SU1499196A1 - СВЧ-эллипсометр - Google Patents
СВЧ-эллипсометр Download PDFInfo
- Publication number
- SU1499196A1 SU1499196A1 SU874245227A SU4245227A SU1499196A1 SU 1499196 A1 SU1499196 A1 SU 1499196A1 SU 874245227 A SU874245227 A SU 874245227A SU 4245227 A SU4245227 A SU 4245227A SU 1499196 A1 SU1499196 A1 SU 1499196A1
- Authority
- SU
- USSR - Soviet Union
- Prior art keywords
- microwave
- attenuator
- polarizer
- sample holder
- waveguide
- Prior art date
Links
Landscapes
- Investigating Or Analysing Materials By Optical Means (AREA)
- Length-Measuring Devices Using Wave Or Particle Radiation (AREA)
Abstract
Изобретение относитс к технике измерений на СВЧ. Цель изобретени - уменьшение габаритов и веса. СВЧ-эллипсометр содержит СВЧ-г-р 1, волноводно-лучевые переходы (ВЛП) 2, пол ризатор 3, держатель образца (ДО) 4, выполненный в виде уголкового поворота на базе круглого диэлектрического лучевода с повышенными потер ми, образующего аттенюатор 5 в канале падающей волны и аттенюатор 6 в канале отраженной волны, пол ризационный делитель 7, СВЧ-детекторы 8, у-ли 9, измеритель 10 отношени , индикатор 11, исследуемый образец 12 с измер емой пленкой. Дл достижени цели аттенюаторы включены соответственно между пол ризатором 3 и ДО 4, ДО 4 и пол ризационным делителем 7, конструктивно объединены с ДО 4. В каждом из измерительных каналов сигнал через ВЛП 2 поступает на СВЧ-детекторы 8. Напр жени с СВЧ-детекторов 8, пропорциональные амплитудам ортогонально пол ризованных составл ющих отраженного от исследуемого образца 12 сигнала, усиливаютс усилител ми 9 и поступают на входы измерител 10 отношений, сигнал с выхода которого регистрируетс индикатором 11. 1 ил.
Description
314
Изобретение относитс к технике измерений на СВЧ и может быть исполь зовано при измерении параметров покрытий , в частности дл определени толщины тонких металлических пленок на диэлектрических подложках,непровод щих покрытий на металлах,комплексной диэлектрической проницаемости материалов.
Цель изобретени - уменьшение габаритов и массы.
На чертеже представлена электрическа функциональна схема СВЧ-эллипсометра .
СВЧ-эллипсометр содержит СВЧ-ге- нератор 1, волноводно-лучевые переходы 2, пол ризатор 3, держатель 4 образца, выполненный в виде уголкового поворота на базе круглого ди-. электрического лучевода с повышенными потер ми, образующего аттенюатор 5 в канале падающей волны и аттенюатор 6 в канале отраженной волны, пол ризационный делитель 7, СВЧ-де- текторы 8, усилители 9, измеритель 10 отношени , индикатор 11 и исследуемый образец 12 с измер емой пленкой .
СВЧ-эллипсометр работает следующим образом.
Сверхвысокочастотные электромагнитные колебани , генерируемые СВЧ-генератором 1, через первый вол новодно-лучевой переход 2 и пол ризатор 3, пропускающий компоненту волны заданной пол ризации, например ли нейно пол ризованную, под углом 45° к плоскости падени , ввод тс в лу- чевод с повышенными погонными потер ми, образующий аттенюаторы 5 и 6. После отражени от исследуемого образца 12 пол ризаци сигнала измен етс . Пол ризационным делителем 7 отраженный сигнал раздел етс на два
0
5
0
д
5
0
5
с взаимно ортогональной пол ризацией , которые направл ютс в измерительные каналы. В каждом из измерительных каналов сигнал через волноводно-лучевые переходы 2 поступает на СВЧ-детекторы 8. Напр жени с СВЧ-детекторов 8, пропорциональные амплитудам ортогонально пол ризованных составл ющих отраженного от исследуемого образца сигнала, усиливаютс усилител ми 9 и поступают на первый и второй входы измерител 10 отношений, сигнал с выхода которого регистрируетс индикатором 11.
