SU1126849A1 - Измерительна чейка дл исследовани диэлектрических параметров жидкостей - Google Patents

Измерительна чейка дл исследовани диэлектрических параметров жидкостей Download PDF

Info

Publication number
SU1126849A1
SU1126849A1 SU833633964A SU3633964A SU1126849A1 SU 1126849 A1 SU1126849 A1 SU 1126849A1 SU 833633964 A SU833633964 A SU 833633964A SU 3633964 A SU3633964 A SU 3633964A SU 1126849 A1 SU1126849 A1 SU 1126849A1
Authority
SU
USSR - Soviet Union
Prior art keywords
prism
dielectric
input
total internal
measuring cell
Prior art date
Application number
SU833633964A
Other languages
English (en)
Inventor
Сергей Александрович Тиханович
Владимир Афанасьевич Конев
Original Assignee
Институт Прикладной Физики Ан Бсср
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Институт Прикладной Физики Ан Бсср filed Critical Институт Прикладной Физики Ан Бсср
Priority to SU833633964A priority Critical patent/SU1126849A1/ru
Application granted granted Critical
Publication of SU1126849A1 publication Critical patent/SU1126849A1/ru

Links

Landscapes

  • Investigating Or Analysing Materials By Optical Means (AREA)
  • Measurement Of Resistance Or Impedance (AREA)

Abstract

ИЗМЕРИТЕЛЬНАЯ ЯЧЕЙКА ДЛЯ ИССЛЕДОВАНИЯ ДИЭЛЕКТРИЧЕСКИХ. ПАРАМЕТРОВ ЖИДКОСТЕЙ, содержаща  кювету, установленную между входным и выходным окнами, отличающа с   тем, что, с целью повышени  то 1 ности измерений, она дополнительно содержит трехгранную диэлектрическую призму нарушенного полного внутренне i-o отражени , на боковых гран х которой расположены входное и выходное окна, выполненные в виде цилиндрических стаканов, основани  которых ориентированы перпендикул рно падающему и выход щему иэлуче нию, а одна из стенок кюветы совмещена с ocHOBaHjieM призмы, причем диэлектрическа  призма нарушенного полного внутреннего отражени  выполнена с углом при основании Ot arcsin п,., где п,, - показатель преломлени  материала призмы относи (Л тельно исследуемой жидкости. с ьэ 9) 00 4 ;е

