SU1688109A1 - Способ измерени децентрировки асферической оптической поверхности - Google Patents
Способ измерени децентрировки асферической оптической поверхности Download PDFInfo
- Publication number
- SU1688109A1 SU1688109A1 SU884626445A SU4626445A SU1688109A1 SU 1688109 A1 SU1688109 A1 SU 1688109A1 SU 884626445 A SU884626445 A SU 884626445A SU 4626445 A SU4626445 A SU 4626445A SU 1688109 A1 SU1688109 A1 SU 1688109A1
- Authority
- SU
- USSR - Soviet Union
- Prior art keywords
- axis
- aspherical surface
- angle
- rotation
- measured
- Prior art date
Links
Landscapes
- Length Measuring Devices By Optical Means (AREA)
Abstract
Изобретение относитс к измерительной технике и может быть использовано дл контрол децентрировки линз с асферическими поверхност ми. Целью изобретени вл етс повышение точности измерени за счет выбора оптимальных точек асферической поверхности, в которых производитс определение величины децентрировки, а также оптимальной ориентации узла регистрации измерительного датчика. Пучки лучей источника 1 излучени освещают тест-объект 2. Первоначально измерительный датчик находитс в положении, при котором тест-объект фокусируетс оптической системой 3 в точку пересечени асферической оптической поверхности 5 с осью I-I, в котоИзобретение относитс к измерительной технике и может быть использовано дл контрол децентрировки линз с асферическими поверхност ми. Цель изобретени - повышение точности измерени за счет выбора оптимальных точек асферической поверхности, в которых производитс определение величины децентрировки , а также оптимальной ориентации узла регистрации измерительного датчика. рой при повороте измер емой асферической поверхности на 360° определ ют угол А у (х 0) кругового конуса, который описывает отраженный пучок лучей, Этот угол определ ет величину децентрировки измер емой асферической поверхности в точке при ее вершине. Дл определени направлени оси асферической поверхности 5 относительно оси И необходимо определение координат еще одной точки оси симметрии асферической поверхности. С этой целью смещают измерительный датчик в положение , при котором тест-объект 2 фокусируетс в точку асферической поверхности 5, имеющей наибольшее по модулю значение аберрации нормали. Кроме того, узел 4 регистрации измерительного датчика поворачивают в положение, при котором угол между осью I-I поворота асферической поверхности и нормалью к плоскости узла регистрации будет равен заданному значению. После чего определ ют угол А у (х), по которому рассчитывают величину децентрировки в измер емой зоне. 2 ил. Ё На фиг.1 и 2 представлена функциональна схема устройства, реализующего предложенный способ, при двух его положени х . Устройство содержит измерительный датчик в виде источника 1 излучени , тест-объекта 2, оптической системы 3 и узла 4 регистрации и базировочный узел (не показан). Контролируемую асферическую поверхность 5 устанавливают в базировочный узел с возможностью поворота вокруг оси 1-1. С 00 00 о ю
Description
Форма образующей асферической по верхности вращени определ етс рыоаже- нием
X2 AiZ + A2Z2 + AsZ3 . ., где X и Z - оси координ.чт;
А1,А,Аз - коэффициенты.
Пучки лучей источника 1 излучени освещают тест-обьект 2, Первоначально измерительный датчик находитс в положении, при котором тест-обьект 2 фокусируетс оптической системой 3 в точку пересечени асферической оптической поверхности с осью I-I.
