SU177634A1 - DEVICE FOR MEASUREMENT OF DEVELOPMENT DIMENSIONS OF PRODUCTS FROM NOMINAL - Google Patents
DEVICE FOR MEASUREMENT OF DEVELOPMENT DIMENSIONS OF PRODUCTS FROM NOMINALInfo
- Publication number
- SU177634A1 SU177634A1 SU882608A SU882608A SU177634A1 SU 177634 A1 SU177634 A1 SU 177634A1 SU 882608 A SU882608 A SU 882608A SU 882608 A SU882608 A SU 882608A SU 177634 A1 SU177634 A1 SU 177634A1
- Authority
- SU
- USSR - Soviet Union
- Prior art keywords
- nominal
- measurement
- products
- dimensions
- phase meter
- Prior art date
Links
- 238000005259 measurement Methods 0.000 title description 3
- 230000003287 optical Effects 0.000 description 6
- 238000000034 method Methods 0.000 description 2
- 210000000188 Diaphragm Anatomy 0.000 description 1
- 230000001186 cumulative Effects 0.000 description 1
- 230000004907 flux Effects 0.000 description 1
- 239000011521 glass Substances 0.000 description 1
- 239000000203 mixture Substances 0.000 description 1
- 230000000051 modifying Effects 0.000 description 1
Description
Известны бесконтактные оптические микрометры дл измерени размеров, например толщины деталей, в которых изменение толщины контролируемого издели измер етс по рассто нию между изображени ми щелей по щкале , нанесенной на матовом стекле, после совмещени двух изображений щели с помощью микрометрического винта. Известны также фотоэлектрические устройства автоматического контрол размеров, в которых световой поток, отража сь от зеркал, модулируетс с помощью обтюраторного диска и поступает на фотоэлементы.Non-contact optical micrometers are known for measuring dimensions, such as the thickness of parts, in which the change in thickness of a monitored product is measured by the distance between the slit images on the slit on matte glass after two slit images are combined using a micrometer screw. Also known are photoelectric automatic size control devices in which the luminous flux, reflected from the mirrors, is modulated using a shutter disk and fed to photocells.
Предложенный прибор дл измерени отклонений размеров изделий от прин того при настройке номинала представл ет собой сочетание бесконтактного оптического микрометра и фотоэлектрического преобразовател с двухканальным фазометром. Получаемые от бесконтактного оптического микрометра изображени свет щихс щелей проектируютс через оптическую систему на обтюратор, а затем на фотоумножители, электрические сигналы с которых поступают в двухканальный электронный фазометр, снабженный стрелочным прибором. Электрический выход позвол ет автоматизировать процесс измерени .The proposed device for measuring the deviations of the product dimensions from the nominal value received during tuning is a combination of a contactless optical micrometer and a photoelectric converter with a two-channel phase meter. Images obtained from the contactless optical micrometer of the light slots are projected through the optical system onto the obturator, and then onto the photomultipliers, the electrical signals from which are fed to a two-channel electronic phase meter equipped with a switch instrument. The electrical output automates the measurement process.
Прибор содержит бесконтактный оптический микрометр и фотоэлектрический преобразователь с двухканальным фазометром.The device contains a contactless optical micrometer and a photoelectric converter with a dual-channel phase meter.
Оптический микрометр содержит лампочки 1, конденсорные линзы 2, диафрагмы 3 со щел ми, объективы 4, 5, совместно с зеркалами 6 проектирующие изображение щелей на верхнюю и нижнюю поверхности контролируемого издели 7; объективы 8, нризму 9, зеркало 10, объектив 11, в фокальную плоскость которого проектируетс вторичное изображение щелей. Этой плоскости касаетс поверхность обтюратора 12 (непрозрачный тонкостенный цилиндр со щел ми, прорезаннымиThe optical micrometer contains light bulbs 1, condenser lenses 2, diaphragms 3 with slits, lenses 4, 5, together with mirrors 6 projecting the image of the slits onto the upper and lower surfaces of the tested product 7; lenses 8, nrizm 9, mirror 10, lens 11, into the focal plane of which a secondary image of the slits is projected. This plane is touched by the surface of the obturator 12 (an opaque thin-walled cylinder with slots cut through
вдоль его образующей). Внутри цилиндра расположены зеркала 13, нанравл ющие пучок лучей от щелей на призму 14 и фотоумножители 15 и 16. Электрические сигналы с фотоумножителей поступают в двухканальныйalong its generatrix). Inside the cylinder, there are mirrors 13, which beam the rays from the slits to the prism 14 and photomultipliers 15 and 16. The electrical signals from the photomultipliers enter the two-channel
электронный фазометр 17, снабженный стрелочным прибором 18.electronic phase meter 17, equipped with a pointer device 18.
