SU1103069A1 - Устройство дл измерени толщины диэлектрических покрытий металлов - Google Patents
Устройство дл измерени толщины диэлектрических покрытий металлов Download PDFInfo
- Publication number
- SU1103069A1 SU1103069A1 SU823456222A SU3456222A SU1103069A1 SU 1103069 A1 SU1103069 A1 SU 1103069A1 SU 823456222 A SU823456222 A SU 823456222A SU 3456222 A SU3456222 A SU 3456222A SU 1103069 A1 SU1103069 A1 SU 1103069A1
- Authority
- SU
- USSR - Soviet Union
- Prior art keywords
- analyzer
- polarizer
- wave
- output
- specimen
- Prior art date
Links
Landscapes
- Length-Measuring Devices Using Wave Or Particle Radiation (AREA)
Abstract
УСТРОЙСТВО ДЛЯ ИЗМЕРЕНИЯ ТОЛЩИНЫ даЭЖКТРИЧЕСКИХ ПОКРШИЙ МЕТАЛЛОВ , содержащее СВЧ reHepafop, к , выходу которого подсоединен пол ризатор волны, облучающий исследуемо е .диэлектрическое покрытие, а также последовательно соединенные непрерьнвный вращатель плоскости пол ризаци , анализатор волны, отраженной от исследуемого диэл1ектрического покрыгн , детектор и экстрематор, еык0ды которого соответственно через иерзыА н второй запоминающие блоки подключены к входам измерител отношейИй, о т л и ч a ю ц е е с тем, что, с целью повышени точности измерений, между выходом измерител , отношений и входом индикатора последовательно включены пиковый детектор, третий запоминающий блок и вычислитель, между выходом СВЧ reHepJatopa и BTopim входом вычислител включен частотомер , & к входу управлени частотой СВЧ генератора подключен модул тор, при этом выход стробирун цего импульса пикового детектора подключен к стробирующему входу частотомера.
Description
СО
о
9д Изобретение относитс к измерительной технике и может быть использовано в химической, радиотехнической в других област х, где необходим бесконтактный неразрушающий экспресс контроль толщины и диэлектрической проницаемости листового диэлектрика , или диэлектрических покрытий металлов . Известна установка дл контрол толщины диэлектрических покрытий, содержаща СВЧ генератор, пол ризатор , анализатор, и индикатор Cl1. Однако эта установка обладает невысокой точностью из-за вли ни свойств покрыти на результат измере ни его толщины. Наиболее близким техническго решением к изобретение вл етс устрой ство дл измерени толщины диэлектрических покрытий металлов, содержащее СВЧ генератор, к выходу которого подсЪединен пол ризатор волны, облучающей исследуемое диэлектрическое покрытие, а также последовательно соединенные непрерывный вращатель плоскости пол ризации, анализатор волны,отраженной от исследуемого диэлектрического покрыти , детектор и экстрематор, выходы которого соответственно через первый и второй запоминающие блоки подключены к входам измерителей отношений С27. Известное устройство дл измерени толщины диэлект,рических покрытий металлов обладает низкой точностью измерений, причем с помощью его можно контролировать толщину покрыти или диэлектрическую проницаемость только при известных электрических свойствах покрыти к при известной его толщине, соответственно. Цель изобретени - повьщгение точности измерений. Цель достигаетс тем, что в устройство дл измерени толщины диэлек рических покрытий металлов, содержащее СВЧ генератор, к выходу которого подсоединен пол ризатор волны, облучающий исследуемое диэлектрическое покрытие, а также последовательно соединенные непрерывный вращатель плоскости пол ризации анализатор вол ны, отраженной от исследуемого диэлектрического покрыти , детектор и экстрематор, выходы которого соответ ственно через первый и второй запоми нающие блоки подключены к входам из мерителей отношений, между выходом измерител отношений и входом индикатора последовательно включены пиковый детектор, третий запоминающий блок и вычислитель, между выходом СВЧ генератора и вторым входом вычислител включен частотомер, а к входу управлени частотой СВЧ генератора подключен модул тор, при этом выход стробирующего импульса пикового детектора подключен к стробирующему входу частотомера . На чертеже приведена структурна электрическа схема устройства. Устройство дл измерени толщины диэлектрических покрытий металлов включает СВЧ генератор 1, пол ризатор 2 волны, исследуемое диэлектрическое покрытие 3, непрерывный вращатель 4 плоскости пол ризации, анализатор 5 волны, детектор 6, экстрематор 7, первый, второй и третий запоминаюпдае блоки 8 - 10, измеритель 11 отношений, пиковый детектор 12, частотомер 13, вычислительный блок 14, индикатор 15, модул тор 16. Устройство дл -измерени толщины диэлектрических покрытий металлов работает следующим образом. Амплитудно-модулированный сигнал с измен ющейс частотой от СВЧ генератора 1 проходит через пол ризатор 2 волны, пропускающий только линейно пол ризированную волну, котора облучает под углом исследуемое диэлектрическое покрытие 3, причем плоскость пол ризации падающей волны составл ет 45°с плоскостью падени . Отраженна эллиптически пол ризованна волна проходит через непрерывный вращатель 4 плоскости пол ризации и анализатор.5 волны, состо щий из проволочной решетки, и поступает на детектор 6. Далее, продетектированный сигнал поступает на экстрематор 7, на выходах которого выдел ютс минимальное и максимальное значение сигнала, которые запоминаютс в первом и втором запоминающих блоках 8 и 9. Эти сигналы , поступив на вход измерител 11 отношений, образуют сигнал, равный отношению минимального сигнала к максимальному , который пропорционален величине эллиптичности отраженного от исследуемого диэлектрического покрыти 3 сигнала.