В точке при вершине асферической оп тической поверхности 5 (х 0) асферическа поверхность 5 точно аппроксимируетс сферой с радиусом R0 В этом случае при повороте измер емой асферической поверхности 5 вокруг оси I-I отраженный от нее пучок лучей описывает круговой конус с углом при вершине Ау (х - 0), который определ ет величину децентрировки контролируемой асферической поверхности 5 в точке при ее вершине
Дл определени направлени оси асферической поверхности 5 относительно оси I-I необходимо определение координат еще одной точки оси симметрии асферической поверхности 5
С этой целью помещают измерительный датчик в положение, при котором тесг- объект2 фокусируетс в точку асферической поверхности 5, имеющую наибольшее по модулю значение аберрации нормали, и асферическа поверхность 5 достаточно точно аппроксимируетс сферой радиусом, равным сагиттальному радиусу Rs асферической поверхности в указанной точке. Узел 4 регистрации измерительного датчика разворачивают в плоскости, образованной осью I-I вращени контролируемой поверхности и оптической осью оптической системы 3. При этом значение угла между осью I-I и нормалью к плоскости узла 4 регистрации устанавливают из соотношени
2 cos ft (1 - 2-- ) cos / +
Rs ( )
ч 2 -{5-4-v /ТГЩхГ Tsm/9 , (1) П R,(x)
где/5- угол между оптической осью формирующей оптической системы 3 и осью поворота 1-1 контролируемой асферической поверхности
При повороте измер емой асферической поверхности вокруг оси 1-1 отраженный от нее пучок лучей описывает в пространс.i- ве эллиптический конус, определ емый мак- симальными угловыми размерами в
плоскост х XnOZn и YnOZn в Дух и Дуу соответственно Величины углов Дух и Ауу определ ют величину децентрировки С контролируемой асферической поверхности 5 в ее осесимметричной зоне, характеризуемой координатой X,
AJ1
4(Л«,(х)Л-х со5/3 -Х5 р
4R((3l4X s.nft
..
(Z)
R5(XlV R5U)2
5Как видно из (2), величины углов Аух и
Дуу при фиксированом значении С завис т от величины угла/3 между осью поворота I-I контролируемой поверхности и нормалью к плоскости регистрации Это означает, что чувствительность измерени децентрировки может регулироватьс за счет изменени угла ft . Максимальное значение чувствительности измерени достигаетс при величине/3 , определ емой по соотношению (1).
5Таким образом предложенный способ
обеспечивает повышение точности измерени децентрировки асферической поверхности 5 за счет определени величины децентрировки асферической поверхности
0 5 в такой ее точке, где эта величина имеет наибольшее значение, при этом плоскость регистрации поворачивают на заданный угол, обеспечивающий наибольшую чувствительность
5
Claims (1)
- Формула изобретени Способ измерени децентрировки асферической оптической поверхности относительно оси вращени , заключающийс в0 том, что освещают тест-объект пучком лучей, формируют изображение тест-обьекта на измер емой асферической поверхности в точке пересечени этой поверхности с осью вращени , регистрируют посредством узла5 регистрации изменение угла, под которым пучок лучей отражаетс от измер емой поверхности при ее вращении относительно оси вращени , отличающийс тем, что, с целью повышени точности измерени , смещают тест-обьект в положение, при ко0 тором его изображение формируетс в точке измер емой поверхности, имеющей максимальное значение модул аберрации нормали измер емой асферической поверхности , поворачивают узел регистрации на5 заданный угол, регистрируют посредством узла регистрации изменение угла, под которым пучок лучей отражаетс от измер емой поверхности при ее вращении относительнооси вращени , и рассчитывают величину С децентрировки по формулесR|(X|- лу4(TRf(xl -X coS|J XsihfV K. -хтсо5(3 4хз;п(5)4(Rs-2)где Rt{x), Rs(x) - соответственно меридиональный и сагиттальный радиусы кривизны асферической поверхности в ее зоне с координатой х;X - координата точки асферической поверхности, имеющей максимальное значение модул аберрации нормали;- угол между нормалью к плоскостирегистрации и осью вращени ;Д}Ъ и Д} наибольшие изменени угла, под которым пучок лучей отражаетс от измер емой асферической поверхности при ее вращении относительно оси враще0 ни соответственно в плоскост х XnOZn и Уп02п,св эанной с узлом регистрации системы координат XnYnZn, ось Zn которой на- правлена по нормали к плоскости регистрации, а ось вращени и точка, в ко5 торой формируетс изображение тест-образца , лежат в плоскости YnOZn./У, 4Фиг. 24
