интерференционных полос может быть осуществлен визуально или фотоэлектрическими устройствами с электронными счетчиками.A contact interferometer for measuring the linear displacement of an object is known, which contains a light source with a condenser, a unit that separates a light beam — two beams, a fixed mirror mounted in the path of one beam, a movable mirror connected to the measuring tip and mounted in the path of the other beam, an eyepiece, a photoelectric converter and an interference meter counter. The counting of interference fringes can be carried out visually or by photoelectric devices with electronic counters.
Однако известный интерферометр имеет погрещ ость измерени не менее единицы счета , т. е. не менее одной интерференционной полосы .However, the known interferometer has an measurement accuracy of at least one counting unit, i.e., at least one interference fringe.
С целью -повышени точности измерени предлагаемый интерферометр снабжен дополнительным неподвижным зеркалом, установленным относительно подвижного зеркала так, что в поле зрени интерферометра наблюдаетс интерференционна картина в виде систем имтерференционных полос, и монохроматором, расположенным между источником света и светоделительным блоком и обеспечивающимIn order to increase the measurement accuracy, the proposed interferometer is equipped with an additional fixed mirror mounted relative to the movable mirror so that in the field of the interferometer an interference pattern is observed in the form of systems of interference bands, and a monochromator located between the light source and the beam-splitting unit and providing
образование интерференционной картины в различных длинах волн.the formation of an interference pattern in different wavelengths.
Такое выполнение позвол ет измер ть перемещение ло счету интерференционных полос с помощью счетчика, исключа при этом ошибки счета полос по взаимному положению в различных длинах волн, и тем самым повыша точность измерени контактного интерферометра .This embodiment allows measuring the shift of the counting of interference fringes with the help of a counter, while eliminating errors in the counting of the fringes by relative position at different wavelengths, and thereby increasing the accuracy of measuring the contact interferometer.
Предлагаемый интерферометр может осуществл ть одновременно измерение как путем счета полос, так и «абсолютным методом.The proposed interferometer can simultaneously measure both by counting the bands and by the absolute method.
На фиг. 1 показана принципиальна схема предлагаемого интерферометра; на фиг. 2 -FIG. 1 shows a schematic diagram of the proposed interferometer; in fig. 2 -
поле зрени интерферометра.field of view of the interferometer.
Интерферометр содержит источник / света с конденсором, монохроматор 2, блок, раздел ющий световой пучо« на два пуска, в виде светоделительной пластины 3, неподвижное зеркало 4, измерительный наконечник 5 с подвижным зеркалом 6, дополнительное неподвижное зеркало 7, окул р 8, фотоэлектрический преобразователь 9 и счетчик 10.The interferometer contains a source / light with a condenser, a monochromator 2, a unit dividing the light beam into two starts, in the form of a beam-splitting plate 3, a fixed mirror 4, a measuring tip 5 with a movable mirror 6, an additional fixed mirror 7, an eye 8, a photoelectric converter 9 and counter 10.
Работает предлагаемый интерферометр следующим образом.Works proposed interferometer as follows.
При измерении иЗхмерительный наконечни-к 5 с зеркалом 6 перемещаетс . При этом в поле зрени окул ра 8 -проходит соответствующее число полос интерференции, которые преобразуютс фотоэлектрическим преобразоваWhen measuring, the measuring tip-to-5 with the mirror 6 moves. In this case, in the field of view, the ocular 8 is passed through a corresponding number of interference bands, which are converted by the photoelectric conversion
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
SU1641533A SU370454A1 (en) | 1971-04-01 | 1971-04-01 | CONTACT INTERFEROMETER FOR MEASUREMENT OF LINEAR MOVEMENT OF OBJECT |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
SU1641533A SU370454A1 (en) | 1971-04-01 | 1971-04-01 | CONTACT INTERFEROMETER FOR MEASUREMENT OF LINEAR MOVEMENT OF OBJECT |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
SU370454A1 true SU370454A1 (en) | 1973-02-15 |
Family
ID=20470965
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
SU1641533A SU370454A1 (en) | 1971-04-01 | 1971-04-01 | CONTACT INTERFEROMETER FOR MEASUREMENT OF LINEAR MOVEMENT OF OBJECT |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
SU (1) | SU370454A1 (en) |
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
DE4132110A1 (en) * | 1991-09-26 | 1993-04-01 | Siemens Ag | Optical force sensor load cell with interferometer - has elastically deformable body forming symmetrical force sensor with interference suppressed by opposite influences on distances between plate and discs |
-
1971
- 1971-04-01 SU SU1641533A patent/SU370454A1/en active
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
DE4132110A1 (en) * | 1991-09-26 | 1993-04-01 | Siemens Ag | Optical force sensor load cell with interferometer - has elastically deformable body forming symmetrical force sensor with interference suppressed by opposite influences on distances between plate and discs |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
DE3483191D1 (en) | LENGTH MEASURING DEVICE ACCORDING TO THE TWO-BEAM LASER INTERFEROMETER PRINCIPLE. | |
GB1367039A (en) | Electro-optical incremental motion and position indicator | |
US3175093A (en) | Photosensitive device for digital measurement of the displacement of an object | |
IT1125790B (en) | INTERFEROMETER WITH IMPROVED RESOLUTION | |
GB1381287A (en) | Interferometric measurement apparatus | |
CN104697440A (en) | Multi-light-beam cascading staircase angle reflector laser interferometer and measurement method thereof | |
JPS5786007A (en) | Interference gauge | |
CN104697438A (en) | Motion-compensated corner reflection mirror laser interferometer and using method | |
SU370454A1 (en) | CONTACT INTERFEROMETER FOR MEASUREMENT OF LINEAR MOVEMENT OF OBJECT | |
CN104697442A (en) | Motion-compensated plane reflection mirror laser interferometer and using method | |
CN105371755B (en) | A kind of optical maser wavelength modification method using wavelength amendment type multiple beam ladder planar reflector laser interference instrument | |
US3271676A (en) | Three detector cycle counting means | |
CN204439009U (en) | A kind of modified planar reflector laser interference instrument | |
EP0053199A1 (en) | Process for incrementally measuring geometrical dimensions, and devices to perform the process | |
CN204439010U (en) | A kind of improved type angle reflector laser interference instrument | |
FR2362364A1 (en) | LENGTH MEASURING DEVICE | |
SU364838A1 (en) | LINEAR MOVEMENT OBJECT SENSOR | |
SU188064A1 (en) | DOUBLE-BLOCK INTERFEROMETER FOR MOVEMENTS | |
SU1173177A1 (en) | Device for measuring object displacement and index of transparent media refraction | |
GB844762A (en) | Apparatus for measuring gears and the like | |
SU318329A1 (en) | Device for measuring product openings | |
SU519647A1 (en) | Device for measuring the reflection coefficient modulus of a quasi-optical path | |
GB1104081A (en) | Improvements in or relating to apparatus for measuring lengths | |
SU676862A1 (en) | Optronic displacement measuring device | |
SU418711A1 (en) |