SU1681279A1 - Способ измерени диэлектрической проницаемости жидкостей - Google Patents
Способ измерени диэлектрической проницаемости жидкостей Download PDFInfo
- Publication number
- SU1681279A1 SU1681279A1 SU894682741A SU4682741A SU1681279A1 SU 1681279 A1 SU1681279 A1 SU 1681279A1 SU 894682741 A SU894682741 A SU 894682741A SU 4682741 A SU4682741 A SU 4682741A SU 1681279 A1 SU1681279 A1 SU 1681279A1
- Authority
- SU
- USSR - Soviet Union
- Prior art keywords
- electromagnetic wave
- prism
- dielectric
- ellipticity
- minimum
- Prior art date
Links
Landscapes
- Measurement Of Resistance Or Impedance (AREA)
- Investigating Or Analysing Materials By Optical Means (AREA)
Abstract
Изобретение относитс к измерительной технике и может быть использовано дл измерени диэлектрических проницаемо- стей жидкостей с малыми потер ми. Целью изобретени вл етс повышение точности. Способ реализуетс путем облучени исследуемой жидкости электромагнитной волной через диэлектрическую призму 2 нарушенного полного внутреннего отражени , причем плоскость пол ризации электромагнитной волны установлена под углом 45° к грани диэлектрической призмы 2. В исследуемой жидкости размещено металлическое зеркало 5. Измер ют Эллипсометрические параметры отраженной волны в зависимости от частоты излучени . Далее по частоте, соответствующей минимуму эллиптичности, определ ют диэлектрическую проницаемость жидкости. 2 ил. сл
Description
Изобретение относитс к измерительной технике и может быть использовано в электронной и химической промышленности дл измерени диэлектрической проницаемости жидкостей с малыми потер ми.
Целью изобретени вл етс повышение точности.
На фиг. 1 приведена блок-схема устройства дл осуществлени способа; на фиг. 2 - типична зависимость эллиптичности от длины волны излучени при диэлектрической проницаемости ЈПр 2,55, толщине сло жидкости 800 мкм, диэлектрической проницаемости жидкости еж 1,14.
Устройство содержит свип-генератор 1 электромагнитного излучени , трехгранную диэлектрическую призму 2 с входным и выходным окнами, измерительную кювету 3 с
исследуемой жидкостью 4. металлическое зеркало 5 с микрометрическим механизмом 6, блок 7 измерени эллиптичности, экстре- матор 8 и блок 9 обработки.
Способ реализуетс следующим образом .
Линейно-пол ризованные амплитудно- модулированные переменной частоты элек- тромагнитные колебани с линейной пол ризацией от свип-генератора 1 направл ютс на основание диэлектрической призмы 2 под углом, большим критического. Плоскость пол ризации падающей электромагнитной волны устанавливают под углом 45° к плоскости падени . Отраженна от контролируемой жидкости 4 электромагнитна волна в общем случае эллиптической пол ризации поступает в блок 7 измерени
О
со ю
VI
ю
эллиптичности, где она раздел етс на две ортогонально-пол ризованные составл ющие , интенсивность которых пропорциональна малой и большой ос м эллипса пол ризации. Выходной сигнал с блока 7 измерени эллиптичности, пропорциональный эллиптичности отраженной электромагнитной волны, поступает на вход экстрематора 8.
При полном внутреннем отражении фа- зы коэффициентов отражени параллельно и перпендикул рно пол ризованных компонент падающей электромагнитной волны завис т от соотношени диэлектрических проницаемостей на границе раздела, а так- же, если среда, на которую падает электромагнитна волна имеет толщину Я - 2 Я, где Я-длина электромагнитной волны, и от длины волны, причем характер зависимости фазы коэффициента отражени от длины вол- ны различен дл одной и другой компонент.
При изменении длины волны зондирующего излучени измен етс значение эллиптичности отраженной волны, минимальный экстремум которой регистри- руетс экстрематором 8. В момент достижени минимума эллиптичности с выход экстрематора 8 на второй вход блока 9 обработки поступает управл ющий сигнал, в соответствии с которым измер етс напр - жение сигнала, поступающего на первый вход блока 9 обработки с управл ющего выхода свип-генератора 1. Име градуированные зависимости длины электромагнитной волны в точке минимума эллиптичности определ ют величину диэлектрической проницаемости . Расчет диэлектрической проницаемости контролируемой жидкости проводитс в блоке 9 обработки.