Description

Изобретение относитс  к измерительной технике и может быть использовано в электронной и химической промьшшен Ьсти дл  измерени  диэлектрической проницаемости и тангенса угла потерь жидких диэлектриков , Известна измерительна   чейка дл  исследовани  диэлектрических параметров жидкостей, содержаща  кювет с входным и выходным окнами П . Однако известна  кювета не позвол ет производить измерени  с вы сокой точностью в миллиметровом и су миллг-тметровом диапазонах длин волн, так как в этом диапазоне вли ние слюд ных пластинок, образующих стенки кюветы, вносит дополнительную пог решность в результаты измерений. Кро ме того, при использовании известной кюветы дл  определени  диэлектрических параметров жидкости необходимо проводить измерени  коэффициента от ражени  и прозрачности, что приводит ,- особенно при использовании диэлектриков с малыми потер ми, к значительным экспериментальным трудност м при измерении коэффициента отражени  и низкой точности. Наиболее близкой к изобретению  вл етс  измерительна   чейка дл  иссле,цовани  диэлектрических параметров жидкостей, содержаща  кювету установленную между входным и выходным окнами и диэлектрическую оболочку 2 , Однако известна   чейка не позвол ет проводить измерени  с высокой точность 9 из-за вли ни  пленки диэлектрической оболочки. Кроме того, дл  определени  величины диэлектриче ской проницаемости необходимо проводить дополнительное измерение толщины диэлектрической оболочки с исследуемой жидкостью, Цель изобретени  - повышение точ ности измерений. Поставленна  цель достигаетс  те что измерительна   чейка дл  исслед вани  диэлектрических параметров жидкостей, содержаща  кювету, установленную между входным и выходным окнами, дополнительно содержит трех гранную диэлектрическую призму нару шенного полного внутреннего отражеНИН , на боковых гран х которой расположены входное и выходное окна , выполненные в виде цилиндрических стаканов, основани  которых ориентированы перпендикул рно падающему и выход щему излучению, а одна из стенок кюветы совмещена с основанием призмы, причем диэлектрическа  призма нарушенного полного внутреннего отражени  выполнена с углом при основании а arcsin п. , где П2 - показатель преломлени  материала призмы относительно исследуемой жидкости. Входное и выходное окна служат дл  подсоединени   чейки к СВЧ тракту на базе стандарчного цилиндрического лучевода диаметром 20 мм. Материал призмы выбираетс  из услови , чтобы на границе призма-исследуема  зкндкость выполн лось условие полного внутреннего отражени . Изменение эллипсометрических параметров излучени , отраженного от границы призма-жидкость, позвол ет с высокой точностью определить величину диэлектрической проницаемости и тангенса угла потерь различных жидкостей . Кроме того, при толщине сло  жидкости d20,8i эллипсометрические параметры излучени , отраженного от границы призма-жидкость (при выполнении услови  полного внутреннего отражени ) не зависит от толщины сло  жидкости d и, следовательно , знание толщины при измерении величины диэлектрической проницаемости не об зательно, что ведет к повышению точности измерений. На чертеже приведена конструкци  измерительной, чейки. Измерительна   чейка дл  исследо-. довани  диэлектрических параметров жидкостей содержит трехгранную диэлектрическую призму 1 нарушенного . полного внутреннего отражени , кювету 2, входное 3 и выходное 4 окна, вьшолненные в виде цилиндрических стаканов дл  подключени  стандартных лучеводов диаметром 20 мм и установленные на боковых гран х призмы. Измерительна   чейка работает следующим образом. Исследуема  жидкость помещаетс  в кювету 2, Линейно пол ризованна  электромагнитна  волна через входное окно 3 поступает в призму 1 и на . границе призма-жидкость испытывает полное внутреннее отражение, Отраженна  электромагнитна  волна в результате отражени  На границе призма-жидкость становитс  в общем случае 3 эллиптически пол ризованной и чере входное окно 3 поступает в измерительный тракт. Эллипсометрические параметры отраженной волны определ ютс  величиной диэлектрической про ницаемости призмы и жидкости, угл падени  на границу призма-жидкость и длиной СВЧ волны. Зна  угол падени  1 и величин диэлектрической проницаемости мате ала призмы f. и измерив эллипсомётрические параметры отраженной волны р по формуле еге. рассчитьгоают диэлектрические параметры исследуемой жидкости Sn Первоначально измер ют эллипсометрические .параметры СВЧ волны,отраженной от границы призма-воздух (без исследуемой жидкости), и по приведенной формуле рассчитывают д электрические параметры материала призмы, если они не известны. 49 4 За базу сравнени  принимаетс  серийно выпускаельш измеритель .параметров диэлектриков Е9-6. Базовое устройство позвол ет с погрешностью +2% измер ть диэлектрическую проницаемость диэлектриков на образцах цилиндрической формы диаметром 49 и 95 мм. При измерении диэлектрической проницаемости жидкостей базовым устройством возникает дополнительна , погрешность,величина которой определ етс  точностью дозировки при заполнении исследуемой жидкостью рабочего резонатора и может fl несколько раз превышать погрешность базового устройства при измерении диэлектрической проницаемости твердых образцов. Кроме того, процесс измерени  базовым устройством достаточно сложен и требует значительного количества исследуемой жидкости. Предлагаемое устройство по сравнению с базовым обладает более высокой точностью (+1%) измерений диэлектрической проницаемости жидкостей , поскольку исключаетс  вли ние точности дозировки исследуемой жидкости .

