SU1691790A1 - Устройство дл фиксации обрывов и коротких замыканий на корпус или подложку внешних выводов твердотельных интегральных схем с диодной изол цией - Google Patents
Устройство дл фиксации обрывов и коротких замыканий на корпус или подложку внешних выводов твердотельных интегральных схем с диодной изол цией Download PDFInfo
- Publication number
- SU1691790A1 SU1691790A1 SU894665654A SU4665654A SU1691790A1 SU 1691790 A1 SU1691790 A1 SU 1691790A1 SU 894665654 A SU894665654 A SU 894665654A SU 4665654 A SU4665654 A SU 4665654A SU 1691790 A1 SU1691790 A1 SU 1691790A1
- Authority
- SU
- USSR - Soviet Union
- Prior art keywords
- output
- terminals
- input
- circuits
- control
- Prior art date
Links
Landscapes
- Tests Of Electronic Circuits (AREA)
Abstract
Изобретение относитс к контрольно- измерительной технике и может быть использовано при производстве и контроле интегральных схем с диодной изол цией в процессе испытаний на виброустойчивость и воздействие акустических шумов. Целью изобретени вл етс повышение достоверности контрол путем исключени возможности индикации случайных электрических помех и расширение функциональных возможностей за счет осуществлени контрол при воздействии механических вибраций и акустических шумов. Устройство содержит объект контрол 1, клеммы 2 и 3 дл подключени объекта контрол , токоограни- чивающие резисторы, источник 5 напр жени , блок 6 компараторов, элемент ИЛИ 7, счетчик 8 импульсов, генератор 9 тактовых импульсов, триггер 10, индикатор 11.1 ил. сл
Description
Os
ю
ю о
Изобретение относитс к контрольно- измерительной технике и может быть использовано при производстве и контроле 1|вердотельных интегральных схем с диод- ной изол цией в процессе испытаний на Е иброустойчивость и воздействие акустиче- с ких шумов.
Цель изобретени - повышение достоверности контрол за счет исключени возможности индикации случайных электрических помех и расширение функциональных возможностей за счет возможности контрол при воздействии механических вибраций и акустических шумов.
На чертеже изображена схема предло- кенного устройства.
Устройство содержит объект 1 контрол микросхема), клемму 2 дл подключени эбъекта контрол (вывод корпуса или под- южки кристалла), клеммы 3.1 - З.п дл подключени объекта контрол , токоогра- ичивающие резисторы 4.1 - 4.п, источник 5 напр жени , блок 6 компараторов, элемент ИЛИ 7, счетчик 8 импульсов, генератор 9 тактовых импульсов, триггер 10, индикатор 11с соответствующими св з ми.
Устройство работает следующим образом .
Напр жение источника 5 превышает напр жение пробо диодной изол ции микросхемы 1. При этом р-п переходы элементов микросхемы 1 либо смещаютс в пр мом направлении, либо наступает их обратный пробой. Во внешних клеммах 2, 3.1 - З.п микросхемы 1 по вл ютс токи, значени которых ограничиваютс резисторами 4,1 - 4.п до величин, гарантирующих обратимость пробоев р-п переходов. При отсутствии обрывов и коротких замыканий выводов на корпус или подложку кристалла на резисторах 4.1 - 4.п и на входах блока 6 компараторов присутствуют потенциалы. Значени потенциалов отличны от нул и меньше напр жени источника 5. При наличии на всех входах блока 6 компараторов потенциалов, отличных от нул и меньших напр жени источника 5, на выходе блока 6 компараторов имеетс напр жение, соответствующее уровню О.