При изменении частоты СВЧ генератора 1 сигнал на вьпсоде измерител отношений будет периодически измен тьс . Наибольшее его значение будет зависеть только от диэлектрической проницаемости исследуемого диэлектрического покрыти 3. Пиковый детектор 12, на который поступает этот сигнал, фиксирует его максимальное значение, которое запоминаетс в третьем запоминающем блоке 10. В момент достижени максимума сигнала на входе пикового детектора 12 на его втором вы-, ходе по вл етс строб-импульс, который поступает на стробирующий вход частотомера 13 и дает команду на выдачу сигнала, пропорционального частоте излучени в этот момент, который вместе с сигналом, записанньм в третьем запоминающем блоке 10, поступает в вычислительный блок 14. В вычислительном блоке 14 рассчитываютс
значени диэлектрической проницаемое ти диэлектрика и его толщины, которые одновременно вывод тс на индикатор 15.
Введение в схему частотного модул тора , соединенного с генератором, вращател плоскости пол ризации, включенного между исследуемым образ цом и анализатором, последовательно соединенные пиковый детектор, третий запоминающий блок и вычислительный, включенные между измерителем отношений и индикатором, и частотомер, вход которого соединен с вторым выходом СВЧ генератора, выход - с вторым входом вычислител и управл ющий вход с вторым выходом пикового детектора повысить точность измерений и обеспечило одновременное измерение двух параметров: диэлектрической прони,цаемости и толщины сло диэлектрического покрыти .
Claims (1)
- УСТРОЙСТВО ДЛЯ ИЗМЕРЕНИЯ ТОЛЩИНЫ ДИЭЛЕКТРИЧЕСКИХ ПОКРЫТИЙ МЕТАЛЛОВ, содержащее СВЧ генератор, к , выходу которого подсоединен поляризатор волны, облучающий исследуемое диэлектрическое покрытие, а также последовательно соединенные непрерывный вращатель плоскости поляризации, анализатор волны, отраженной от исследуемого диэлектрического покрытия, детектор и экстрематор, выходы которого соответственно через первый и второй запоминающие блоки подключены к входам измерителя отношений, о1 т л и ч а ю щ е е с я тем, что, с целью повышения точности измерений, между выходом измерителя, отношений и входом индикатора последовательно включены пиковый детектор, третий запоминающий блок и вычислитель, между выходом СВЧ генератора и вторым входом вычислителя включен частотомер, а к входу управления частотой СВЧ генератора подключен модулятор, при этом выход стробирующего импульса пикового детектора подключен к стробирующему входу частотомера.
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
SU823456222A SU1103069A1 (ru) | 1982-04-07 | 1982-04-07 | Устройство дл измерени толщины диэлектрических покрытий металлов |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
SU823456222A SU1103069A1 (ru) | 1982-04-07 | 1982-04-07 | Устройство дл измерени толщины диэлектрических покрытий металлов |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
SU1103069A1 true SU1103069A1 (ru) | 1984-07-15 |
Family
ID=21017742
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
SU823456222A SU1103069A1 (ru) | 1982-04-07 | 1982-04-07 | Устройство дл измерени толщины диэлектрических покрытий металлов |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
SU (1) | SU1103069A1 (ru) |
-
1982
- 1982-04-07 SU SU823456222A patent/SU1103069A1/ru active
Non-Patent Citations (1)
Title |
---|
1. Авторское свидетельство СССР №415614, кл. GDI R 27/26. 2. Surface science 16 * |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
US6927853B2 (en) | Method and arrangement for optical stress analysis of solids | |
CN105203857A (zh) | 基于电光二次效应的空间强电场测量系统 | |
RU2135983C1 (ru) | Способ измерения пропускания, кругового дихроизма, оптического вращения оптически активных веществ и дихрограф для его осуществления | |
SU1103069A1 (ru) | Устройство дл измерени толщины диэлектрических покрытий металлов | |
US3388326A (en) | Network for determining magnitude and phase angle of noise impedance | |
US3158675A (en) | Apparatus for measuring the thickness of thin transparent films | |
US3602597A (en) | Differential circular dichroism measuring apparatus | |
US3016789A (en) | Polarimetric apparatus | |
US3448380A (en) | Method for use in spectroscopic analysis | |
SU1116301A1 (ru) | Устройство дл контрол толщины пленок | |
SU1499196A1 (ru) | СВЧ-эллипсометр | |
US3441844A (en) | Microwave moisture sensing system | |
Allnutt et al. | A Mach-Zehnder interferometer for the measurement of the complex permittivity of lossy dielectrics at submillimetre wavelengths | |
SU1689815A1 (ru) | Способ неразрушающего контрол механической анизотропии диэлектрических материалов | |
SU1506387A1 (ru) | Устройство дл измерени толщины диэлектрических покрытий металлов | |
SU1520429A1 (ru) | Способ измерени диэлектрической проницаемости материалов | |
SU1737366A1 (ru) | Способ контрол анизотропии диэлектрической проницаемости диэлектрика | |
SU1176266A1 (ru) | Способ определени диэлектрической проницаемости листовых диэлектриков и устройство дл его осуществлени | |
SU684299A1 (ru) | Способ измерени толщины тонких пленок на подложках | |
SU1742687A1 (ru) | Способ контрол параметров композиционных материалов на основе углеродных нитей | |
SU907423A1 (ru) | Устройство дл неразрушающего контрол диэлектриков | |
SU1060955A1 (ru) | Способ частотно-модул ционной эллипсометрии | |
SU1167535A1 (ru) | Способ и устройство дл измерени диэлектрической проницаемости веществ | |
SU1291855A1 (ru) | Волноводна чейка дл измерени влажности жидких материалов | |
JPS6359459B2 (ru) |