Claims (1)

  1. ИЗМЕРИТЕЛЬНАЯ ЯЧЕЙКА ДЛЯ ИССЛЕДОВАНИЯ ДИЭЛЕКТРИЧЕСКИХ. ПАРАМЕТРОВ ЖИДКОСТЕЙ, содержащая кювету, установленную между входным и выходным окнами, отличающая с я тем, что, с целью повышения точности измерений, она дополнительно содержит трехгранную диэлектричес кую призму нарушенного полного внутреннего отражения, на боковых гранях которой расположены входное и .выходное окна, выполненные в виде цилиндрических стаканов, основания которых ориентированы перпендикулярно падающему и выходящему излучению, а одна из стенок кюветы совмещена с основанием призмы, причем диэлектрическая призма нарушенного полного внутреннего отражения выполнена с углом при основании Oi>arcsin п21, где п21 - показатель преломления материала призмы относительно исследуемой жидкости.
    1 126849
SU833633964A 1983-08-05 1983-08-05 Измерительна чейка дл исследовани диэлектрических параметров жидкостей SU1126849A1 (ru)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
SU833633964A SU1126849A1 (ru) 1983-08-05 1983-08-05 Измерительна чейка дл исследовани диэлектрических параметров жидкостей

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
SU833633964A SU1126849A1 (ru) 1983-08-05 1983-08-05 Измерительна чейка дл исследовани диэлектрических параметров жидкостей

Publications (1)

Publication Number Publication Date
SU1126849A1 true SU1126849A1 (ru) 1984-11-30

Family

ID=21078792

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
SU833633964A SU1126849A1 (ru) 1983-08-05 1983-08-05 Измерительна чейка дл исследовани диэлектрических параметров жидкостей

Country Status (1)

Country Link
SU (1) SU1126849A1 (ru)

Non-Patent Citations (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Title
1.Брандт А.А.Исследование диэлектриков на сверхвысоких частотах. М., 1963, с.297. 2. Авторское свидетельство СССР № 878023, кд. G 01 N 22/00, 1980 (прототип). *

Similar Documents

Publication Publication Date Title
GB2193313A (en) Spectral analysis apparatus and method
CN103884401B (zh) 光纤油水分界面的检测装置及检测方法
US3797940A (en) Refractometer with displacement measured polarimetrically
CN104655278A (zh) 一种波长定标仪
US3733130A (en) Slotted probe for spectroscopic measurements
Stenberg et al. A new ellipsometric method for measurements on surfaces and surface layers
ITAN20070019A1 (it) Rifrattometro spettrofotometrico
King et al. A comparison of thin film measurement by guided waves, ellipsometry and reflectometry
SU1126849A1 (ru) Измерительна чейка дл исследовани диэлектрических параметров жидкостей
US3286581A (en) Method and apparatus for determining surface birefringences in a transparent material employing a prism place adjacent to the surface
Lunazzi et al. Fabry-Perot laser interferometry to measure refractive index or thickness of transparent materials
Karabegov Metrological and technical characteristics of total internal reflection refractometers
Sümer et al. Investigating the experimental limits of the Brewster's angle method
SU815484A1 (ru) Устройство дл контрол тонкихплЕНОК
SU1681279A1 (ru) Способ измерени диэлектрической проницаемости жидкостей
SU878023A1 (ru) Измерительна чейка дл исследовани диэлектрических параметров жидкостей
RU2799977C1 (ru) Эллипсометрический датчик
SU1097921A1 (ru) Способ измерени показател преломлени
RU2730040C1 (ru) Поляриметр погружной для контроля доли ароматических углеводородов в светлых нефтепродуктах
SU754268A1 (ru) Способ определения показателя преломления прозрачной пленки 1
SU911251A1 (ru) Проточный рефрактометр
RU2148814C1 (ru) Способ и устройство для определения оптических параметров проводящих образцов
SU1567936A1 (ru) Способ определени коэффициента поглощени и коэффициента диффузии излучени в твердых слабопоглощающих сильнорассеивающих материалах
SU1742686A1 (ru) Способ измерени показател преломлени жидкостей
SU1087844A1 (ru) Способ определени показателей преломлени жидких кристаллов