SU1705426A1 - Источник молекул рных пучков - Google Patents

Источник молекул рных пучков Download PDF

Info

Publication number
SU1705426A1
SU1705426A1 SU894713734A SU4713734A SU1705426A1 SU 1705426 A1 SU1705426 A1 SU 1705426A1 SU 894713734 A SU894713734 A SU 894713734A SU 4713734 A SU4713734 A SU 4713734A SU 1705426 A1 SU1705426 A1 SU 1705426A1
Authority
SU
USSR - Soviet Union
Prior art keywords
source
refrigerant
tubes
screens
tube
Prior art date
Application number
SU894713734A
Other languages
English (en)
Inventor
Сергей Михайлович Войтенко
Сергей Леонидович Заславский
Юрий Захарович Санфиров
Original Assignee
Научно-Техническое Объединение Ан Ссср
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Научно-Техническое Объединение Ан Ссср filed Critical Научно-Техническое Объединение Ан Ссср
Priority to SU894713734A priority Critical patent/SU1705426A1/ru
Application granted granted Critical
Publication of SU1705426A1 publication Critical patent/SU1705426A1/ru

Links

Landscapes

  • Physical Deposition Of Substances That Are Components Of Semiconductor Devices (AREA)

Abstract

Изобретение относитс  к тонкопленочной технологии, может быть использовано в микроэлектронике и обеспечивает повышение надежности работы источника и улучшение качества выращиваемых пленок за счет более эффективного охлаждени  и уменьшени  поверхности нагрева. Источник содержит тигель, установленный коаксиально нагреватель и два цилиндрических экрана. Экраны соединены герметично, а полость между ними соединена с патрубком дл  ввода хладагента. Между экранами по спирали размещены трубки, концы которых с одной стороны выполнены открытыми, а с другой соединены с коллектором дл  отвода хладагента . 2 ил.

