RU2199793C2 - Способ анализа заряженных частиц в гиперболоидном масс-спектрометре - Google Patents

Способ анализа заряженных частиц в гиперболоидном масс-спектрометре

Info

Publication number
RU2199793C2
RU2199793C2 RU98119225A RU98119225A RU2199793C2 RU 2199793 C2 RU2199793 C2 RU 2199793C2 RU 98119225 A RU98119225 A RU 98119225A RU 98119225 A RU98119225 A RU 98119225A RU 2199793 C2 RU2199793 C2 RU 2199793C2
Authority
RU
Russia
Prior art keywords
particles
analyzer
charged particles
specific charge
mass spectrometer
Prior art date
Application number
RU98119225A
Other languages
English (en)
Other versions
RU98119225A (ru
Inventor
Э.П. Шеретов
Т.Б. Карнав
Original Assignee
Шеретов Эрнст Пантелеймонович
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Шеретов Эрнст Пантелеймонович filed Critical Шеретов Эрнст Пантелеймонович
Priority to RU98119225A priority Critical patent/RU2199793C2/ru
Publication of RU98119225A publication Critical patent/RU98119225A/ru
Application granted granted Critical
Publication of RU2199793C2 publication Critical patent/RU2199793C2/ru

Links

Landscapes

  • Electron Tubes For Measurement (AREA)
  • Other Investigation Or Analysis Of Materials By Electrical Means (AREA)

Abstract

Изобретение относится к гиперболоидной масс-спектрометрии и может быть использован при создании приборов с высокой эффективностью удержания избранных заряженных частиц в рабочем объеме анализатора. Техническим результатом является повышение отношения сигнал/шум для данного прибора и существенное улучшение аналитических характеристик прибора. По предложенному способу анализа заряженных частиц в гиперболоидном масс-спектрометре заряженные частицы с избранным удельным зарядом сжимают к центру электронной системы или к ее оси симметрии путем подбора фазы ввода частиц в электрическое поле и параметров поля, при которых избранные частицы во время удержания совершают движения по базовым траекториям. 1 ил.

