SU1103069A1 - Устройство дл измерени толщины диэлектрических покрытий металлов - Google Patents

Устройство дл измерени толщины диэлектрических покрытий металлов Download PDF

Info

Publication number
SU1103069A1
SU1103069A1 SU823456222A SU3456222A SU1103069A1 SU 1103069 A1 SU1103069 A1 SU 1103069A1 SU 823456222 A SU823456222 A SU 823456222A SU 3456222 A SU3456222 A SU 3456222A SU 1103069 A1 SU1103069 A1 SU 1103069A1
Authority
SU
USSR - Soviet Union
Prior art keywords
analyzer
polarizer
wave
output
specimen
Prior art date
Application number
SU823456222A
Other languages
English (en)
Inventor
Николай Васильевич Любецкий
Николай Николаевич Пунько
Владимир Афанасьевич Конев
Original Assignee
Центральное конструкторское бюро с опытным производством АН БССР
Институт Прикладной Физики Ан Бсср
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Центральное конструкторское бюро с опытным производством АН БССР, Институт Прикладной Физики Ан Бсср filed Critical Центральное конструкторское бюро с опытным производством АН БССР
Priority to SU823456222A priority Critical patent/SU1103069A1/ru
Application granted granted Critical
Publication of SU1103069A1 publication Critical patent/SU1103069A1/ru

Links

Landscapes

  • Length-Measuring Devices Using Wave Or Particle Radiation (AREA)

Abstract

УСТРОЙСТВО ДЛЯ ИЗМЕРЕНИЯ ТОЛЩИНЫ даЭЖКТРИЧЕСКИХ ПОКРШИЙ МЕТАЛЛОВ , содержащее СВЧ reHepafop, к , выходу которого подсоединен пол ризатор волны, облучающий исследуемо е .диэлектрическое покрытие, а также последовательно соединенные непрерьнвный вращатель плоскости пол ризаци , анализатор волны, отраженной от исследуемого диэл1ектрического покрыгн , детектор и экстрематор, еык0ды которого соответственно через иерзыА н второй запоминающие блоки подключены к входам измерител  отношейИй, о т л и ч a ю ц е е с   тем, что, с целью повышени  точности измерений, между выходом измерител , отношений и входом индикатора последовательно включены пиковый детектор, третий запоминающий блок и вычислитель, между выходом СВЧ reHepJatopa и BTopim входом вычислител  включен частотомер , & к входу управлени  частотой СВЧ генератора подключен модул тор, при этом выход стробирун цего импульса пикового детектора подключен к стробирующему входу частотомера.

