SU1499196A1 - СВЧ-эллипсометр - Google Patents

СВЧ-эллипсометр Download PDF

Info

Publication number
SU1499196A1
SU1499196A1 SU874245227A SU4245227A SU1499196A1 SU 1499196 A1 SU1499196 A1 SU 1499196A1 SU 874245227 A SU874245227 A SU 874245227A SU 4245227 A SU4245227 A SU 4245227A SU 1499196 A1 SU1499196 A1 SU 1499196A1
Authority
SU
USSR - Soviet Union
Prior art keywords
microwave
attenuator
polarizer
sample holder
waveguide
Prior art date
Application number
SU874245227A
Other languages
English (en)
Inventor
Николай Николаевич Пунько
Александр Моисеевич Клушин
Владимир Васильевич Волков
Original Assignee
Белорусский Политехнический Институт
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Белорусский Политехнический Институт filed Critical Белорусский Политехнический Институт
Priority to SU874245227A priority Critical patent/SU1499196A1/ru
Application granted granted Critical
Publication of SU1499196A1 publication Critical patent/SU1499196A1/ru

Links

Landscapes

  • Investigating Or Analysing Materials By Optical Means (AREA)
  • Length-Measuring Devices Using Wave Or Particle Radiation (AREA)

Abstract

Изобретение относитс  к технике измерений на СВЧ. Цель изобретени  - уменьшение габаритов и веса. СВЧ-эллипсометр содержит СВЧ-г-р 1, волноводно-лучевые переходы (ВЛП) 2, пол ризатор 3, держатель образца (ДО) 4, выполненный в виде уголкового поворота на базе круглого диэлектрического лучевода с повышенными потер ми, образующего аттенюатор 5 в канале падающей волны и аттенюатор 6 в канале отраженной волны, пол ризационный делитель 7, СВЧ-детекторы 8, у-ли 9, измеритель 10 отношени , индикатор 11, исследуемый образец 12 с измер емой пленкой. Дл  достижени  цели аттенюаторы включены соответственно между пол ризатором 3 и ДО 4, ДО 4 и пол ризационным делителем 7, конструктивно объединены с ДО 4. В каждом из измерительных каналов сигнал через ВЛП 2 поступает на СВЧ-детекторы 8. Напр жени  с СВЧ-детекторов 8, пропорциональные амплитудам ортогонально пол ризованных составл ющих отраженного от исследуемого образца 12 сигнала, усиливаютс  усилител ми 9 и поступают на входы измерител  10 отношений, сигнал с выхода которого регистрируетс  индикатором 11. 1 ил.

Description

314
Изобретение относитс  к технике измерений на СВЧ и может быть исполь зовано при измерении параметров покрытий , в частности дл  определени  толщины тонких металлических пленок на диэлектрических подложках,непровод щих покрытий на металлах,комплексной диэлектрической проницаемости материалов.
Цель изобретени  - уменьшение габаритов и массы.
На чертеже представлена электрическа  функциональна  схема СВЧ-эллипсометра .
СВЧ-эллипсометр содержит СВЧ-ге- нератор 1, волноводно-лучевые переходы 2, пол ризатор 3, держатель 4 образца, выполненный в виде уголкового поворота на базе круглого ди-. электрического лучевода с повышенными потер ми, образующего аттенюатор 5 в канале падающей волны и аттенюатор 6 в канале отраженной волны, пол ризационный делитель 7, СВЧ-де- текторы 8, усилители 9, измеритель 10 отношени , индикатор 11 и исследуемый образец 12 с измер емой пленкой .
СВЧ-эллипсометр работает следующим образом.
Сверхвысокочастотные электромагнитные колебани , генерируемые СВЧ-генератором 1, через первый вол новодно-лучевой переход 2 и пол ризатор 3, пропускающий компоненту волны заданной пол ризации, например ли нейно пол ризованную, под углом 45° к плоскости падени , ввод тс  в лу- чевод с повышенными погонными потер  ми, образующий аттенюаторы 5 и 6. После отражени  от исследуемого образца 12 пол ризаци  сигнала измен етс . Пол ризационным делителем 7 отраженный сигнал раздел етс  на два
0
5
0
д
5
0
5
с взаимно ортогональной пол ризацией , которые направл ютс  в измерительные каналы. В каждом из измерительных каналов сигнал через волноводно-лучевые переходы 2 поступает на СВЧ-детекторы 8. Напр жени  с СВЧ-детекторов 8, пропорциональные амплитудам ортогонально пол ризованных составл ющих отраженного от исследуемого образца сигнала, усиливаютс  усилител ми 9 и поступают на первый и второй входы измерител  10 отношений, сигнал с выхода которого регистрируетс  индикатором 11.

