Изобретение относитс к метрике электронно-оптических преобразователей (3Ullj, в частности, к определению шумов приборов. Известен способ определени числа и ркости сцинтилл ций ;по спектрам ам1плитуд световых импульсов с выходного экрана yUil. Он СОСТОИТ в том, что dUli освещаетс слабым рассе нным светом (на уровне одиночных квантов), и за выходным экраном УОИ помещаетс фотоэлектронный умножитель (ФУУ), с выхода которого амплитудным анализатором импульсов регистрируютс распределени амплитуд и количество световых вспышек с экрана при освещении ЭиП и в темноте (амплитудный спектр ;С|Цинтилл .щ-1Й). Путем вьгчитани амплитудных распределений (Световых вспышек, измеренных в этих услови х, рассчитывают амплитудное распределение , соответствующее вспышкам с выходного экрана, вызванным одиночными электронами со входного .фотокатода, и определ ют амплитуду, соответствующую максимуму этого распределени - амплитуду «одноэлектронного пика. Амплитуды сцинтилл ций определ ютс по количеству электронов со входного фото-катода ,по амплитуде этого пика. спе.ктров, что св зано не только со сложностью осуществлени измерений, но и практически неосуществимо дл эбп с малым усилением ркости. К недостаткам следует отнести также и то, что при длительном послесвечении экрана (пор дка нескольких Ml сек), сн тие «одиоэлектронного спектра практически невоздможно из-за большой веро тности самосов адений световых вспышек с выходного экрана ЭОГ1 за анализируемый интервал времени при имеющих место в реальных фотокатодах величинах термоэмиссии. Отличие предложенного способа определени - числа и ркости сцинтилл ций состоит в том, что входной фотокатод прибора освещают и.мпульсным световым потоком с последующим анализом спектра от этого потока. Достоинство лредлолсенного способа заключаетс в упрощении измерений и обеспечении возмол ности анализа сцинтилл ций в приборах iC большим временем послесвечени экрана с малым усилением ркости или ири наличии фоновой засветки. Сущность изобретени сводитс к освещению входного фотокатода ЭОП импульсным световым потоком, к определению по амплитуде |опе,ктра от этого потока, соответствующей максимуму распределени и полуширине распределени положени «одноэлект.ронного пика. Эти данные достаточны дл опредени положени «одноэлектройиого лика, поскольку распределение амплитуд .подчин етс закону Гаусса. Таким образом, предлагаемый ;ono.coi6 измерени заключаетс в следующем. Измер етс амллитудньгй спектр сцинтилл ций иа выходном экране затем1неН1Ного ЭОП. Затем входной фотокатод ЭОП освещаетс короткой интенсивной свеТОБОЙ вопыщкой, с выходного экрана ЭОП снимаетс амплитудное распределение этой вспыщки, определ етс амллитуда, соответствующа максимуму распределени Лмакс и полуширина распределени R, равна отношению ширины распределени на полувысоте к наиболее веро тной амплитуде. Среднее число фотоэлектронов по вспыШКе, вылетевших со входного фотокатода ЭОП, рассчитываетс по известной формуле Флейшмана Положение «од«оэлектронного : пика рассчитываетс по формуле: По величине амплитуды «одноэлектронного пика и амплитудному спектру сцинтилл ций можно определить.число и ркость сцинтилл ций в любой точке опектр.а. Предмет изобретени Способ определени числа и ркости сцинтилл ций в электронно-оптических -преобразовател х , основанпы-й на освещении входного фотокатода прибора световым потоком, затемнении входного фотокатода, преобразовании световых вспышек с экрана в электрические сигналы, измерени амплитудного спектра и определении по амплитудному спектру положени «одноэлектронного пика, отличающийс тем, что, с целью упрощени измерений и обеспечени возможности анализа сцинтилл ций в приборах с большим временем послесвечени экрана, входной фотокатод освещают импульсным световым потоком с последующим анализом спектра от этого потока.