SU673940A1 - Устройство контрол надежности омических контактов полупроводниковых диодов - Google Patents
Устройство контрол надежности омических контактов полупроводниковых диодовInfo
- Publication number
- SU673940A1 SU673940A1 SU782579261A SU2579261A SU673940A1 SU 673940 A1 SU673940 A1 SU 673940A1 SU 782579261 A SU782579261 A SU 782579261A SU 2579261 A SU2579261 A SU 2579261A SU 673940 A1 SU673940 A1 SU 673940A1
- Authority
- SU
- USSR - Soviet Union
- Prior art keywords
- input
- diode
- trigger
- circuit
- short
- Prior art date
Links
Landscapes
- Testing Of Individual Semiconductor Devices (AREA)
Description
1
Изобретение относитс к электронной технике . Устройство, в частности, предназначено дл контрол качества полупроводниковых диодов при испытании их на воздействие вибрации и механических ударов с целью определени кратковременных и посто нных обрывов и коротких замыканий омических цепей испытуемых приборов.
Известно устройство дл проверки полупроводниковых диодов на обрыв и короткое замыкание 1, содержащее уравновешенный мост, в одно из плеч которого включен испытуемый диод, а в другое - эталонный прибор, а также импульсный усилитель, включенный параллельно испытуемому диг оду, триггер и исполнительное устройство. Возникновение неисправности фиксируетс по разбалансу моста.
Недостатками данного устройства вл ютс необходимость подбора эталонного диода при испытании разных типов диодов, а также необходимость предварительного уравновешивани мостовой схемы.
Наиболее близким к предлагаемому вл етс устройство контрол надежности омических контактов полупроводниковых диодов 2, содержащее генератор импульсов, блок обнаружени обрывов и коротких замыканий и блок индикации, причем возникновение неисправностей в испытуемом диоде фиксируетс по увеличению высокочастотных гармонических составл ющих импульсов , снимаемых с испытуемого диода.
Недостатком данного устройства вл етс низкое быстродействие, определ емое быстродействием используемых аналоговых устройств обработки сигнала, что не позвол ет обнаружить кратковременные отказы длительности менее определенной величины , т. е. снижает точность и достоверность результатов измерений.
Целью изобретени вл етс повыщение
точности измерений и упрощение конструкции .
Указанна цель достигаетс тем, что блок обнаружени обрывов и коротких замыканий содержит два согласующих устройства, триггер и устройство разделени импульсов, вход
Claims (2)
- которого соединен через согласующее устройство с одной из клемм дл подключени испытуемого диода, а выходы соединень с блоком индикации и с управл ющим вхоДОМ триггера, при этом тактовый вход триггера соединен через второе согласующее устройство с генератором импульсов и второй клеммой дл подключени испытуемого диода , а выход - с блоком индикации. Структурна схема описываемого устройства контрол надежности полупроводниковых диодов представлена на чертеже. Устройство содержит генератор 1 двупол рных импульсов блок 2 обнаружени обрывов и коротких замыканий, включающий согласующие устройства 3 и 4, устройство 5 разделени импульсов с выходами 6 F 7, а также триггер 8 и блок индикации 9, образуемый двум идентичными счетчиками импульсов. Устройство 5 представл ет собой совокупность резистивнодиодных вентилей, обеспечивающих разделение импульсов положительной и отрицательной пол рности, приход щих на его вход Дл обнаружени и фиксации кратковременных посто ннь х обрывов и кратковременных коротких замыканий в цепи контролируемого диода DJJ, например, при воздействии механических ударов или испытани х на вибропрочность он подключаетс через соединительные проводники или контактное устройство к клеммам между выходом генератора 1 импульсов и входом устройства 5 разделени импульсов через согласующее устройство 3. Двупол рные сигналы от генератора 1, проход через исправный испытуемый диод Dj(, преобразуютс в импульсы отрицательной пол рности, воздействующие на вход устройства разделени импульсов. При этом на входе 7 устройства разделени импульсов присутствует сигнал логического нул , а на выходе б, соединенном с управл ющим входом триггера 8 - импульсы, соответствующие импульсам входной последовательности с генератора 1. На тактовом входе триггера присутствуют импульсы, соответствующие импульсам входной последовательности с генератора 1, противофазные импульсам на выходе 6 устройства 5. Благодар этому на выходе триггера присутствует неизменный сигнал, например, логического нул . Таким образом, при контроле исправного диода на выходе блока индикации 9 отсутствуют показани . В случае возникновени обрыва в цепи провер емого диода на управл ющем входе триггера устанавливаетс посто нный потенциал логической единицы и первый, импульс на тактовом входе триггера переключает его в другое устойчи1о :осто ние. Перепад напр жени на п ьчсде триггера фиксируе бл()К(;м