SU1760426A1 - Способ контрол качества волоконной детали и устройство дл его осуществлени - Google Patents
Способ контрол качества волоконной детали и устройство дл его осуществлени Download PDFInfo
- Publication number
- SU1760426A1 SU1760426A1 SU904866582A SU4866582A SU1760426A1 SU 1760426 A1 SU1760426 A1 SU 1760426A1 SU 904866582 A SU904866582 A SU 904866582A SU 4866582 A SU4866582 A SU 4866582A SU 1760426 A1 SU1760426 A1 SU 1760426A1
- Authority
- SU
- USSR - Soviet Union
- Prior art keywords
- fiber part
- microscope
- fiber
- image
- lens
- Prior art date
Links
Landscapes
- Length Measuring Devices By Optical Means (AREA)
Abstract
Использование: изобретение относитс к области измерительной техники, в частности , дл контрол качества изготовлени волоконных деталей. Достигаетс это тем, что волоконную деталь перемещают в плоскости , перпендикул рной к оптической оси микроскопа так, что изображение сфокусированного пучка, наход щегос на этой оси, прочерчивает на входном торце волоконной детали линию выбранного закона. Координаты точек этой линии и координаты смещений изображений этих точек, переданных волоконной деталью, ввод тс в ЭВМ дл получени графических значений. 1 з.п.ф- лы. 1 ил. (Л С
Description
Изобретение относитс к области измерительной техники, в частности дл контрол качества изготовлени волоконных деталей.
Известен способ измерений искажений изображений отрезка пр мой линии, передаваемых волоконными детал ми с плоскопараллельными поверхност ми их торцов, заключающийс в том, что волоконную деталь накладывают на стекл нную пластину, закрепленную на предметном столе измерительного микроскопа, на которой нанесено изображение отрезка пр мой линии, а переданное волоконной деталью изображение этого отрезка рассматривают в окул р микроскопа, перемеща волоконную деталь по стекл нной пластине и, выбира область поверхности волоконной детали с максимальными искривлени ми и изменением размера переданного изображени , измер ют эти искажени относительно передаваемого изображени .
Наиболее близким по технической сущности вл етс способ контрол параллельности укладки пр мых оптических волокон и перпендикул рности их осей к торцу волоконной детали с плоскими поверхност ми, где на входной торец волоконной детали проецируют изображение марки, переданное волоконной деталью изображение марки рассматривают в микроскоп, а величину смещени изображени марки, вл ющуюс исходным параметром дл определени искомых величин, определ ют путем сравнени положений указанного изображени и перекрести сетки окул ра, имеющего шкалу.
Недостатками данных способов вл ютс невозможность проведени измерений искажений передаваемых изображений
Ч
о о
4 Ю О
отрезков линий, отличных от пр мой, невозможность проведени измерени искажений изображений, передаваемых волоконными детал ми с плоско-сферическими и сферическими поверхност ми их торцов, невысока достоверность получаемых результатов измерени , завис ща от внимательности оператора, провод щего эти измерени .
Целью данного изобретени вл етс повышение точности и информативности.
Поставленна цель в способе достигаетс тем, что освещают деталь сфокусированным пучком света, определ ют отклонение полученного через нее изобра- жени от номинального и перемещают волоконную деталь относительно сфокусированного пучка перпендикул рно его оси, дополнительно осуществл ют перемещение волоконной детали непрерывно по заданной траектории, а о качестве волоконной детали суд т по траектории перемещени изображени .
В устройстве, содержащем осветитель, микрообъектив, установленный перед воло- конной деталью, а за ней - микроскоп с микрообьективом и окул ром, при этом предусмотрен предметный столик дл размещени волоконной детали, установленной с возможностью вращени и перемещени в плоскости, перпендикул рной ее оси, микрообъектив и микрообъектив микроскопа установлены в пантографах, между осветителем и микрообъективом введен световод, за микрообъективом микроскопа устаное- лен светоделитель и фотодиодна матрица, а пантограф снабжен шаблоном, повтор ющим форму волоконной детали, предметный столик снабжен электроприводами, фотодиодна матрица и электроприводы подключены через согласующее устройство к блоку управлени , выполненное в виде ЭВМ.
Кроме того, предметный столик снабжен самоцентрирующимс подшипником и накидной гайкой дл закреплени волоконной детали, а предметный столик и самоцентрирующийс подшипник снабжены датчиками линейных и угловых перемещений , которые подключены к согласующему устройству.
На чертеже представлена схема устройства дл измерени искажений изображений , передаемых волоконными детал ми.