Claims (1)
- Формула изобретениСпособ измерени диэлектрической проницаемости жидкостей, заключающийс в том, что исследуемую жидкость облучают электромагнитной волной с линейной пол ризацией через диэлектрическую призму и измер ют эллипсометрические параметры отраженной волны, отличающий- с тем, что, с целью повышени точности, плоскость пол ризации электромагнитной волны устанавливают под углом 45° к плоскости падени , исследуемую жидкость помещают между основанием призмы и плоским металлическим зеркалом, размещенным параллельно основанию призмы на рассто нии (0,2 - 2,0)Ямин , где Ямин - минимальна длина электромагнитной волны, угол падени электромагнитной волны на основание призмы выбирают больше критического , измен ют длину волны и фиксируют ее значение, соответствующее минимуму эллиптичности , а величину диэлектрической проницаемости определ ют по зависимости , св зывающей ее с длиной волны, соответствующей минимуму эллиптичности... fу-р гf -Г Ю22202533Фиг. /W1,52,0Фиг. 22,5Л,мм
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| SU894682741A SU1681279A1 (ru) | 1989-04-24 | 1989-04-24 | Способ измерени диэлектрической проницаемости жидкостей |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| SU894682741A SU1681279A1 (ru) | 1989-04-24 | 1989-04-24 | Способ измерени диэлектрической проницаемости жидкостей |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| SU1681279A1 true SU1681279A1 (ru) | 1991-09-30 |
Family
ID=21443525
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| SU894682741A SU1681279A1 (ru) | 1989-04-24 | 1989-04-24 | Способ измерени диэлектрической проницаемости жидкостей |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| SU (1) | SU1681279A1 (ru) |
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| RU2688825C1 (ru) * | 2018-04-11 | 2019-05-22 | Федеральное государственное бюджетное учреждение науки Инстит физического материаловедения Сибирского отделения Российской академии наук (ИФМ СО РАН) | Способ бесконтактного измерения комплексной диэлектрической проницаемости полупроводящих жидкостей |
| RU2787302C1 (ru) * | 2022-04-11 | 2023-01-09 | Федеральное государственное бюджетное учреждение науки Институт физического материаловедения Сибирского отделения Российской академии наук | Способ определения мнимой части комплексной диэлектрической проницаемости жидких диэлектриков со слабым поглощением в диапазоне 22-40 ГГц |
-
1989
- 1989-04-24 SU SU894682741A patent/SU1681279A1/ru active
Non-Patent Citations (1)
| Title |
|---|
| Измерение на миллиметровых и субмиллиметровых волнах. Методы и техника./Под ред. Д.А.Валейева, Б.И.Макаренко. М.: Радио и св зь, 1984, с. 296. Пеньковский А.И. Эллипсометрические методы измерени оптических посто нных дл при НПВО. В кн. Эллипсометри - метод исследоватени поверхности. Новосибирск: Наука, 1983. * |
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| RU2688825C1 (ru) * | 2018-04-11 | 2019-05-22 | Федеральное государственное бюджетное учреждение науки Инстит физического материаловедения Сибирского отделения Российской академии наук (ИФМ СО РАН) | Способ бесконтактного измерения комплексной диэлектрической проницаемости полупроводящих жидкостей |
| RU2787302C1 (ru) * | 2022-04-11 | 2023-01-09 | Федеральное государственное бюджетное учреждение науки Институт физического материаловедения Сибирского отделения Российской академии наук | Способ определения мнимой части комплексной диэлектрической проницаемости жидких диэлектриков со слабым поглощением в диапазоне 22-40 ГГц |
Similar Documents
| Publication | Publication Date | Title |
|---|---|---|
| Acher et al. | Improvements of phase‐modulated ellipsometry | |
| Käding et al. | Transient thermal gratings at surfaces for thermal characterization of bulk materials and thin films | |
| US6819844B2 (en) | Fiber-optic based surface spectroscopy | |
| EP1417450B1 (en) | Method and apparatus for increasing signal to noise ratio in a photoacoustic film thickness measurement system | |
| US5359541A (en) | Fluid density and concentration measurement using noninvasive in situ ultrasonic resonance interferometry | |
| Bruttomesso et al. | Development of interferometer for acoustic emission testing | |
| CN110927122A (zh) | 一种基于干涉光谱的相位型spr检测装置及方法 | |
| US7649633B2 (en) | Method and instrument for measuring complex dielectric constant of a sample by optical spectral measurement | |
| US3770352A (en) | Totally reflecting laser refractometer | |
| JPH03209157A (ja) | 弾性表面波利用溶液測定装置及び溶液中特定物質の測定法 | |
| SU1681279A1 (ru) | Способ измерени диэлектрической проницаемости жидкостей | |
| Yost et al. | Fundamental aspects of pulse phase‐locked loop technology‐based methods for measurement of ultrasonic velocity | |
| Domanski et al. | Surface roughness measurement with optical fibers | |
| Niitsu et al. | Development of scanning stress measurement method using laser photoelasticity | |
| SU815484A1 (ru) | Устройство дл контрол тонкихплЕНОК | |
| Oda et al. | Instantaneous observation of angular scan-attenuated total reflection spectra | |
| SU1657952A1 (ru) | Эллипсометрический способ измерени рассто ни или плоскостности | |
| Jungerman et al. | Optical probing of acoustic waves on rough surfaces | |
| Sümer et al. | Investigating the experimental limits of the Brewster's angle method | |
| SU1126849A1 (ru) | Измерительна чейка дл исследовани диэлектрических параметров жидкостей | |
| SU928204A1 (ru) | Оптический элемент нарушенного полного внутреннего отражени | |
| SU1103069A1 (ru) | Устройство дл измерени толщины диэлектрических покрытий металлов | |
| Culshaw | Optical fibres in NDT: a brief review of applications | |
| Pethrick et al. | An ultrasonic resonance technique operating in the frequency range 200 kHz to 30 MHz and designed for chemical relaxation studies | |
| Kryshtal’ et al. | Impulse characteristic as a response of a liquid sensor based on shear-horizontal surface acoustic waves |