индикации. При пропадании и по влении дефекта (дребезг) блок индикации подсчитывает количество отказов. Посто нный обрыв устройство фиксирует как наличие одного обрыва. Если происходит короткое замыкание в цепи провер емого диода, то сигналы отрицательной пол рности проход т аналогично описанному выще и блок индикации 9 обрывы не фиксирует, а импульсы положительной пол рности проход т через другу(р цепь устройства 5 разделени импульсов и сигнал на его выходе 7 фиксируетс блоком индикации 9 как наличие в схеме короткого замыкани . При восстановлении дефекта устройство автоматически устанавливаетс в исходное состо ние, а в« случае повторени неисравностей схема работает аналогично описанному выше. Таким образом,, предлагаемое устройство позвол ет обнаруживать и фиксировать кратковременные и посто нные обрывы и кратковременные короткие замыкани в цепи диодов в широком диапазоне типономиналов диодов, его схемное решение существенно проще схемы прототипа. Выбор частоты генератора импульсов позвол ет фиксировать кратковременные отказы требуемой длительности. Формула изобретени Устройство контрол надежности омических контактов полупроводниковых диодов, содержащее генератор импульсов, блок обнаружени обрыва и коротких замыканий и блок индикации, отличающеес тем, что. с целью повышени точности измерений и упрощени конструкции, блок обнаружени обрывов и коротких замыканий содержит два согласующих устройства, триггер и устройство разделени импульсов, вход которого соединен через согласующее устройство с одной из клемм дл подключени испытуемого диода, а выходы соединены с блоком индикации с управл ющим входом триггера, тактовый вход которого соединен через второе согласующее устройство с генератором импульсов и второй клеммой дл подключени испытуемого диода, а выход - с блоком индикации.. Источники информации, прин тые во внимание при экспертизе 1.Авторское свидетельство СССР № 277954, кл. G 01 R 31/26, 07.04.69.
- 2.Авторское свидетельство СССР № 397857, кл. G 01 R 31/26, 21.11.70.
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
SU782579261A SU673940A1 (ru) | 1978-02-09 | 1978-02-09 | Устройство контрол надежности омических контактов полупроводниковых диодов |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
SU782579261A SU673940A1 (ru) | 1978-02-09 | 1978-02-09 | Устройство контрол надежности омических контактов полупроводниковых диодов |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
SU673940A1 true SU673940A1 (ru) | 1979-07-15 |
Family
ID=20748715
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
SU782579261A SU673940A1 (ru) | 1978-02-09 | 1978-02-09 | Устройство контрол надежности омических контактов полупроводниковых диодов |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
SU (1) | SU673940A1 (ru) |
-
1978
- 1978-02-09 SU SU782579261A patent/SU673940A1/ru active
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
US3711779A (en) | Apparatus for determining and characterizing the slopes of time-varying signals | |
KR100440366B1 (ko) | 테스트가능회로및테스트방법 | |
SU673940A1 (ru) | Устройство контрол надежности омических контактов полупроводниковых диодов | |
US3543148A (en) | Apparatus for automatic testing of electrical devices by testing their characteristic curves for excess of tolerance zones | |
KR910012748A (ko) | Ic테스터의 ac평가장치 | |
US3287635A (en) | Electrical discharge simulator for insulation testing including relay means connected across series capacitors | |
US4001686A (en) | Electronic circuit testing apparatus | |
CN100362353C (zh) | 时钟信号幅度的检测方法与电路 | |
SU917144A1 (ru) | Логический пробник | |
RU2046365C1 (ru) | Способ отбраковки кмоп интегральных схем по уровням надежности | |
JPS58123472A (ja) | 半導体特性測定装置 | |
SU911376A1 (ru) | Устройство дл контрол правильности электрического монтажа радиоэлектронных изделий | |
RU2020498C1 (ru) | Устройство контроля контактирования интегральных схем | |
SU1019376A1 (ru) | Устройство дл обнаружени обрывов и замыканий электродов электровакуумного прибора | |
SU615432A1 (ru) | Устройство дл контрол параметров микросхемы | |
SU1008908A1 (ru) | Стробируемый токовый дискриминатор (его варианты) | |
SU1190353A1 (ru) | Устройство дл контрол электронных блоков электронно-механических часов | |
SU834616A1 (ru) | Устройство дл контрол релейнойКОММуТАциОННОй элЕКТРОАппАРАТуРы | |
SU1191847A1 (ru) | Устройство дл контрол логических схем | |
SU788057A1 (ru) | Устройство контрол больших интегральных схем на динамических моп-структурах | |
SU304581A1 (ru) | Анализатор коротких замыканий и обрывов | |
SU968729A2 (ru) | Многоканальный дефектоскоп | |
SU524166A1 (ru) | Устройство дл измерени электрической прочности приборов | |
SU1707687A2 (ru) | Устройство дл защиты трансформатора с параллельно включенными вторичными обмотками | |
SU752180A1 (ru) | Измеритель свч-мощности |