В случае обрыва любой из клемм 3.1 - З.п микросхемы 1 на соответствующем входе блока б компараторов устанавливаетс нулевой потенциал. В случае обрыва клеммы 2, соединенной с подложкой кристалла микросхемы 1, нулевой потенциал устанавливаетс на всех входах блока 6 компараторов . В случае короткого замыкани любой из клемм 3.1 - З.п микросхемы 1 на корпус или подложку кристалла на соответствующем входе блока 6 компараторов устанавливаетс полное напр жение источника 5. По вление на любом входе блока б компараторов нулевого потенциала, либо потенциалаг равного полному напр жению источника 5,
вызывает по вление на выходе блока 6 компараторов напр жени , соответствующего уровню Т.
Если в процессе испытаний микросхемы 1 произойдет невосстановимое нарушение целостности ее выводов (обрыв вывода или замыкание на корпус или подложку кристалла ), то на выходе блока б компараторов установитс и будет посто нно держатьс уровень 1, который через элемент ИЛИ 7
поступает на вход индикатора 11, фиксирующего неисправность микросхемы.
Счетчик 8 импульсов периодически обнул етс генератором 9 тактовых импульсов
с частотой f об и имеет емкость N импульсов, т. е„ если за период обнулени Тоб 1/fo6 на вход счетчика поступит число импульсов, меньшее или равное N, то на выход счетчика импульсы проходить не будут. Если за
период Тоб на вход счетчика 8 поступит число импульсов, большее N, то все импульсы,- следующие за импульсом с номером N в интервале времени Т0б, пройдут на выход счетчика.
На микросхему 1 воздействуют вибрации или акустические шумы в диапазоне частот от fmin до fmax. Наибольша веро тность по влени невосстановимых и кратковременных , восстановимых нарушений целостности выводов микросхем должна наблюдатьс на частотах, совпадающих с частотами механических резонансов выводов , если частоты механических реэонансов лежат в интервале от fmin до fmax. Таким
образом, если в процессе испытаний микросхем по вл ютс кратковременные, восстановимые нарушени целостности выводов, то частота следовани нарушений должна совпадать с одной из частот механического
резонанса выводов и находитьс в пределах от fmin до fmax. Если на определенном участке этого диапазона в микросхеме 1 возникают кратковременные, восстановимые нарушени целостности выводов, то на выходе блока б компараторов и на входе обнул емого счетчика 8 импульсов по вл ютс импульсы напр жени с уровнем 1 следующие с частотой воздействи вибрацией или акустических шумов. Частота обнулени
forf и емкость N счетчика 8 выбираютс из услови f0e(N+ 1) Ј fmm, при переполнении счетчика 8 импульс с его выхода поступает на вход триггера 10. При этом на выходе триггера установитс уровень Г, который через элемент ИЛИ 7 пройдет на вход блока
11 индикации, который зафиксирует неисправность микросхемы.
Вследствие электрических помех, возникающих во входных цеп х блока 6 компараторов из-за больших сопротивлений и длин цепей, на выходе блока б компараторов могут по вл тьс случайные импульсы, не св занные с обрывами и замыкани ми клемм 2, 3.1 - З.п микросхемы 1. Если за период обнулени ТоЈ счетчика 8 число этих случайных импульсов не будет превышать емкости N счетчика, то импульсы не будут проходить на его выход, а также они не поступают на триггер 10 и не привод т в действие индикатор 11, т. е. исключаетс возможность индикации случайных электрических (емкостных и электромагнитных) помех.
Claims (1)
- Формула изобретени Устройство дл фиксации обрывов и ко- ротких замыканий на корпус или подложку внешних выводов твердотельных интегральных схем с диодной изол цией, содержащее п -1 клемм дл подключени объекта контрол , п токоограничивающих резисто-ров, источник напр жени , индикатор, блок компараторов, каждый из п входов которого соединен с первыми выводами каждого из п токоограничивающих резисторов и с каждой из п клемм дл подключени объекта контрол соответственно, (п + 1)- клемма которого соединена с положительным полюсом источника напр жени , отрицательный полюс которого соединен с общей точкой устройства и вторыми выводами каждого из п токоограничивающих резисторов соответственно, отличающеес тем, что, с целью повышени достоверности контрол и расширени функциональных возможностей , в него введены счетчик импульсов, генератор тактовых импульсов, триггер, элемент ИЛИ, первый вход которого соединен с выходом блока компараторов и со счетным входом счетчика импульсов, выход генератора тактовых импульсов соединен с входом начальной установки счетчика импульсов, выход которого соединен с входом триггера, выход которого соединен с вторым входом элемента ИЛИ, выход которого соединен с входом индикатора.