Description

Способ анализа заряженных частиц в гиперболоидных масс-спектрометрах предназначен для масс-спектрометрии и может быть использован при создании гиперболоидных масс-спектрометров с высокими чувствительностью и разрешающей способностью.
Известен способ анализа заряженных частиц в гиперболоидных масс-спектрометрах [1]. По известному способу анализируемые заряженные частицы вводят в рабочий объем анализатора и сортируют по удельным зарядам. При этом в рабочем объеме удерживают заряженные частицы с избранным удельным зарядом, а частицы с отличным удельным зарядом выводят на полезадающие электроды анализатора. После сортировки оставшиеся в рабочем объеме заряженные частицы выводят в измерительное устройство. По известному способу рабочие точки заряженных частиц, оставшихся в рабочем объеме анализатора, расположены в стабильной области общей зоны стабильности, а рабочие точки заряженных частиц с отличными удельными зарядами располагаются в нестабильной области общей диаграммы стабильности. В гиперболоидном масс-спектрометре типа трехмерной ловушки время удержания заряженных частиц с избранными удельными зарядами выбирается произвольно, тогда как в гиперболоидном масс-спектрометре типа фильтр-масс оно определяется временем пролета частиц вдоль оси симметрии квадрупольной электродной системы. Недостатком известного способа является то, что удерживаемые в рабочем объеме заряженные частицы во время сортировки занимают практически весь рабочий объем, что приводит к значительному влиянию нелинейных искажений поля, всегда существующих в анализаторе, и соответственно к ухудшению разрешающей способности и чувствительности прибора. Дополнительным недостатком известного способа является то, что в силу отмеченной выше особенности движения "стабильных" частиц оказывается необходимым выполнять выходное отверстие в торцевых электродах для вывода частиц в измерительное устройство большого диаметра. Это существенно увеличивает уровень шума на входе умножителя измерительного устройства.
Известен способ анализа в гиперболоидных масс-спектрометрах, по которому отмеченные недостатки частично устраняются [2]. В прототипе путем ввода в рабочий объем анализатора буферного газа (как правило, с малой массой его молекул, например гелия) во время удержания стабильных частиц за счет трения на буферном газе осуществляют дополнительное сжимание этих частиц к центру электродной системы (в анализаторе типа "ионная ловушка") либо к оси симметрии электродной системы в квадрупольном фильтре-масс. При этом уменьшается влияние нелинейных искажений поля, и появляется возможность уменьшения размера входного канала.
Однако прототип имеет существенный недостаток, связанный с тем, что эффективность сжимания ионов к центру электродной системы при использовании трения на буферном газе оказывается в сильной степени зависимой от рода сжимаемых частиц и положения их рабочих точек на диаграмме стабильности. Это является причиной появления дискриминации анализа.
Целью настоящего изобретения является создание способа анализа заряженных частиц в гиперболоидном масс-спектрометре, который был бы свободен от недостатков, свойственных прототипу, а именно, позволял бы существенно улучшить аналитические характеристики прибора: разрешающую способность и чувствительность.
Указанная цель достигается тем, что анализируемые заряженные частицы вводят в рабочий объем анализатора, удерживают в рабочем объеме частицы с избранным удельным зарядом, при этом сжимая их к центру электродной системы или к ее оси симметрии, а частицы с отличным от избранного удельным зарядом выводят из рабочего объема на полезадающие электроды анализатора, после чего оставшиеся в рабочем объеме анализатора заряженные частицы с избранным удельным зарядом выводят в измерительное устройство, причем, в отличие от прототипа, частицы с избранным удельным зарядом во время удержания заставляют совершать движение по базовым траекториям путем подбора фазы ввода частиц в электрическое поле и параметров поля.
Движение по базовым траекториям могут осуществлять только заряженные частицы, рабочие точки которых находятся в нестабильных областях диаграммы стабильности [3]. Таким образом, в отличие от аналога и прототипа, в которых в анализаторе удерживают частицы, рабочие точки которых находятся в стабильных областях диаграммы стабильности, по предлагаемому способу удерживают заряженные частицы, рабочие точки которых находятся в нестабильных областях диаграммы стабильности (в общем случае) уравнения Хилла. Замечательной особенностью базовых траекторий является то, что от периода к периоду и координата и скорость частицы уменьшаются и во времени стремятся к нулю. В идеальном случае, такие частицы стремятся в состояние равновесия, при котором их координата и скорость равны нулю. Для того чтобы заряженная частицы начала двигаться по базовой траектории (имеется в виду зависимость координаты от времени) необходимо подобрать определенное соотношение между фазой ввода частицы в ВЧ поле, параметрами поля и начальной координатой и скоростью частицы [3] . Известны два фундаментальных типа базовых траекторий. Базовая траектория первого рода и базовая траектория второго рода. Базовая траектория первого рода соответствует начальным условиям R0=1 и
Figure 00000002
(где R - начальная координата,
Figure 00000003
- начальная скорость по избранной координатной оси). Базовая траектория второго рода соответствует начальным условиям R0=0 и
Figure 00000004
. Оказывается, что, вне зависимости от значения начальной координаты, базовой траектории первого рода на диаграмме стабильности для данной координатной оси соответствует определенная кривая, конфигурация которой определяется только фазой образования частицы. Для базовой траектории второго рода соответственно, вне зависимости от значения начальной скорости, соответствует кривая, положение которой на диаграмме стабильности также определяется только фазой образования (ввода) частицы в поле. Если построить общую диаграмму стабильности для анализатора гиперболоидного масс-спектрометра (которая получается путем наложения диаграмм стабильности, соответствующих различным координатным осям), то кривые, соответствующие базовым траекториям первого и второго рода различных координатных осей, будут пересекаться в точках, определяемых начальной фазой ввода. Совокупность таких точек будет определять на общей диаграмме стабильности линии абсолютной фокусировки. Если рабочая точка заряженной частицы, введенной в поле, например, без начальной скорости (или с очень малой начальной скоростью, например тепловой), лежит на такой линии (в данном случае линии, образованной точками пересечения линий базовых решений первого и второго рода по двум координатам), то такая заряженная частица, двигаясь по обеим координатам по соответствующим базовым траекториям, через некоторое время после начала движения сфокусируется в начало координат данного поля (т.е. либо в центр электродной системы, если это ионная ловушка, либо к продольной оси, если это квадрупольный фильтр-масс). Понятно, что, если использовать предлагаемый способ в квадрупольном фильтре-масс, выходное отверстие для вывода отсортированных ионов в измерительное устройство можно сделать с весьма малым диаметром, что существенно повышает отношение сигнала к шуму.
На чертеже приведена траектория заряженной частицы, рабочая точка которой расположена на линии абсолютной фокусировки для осесимметричного анализатора типа трехмерной ионной ловушки. Траектория приведена для начальных условий первого рода (начальная скорость равна нулю). Траектория построена для импульсного питания (меандр) а1=3,741109 и а2=-2,5368118 и при фазе ввода частицы в поле, равной 0,3 (в долях длительности периода ВЧ поля) во время действия фокусирующего поля по оси R.
Из чертежа хорошо видно, что, удерживаясь в рабочем поле анализатора (|Zmax|<1) и |Rmax|<1), заряженная частица со временем стремится к центру электродной системы. Понятно, что после прохождения определенного времени, такие частицы можно обычным для такого класса масс-анализаторов способом вывести за пределы анализатора через весьма малое отверстие в торцевом электроде, если создать предельное электрическое поле в анализаторе.
Таким образом, предлагаемый способ анализа ионов в гиперболоидном масс-спектрометре позволяет, не прибегая к использованию буферного газа наряду с избирательным удержанием заряженных частиц в рабочем объеме анализатора, осуществлять их сжимание к центру электродной системы, что позволяет в 7-9 раз увеличить отношение сигнал/шум для данного прибора и существенно улучшить аналитические характеристики прибора.
Источники информации
1. Paul W. , Reinhard H. P. und U. Von Zahn, Zeitschift fur Physik, 152,143,1958.
2. Stafford G. C., Kelly P.E. Recent Improvement in an Analytical Applications of Advanced Ion Trap Technology Journal of Mass Spectrometry and Ion Processes, v.60, 1984, p. 85-98.
3. Шеретов Э. П. О некоторых особенностях "нестабильных" траекторий в гиперболоидных масс-спектрометрах (ГМС), "Научное приборостроение" - Межвузовский сборник научных трудов, Рязань, с. 31-37, 1994.

