SU285051A1 - - Google Patents

Info

Publication number
SU285051A1
SU285051A1 SU1327855A SU1327855A SU285051A1 SU 285051 A1 SU285051 A1 SU 285051A1 SU 1327855 A SU1327855 A SU 1327855A SU 1327855 A SU1327855 A SU 1327855A SU 285051 A1 SU285051 A1 SU 285051A1
Authority
SU
USSR - Soviet Union
Prior art keywords
diode
transistor
voltage
diodes
speed
Prior art date
Application number
SU1327855A
Other languages
English (en)
Publication of SU285051A1 publication Critical patent/SU285051A1/ru

Links

Description

Предлагаемы быстродействующий однотактный pebiCTp сдвига на основе туннельны.ч диодов (ТД) и транзисторов может быть спользоваи в выеокоскоростных вЫЧислительных устройствах, например, дл  преобразоваНИН .кодируемой информащ™ из последовательной формы в параллельную и наоборот.
Известны регистры сдвита, содержащие три ггерную  чейку на ТД и транзисторе с емхостныММ разз зка.ми, -включенном с общим эмиттером, или содержащие триггер на ТД и тра-нзисторе с емкостными разв зками, включенном с общим коллекторОМ. Промежуточное запоминание состо ни  предыдущего каскада, необходимое пр.и однотактном режиме работы регистра, осуществл етс  в них на емкости или на индуктивности. Дл .всехэтих устройств характерно ограниченное быстродействие «. относительно : 1ала  допускова  надежность. Принципиально возможно также построение быстродейСтвующ-их реппстро.в -из «омбинирова.нных схем на основе ТД и диодов с накоплением зар да с многофазным тактированием. Следует , однако, -учесть р д -противоречивых требований дл  импульсов миогофаз.ного тактирован ,и . Кроме тото, сложность подобных схем, критичность к разбросу параметров ком1понентов и импульсов, слож-ность (И нетех.нолоГИчнбсть при изготовлении свод т на нет преимущества высокого быстродействи  при использовапи .и их дл  практического построени  многоразр дных устройств.
Цель предлагаемого изобретени  заключаетс  в повышении быстродействи  -и допусковой надежности, необходимых при построении таких устройств.
В предлагаемом регистре сдвига повыщение быстродействи  достигаетс  использованием быстродействукзщих промежуточных запом.инающих элементов, управл емых быстродействующей диодно-резистивной схемой. В кпчзстве последних употреблены диоды с накоплением: зар да в сочетании с пороговым-и элементам на ТД и -транзисторах. Быстродействующее запоминание осуществл етс  одновременно с необходимьрми дл  однотактного реж.има работы регистра сдвига логическими функци ми Надежность реализаци-и этих функ-ций обеспе чиваетс , во-первых, типом используемы.ч про межут-оч-ных запоминающих элементов; BO-RTO рых, - способов управлени  этими элемента ми с помощью бипол рной диодно-резистив ной схемы.
Схема одной из идентичных  чеек регистр; сдвлга приведена на чертеже. Основны м запо минающим элементом  вл етс  триггер с ко довым,и входа-ми на ТД /. Резистор 2 обеспечи вает двухстабильный режи-м работы ТД. Тран зистор 3 осуществл ет установку триггера н; нуль. Он включен по схеме с общей базой, чт( обеспечивает малые задержки прИ установке нул . Установка единицы осуществл етс  через диод 4, причем возможно .использование и обращенного арсенид-галлиевого диода. Бипол 1р ,на  диодно-резистивиа  схема, содержаща  диоды 5, 6, с накоплен-ием зар да, диод 7, резисторы 5, , управл етс  транзистором считывани  11. Диоды 5 .и 6 соединены с тактовыми щинами 72,/5 отрицательных и положительных ИМпульсов , поступающих по шинам одновременно . Тактирование должно производитьс  от источников с малым внутренним сопротивлением импульсами с коротким передним фронтОМ . ,К катоду диода 5 и ;к аноду диода б подключены соответственно пороговые элементы отрицательной и положительной пол рности на р-п-р транзисторе 14 и ТД 15 и п-р-п транзисторе 16 и ТД 17. Выходы ЭТ1ИХ пороговых элементов подключены к соответствующим кодЪвьгм входам триггера последующей  чейки р1гйгтр . ;,;,.,малом уровне напр жени  на ТД {хра ение нулевого состо ни ) ток от источника положительного-напр жени  + Протекает через резисторы 9, 10, диоды 7, 6, транзистор 11, который смещен в активную область работы. Последнее обеспечивает малое искажение передаваемых фронтов, малую их задержку , хорошую нагрузочную способность ПО потенциальному выходу транзистора 11 i сохранение абсолютной величины перепада напр жени  на ТД 1. Благодар  тому, что в точке 18 положительное напр жение равно падению нап р жени  ,на эмиггерно-баэовом нереходе транзистора 11, диод 5 заперт, н день с НИМ и резистором 8 обесточена. Положительное напр жение в точке 19, равное суммарному Падению напр жени  на диоде 7 и эмиттерно-базовом Переходе транзистора 11, стабилизировано |благодар  Нелинейности последних. Это обеспечивает посто нство протекаемого тока через резистор 9 и диод 6 при значительных ютклонениЯХ напр жени  от но мннального . Падением напр жени  на диоде 6 транзистор 16 смещаетс  в активную область . и эмиттерным током, который меньше п,икового тока ТД 17, смещает последний. При этом устанавливаетс  статический порог срабатывани . Напр жение на выходе 20 остаетс  практически неиЗМенным, равным напр жению на туннельной ветви ТД 17. При достаточно крутой ветви диода € .напр жение, на нем дополнительно, стабилизируетс  и ток смещ.ени  ТД /7 .практически остаетс  посто нным . За врем  протекани  пр мого тока через диод 6 в базе его накапливаетс  зар д неосновных носителей. При приходе тактовых -импульсов по шинам 12, 13 положительный импульс рассасывает накопленный в базе диода 6 зар д, .вызыва  срабатывание подготов .ленного порогового элемента на Транзисторе, 16 « ТД 17. В результате «а выходе 20 по в .л етс  с иеболыиой за врикой (,5 нсек.) положительный импульс, устанавливающий триггер последующей в нуль. Отрицательный импульс не.проходит через запертый диод 5, возможна лишь помеха из-за собственной емкости диода. Она очень мала ,и не может вызвать .срабатываиие неподготовленного порогового элемента на тра.нзисторе 14 и ТД 15. При большом уровне отрицательного напр жени  на ТД / (хранение единичного состо ни ) напр жение .в точке 18 отрицательно; через резисторы W, 8, диоды 7, 5, транзистор 11 протекает ток. В точке 19 напр жение равно разности напр жени  в точке 18 и падени  напр л е.ни .на диоде 7. Оно выбрано небольшим отрИЦательнььм соответствующим выбором характеристики диода 7. Поэтому ток через резистор 9 и диод 6 не протекает. Все сказанное ранее о диоде 6 и пороговом элементе на транзисторе 16 и ТД 17 справедливо в данном Случае дл  дио.да 5 и порогового элемента на тра.нзисторе 14 и ТД 15 .и наОборот. При приходе тактовых импульсов на выходе 21 по вл етс  с небольшой задержкой (1-1,5 нсек.) отрицательный импульс, уста а .вливающий триггер последующей  чейки В единицу. Предположим теперь, что происходит смена состо ний ТД /. При храненгии единицы в  -й  чейке необходимо, чтобы в момент смены состо ний ТД / на выходе 21 по вл лс  отрицательный импульс, а на выходе 20 .отсутствовал положительный. И наоборот - при -хранении нул  в д-й  чейке необходимо, чтобы при смене СОСТОЯ.НИЙ ТД / на выходе 21 отсутствовал отрицательный импульс, а на выходе 20 по вл лс  положительный. В точках 18 и 19 бипол рной диодно-резистивной схемы смена состо ний ТД / вызывает смену уровней напр жени  по знаку с Практически пренебрежимо1 задержкой, .вносимой тра.нзистором 11 н паразитными ем.костиыми нагрузками в этих точках. При этом через резисторы 8 и 5 осуществл етс  нопеременное управление диодами 5 н 6 с на.коплением зар да, а также пароповЫМИ элементами на ТД /5, ТД /7 и транзисторах 14, 16. На выходе одного из этих пороговых элементов , импульс по вл етс  в зависимости от того, протекал или нет ток до момента смены состо ний через диод, пoдгoтaвлJИвaющий да.нный пороговый элемент. То есть, благодар  эффекту накоплени  зар да .в базах диодов 5 и 6 и эффекту ПОДГОТОВКИ пороговых элементов осуществл етс  -промежуточное запоминание предыдущего состо ни  ТД /. Одновременно реализуютс  необходимые логические функции совпадени  и запрета дл  соответствующих тактовых импульсов. ПрИМенение диодов с накоплением зар да повышает надежность реализацни логических функций совпадени  по сравнению с обычными диодами и быстродействие регистра. Величина .накопленного зар да в диодах .6 экспоненциально зависит от длительности протекэНИ  пр мого тока и существенна при длительности более 5-10 нсек., что соответствует максимальной частоте переключений 00-200 мггц. Применение быстродейст
SU1327855A SU285051A1 (ru)