Claims (1)
- Формула изобретениСВЧ-эллипсометр, содержащий последовательно соединенные СВЧ-генератор, первый волноводно-лучевой переход, пол ризатор, держатель образца, пол ризационный делитель, второй волноводно-лучевой переход, СВЧ-детектор, первый усилитель, измеритель отношений и индикатор, последовательно соединенные третий волноводно-лучевой переход, св занный с вторым выходом пол ризационного делител , второй СВЧ-детектор и второй усилитель, соединенный с вторым входом измерител отношений, первый аттенюатор в канале падающей волны и второй аттенюатор в канале отраженной волны, о т л и- чающийс тем, что, с целью уменьшени габаритов и массы, первый и второй аттенюаторы включены соответственно между пол ризатором и держателем образца, держателем образца и пол ризационным делителем, конструктивно объединены с держателем образца , вьшолненным в виде уголкового поворота на базе круглого диэлектрического лучевода с повышенными погонными потер ми.
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
SU874245227A SU1499196A1 (ru) | 1987-05-14 | 1987-05-14 | СВЧ-эллипсометр |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
SU874245227A SU1499196A1 (ru) | 1987-05-14 | 1987-05-14 | СВЧ-эллипсометр |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
SU1499196A1 true SU1499196A1 (ru) | 1989-08-07 |
Family
ID=21304327
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
SU874245227A SU1499196A1 (ru) | 1987-05-14 | 1987-05-14 | СВЧ-эллипсометр |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
SU (1) | SU1499196A1 (ru) |
-
1987
- 1987-05-14 SU SU874245227A patent/SU1499196A1/ru active
Non-Patent Citations (1)
Title |
---|
Конев Б.А., Кулешов Е.М., Пунько Н.Н. Радиоволнова эллипсо- метри ,/ Под. ред. И.С.Ковалева. - М.: Наука и техника, 1985Щербо в Б.А. и др.Установка дл измерени комплексной диэлектрической проницаемости в миллиметровом и субмиллиметровом диапазонах волн. Извести БУЗов. Радиоэлектроника, 1976, т.XIX, 2, с.78-82. * |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
CN112098737B (zh) | 一种微波电场强度的测量方法及装置 | |
JPS6428509A (en) | Apparatus for measuring thickness of film | |
James et al. | A microwave method for measuring moisture content, density, and grain angle of wood | |
CN207964629U (zh) | 一种基于光程补偿技术的激光测量装置 | |
CN114324247A (zh) | 基于量子弱测量的双通道探测的光学测量方法及应用 | |
CN113567351B (zh) | 基于量子弱测量的复磁光角测量系统及方法 | |
CN112098736B (zh) | 一种微波电场相位的测量方法 | |
SU1499196A1 (ru) | СВЧ-эллипсометр | |
CN102636333B (zh) | 波片相位延迟量与快轴方位角的实时测量装置和方法 | |
US4171910A (en) | Retroreflectance measurement system | |
CN109211843B (zh) | 一种太赫兹波反射测量系统入射角确定方法及装置 | |
US3158675A (en) | Apparatus for measuring the thickness of thin transparent films | |
Lengyel | A Michelson-type interferometer for microwave measurements | |
Zaghloul et al. | Single-element rotating-polarizer ellipsometer: psi meter | |
CN110057775B (zh) | 基于太赫兹波的检测镧钙锰氧各向异性的方法 | |
US4017153A (en) | Polarization analyzers and duplexers | |
SU1753379A1 (ru) | Способ измерени толщины диэлектрических покрытий металлов и устройство дл его осуществлени | |
Ou et al. | Nondestructive measurement of a dielectric layer using surface electromagnetic waves | |
Craig et al. | Time‐Resolving Infrared Polarization Analyzer for the 2‐to 4‐μ Range | |
Ding et al. | Measurement of thin film parameters using substrate excitation of leaky modes | |
Sollom et al. | A centimetre-wave parallel-plate spectrometer | |
SU1103069A1 (ru) | Устройство дл измерени толщины диэлектрических покрытий металлов | |
SU1758530A1 (ru) | Способ измерени диэлектрической проницаемости материалов | |
SU1109669A1 (ru) | Устройство дл измерени диэлектрической проницаемости анизотропных пленок и веществ | |
SU1689815A1 (ru) | Способ неразрушающего контрол механической анизотропии диэлектрических материалов |