SU1688304A1

SU1688304A1 - Способ анализа ионов в гиперболоидном масс-спектрометре типа трехмерной ловушки

Info

Publication number: SU1688304A1
Application number: SU894667860A
Authority: SU
Inventors: Эрнст Пантелеймонович Шеретов; Борис Иванович Колотилин; Андрей Петрович Борисовский; Анатолий Иванович Суслов; Андрей Борисович Ястребков; Николай Викторович Веселкин
Original assignee: Рязанский Радиотехнический Институт
Priority date: 1989-01-17
Filing date: 1989-01-17
Publication date: 1991-10-30

Abstract

Изобретение относитс к. масс-спектро- метрии и может быть использовано при создании гиперболоидных масс-спектрометров с высоким разрешением и чувствительностью . Целью изобретени вл етс расши-- рение функциональных возможностей за счет обеспечени проведени химического анализа ионов и получени более полной информации об ионах, а именно об элементарном составе ионов и их строении Способ анализа ионов в гиперболоидном масс-спектрометре заключаетс в том, что селективное воздействие лазерным излучением на ионы осуществл ют после процесса их сортировки по удельным зар дам, при этом между процессами сортировки и селективного воздействи одновременно уменьшают вплоть до нул посто нную составл ющую пол , увеличивают частоту и (или) измен ют форму ьысокочастотной составл ющей таким образом , чтобы рабочую точку, соответствующую анализируемому массовому числу, переместить вглубь диаграммы стабильности, причем во врем перевода рабочей точки внутрь диаграммы стабильности ее удерживают в пределах общей точки стабильности, а частоту ВИ пол повышают до значени , большеротого, которое соответствует нижней границе массового диапазона анализатора 2 з.п ф-лы. 1 ил. ё

Description

Изобретение относитс к масс-спектро- метрии и может быть использовано при создании гиперболоидных масс-спектрометров с высокими разрешением и чувствительностью .

Известен способ анализа ионов, по которому в рабочий объем анализатора вводит ионизирующий электронный поток дл образовани ионов. Недостатком известного способа вл етс наличие дублетов ионов с близкими массовыми числами, требующих дл их разделени высоких разрешающих способностей приборов (несколько тыс ч).

Целью изобретени вл етс расширение функциональных возможностей за счет обеспечени проведени элементного анализа i ионов и получени более полной информации об ионах, а именно об элементном составе ионов и их строении.

Способ заключаетс в том, что в рабочем обьеме анализатора образуют ионы, сортируют их по удельным зар дам, после чего измен ют положение рабочей точки отсортированных ионов, перевод ее вглубь общей диаграммы стабильности, затем селективно воздействуют лазерным излучением .

Перевод рабочей точки вглубь диаграммы стабильности можно осуществл ть пу- тем одновременного уменьшени вплоть до нул посто нной составл ющей пол и увеличени частоты высокочастотной составл ющей пол .

О 00 00 00

е

Оптимальным переводом рабочей точки вглубь диаграммы стабильности вл етс перевод ее по траектории, не выход щей за пределы общей зоны стабильности.

С целью элементного анализа состава ионов в процессе перевода рабочей точки частоту высокочастотного пол повышают до значени , большего того, которое соответствует нижней границе массового диапазона масс-анализатора.

Перевод рабочей точки отсортированных ионов вглубь диаграммы стабильности перед процессом селективного воздействи лазерного излучени позвол ет удерживать в рабочем объеме анализатора после диссоциации все образовавшиес осколки отсортированных ионов. Вывод их последовательно на детектор позвол ет анализировать элементный состав отсортированных ионов.и, соответственно , проводить их идентификацию.

На чертеже приведена обща диаграмма стабильности дл гиперболоидного масс- спектрометра типа трехмерной ловушки.

В исходном состо нии лини (0В) развертки спектра масс проходит вблизи вершины общей зоны стабильности (положение I). При этом одним из известных способов производитс ионизаци и образутюс ионы в рабочем объекте масс-спектрометра. Образовавшиес ионы сортируютс по удельным зар дам, и в результате этого в рабочем объеме остаютс только ионы избранной массы (анализируемые ионы). После сортировки путем уменьшени посто нной составл ющей пол и увеличени частоты рабоча точка отсортированного иона переводитс из положени А вглубь диаграммы стабильности, например в точку С, в данном случае посто нна составл юща пол снимаетс положение II линии развертки). Перевод рабочей точки осуществл етс по некоторой кривой (АС), котора вс лежит внутри общей зоны стабильности. Последнее желательно, так как в противном случае в процессе перевода возможны потери части ионов при прохождении их рабочей точки через нестабильные области диаграммы. После перевода рабочей точки в точку С включают лазерное излучение, которое избирательно взаимодействуете анализируемыми ионами.

В результате взаимодействи происходит диссоциаци анализируемых ионов на зар женные осколки, они захватываютс полем и остаютс в ловушке. После взаимодействи с

лазерным излучением осколки и сами анализируемые ионы последовательно вывод т в сторону детектора, определ таким образом их массовый спектор,

Устройство, реализующее данный способ анализа, включает в себ электронный источник, анализатор гиперболоидного масс- спектрометра, детектор ионов, высокочастот- ных генератор с блоком управлени , подключенный к анализатору ИК-лаэер.

Использование данного способа анализа ионов позвол ет проводить анализ элементного состава сложных ионов за счет их фотодиссоциации, определить наиболее эффективные каналы фотодиссоциации.

Claims

1. Способ анализа ионов в гиперболоид- ном масс-спектрометре типа трехмерной ловушки , заключающийс в их сортировке по удельным зар дам и селективном воздействии на них лазерным излучением, отличающийс тем, что, с целью расширени функциональных возможностей за счет обеспечени проведени элементного анализа ионов, селективное воздействие лазерным

излучением осуществл ют после процесса сортировки, при этом между процессами сортировки и селективного воздействи одновременно уменьшают вплоть до нул посто нную составл ющую пол , увеличивают

частоту и (или) измен ют форму высокочастотной составл ющей так, чтобы рабочую точку, соответствующую анализируемому массовому числу, переместить вглубь диаграммы стабильности.

2. Способ по п. 1,отличающийс тем, что во врем перевода рабочей точки вглубь диаграммы стабильности ее удерживают в пределах общей зоны стабильности .

3. Способ по п. 2, отличающийс тем, что в процессе перевода рабочей точки частоту высокочастотного пол повышает до значени , большего того, которое соответствует нижней границе массового диапазона анализатора.

0.4 0.5 0,6 $