Description

Изобретение относитс  к тонкопленочной технологии, молекул рно-пучковой эпи- таксии (МПЭ), и может быть использовано в научных исследовани х, св занных с разработкой новых материалов и технологий дл  микроэлектроники.
Источник молекул рных пучков(ИМП)  вл етс  одним из основных узлов установки молекул рно-пучковой эпитаксии. Из него происходит эффузи  требуемого вещества дл  получени  полупроводниковых пленок. Качество получаемых полупроводниковых пленок во многом определ етс  концентрацией неконтролируемых примесей, испускаемых как самим источником, так и под его воздействием. Одним из путей, снижающим уровень этой концентрации  вл етс  снижение мощности, потребл емой ИМП, что в существенной мере определ етс  степенью термоизол ции ИМП. Термоизол ци  ИМП необходима еще и потому, что конструктивно ИМП проходит через криопанель, окружающую ростовой обьем,
Ближайшим из известных  вл етс  источник молекул рных пучков дл  установок молекул рно-пучковой эпитаксии, содержащий тигель из пиролитического нитрида бора , нагреватель и систему термоизол ции с охлаждаемым экраном. В указанной конструкции в качестве хладагента используетс  вода, котора  циркулирует по бифил рной трубке, навитой в виде спирали и размещенной между двум  металлическими цилиндрами . Введение жидкостноохлаждаемого экрана (помимо танталовых) момент  вл етс  наиболее эффективным способом экранировани .
Однако в известной конструкции площадь касани  трубкой, охлаждаемой водой, внутреннего цилиндра очень мала, поэтому дл  достаточно эффективного охлаждени  необходимо увеличивать поток проход щей воды, учитыва  малое сечение трубки, повышать давление воды в ней (пор дка 5 атм). Использование такого давлени  накладывает жесткие требовани  на саму трубку (прочЁ
ность, непроницаемость дл  молекул воды). Кроме того, длина трубки лежит в пределах 6-10 м в зависимости от объема источника , что создает технологические сложности при ее изготовлении (сварка трубок дл  получени  нужной длины), и формирование в виде биспирали. Пространство между двум  цилиндрами, где размещена трубка,  вл етс  вакуумным карманом, который служит источником неконтролируемых примесей.
Цель изобретени  - повышение надежности работы источника и улучшение качества выращиваемых пленок за счет более эффективного охлаждени  и уменьшени  поверхности нагрева.
Указанна  цель достигаетс  тем, что в известном ИМП, содержащем тигель из пи- ролитического нитрида бора, нагреватель и два цилиндрических теплоизолирующих экрана, в пространстве между которыми расположены по спирали трубки дл  хладагента , теплоизолирующие экраны с одной стороны герметично соединены между собой , а с другой стороны приварены к цоколю , внутри которого находитс  коллектор дл  вывода хладагента, при этом концы трубок со стороны соединени  экранов между собой открыты, а с другой стороны соединены с коллектором.
Таким образом, в охлаждаемый экран вместо одной бифил рной трубки вводитс  несколько спирально-изогнутых трубок, размещенных между двум  металлическими цилиндрами, при этом пространство между этими цилиндрами  вл етс  герметичным по отношению к наружному пространству . Трубки размещаютс  между этими цилиндрами и с одной стороны вход т в цоколь, обрыва сь в выходном коллекторе , который размещен внутри цокол . Противоположные концы трубок  вл ютс  открытыми и оканчиваютс  вблизи соединени  экранов между собой. Кроме этого, в цоколе имеетс  патрубок дл  ввода хладагента . В предлагаемой конструкции хладагент циркулирует по всему пространству, заключенному между двум  металлическими цилиндрами (как в пространстве между трубками, так и по трубкам), полностью омыва  всю поверхность внутреннего цилиндра , на который падает тепловой поток от нагревател .
Предлагаема  конструкци  позвол ет увеличить поверхность, охлаждаемую хладагентом; уменьшить плотность потела тепловой энергии на поверхность криопанели, окружающей ростовой объем, что улучшит качество выращиваемых пленок; снизить требовани  к вакуумной плотности трубок;
сократить длину трубки более, чем в 6 раз; устранить вакуумный карман; уменьшить общую поверхность в вакууме.
На фиг, 1 представлен источник, поперечное сечение; на фиг. 2 - аксонометрическое изображение.
Источник содержит тигель 1 из пироли- тического нитрида бора, вокруг которого ко- аксиально установлены нагреватель 2.
0 Тигель 1 и нагреватель 2 окружены системой тантатовых экранов 3. Все это вместе в свою очередь окружено охлаждаемым экраном 4, внутри которого размещают по спирали трубки 5 (на фиг. 1 показана только
5 одна, попавша  в плоскость сечени ). В нижней части охлаждаемого экрана 4 имеетс  внутренн   полость А, служаща  дл  равномерного распределени  хладагента по периметру экрана. Поступа  через вход0 ной патрубок 6 хладагент поднимаетс , заполн   весь внутренний объем и дальше через открытые концы трубок 5 вытекает из охлаждаемого экрана 4 (направление течени  хладагента показано стрелками). Экран