Устройство содержит осветитель фор- мировани сфокусированного пучка, состо- щий из лампы накаливани 1, микрообъектива 2 дл ввода светового потока в волоконный световод 3, Световой поток , проход через световод 3 и
микрообьектив 4, формируетс на входном торце волоконной детали 5 в виде уменьшенного изображени выходного торца световода . Переданное волоконной деталью 5 изображение марки, увеличенное микрообъективом микроскопа 6, формируетс на свето - чувствительной поверхности фотодиодной матрицы 7. Между микрообъективом 6 и фотоди - одной матрицей / установлен светорэзде- литель 8, отбрасывающий часть света в окул р 9. Микрообъективы 4 и 6 закреплены на пантографах 10 и 11, установленных на корпусе микроскопа, механически св занных со сменным шаблоном 12 пантографов
10и 11, закрепленном на предметном столе 13 микроскопа дл обеспечени автоматической фокусировки микрообъективов 4 и 6 при перемещении предметного стола 13.
На предметном столе 13 микроскопа также установлены: подшипник 14, во внутреннюю обойму которого вставлено самоцентрирующее приспособление 15 с накидной гайкой 16, датчик 17 угловых перемещений , осуществл емых электроприводом 18 и датчик 19 линейных перемещений, осуществл емых электроприводом 20.
Фотодиодна матрица 7, датчики 17 и 19 перемещений и электроприводы 18 и 20 через согласующее устройство 21 электрически св заны с блоком управлени , выполненным в виде ЭВМ 22, котора управл ет электроприводами 18 и 20 и регистрирует информацию от фотодиодной матрицы 7 и датчиков 17 и 19 перемещений, с помощью которой получают графическое изображение и цифровые значени искажений изображений линий, передаваемых исследуемой волоконной деталью.
Во внутреннюю обойму подшипника 14, внешн обойма которого закреплена на предметном столе 13 микроскопа, устанавливают самоцентрирующее приспособление 15, соответствующее выбранной исслеДуемой волоконной детали 5. На предметном столе 13 микроскопа закрепл ют шаблон 12 пантографов 10 и 11, поверхности которого выполнены по закону поверхностей торцов волоконной детали 5. Устанавливают волоконную деталь 5 в самоцентрирующее приспособление 15 и зажимают ее накидной гайкой 16, Включают лампу накаливани 1 и, наблюда в окул р 9, юстируют микрообъективы 4 и 6 перемещени ми их относительно пантографов 10 и
11вдоль оптической оси 00, микроскопа, добива сь минимального изображени п тна на выходном торце волоконной детали 5. Диаметр этого изображени не должен превышать одного-трех диаметров отдельного
волокна волоконной детали 5. При этом переданное волоконной деталью 5 и увеличен- ное микрообъективом 6 микроскопа изображение марки засвечивает один из элементов фотодиодной матрицы 7, Фото- ток этого элемента через согласующее уст- ройство21 регистрируетс в пам ти ЭВМ 22 в виде номера элемента этой матрицы, определ ющего его координаты через согласующее устройство 21. Одновременно в пам ть ЭВМ 22 поступают электрические сигналы от датчиков 17 и 19 угловых и линейных перемещений, определ емые координаты марки на входном торце волоконной детали 5 относительно оптической оси 00 микроскопа.
При включенных электроприводах 18, 20, управл емых ЭВМ 22 через согласующее устройство 21, волоконна деталь 5, враща сь вокруг своей оси NN и линейно перемеща сь относительно оптической оси 00 микроскопа, прочерчивает на своем входном торце изображением п тна спираль с выбранным по программе ЭВМ 22 шагом. Во врем перемещений волоконной детали 5, когда изображение марки прочерчивает всю рабочую поверхность входного торца этой детали, в пам ть ЭВМ 22 через согласующее устройство 21 поступают от датчиков 17,19 координаты каждой точки спирали, а от фотодиодной матрицы 7 - координаты смещени увеличенного переданного изображени этих точек спирали. После чего по выбранной программе на графопостроителе ЭВМ 22 можно получать ин- тегральные искажени передаваемых изображений в виде графического изображени области смещений всех точек спирали с цифровым представлением их максимальных величин и графического изо- бражени спирали переданного волоконной деталью 5 с увеличенным изображением ее искажений и цифровыми значени ми ее искривлений и изменени масштаба в виде развернутой линии.
По результатам данных пам ти ЭВМ 22 в соответствии с выбранной программой на графопостроителе можно получать изображени любой линии передаваемого воло- конной деталью 5 с увеличенным изображением ее искажений и цифровым представлением их максимальных величин искривлени и изменени масштаба.
Claims (5)
1.Способ контрол качества волоконной детали, включающей освещение детали сфокусированным пучком света, определение отклонени , полученного через нее изображени от номинального, и перемещение волоконной детали относительно сфокусированного пучка перпендикул рно ее оси. отличающийс тем. что, с целью повышени точности и информативности, перемещение волоконной детали осуществл ют непрерывно по заданной траектории, а о качестве волоконной детали суд т по траектории перемещени изображени .