Publications (1)

Publication Number Publication Date
SU285051A1 true SU285051A1 (ru)

Family

ID=

Similar Documents

Publication Publication Date Title
US5903170A (en) Digital logic design using negative differential resistance diodes and field-effect transistors
US6323709B1 (en) High-speed, compact, edge-triggered, flip-flop circuit
US6191629B1 (en) Interlaced master-slave ECL D flip-flop
US3010031A (en) Symmetrical back-clamped transistor switching sircuit
US5459414A (en) Adiabatic dynamic logic
US3430070A (en) Flip-flop circuit
US4469962A (en) High-speed MESFET circuits using depletion mode MESFET signal transmission gates
US3106644A (en) Logic circuits employing minority carrier storage diodes for adding booster charge to prevent input loading
US2877357A (en) Transistor circuits
US3617776A (en) Master slave flip-flop
SU285051A1 (ru)
US4409498A (en) Transient controlled current switch
JPH0715318A (ja) 断熱的ダイナミック非反転回路
US3253165A (en) Current steering logic circuit employing negative resistance devices in the output networks of the amplifying devices
US3280344A (en) Stored charge information transfer circuits
US8130018B2 (en) Latch module and frequency divider
GB1570666A (en) Logic circuits
US3305728A (en) Flip-flop triggered by the trailing edge of the triggering clock pulse
Livingstone et al. Capacitor coupling of GaAs defletion-mode fets
US3510679A (en) High speed memory and multiple level logic network
US3474263A (en) Floating latch
US3473053A (en) Two-input bistable logic circuit of the delay flip-flop type
JPS61144928A (ja) 論理一致ゲートおよびそれを用いた論理シーケンス回路
US3305738A (en) Single bit reversible shift register responsive to sequenced (transfer and clear) pair of input pulses
US3384765A (en) Binary signal voltage level standardizer