Description

СО
о
9д Изобретение относитс  к измерительной технике и может быть использовано в химической, радиотехнической в других област х, где необходим бесконтактный неразрушающий экспресс контроль толщины и диэлектрической проницаемости листового диэлектрика , или диэлектрических покрытий металлов . Известна установка дл  контрол  толщины диэлектрических покрытий, содержаща  СВЧ генератор, пол ризатор , анализатор, и индикатор Cl1. Однако эта установка обладает невысокой точностью из-за вли ни  свойств покрыти  на результат измере ни  его толщины. Наиболее близким техническго решением к изобретение  вл етс  устрой ство дл  измерени  толщины диэлектрических покрытий металлов, содержащее СВЧ генератор, к выходу которого подсЪединен пол ризатор волны, облучающей исследуемое диэлектрическое покрытие, а также последовательно соединенные непрерывный вращатель плоскости пол ризации, анализатор волны,отраженной от исследуемого диэлектрического покрыти , детектор и экстрематор, выходы которого соответственно через первый и второй запоминающие блоки подключены к входам измерителей отношений С27. Известное устройство дл  измерени  толщины диэлект,рических покрытий металлов обладает низкой точностью измерений, причем с помощью его можно контролировать толщину покрыти  или диэлектрическую проницаемость только при известных электрических свойствах покрыти  к при известной его толщине, соответственно. Цель изобретени  - повьщгение точности измерений. Цель достигаетс  тем, что в устройство дл  измерени  толщины диэлек рических покрытий металлов, содержащее СВЧ генератор, к выходу которого подсоединен пол ризатор волны, облучающий исследуемое диэлектрическое покрытие, а также последовательно соединенные непрерывный вращатель плоскости пол ризации анализатор вол ны, отраженной от исследуемого диэлектрического покрыти , детектор и экстрематор, выходы которого соответ ственно через первый и второй запоми нающие блоки подключены к входам из мерителей отношений, между выходом измерител  отношений и входом индикатора последовательно включены пиковый детектор, третий запоминающий блок и вычислитель, между выходом СВЧ генератора и вторым входом вычислител  включен частотомер, а к входу управлени  частотой СВЧ генератора подключен модул тор, при этом выход стробирующего импульса пикового детектора подключен к стробирующему входу частотомера . На чертеже приведена структурна  электрическа  схема устройства. Устройство дл  измерени  толщины диэлектрических покрытий металлов включает СВЧ генератор 1, пол ризатор 2 волны, исследуемое диэлектрическое покрытие 3, непрерывный вращатель 4 плоскости пол ризации, анализатор 5 волны, детектор 6, экстрематор 7, первый, второй и третий запоминаюпдае блоки 8 - 10, измеритель 11 отношений, пиковый детектор 12, частотомер 13, вычислительный блок 14, индикатор 15, модул тор 16. Устройство дл  -измерени  толщины диэлектрических покрытий металлов работает следующим образом. Амплитудно-модулированный сигнал с измен ющейс  частотой от СВЧ генератора 1 проходит через пол ризатор 2 волны, пропускающий только линейно пол ризированную волну, котора  облучает под углом исследуемое диэлектрическое покрытие 3, причем плоскость пол ризации падающей волны составл ет 45°с плоскостью падени . Отраженна  эллиптически пол ризованна  волна проходит через непрерывный вращатель 4 плоскости пол ризации и анализатор.5 волны, состо щий из проволочной решетки, и поступает на детектор 6. Далее, продетектированный сигнал поступает на экстрематор 7, на выходах которого выдел ютс  минимальное и максимальное значение сигнала, которые запоминаютс  в первом и втором запоминающих блоках 8 и 9. Эти сигналы , поступив на вход измерител  11 отношений, образуют сигнал, равный отношению минимального сигнала к максимальному , который пропорционален величине эллиптичности отраженного от исследуемого диэлектрического покрыти  3 сигнала.
При изменении частоты СВЧ генератора 1 сигнал на вьпсоде измерител  отношений будет периодически измен тьс . Наибольшее его значение будет зависеть только от диэлектрической проницаемости исследуемого диэлектрического покрыти  3. Пиковый детектор 12, на который поступает этот сигнал, фиксирует его максимальное значение, которое запоминаетс  в третьем запоминающем блоке 10. В момент достижени  максимума сигнала на входе пикового детектора 12 на его втором вы-, ходе по вл етс  строб-импульс, который поступает на стробирующий вход частотомера 13 и дает команду на выдачу сигнала, пропорционального частоте излучени  в этот момент, который вместе с сигналом, записанньм в третьем запоминающем блоке 10, поступает в вычислительный блок 14. В вычислительном блоке 14 рассчитываютс 
значени  диэлектрической проницаемое ти диэлектрика и его толщины, которые одновременно вывод тс  на индикатор 15.
Введение в схему частотного модул тора , соединенного с генератором, вращател  плоскости пол ризации, включенного между исследуемым образ цом и анализатором, последовательно соединенные пиковый детектор, третий запоминающий блок и вычислительный, включенные между измерителем отношений и индикатором, и частотомер, вход которого соединен с вторым выходом СВЧ генератора, выход - с вторым входом вычислител  и управл ющий вход с вторым выходом пикового детектора повысить точность измерений и обеспечило одновременное измерение двух параметров: диэлектрической прони,цаемости и толщины сло  диэлектрического покрыти .