Claims (1)

  1. Способ анализа зараженных частиц в гиперболоидном масс-спектрометре, по которому анализируемые заряженные частицы вводят в рабочий объем анализатора, удерживают в рабочем объеме частицы с избранным удельным зарядом, при этом сжимая их к центру электродной системы или к ее оси симметрии, а частицы с отличным от избранного удельным зарядом выводят из рабочего объема на полезадающие электроды анализатора, после чего оставшиеся в объеме анализатора частицы с избранным удельным зарядом выводят в измерительное устройство, отличающийся тем, что частицы с избранным удельным зарядом во время удержания заставляют совершать движение по базовым траекториям путем подбора фазы ввода частиц в электрическое поле и параметров поля.
RU98119225A 1998-10-23 1998-10-23 Способ анализа заряженных частиц в гиперболоидном масс-спектрометре RU2199793C2 (ru)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
RU98119225A RU2199793C2 (ru) 1998-10-23 1998-10-23 Способ анализа заряженных частиц в гиперболоидном масс-спектрометре

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
RU98119225A RU2199793C2 (ru) 1998-10-23 1998-10-23 Способ анализа заряженных частиц в гиперболоидном масс-спектрометре

Publications (2)

Publication Number Publication Date
RU98119225A RU98119225A (ru) 2000-08-20
RU2199793C2 true RU2199793C2 (ru) 2003-02-27

Family

ID=20211569

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
RU98119225A RU2199793C2 (ru) 1998-10-23 1998-10-23 Способ анализа заряженных частиц в гиперболоидном масс-спектрометре

Country Status (1)