5 4 выполнен в виде металлических цилиндров 7 и 8, присоединенных с одного торца к цоколю 9, а с другого - соедин ютс  между собой. В пространстве между цилиндрами 7 и 8 размещены трубки 5. С одной стороны
0 трубки 5 соединены с цоколем 9, так, что открытые концы наход тс  в полости Б.  вл ющейс  выходным коллектором. Патрубок 6 дл  ввода хладагента проходит насквозь через цоколь и оканчиваетс  в про5 странстве А в нижне части между цилиндрами 7 и 8. Пространство А служит дл  равномерного распределени  поступающего хладагента по окружности охлаждаемого экрана 4.
0 Источник работает следующим образом .
В тигель 1 загружаетс  требуемое вещество и ИМП размещаетс  в ростовой камере установки молекул рно-пучковой
5 эпитаксии (не показана). Тигель 1 нагреваетс  до требуемой температуры нагревателем 2, Поток тепла, проход щий через танталовые экраны 3, поглощаетс  охлаждаемым экраном 4. Хладагент поступает по
0 патрубку 6 в пространство А, поднимаетс  в пространстве между цилиндрами 7, 8 и трубками 5 и, омыва  нагреваемую поверхность цилиндра 8. нагреваетс . Нагретый хладагент поступает в полость Б через от5 крытые концы трубок 6 в верхней части охлаждаемого экрана 4 и выходит оттуда наружу через выходной патрубок 10.
Сечение патрубка 6, суммарное сечение трубок 5 и сечение выходного патрубка 10 подбираютс  таким образом, чтобы в сметеме существовал посто нный подпор хладагента . Расчет показывает, «-по охлаждени  источника, выдел ющего мощность 300 Вт, вполне достаточно перепада давлени  на входе и выходе не более 0/5 атм. при этом протекающа  вода нагреваетс  не бо лее, чем на 10°С.
При использор}ании предлагаемой конструкции повышаетс  надежность работы ИМП, так как дл  подачи хладагент а используетс  низкое давление (не более 0,5 а, м), и примен ютс  трубки без сварных швов (по оценке длина трубок пор дка 1 м). В предлагаемой конструкции источника, охлаждаемой непосредственно оказываетс  вс  поверхность внутреннего и внешнего цилиндров . Если прин ть, что касание трубки с внутренним цилиндром у прототипа происходит по линии толщиной 1 мм (на самом деле гораздо меньше), iO тогда при плотной упаковке биспиральной трубки у прототипа площадь, охлаждаема  непосредственно хладагентом в изобретении оказываетс  в d раз больше, чем у прототипа (где d - диэ- метр трубки, выраженный в мм). Кроме этого , поверхность на которую падает поток энергии от нагревател , отдалена от хладагента только толщиной внутреннего цилиндра , а у прототипа - толщиной внутреннего цилиндра плюс толшиной стенки трубки т.е. коэффициент теплопередачи у предлагаемого источника не менее, чем в 2 раза больше. Указанные обсто тельства привод т к резкому возрастанию эффективности теплосъема (не менее, чем в 2 d раза), т.е. отпадает необходимость в применении высокого давлени  дл  подачи хладагента.
Резкое возрастание эффективности теплосьема позвол ет использовать в качестве материала дл  металлических цилиндров не тантал, а значительно более дешевую нержавеющую сталь без ухудшени  вакуумных условий.
Использование охлаждаемого экрана резко снижает тепловую нагрузку на крио- панель ростовой камеры МПЭ, что приведет к значительному сокращению потреблени  жидкого азота (по оценке в 10 раз) на установке МПЭ.
Величина концентрации так называемой фоновой примеси полупроводниковых структур, получаемых с помощью МПЭ, определ ет параметры приборов, изготавливаемых из этих структур. Так, например , снижение этой величины с 10 см до
10 см , достигнутое в поспеднее врем . позволило увеличить верхний предел рабочих частот НЕМТ-транзисторов 10-100 ГГц. Источниками фоновой примеси могут
служить как примеси уже наход щиес  в испар емом веществе, так и примеси, содержащиес  в атмосфере остаточных газов. Величина эта  вл етс  неконтролируемой и зависит от многих факторов, в т.ч. от следующих причин: наличи  труднооткачиваемых объемов, так называемых вакуумных карманов ; материалов, из которых изготовлены детали ростового объема установки МПЭ; температуры, при которой наход тс  детали и узлы ростового объема.
Детали ИМП в процессе режима роста нагреваютс  до высоких температур (до 1500 К). Поэтому применение охлаждаемого экрана, герметичного по отношению к
ростовому объему, исключает наличие одного из источников неконтролируемых примесей ввиду отсутстви  вакуумного кармана. Вследствие того, что в предлагаемом решении по крайней мере в d раз увеличиваетс  поверхность, омываема  хладагентом , температура этой поверхности уменьшаетс , а значит, десорбаци  атомов и молекул с этой поверхности будет меньше , что также приведет к снижению общей
концентрации фоновой примеси и, как следствие, к возможности создани  полупроводниковых структур с большей подвижностью носителей, а значит, рассчитанных на использование больших рабочих частот
(выше 10 ГГц).