Claims (1)

  1. Формула изобретени 
    СВЧ-эллипсометр, содержащий последовательно соединенные СВЧ-генератор, первый волноводно-лучевой переход, пол ризатор, держатель образца, пол ризационный делитель, второй волноводно-лучевой переход, СВЧ-детектор, первый усилитель, измеритель отношений и индикатор, последовательно соединенные третий волноводно-лучевой переход, св занный с вторым выходом пол ризационного делител , второй СВЧ-детектор и второй усилитель, соединенный с вторым входом измерител  отношений, первый аттенюатор в канале падающей волны и второй аттенюатор в канале отраженной волны, о т л и- чающийс   тем, что, с целью уменьшени  габаритов и массы, первый и второй аттенюаторы включены соответственно между пол ризатором и держателем образца, держателем образца и пол ризационным делителем, конструктивно объединены с держателем образца , вьшолненным в виде уголкового поворота на базе круглого диэлектрического лучевода с повышенными погонными потер ми.
SU874245227A 1987-05-14 1987-05-14 СВЧ-эллипсометр SU1499196A1 (ru)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
SU874245227A SU1499196A1 (ru) 1987-05-14 1987-05-14 СВЧ-эллипсометр

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
SU874245227A SU1499196A1 (ru) 1987-05-14 1987-05-14 СВЧ-эллипсометр

Publications (1)

Publication Number Publication Date
SU1499196A1 true SU1499196A1 (ru) 1989-08-07

Family

ID=21304327

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
SU874245227A SU1499196A1 (ru) 1987-05-14 1987-05-14 СВЧ-эллипсометр

Country Status (1)

Country Link
SU (1) SU1499196A1 (ru)

Non-Patent Citations (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Title
Конев Б.А., Кулешов Е.М., Пунько Н.Н. Радиоволнова эллипсо- метри ,/ Под. ред. И.С.Ковалева. - М.: Наука и техника, 1985Щербо в Б.А. и др.Установка дл измерени комплексной диэлектрической проницаемости в миллиметровом и субмиллиметровом диапазонах волн. Извести БУЗов. Радиоэлектроника, 1976, т.XIX, 2, с.78-82. *

Similar Documents

Publication Publication Date Title
CN112098737B (zh) 一种微波电场强度的测量方法及装置
JPS6428509A (en) Apparatus for measuring thickness of film
James et al. A microwave method for measuring moisture content, density, and grain angle of wood
CN207964629U (zh) 一种基于光程补偿技术的激光测量装置
CN114324247A (zh) 基于量子弱测量的双通道探测的光学测量方法及应用
CN113567351B (zh) 基于量子弱测量的复磁光角测量系统及方法
CN112098736B (zh) 一种微波电场相位的测量方法
SU1499196A1 (ru) СВЧ-эллипсометр
CN102636333B (zh) 波片相位延迟量与快轴方位角的实时测量装置和方法
US4171910A (en) Retroreflectance measurement system
CN109211843B (zh) 一种太赫兹波反射测量系统入射角确定方法及装置
US3158675A (en) Apparatus for measuring the thickness of thin transparent films
Lengyel A Michelson-type interferometer for microwave measurements
Zaghloul et al. Single-element rotating-polarizer ellipsometer: psi meter
CN110057775B (zh) 基于太赫兹波的检测镧钙锰氧各向异性的方法
US4017153A (en) Polarization analyzers and duplexers
SU1753379A1 (ru) Способ измерени толщины диэлектрических покрытий металлов и устройство дл его осуществлени
Ou et al. Nondestructive measurement of a dielectric layer using surface electromagnetic waves
Craig et al. Time‐Resolving Infrared Polarization Analyzer for the 2‐to 4‐μ Range
Ding et al. Measurement of thin film parameters using substrate excitation of leaky modes
Sollom et al. A centimetre-wave parallel-plate spectrometer
SU1103069A1 (ru) Устройство дл измерени толщины диэлектрических покрытий металлов
SU1758530A1 (ru) Способ измерени диэлектрической проницаемости материалов
SU1109669A1 (ru) Устройство дл измерени диэлектрической проницаемости анизотропных пленок и веществ
SU1689815A1 (ru) Способ неразрушающего контрол механической анизотропии диэлектрических материалов