SU401899A1

SU401899A1 - Способ определения сферической аберрации зеркально отражающей поверхности

Info

Publication number: SU401899A1
Application number: SU1655532A
Authority: SU
Inventors: И. Молчанов И.
Priority date: 1971-05-11
Filing date: 1971-05-11
Publication date: 1973-10-12

Description

1

Изобретение относитс к оптико-механической промышленности и может быть использовано дл определени аберрации отражающих поверхностей, например, концентраторов оптического излучени , примен емых в гелиотехнике .

Известны способы определени сферической аберрации зеркально отражающей поверхности путем наблюдени отраженных от исследуемой зеркальной поверхности узких параллельных лучей, получаемых с помощью непрозрачного экрана с отверсти ми и последующего фотографировани их на фотопластине , помещаемой в фокусе исследуемой отражающей поверхности.

Предлагаемый способ отличаетс от известных тем, что исследуемую поверхность визируют с помощью оптического угломерного инструмента по линии, не совпадающей с направлением лучистого потока, отраженного от этой поверхности, и располагают в поле зрени угломерного инструмента координатную сетку, видную при изменении угла наблюдени исследуемой поверхности. Затем осуществл ют пространственную прив зку опорных точек базы поверхности и считывают линейные координаты точки изображени координатной сетки при различных углах визировани исследуемой поверхности. Это позвол ет получать аберрограммы больщих отражающих поверхностен при одновременном и независимом исследовании всех их участков.

На чертеже изображено взаимное расположение линии визировани угломерного инструмента , координатной сетки и контрольных точек исследуемой поверхности.

В точке 1 (на чертел е) расположен оптический угломерный инструмент. Лини визировани 2 при наблюдении контролируе - го

участка 3-4 отражающей поверхност- о проходит вне направлени 6 лучей. Н плоскости координатной сетки 7 точки 8 У есть точки, изображени которых наход тс на линии визировани угломерного инструмента при углах

визировани а, соотьетствующих точкам 3 и 4 поверхности 5

Способ заключаетс в следующем. Угломерный инструмент располагают в некоторой точке 1 так, чтобы его лини визировани 2 при изменении угла наблюдени данного участка 3-4 зеркально отражающей поверхности 5 в данной плоскости наблюдени 1-3-4, т. е. в плоскости сн ти аберрограммы , находилось вне направлени 6, отраженного этим участком поверхности лучистого потока, падающего на поверхность. Плоскость координатной сетки (шкалы) 7 располагают относительно поверхности так, чтобы при указанном изменении угла наблюдени в поле зрени угломера находилось изображеиие участков в точках 8-9 сетки в соответствующем участке 3-4 поверхности, с которого снимаетс аберрограмма.

Затем с помощью установлен 1ого таким образом угломера осуществл ют пространственную прив зку поверхности и сетки, т. е. определ ют угловые координаты трех опорных точек базы поверхпости, например 3, 4 и 10, и трех опорных точек координатной сетки, например 8, 9 и 11, (не лежащих на пр мой) относительно одной из них, например 3, прин той за начальную. Последовательно измен угол наблюдени а, считывают линейные координаты точки 12 изображени координатной сетки, наблюдаемой на линии визировани оптического угломерного инструмента в соответствующем элементе отражающей поверхности - точки 13. Полученные данные позвол ют рассчитать величину аберраций.

В качестве угломерного оптического инструмента примен ют, например, теодолит. В качестве опорных точек поверхности используют технологическую базу {центр, обод и т. п.).

Дл ускорени измерений и фиксации их результатов фотографируют наблюдаемую щкалу оптического угломерного инструмента и изображение координатной сетки при каждом изменении угла наблюдени поверхности.

Дл упрощени вычислений при сн тии меридиональных аберрограмм отражател с оптической осью примен ют в качестве координатной сетки измерительную линейку, которую размещают, например, вдоль оптической оси.

Точность измерений зависит, в частности, от рассто ни координатной сетки (измерительной линейки) до фокуса отражающей поверхности и до самой поверхности. Дл исследовани очень больщих зеркал сн тие аберрограмм предлагаемым способом можно проводить по участкам, сохран выбранные опорные точки.

Аберрограммы в других плоскост х (сечени х поверхности) получают изменением плоскости наблюдени .

Предмет изобретени

Способ определени сферической аберрации зеркально отражающей поверхности путем наблюдени ее оптического изображени , отличающийс тем, что, с целью получени аберрограммы больщих отражающих поверхностей при одновременном и независимом исследовании всех их участков, визируют испытуемую поверхность с помощью оптического угломерного инструмента по линии, не совпадающей с направлением отраженного от этой поверхности лучистого потока, и располагают в поле зрени угломерного инструмента координатную сетку, видную при различных углах наблюдепи исследуемой поверхности, затем осуществл ют пространственную прив зку опорных точек базы поверхности и считывают линейные координаты точки изображени координатной сетки при различных углах визировани исследуемой поверхности.