Claims (1)

  1. Формула изобретени  Источник молекул рных пучков дл  установок молекул рно-лучевой эпитаксии,
    содержащий тигель из пиролитического нитрида бора, установленные коаксиально ему нагреватель и два экрана с размещенными между ними по спирали трубками дл  хладагента, отличающийс  тем, что,
    с целью повышени  надежности работы источника и улучшени  качества выращиваемых пленок за счет более эффективного охлаждени  и уменьшени  поверхности нагрева , экраны герметично соединены между
    собой с образованием полости, к которой присоединен патрубок дл  ввода хладагента снабжены коллектором дл  вывода хладагента , концы трубок с одной стороны соединены с этим коллектором, а с другой
    стороны выполнены открытыми.
SU894713734A 1989-07-04 1989-07-04 Источник молекул рных пучков SU1705426A1 (ru)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
SU894713734A SU1705426A1 (ru) 1989-07-04 1989-07-04 Источник молекул рных пучков

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
SU894713734A SU1705426A1 (ru) 1989-07-04 1989-07-04 Источник молекул рных пучков

Publications (1)

Publication Number Publication Date
SU1705426A1 true SU1705426A1 (ru) 1992-01-15

Family

ID=21458303

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
SU894713734A SU1705426A1 (ru) 1989-07-04 1989-07-04 Источник молекул рных пучков

Country Status (1)

Country Link
SU (1) SU1705426A1 (ru)

Non-Patent Citations (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Title
Установка V 80Н. Проспект фирмы VGSemlcon. Великобритани , 1987. *

Similar Documents

Publication Publication Date Title
EP0163391B1 (en) A thermoelectric generator for converting heat energy to electrical energy
US5136605A (en) Apparatus for purifying laser gas
JPH02112798A (ja) 廃棄物処理用溶融炉及びその加熱方法
JPH04321284A (ja) クライオスタットの蒸気冷却電力リード
CN209131372U (zh) 一种具有冷却功能的真空烧结炉
US5820649A (en) Method of and apparatus for continuously producing a solid material
SU1705426A1 (ru) Источник молекул рных пучков
US4601040A (en) Condensers
US3321927A (en) Spiral liquid cooled baffle for shielding diffusion pumps
JPS5930792A (ja) 単結晶育成装置
KR19990063097A (ko) 단결정제조의 방법 및 장치
CN113488360B (zh) 一种提高NEA GaN电子源使用寿命的方法及装置
US2739566A (en) Apparatus for the production of coatings of purified metals
JP3952356B2 (ja) 半導体単結晶製造装置及びそれを用いた半導体単結晶の製造方法
CN210718073U (zh) 气体快速加热装置
CN220589459U (zh) 一种氩气纯化装置
JP2843307B2 (ja) オゾン濃縮装置及びオゾン濃縮方法
SU1125520A1 (ru) Устройство дл регулировани температуры резонатора радиоспектрометра магнитного резонанса
CN220619188U (zh) 一种晶体生长装置
RU2419689C2 (ru) Устройство для выращивания монокристаллов сапфира
CN216765018U (zh) 真空炉隔热屏及真空炉
US3447910A (en) Roughened surface aluminum cylinder in zone refining
CN108050839B (zh) 一种双螺旋内嵌激励式电磁感应内热镁真空还原炉
CN220927031U (zh) 单晶炉
JPH09222425A (ja) コールドトラップ方法および温度制御装置