Прибор юстируетс по эталонной детали так, чтобы изобралчени щелей располагались на одной линии, при этом фазометр фиксирует нулевой сдвиг фаз , импульсами, поступающими от двух фотоумножителей.The instrument is aligned with the reference part so that the images of the slots are located on the same line, while the phase meter records the zero phase shift by pulses from two photomultipliers.
Предмет изобретени Subject invention
Прибор дл измерени отклонений размеров изделий от номинала, отличающийс совокупным ирименением бесконтактного онтического микрометра, св занного с помощью фотоэлектрического преобразовател с двухканальным фазометром, с целью автоматизации процесса измерени .An instrument for measuring deviations of product dimensions from nominal, characterized by the cumulative use of a non-contact ontic micrometer connected with a photoelectric converter with a two-channel phase meter, in order to automate the measurement process.
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
SU177634A1 true SU177634A1 (en) |
Family
ID=
Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US3536405A (en) * | 1968-06-12 | 1970-10-27 | Singer General Precision | Optical thickness gauge |
US3619070A (en) * | 1967-05-05 | 1971-11-09 | Centre Nat Rech Metall | Method and apparatus for measuring thickness |
Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US3619070A (en) * | 1967-05-05 | 1971-11-09 | Centre Nat Rech Metall | Method and apparatus for measuring thickness |
US3536405A (en) * | 1968-06-12 | 1970-10-27 | Singer General Precision | Optical thickness gauge |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
JP2913984B2 (en) | Tilt angle measuring device | |
US3658426A (en) | Alignment telescope | |
US3552857A (en) | Optical device for the determination of the spacing of an object and its angular deviation relative to an initial position | |
SU177634A1 (en) | DEVICE FOR MEASUREMENT OF DEVELOPMENT DIMENSIONS OF PRODUCTS FROM NOMINAL | |
JPS5979104A (en) | Optical device | |
US4071772A (en) | Apparatus for measurement of mechanical aberrations affecting stereoscopic image analysis | |
US3323417A (en) | Testing apparatus for optical lenses | |
US3523731A (en) | Optical ranging device (u) | |
US3833302A (en) | Method and apparatus for the automatic photoelectric trapping of local changes of optically effective object structures | |
JPS62502421A (en) | Equipment for orienting, inspecting and/or measuring two-dimensional objects | |
US2195168A (en) | Method and apparatus for measuring spectrograms | |
JPH0118370B2 (en) | ||
SU443250A1 (en) | Device for remote measurement of thermal deformations of optical elements | |
JPS61223604A (en) | Gap measuring instrument | |
JPS6242327Y2 (en) | ||
JP2000199846A (en) | Automatic focusing microscope and focusing device | |
JPS57113342A (en) | Eccentricity measurement | |
SU1024709A1 (en) | Non-flatness checking device | |
SU1582039A1 (en) | Device for determining position of focal plane of lens | |
SU419721A1 (en) | OPTICAL SYSTEM OF PHOTOELECTRIC ANGLOMERS OF FOLLOWING DEVELOPMENT | |
SU370456A1 (en) | PERFLECTOMETER | |
JP2002250609A (en) | Gap-measuring device, gap-measuring method, and manufacturing method of optical system | |
SU491028A1 (en) | Autocollimation Angle Measuring Device | |
SU1154573A2 (en) | Device for determining position of focal plane of lens | |
SU469943A1 (en) | Device for quality control and alignment of telescopes |