Claims (1)

  1. УСТРОЙСТВО ДЛЯ ИЗМЕРЕНИЯ ТОЛЩИНЫ ДИЭЛЕКТРИЧЕСКИХ ПОКРЫТИЙ МЕТАЛЛОВ, содержащее СВЧ генератор, к , выходу которого подсоединен поляризатор волны, облучающий исследуемое диэлектрическое покрытие, а также последовательно соединенные непрерывный вращатель плоскости поляризации, анализатор волны, отраженной от исследуемого диэлектрического покрытия, детектор и экстрематор, выходы которого соответственно через первый и второй запоминающие блоки подключены к входам измерителя отношений, о1 т л и ч а ю щ е е с я тем, что, с целью повышения точности измерений, между выходом измерителя, отношений и входом индикатора последовательно включены пиковый детектор, третий запоминающий блок и вычислитель, между выходом СВЧ генератора и вторым входом вычислителя включен частотомер, а к входу управления частотой СВЧ генератора подключен модулятор, при этом выход стробирующего импульса пикового детектора подключен к стробирующему входу частотомера.
SU823456222A 1982-04-07 1982-04-07 Устройство дл измерени толщины диэлектрических покрытий металлов SU1103069A1 (ru)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
SU823456222A SU1103069A1 (ru) 1982-04-07 1982-04-07 Устройство дл измерени толщины диэлектрических покрытий металлов

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
SU823456222A SU1103069A1 (ru) 1982-04-07 1982-04-07 Устройство дл измерени толщины диэлектрических покрытий металлов

Publications (1)

Publication Number Publication Date
SU1103069A1 true SU1103069A1 (ru) 1984-07-15

Family

ID=21017742

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
SU823456222A SU1103069A1 (ru) 1982-04-07 1982-04-07 Устройство дл измерени толщины диэлектрических покрытий металлов

Country Status (1)

Country Link
SU (1) SU1103069A1 (ru)

Non-Patent Citations (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Title
1. Авторское свидетельство СССР №415614, кл. GDI R 27/26. 2. Surface science 16 *

Similar Documents

Publication Publication Date Title
US6927853B2 (en) Method and arrangement for optical stress analysis of solids
CN105203857A (zh) 基于电光二次效应的空间强电场测量系统
RU2135983C1 (ru) Способ измерения пропускания, кругового дихроизма, оптического вращения оптически активных веществ и дихрограф для его осуществления
SU1103069A1 (ru) Устройство дл измерени толщины диэлектрических покрытий металлов
US3388326A (en) Network for determining magnitude and phase angle of noise impedance
US3158675A (en) Apparatus for measuring the thickness of thin transparent films
US3602597A (en) Differential circular dichroism measuring apparatus
US3016789A (en) Polarimetric apparatus
US3448380A (en) Method for use in spectroscopic analysis
SU1116301A1 (ru) Устройство дл контрол толщины пленок
SU1499196A1 (ru) СВЧ-эллипсометр
US3441844A (en) Microwave moisture sensing system
Allnutt et al. A Mach-Zehnder interferometer for the measurement of the complex permittivity of lossy dielectrics at submillimetre wavelengths
SU1689815A1 (ru) Способ неразрушающего контрол механической анизотропии диэлектрических материалов
SU1506387A1 (ru) Устройство дл измерени толщины диэлектрических покрытий металлов
SU1520429A1 (ru) Способ измерени диэлектрической проницаемости материалов
SU1737366A1 (ru) Способ контрол анизотропии диэлектрической проницаемости диэлектрика
SU1176266A1 (ru) Способ определени диэлектрической проницаемости листовых диэлектриков и устройство дл его осуществлени
SU684299A1 (ru) Способ измерени толщины тонких пленок на подложках
SU1742687A1 (ru) Способ контрол параметров композиционных материалов на основе углеродных нитей
SU907423A1 (ru) Устройство дл неразрушающего контрол диэлектриков
SU1060955A1 (ru) Способ частотно-модул ционной эллипсометрии
SU1167535A1 (ru) Способ и устройство дл измерени диэлектрической проницаемости веществ
SU1291855A1 (ru) Волноводна чейка дл измерени влажности жидких материалов
JPS6359459B2 (ru)