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
SU884626445A SU1688109A1 (ru) | 1988-12-27 | 1988-12-27 | Способ измерени децентрировки асферической оптической поверхности |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
SU884626445A SU1688109A1 (ru) | 1988-12-27 | 1988-12-27 | Способ измерени децентрировки асферической оптической поверхности |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
SU1688109A1 true SU1688109A1 (ru) | 1991-10-30 |
Family
ID=21417904
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
SU884626445A SU1688109A1 (ru) | 1988-12-27 | 1988-12-27 | Способ измерени децентрировки асферической оптической поверхности |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
SU (1) | SU1688109A1 (ru) |
Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
RU186481U1 (ru) * | 2018-09-25 | 2019-01-22 | АКЦИОНЕРНОЕ ОБЩЕСТВО "Научно-исследовательский институт оптико-электронного приборостроения" (АО "НИИ ОЭП") | Интерферометрическое устройство центрировки оптических элементов с асферическими поверхностями в оправах |
RU201539U1 (ru) * | 2020-03-10 | 2020-12-21 | АКЦИОНЕРНОЕ ОБЩЕСТВО "Научно-исследовательский институт оптико-электронного приборостроения" (АО "НИИ ОЭП") | Устройство центрировки оптических элементов с асферическими поверхностями в оправах |
-
1988
- 1988-12-27 SU SU884626445A patent/SU1688109A1/ru active
Non-Patent Citations (1)
Title |
---|
J.Optics. Paris, 1977, vol.9, Nfe 1, p. 31-44. * |
Cited By (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
RU186481U1 (ru) * | 2018-09-25 | 2019-01-22 | АКЦИОНЕРНОЕ ОБЩЕСТВО "Научно-исследовательский институт оптико-электронного приборостроения" (АО "НИИ ОЭП") | Интерферометрическое устройство центрировки оптических элементов с асферическими поверхностями в оправах |
RU186481U9 (ru) * | 2018-09-25 | 2019-04-01 | АКЦИОНЕРНОЕ ОБЩЕСТВО "Научно-исследовательский институт оптико-электронного приборостроения" (АО "НИИ ОЭП") | Интерферометрическое устройство центрировки оптических элементов с асферическими поверхностями в оправах |
RU201539U1 (ru) * | 2020-03-10 | 2020-12-21 | АКЦИОНЕРНОЕ ОБЩЕСТВО "Научно-исследовательский институт оптико-электронного приборостроения" (АО "НИИ ОЭП") | Устройство центрировки оптических элементов с асферическими поверхностями в оправах |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
US10907953B1 (en) | Six degree-of-freedom (DOF) measuring system and method | |
US8913234B2 (en) | Measurement of the positions of centres of curvature of optical surfaces of a multi-lens optical system | |
CN1829899B (zh) | 用于检查或校准高精度试件的角相关对准的方法 | |
CN109655837B (zh) | 一种激光测距方法及激光测距仪 | |
US8760666B2 (en) | Method and apparatus for measuring spacings between optical surfaces of an optical system | |
CN1950669A (zh) | 光学精密测量装置和方法 | |
US4204772A (en) | Optical measuring system | |
WO2000071972A1 (en) | Measuring angles of wheels using transition points of reflected laser lines | |
US4281926A (en) | Method and means for analyzing sphero-cylindrical optical systems | |
SU1688109A1 (ru) | Способ измерени децентрировки асферической оптической поверхности | |
ES2381519T3 (es) | Procedimiento y dispositivo para la determinación y medición de desviaciones en la forma y ondulaciones en piezas rotacionalmente simétricas | |
JP3597222B2 (ja) | レンズ,反射鏡等の偏心測定法及びそれを利用した機械 | |
JP3868416B2 (ja) | 角速度補正装置 | |
CN103968787B (zh) | 用于对结构的元件的位置进行测量的测量方法和系统 | |
JP5032741B2 (ja) | 3次元形状測定方法及び3次元形状測定装置 | |
JP2735104B2 (ja) | 非球面レンズの偏心測定装置及び測定方法 | |
RU2275652C2 (ru) | Способ локации источника излучения и устройство для его реализации | |
CN103063227A (zh) | 辅助经纬仪与靶标光路对接的指向装置及光路对接方法 | |
RU201539U1 (ru) | Устройство центрировки оптических элементов с асферическими поверхностями в оправах | |
RU2800187C1 (ru) | Устройство определения астрономического азимута | |
RU2769636C1 (ru) | Система бесконтактного определения координат мобильного робота и способ для ее реализации | |
SU1562691A1 (ru) | Способ определени радиусов кривизны сферических поверхностей и устройство дл его осуществлени | |
SU1115715A1 (ru) | Кератометр | |
RU1796896C (ru) | Способ измерени углов между отражающими элементами | |
SU401899A1 (ru) | Способ определения сферической аберрации зеркально отражающей поверхности |