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
SU894665654A SU1691790A1 (ru) | 1989-03-24 | 1989-03-24 | Устройство дл фиксации обрывов и коротких замыканий на корпус или подложку внешних выводов твердотельных интегральных схем с диодной изол цией |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
SU894665654A SU1691790A1 (ru) | 1989-03-24 | 1989-03-24 | Устройство дл фиксации обрывов и коротких замыканий на корпус или подложку внешних выводов твердотельных интегральных схем с диодной изол цией |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
SU1691790A1 true SU1691790A1 (ru) | 1991-11-15 |
Family
ID=21435668
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
SU894665654A SU1691790A1 (ru) | 1989-03-24 | 1989-03-24 | Устройство дл фиксации обрывов и коротких замыканий на корпус или подложку внешних выводов твердотельных интегральных схем с диодной изол цией |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
SU (1) | SU1691790A1 (ru) |
-
1989
- 1989-03-24 SU SU894665654A patent/SU1691790A1/ru active
Non-Patent Citations (1)
Title |
---|
Авторское свидетельство СССР Мг 744386, кл. d 01 R 31/28, 1978. Авторское свидетельство СССР № 1541542, кл. G 01 R 31/28, 1985. * |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
CN101490567B (zh) | 测量电容元件容量的方法和设备 | |
US4132864A (en) | Digital measurement of the DC value in an AC signal adapted to telephone off-hook detection | |
US5019782A (en) | Method for determining the qualities and/or frequencies of electrical tuned circuits | |
SU1691790A1 (ru) | Устройство дл фиксации обрывов и коротких замыканий на корпус или подложку внешних выводов твердотельных интегральных схем с диодной изол цией | |
EP0020071A1 (en) | Missing pulse detector | |
EP0301084B1 (en) | Apparatus and method for testing contact interruptions of circuit interconnection devices | |
Khan et al. | Obsolescence in EMC risk assessment: A case study on EFT immunity of microcontrollers | |
US4728816A (en) | Error and calibration pulse generator | |
SU920788A1 (ru) | Устройство дл регистрации времени работы оборудовани | |
US4017794A (en) | Circuit for measuring time differences among events | |
SU1365223A1 (ru) | Устройство дл релейной защиты | |
SU1448315A1 (ru) | Логический пробник | |
SU1218351A1 (ru) | Устройство дл контрол правильности электрического монтажа | |
SU855552A1 (ru) | Устройство дл измерени пробивного напр жени вентильных разр дников | |
SU673940A1 (ru) | Устройство контрол надежности омических контактов полупроводниковых диодов | |
SU1529153A2 (ru) | Устройство дл контрол логических схем | |
SU756319A1 (ru) | Способ проверки монтажа 1 | |
SU1448303A1 (ru) | Устройство дл измерени сопротивлени изол ции электрических сетей посто нного тока | |
SU1762400A2 (ru) | Устройство дл обнаружени потери импульса | |
SU1176270A1 (ru) | Устройство контрол контактировани выводов интегральной схемы | |
SU1622845A1 (ru) | Устройство дл автоматического измерени экстремальных частот пьезопреобразователей | |
SU1105836A1 (ru) | Устройство дл контрол генератора тактовых импульсов | |
SU725049A1 (ru) | Устройство дл проверки цифровых микросхем к-моп типа | |
SU928257A1 (ru) | Устройство дл определени места неисправности в кабельных издели х | |
SU1705778A1 (ru) | Пробник дл проверки цепей логических устройств |