Country Link
RU (1) RU2199793C2 (ru)

Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
RU2447539C2 (ru) * 2009-05-25 2012-04-10 Закрытое акционерное общество "Геркон-авто" Анализатор пролетного квадрупольного масс-спектрометра (типа фильтр масс, "монополь" и "триполь")
RU2458428C2 (ru) * 2009-11-25 2012-08-10 Эрнст Пантелеймонович Шеретов Анализатор квадрупольного масс-спектрометра пролетного типа с трехмерной фокусировкой
RU2557010C2 (ru) * 2013-08-27 2015-07-20 Эрнст Пантелеймонович Шеретов Способ анализа заряженных частиц (ионов) в гиперболоидных масс-спектрометрах

Non-Patent Citations (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Title
Stafford G.C., Kelly P.E. Recent Improvement in an Analytical Applications of Advanced Ion Trap Technology Joumal of Mass Spectrometry and Ion Processes, V. 60, 1984, P. 85-98. *

Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
RU2447539C2 (ru) * 2009-05-25 2012-04-10 Закрытое акционерное общество "Геркон-авто" Анализатор пролетного квадрупольного масс-спектрометра (типа фильтр масс, "монополь" и "триполь")
RU2458428C2 (ru) * 2009-11-25 2012-08-10 Эрнст Пантелеймонович Шеретов Анализатор квадрупольного масс-спектрометра пролетного типа с трехмерной фокусировкой
RU2557010C2 (ru) * 2013-08-27 2015-07-20 Эрнст Пантелеймонович Шеретов Способ анализа заряженных частиц (ионов) в гиперболоидных масс-спектрометрах

Similar Documents

Publication Publication Date Title
US8841610B2 (en) Quadrupole mass spectrometer with enhanced sensitivity and mass resolving power
AU2002238327B2 (en) Controlling the temporal response of mass spectrometers for mass spectrometry
EP0237268B1 (en) Method of mass analysing a sample
US4933551A (en) Reversal electron attachment ionizer for detection of trace species
EP1009015A2 (en) Space change control method for improved ion isolation in ion trap mass spectrometer by dynamically adaptive sampling
US9536719B2 (en) Methods for broad-stability mass analysis using a quadrupole mass filter
WO2021061650A1 (en) Apparatus and method for pulsed mode charge detection mass spectrometry
US20220373512A1 (en) Duty Cycle Improvement for a Mass Spectrometer Using Ion Mobility Separation
US10186412B2 (en) Digital waveform manipulations to produce MSn collision induced dissociation
RU2199793C2 (ru) Способ анализа заряженных частиц в гиперболоидном масс-спектрометре
US3922543A (en) Ion cyclotron resonance spectrometer and method
EP3671807B1 (en) Multidimensional dynode detector
Cooks et al. Quadrupole mass filters and quadrupole ion traps
RU2260871C2 (ru) Способ анализа в гиперболоидном масс-спектрометре типа &#34;трехмерная ионная ловушка&#34;
RU2308117C2 (ru) Способ анализа в гиперболоидном масс-спектрометре типа &#34;трехмерная ионная ловушка&#34;
Harrison et al. Mass spectrometry of glow discharges
Boumsellek et al. Pulsed, gridded electron reversal ionizer
US20200321205A1 (en) Chunking Algorithm for Processing Long Scan Data from a Sequence of Mass Spectrometry Ion Images
RU2159481C1 (ru) Способ разделения ионов по удельному заряду и устройство для его осуществления
RU2269179C2 (ru) Способ анализа ионов по удельным зарядам в гиперболоидном масс-спектрометре типа &#34;трехмерная ловушка&#34; с вводом анализируемых ионов извне
Dunn et al. Electron Impact Dissociative Excitation and Ionization of Molecular Ions
RU93041396A (ru) Способ масс-спектрометрического анализа в гиперболоидном масс-спектрометре типа ионной ловушки
RU2000111368A (ru) Способ анализа заряженных частиц в гиперболоидных масс-спектрометрах

Legal Events

Date Code Title Description
MM4A The patent is invalid due to non-payment of fees

Effective date: 20091024