SU1126849A1 - Измерительна чейка дл исследовани диэлектрических параметров жидкостей - Google Patents
Измерительна чейка дл исследовани диэлектрических параметров жидкостей Download PDFInfo
- Publication number
- SU1126849A1 SU1126849A1 SU833633964A SU3633964A SU1126849A1 SU 1126849 A1 SU1126849 A1 SU 1126849A1 SU 833633964 A SU833633964 A SU 833633964A SU 3633964 A SU3633964 A SU 3633964A SU 1126849 A1 SU1126849 A1 SU 1126849A1
- Authority
- SU
- USSR - Soviet Union
- Prior art keywords
- prism
- dielectric
- input
- total internal
- measuring cell
- Prior art date
Links
Landscapes
- Investigating Or Analysing Materials By Optical Means (AREA)
- Measurement Of Resistance Or Impedance (AREA)
Abstract
ИЗМЕРИТЕЛЬНАЯ ЯЧЕЙКА ДЛЯ ИССