SU1116301A1 - Устройство дл контрол толщины пленок - Google Patents

Устройство дл контрол толщины пленок Download PDF

Info

Publication number
SU1116301A1
SU1116301A1 SU823406571A SU3406571A SU1116301A1 SU 1116301 A1 SU1116301 A1 SU 1116301A1 SU 823406571 A SU823406571 A SU 823406571A SU 3406571 A SU3406571 A SU 3406571A SU 1116301 A1 SU1116301 A1 SU 1116301A1
Authority
SU
USSR - Soviet Union
Prior art keywords
path
receiving
angle
antenna
plane
Prior art date
Application number
SU823406571A
Other languages
English (en)
Inventor
Николай Николаевич Пунько
Сергей Александрович Тиханович
Original Assignee
Институт Прикладной Физики Ан Бсср
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Институт Прикладной Физики Ан Бсср filed Critical Институт Прикладной Физики Ан Бсср
Priority to SU823406571A priority Critical patent/SU1116301A1/ru
Application granted granted Critical
Publication of SU1116301A1 publication Critical patent/SU1116301A1/ru

Links

Landscapes

  • Length-Measuring Devices Using Wave Or Particle Radiation (AREA)

Abstract

УСТРОЙСТВО ДЛЯ КОНТРОЛЯ ТОЛЩИНЫ ПЛЕНОК, содержащее излучаю1ЦИЙ тракт, состо щий из последовательно соединенных источника СВЧ излучени , пол ризатора, вращател  плоскости пол ризации и излучак цей антенны, первый приемный тракт, сос .то щий из последовательно соединенных первой приемной антенны, делител  электромагнитной волны на две ортогонально-пол ризованные составл к цие , к второму выходному плечу которого подсоединен вращатель плоскости пол ризации, коммутатора,- детектора и блока обработки сигнала, при этом выход вращател  плоскости пол ризации соединен с вторым входом коммутатора, а также индикатор, при этом электрические оси излучающей и первой приемной антенн ориентированы под углом 2 oL друг к другу и под углом к плоскости исследуемой пленки, где Ф - угол падени  СВЧ излучени  на исследуемую пленку, отличающеес  тем, что, с целью повышени  точности контрол  двухслойных пленок и покрытий листовых i диэлектриков, введень- отражатель, (Л который выполнен в виде пол ризующей проволочной решетки и расположен на пути распространени  СВЧ волны, прошедшей через исследуемую пленку, вторай приемна  антенна,котора  соединена с введенной согласованной нагрузкой и размещена за отражателем, второй приемный тракт, идентичный первому приемному тракту, и блок вы читани , подключенный к выходам пер&о вого и второго приемного трактов.

Description

I Изобретение относитс  к измери- тельной технике и может использовать с  в химической, радиотехнической промышленности дл  неразрушающего ко трол  толщины двухслойных пленок, в частности покрытий листовых диэлектриков . Известно устройство дл  контрол  толщины пленок етодом СВЧ, содержащее последовательно соединенные гене ратор, модул тор, вращатель плоскост пол ризации и анализатор, между кото рыми расположен контролируемый образец , два приемника на выходах аналвзатора , три измерител  отношени  напр жении , коммутатор, компаратор, корректор, манипул тор и индикатор СИ Однако данное устройство сложно п конструкции и его точность уже при малых вариаци х характеристик и свойств подложек недостаточна. Наиболее близким техническим реше нием к изобретению  вл етс  устройст во дл  контрол  толщины пленок, содержащее излучающий тракт, состо щий из последовательно соединенных источ ника СЕЧ излучени , пол ризатора, вращател  плоскости пол ризации и из лучающей антенны, первый приемный гракт, состо щий из последовательно соединенных первой приемной антенны, делител  электромагнитной вoJiJHЫ на две ортогонально-пол ризованные составл ющие , к второму выходному плечу которого подсоединен вращатель плоскости пол ризации, коммутатора, детектора и блока обработки сигнала, при этом выход вращател  плоскости пол ризации соединен с вторым входом коммутатора, а также индикатор, при этом электрические оси излучающей и первой приемной антенн ориентирова ны под углом 2ф друг к другу и под углом 90 ф к плоскости исследуемой пленки, где ф - угол падени  СВЧ J (- J л VJi Itr LJ1. / Л-/ J, излучени  на исследуемую пленку С21. Однако известное устройство дл  контрол  толщины пленок не обеспечивает высокую точность контрол  двухслойных пленок и покрытий листовых диэлектриков. Цель изобретени  - повышение точности контрол  двухслойных пленок И покрытий листовых диэлектриков. Цель достигаетс  тем, что в уст .ройство дл  контрол  толщины пленок, содержащее излучающий тракт, состо щий из последовательно соединенных 1 012 источника СВЧ излучени , пол ризатора , вращател  плоскости пол ризации и излучающей антенны, первый приемный тракт, состо щий из последовательно соединенных первой приемной антенны, делител  электромагнитной волны на две ортогонально-пол ризованные составл ющие, к второму выходному плечу которого подсоединен вращатель плоскости пол ризации, коммутатора , детектора и блока обработки сигнала, при этом выход вращател  плоскости пол ризации соединен с вторым входом коммутатора, а также инди|катор , при этом электрические оси излучающей и первой приемной антенн ориентированы под углом 2ф друг к другу и под углом к плоскости исследуемой пленки, где ф - угол падени  СВЧ излучени  на исследуемую пленку, введены отражатель, который выполнен в виде пол ризующей проволочной решетки и расположен на пути распространени  СБЧ волны, прошедшей через исследуемую пленку, втора  приемна  антенна, котора  соединена с введенной согласованной нагрузкой и размещена за отражателем, второй приемный тракт, идентичный первому приемному тракту, и блок вычитани , |подключенный к выходам первого и второго приемного трактов. На чертеже приведена структурна  электрическа  схема устройства дл  контрол  толщины пленок. Устройство дл  контрол  толщины пленок содержит излучающий тракт 1, состо щий из последовательно соединенных источника 2 СБЧ излучени , пол ризатора 3, вращател  А плоскости пол ризации и излучающей антенны 5, первый приемньм тракт 6, состо щий из последовательно соединенных первой приемной антенны 7, делител  8 электромагнитной волны на две ортогонально-пол ризованные составл ющие, коммутатора 9, детектора 10, блока 11 обработки сигнала, а также индикатор 12, при этом электрические оси излучающей и первой приемной антенн 5 и 7 ориентированы, например, под углом 90 другк другу и под углом 45 к плоскости исследуемой пленки 13, отражатель 14, который выполнен в виде пол ризующей проволочной решетки , вторую приемную антенну 15, котора  соединена с введенной согласованной нагрузкой 16, второй прием

Claims (1)

  1. УСТРОЙСТВО ДЛЯ КОНТРОЛЯ ТОЛЩИНЫ ПЛЕНОК, содержащее излучающий тракт, состоящий из последовательно соединенных источника СВЧ излучения, поляризатора, вращателя плоскости поляризации и излучающей антенны, первый приемный тракт, состоящий из последовательно соединенных первой приемной антенны, делителя электромагнитной волны на две ортогонально-поляризованные составляющие, к второму выходному плечу которого подсоединен вращатель плоскости поляризации, коммутатора,· детектора и блока обработки сигнала, при этом выход вращателя плоскости поляризации соединен с вторым входом коммутатора, а также индикатор, при этом электрические оси излучающей и первой приемной антенн ориентированы под углом 2 6L друг к другу и под углом 90°-ψ к плоскости исследуемой пленки, где ψ - угол падения СВЧ излучения на исследуемую пленку, отличающееся тем, что, с целью повышения точности контроля двухслойных пленок и покрытий листовых диэлектриков, введены отражатель, который выполнен в виде поляризующей проволочной решетки и расположен на пути распространения СВЧ волны, прошедшей через исследуемую пленку, вторая приемная антенна,которая соединена с введенной согласованной нагрузкой и размещена за отражателем, второй приемный тракт, идентичный первому приемному тракту, и блок вычитания, подключенный к выходам первого и второго приемного трактов.
SU823406571A 1982-03-10 1982-03-10 Устройство дл контрол толщины пленок SU1116301A1 (ru)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
SU823406571A SU1116301A1 (ru) 1982-03-10 1982-03-10 Устройство дл контрол толщины пленок

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
SU823406571A SU1116301A1 (ru) 1982-03-10 1982-03-10 Устройство дл контрол толщины пленок

Publications (1)

Publication Number Publication Date
SU1116301A1 true SU1116301A1 (ru) 1984-09-30

Family

ID=21000858

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
SU823406571A SU1116301A1 (ru) 1982-03-10 1982-03-10 Устройство дл контрол толщины пленок

Country Status (1)

Country Link
SU (1) SU1116301A1 (ru)

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN109565056A (zh) * 2016-08-26 2019-04-02 株式会社斯库林集团 催化剂担载量测定装置、涂敷系统以及催化剂担载量测定方法

Non-Patent Citations (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Title
1. Авторское свидетельство СССР № 743390, кл. G 01 N 22/00, 1977. 2. Сб. Электронна техника, сер. Управление качеством, стандартизаци , метрологи , испытани , вып. 6 *

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN109565056A (zh) * 2016-08-26 2019-04-02 株式会社斯库林集团 催化剂担载量测定装置、涂敷系统以及催化剂担载量测定方法

Similar Documents

Publication Publication Date Title
Paris et al. Basic theory of probe-compensated near-field measurements
US4982164A (en) Method of calibrating a network analyzer
James et al. A microwave method for measuring moisture content, density, and grain angle of wood
KR0125766B1 (ko) 주파수 영역 편광계
US7616903B2 (en) Interferometric polarization control
CN111381111B (zh) 天线极化测试电路和测试装置
SU1116301A1 (ru) Устройство дл контрол толщины пленок
RU2665593C1 (ru) Способ измерения диэлектрических свойств материала и устройство для его осуществления
GB1290903A (ru)
US2596288A (en) High-frequency phase measuring system
Koller et al. Initial measurements with WM164 (1.1–1.5 THz) VNA extenders
RU2744320C1 (ru) Способ и система для испытания антенны, содержащей множество излучающих элементов
Ghodgaonkar et al. Microwave nondestructive testing of composite materials using free-space microwave measurement techniques
JP3121961B2 (ja) 半導体ウエハの物性測定装置
SU1103069A1 (ru) Устройство дл измерени толщины диэлектрических покрытий металлов
Price A measurement of the sky brightness temperature at 408 MHz
SU623145A1 (ru) Способ неразрушающего контрол механической анизотропии диэлектрических материалов
SU1167535A1 (ru) Способ и устройство дл измерени диэлектрической проницаемости веществ
US3218549A (en) Impedance plotter for coaxial smith chart
US3566286A (en) System for determining the gain compression of an r.f. amplifier
Chen et al. Calibration and measurement of a wideband six-port polarimetric measurement system
RU2741271C1 (ru) Способ определения коэффициента эллиптичности антенн
Corona et al. A new technique for free-space permittivity measurements of lossy dielectrics
SU1656475A1 (ru) Устройство дл измерени параметров листовых диэлектриков
RU2090963C1 (ru) Способ адаптивного преобразования поляризации радиосигналов