SU323767A1 - METHOD OF DETECTION OF FAILURE - Google Patents

METHOD OF DETECTION OF FAILURE

Info

Publication number
SU323767A1
SU323767A1 SU1380793A SU1380793A SU323767A1 SU 323767 A1 SU323767 A1 SU 323767A1 SU 1380793 A SU1380793 A SU 1380793A SU 1380793 A SU1380793 A SU 1380793A SU 323767 A1 SU323767 A1 SU 323767A1
Authority
SU
USSR - Soviet Union
Prior art keywords
failure
detection
control
devices
monitored
Prior art date
Application number
SU1380793A
Other languages
Russian (ru)
Original Assignee
В. А. Новиков , Е. Г. Кузьмин
Publication of SU323767A1 publication Critical patent/SU323767A1/en

Links

Description

Изобретение относитс  к области контрольно-измерительной техниши, а именно к контролю аппаратуры, в которой два параллельно работающих прибора имеют холодный резерв. Известны два способа построени  схем .контрол  отказов вида «нуль-сигнал на выходе параллельно работающих приборов с двупол рными электрическими выходами. Первый способ предусматривает формирование периодических контрольных импульсов , подаваемых на вход контролируемых приборов . Если при этом контрольный импульс не проходит через контролируемый пр(И|бор и не поступает на индикатор отказов, то последний формирует сигнал «отказ прибора. По этому сигналу в аппаратуре автоматики производ тс  действи , предусмотренные функциональной схемой аппаратуры (например , переход на резервный прибор, переход на другие режимы работы). Второй способ предусматривает параллельную работу трех приборов. Определение отказавшего прибора в этом случае производитс  путе.м сравнени  выходных сигналов любой пары приборов. Совпадение сигналов в некоторой паре приборов и несовпадение сигналов этих двух приборов с третьим означает , что третий прибор отказал и его отключают от рабочей схемы. Однако такие способы определени  отказов имеют р д существенных недостатков. Первый способ требует наличи  дополнительных устройств дл  формировани  периодических контрольных импульсов и отключени  выхода контролируемого прибора от основной рабочей схемы на врем  проведени  контрол ; отказ прибора определ етс  с запаздыванием , максимальное врем  которого равно времени отсутстви:  контрольного импульса; контрольные импульсы создают резкие возмущени  в электрической цепи контролируемого прибора, что снижает надежность прибора. Способ требует также отдельного индикатора на каждый контролируемый прибор. Второй способ требует параллельной работы третьего прибора, который можно держать в холодном резерве, относительно сложной логической схемы, а также некоторого времени дл  поиска и замены отказавшего прибора, или требует параллельной работы трех пороговых устройств дл  индикации отказов и поиска отказавщего прибора. Таким образом, определение отказа по известным способам производитс  с помощью сложной контрольной аппаратуры.The invention relates to the field of instrumentation technology, namely to the control equipment, in which two devices operating in parallel have a cold reserve. There are two known methods for constructing circuits. Control of failures of the type "zero-signal at the output of devices operating in parallel with two-pole electrical outputs. The first method involves the formation of periodic control pulses applied to the input of monitored devices. If, at the same time, the control pulse does not pass through the monitored pr (I & B) and does not arrive at the fault indicator, the latter generates a "device failure" signal. With this signal, the automation equipment performs the actions provided for by the functional equipment circuit , transition to other modes of operation. The second method provides for the parallel operation of three instruments. In this case, the determination of a failed instrument is made by comparing the output signals of any pair of instruments. Signals in some pair of devices and the discrepancy between the signals of these two devices and the third means that the third device failed and is disconnected from the working circuit. However, such methods for determining failures have a number of significant drawbacks. the output of the monitored device from the main working circuit at the time of the control; the failure of the device is determined with a delay, the maximum time of which is equal to test: control pulse; Control pulses create sharp disturbances in the electrical circuit of the monitored device, which reduces the reliability of the device. The method also requires a separate indicator for each monitored device. The second method requires parallel operation of a third device, which can be kept in cold reserve, a relatively complex logic circuit, and also some time to search for and replace a failed device, or requires parallel operation of three threshold devices to indicate failures and search for a failed device. Thus, the determination of failure by known methods is carried out using sophisticated control equipment.

SU1380793A METHOD OF DETECTION OF FAILURE SU323767A1 (en)

Publications (1)

Publication Number Publication Date
SU323767A1 true SU323767A1 (en)

Family

ID=

Similar Documents

Publication Publication Date Title
US5051996A (en) Built-in-test by signature inspection (bitsi)
JPH058442B2 (en)
US4342112A (en) Error checking circuit
SU323767A1 (en) METHOD OF DETECTION OF FAILURE
Daigle et al. Qualitative event-based diagnosis applied to a spacecraft electrical power distribution system
US4726026A (en) Fault-tolerant voted output system
GB1122472A (en) Systems for testing components of logic circuits
SU1018253A1 (en) Method of producing fail-safe combination logic circuit
SU1734219A1 (en) Device for diagnostics of hardware state of digital communication systems
SU1111171A1 (en) Device for checking units
SU608125A1 (en) Parametric monitoring device
SU1149265A1 (en) Device for generating tests for making diagnosis of digital units
SU1103373A1 (en) Majority-redundant device
SU287406A1 (en) DEVICE FOR INDICATIONS OF FAILURES
SU1270760A1 (en) Signature analyzer
SU935829A1 (en) Device for piezo pickup remote checking
SU357685A1 (en) DEVICE OF CONTROL OF MAJORITY-RESERVED KNOTS
SU1071979A1 (en) Device for digital assembly diagnostics
SU526832A1 (en) Adaptive diode test device
SU673940A1 (en) Arrangement for reliability testing of semiconductor diode terminals
SU1762292A1 (en) Interface unit for digital control system
SU548862A1 (en) Device for diagnosing faults in logic circuits
SU1239688A1 (en) Method and apparatus for diagnostic checking of failures of elements of feedback circuit of technical objects
SU399861A1 (en) DEVICE FOR CONTROL AND RESERVATION OF SUBLOCK IN COMPUTING SYSTEMS
SU1184013A1 (en) Device for checking internal memory