2.Способ по п.1,отличающийс тем, что регистрируют координаты каждого положени волоконной детали и координаты смещени переданного изображени , по которым стро т график зависимости смещений от координаты перемещени .
3.Устройство дл контрол качества волоконной детали, содержащее осветитель- микрообъектив, установленный перед волоконной деталью, а за ней - микроскоп с микрообъективом и окул ром, а также предметный столик дл размещени волоконной детали, установленной с возможностью вращени и перемещени в плоскости, перпендикул рной ее оси, отличающее- с тем, что, с целью повышени точности и информативности, микрообъектив и микрообъектив микроскопа установлены в пантографах , между осветителем и микрообъективом введен световод, за мик- рообьективом микроскопа установлены све- тоделитель и фотодиодна матрица, а пантограф снабжен шаблоном, повтор ющим форму волоконной детали, при этом предметный столик снабжен электроприводами , а фотодиодна матрица и электроприводы подключены через согласующее устройство к блоку управлени , выполненному в виде ЭВМ.
4.Устройство по п.З, отличающее- с тем, что предметный столик снабжен самоцентрирующимс подшипником и накидной гайкой дл закреплени волоконной детали.
5.Устройство по п.З и 4, отличающее с тем, что предметный столик и самоцентрирующийс подшипник снабжены датчиками линейных и угловых перемещений , которые подключены к согласующему устройству.
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
SU904866582A SU1760426A1 (ru) | 1990-09-18 | 1990-09-18 | Способ контрол качества волоконной детали и устройство дл его осуществлени |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
SU904866582A SU1760426A1 (ru) | 1990-09-18 | 1990-09-18 | Способ контрол качества волоконной детали и устройство дл его осуществлени |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
SU1760426A1 true SU1760426A1 (ru) | 1992-09-07 |
Family
ID=21536256
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
SU904866582A SU1760426A1 (ru) | 1990-09-18 | 1990-09-18 | Способ контрол качества волоконной детали и устройство дл его осуществлени |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
SU (1) | SU1760426A1 (ru) |
-
1990
- 1990-09-18 SU SU904866582A patent/SU1760426A1/ru active
Non-Patent Citations (1)
Title |
---|
1.ТУ АБ-27-74, 2. Авторское свидетельство СССР № 187351.кл.С 01 М 11/02,1965. * |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
JP4929161B2 (ja) | 加工物表面の形状および/または粗さを測定するための測定装置 | |
US3940608A (en) | Fiber optic displacement measuring apparatus | |
US3798449A (en) | Automatic microscope focussing device | |
JP2977863B2 (ja) | 2つのファイバ端部のアライメント方法および装置 | |
JPS62168125A (ja) | ビジヨンシステム用の対象物照明装置 | |
GB2031144A (en) | Apparatus for measuring the contor configuration of articles | |
CN105157625A (zh) | 一种基于变焦成像透镜的光纤端面显微干涉测量系统 | |
JPH01245104A (ja) | 顕微鏡的構造を測定する装置を有する顕微鏡 | |
JPH0327044B2 (ru) | ||
JPH0827444B2 (ja) | オフ・セット鏡の光軸を決めるための方法および装置 | |
JP2003185410A (ja) | プレーナー型導波路デバイス及びシステムに対して光学的に整列させるために、複数の多軸動作ステージを較正し及び整列させるための方法 | |
US4359282A (en) | Optical measuring method and apparatus | |
SU1760426A1 (ru) | Способ контрол качества волоконной детали и устройство дл его осуществлени | |
US6924897B2 (en) | Point source module and methods of aligning and using the same | |
CN108534621B (zh) | 一种基于机器视觉的玻璃线纹尺自动校准装置 | |
GB2337815A (en) | Thickness meter for thin transparent objects | |
JPH05196561A (ja) | 硬度測定装置および硬度測定方法 | |
JP3317100B2 (ja) | 光コネクタ研磨面自動検査装置及び光コネクタ研磨面検査法 | |
JP3162364B2 (ja) | 光センサ装置 | |
US4654517A (en) | Optical sight for computer controlled plotter with improved locating capability | |
CN112082577A (zh) | 一种水准仪望远镜调焦运行误差检定装置 | |
EP0769689B1 (en) | A portable device and a method for ensuring that a center thickness of a lens is within a predetermined tolerance | |
US4948984A (en) | Optical scanning head with objective position measuring and mirrors | |
US4288710A (en) | Drive mechanism | |
CN209656928U (zh) | 一种光纤光栅刻录装置 |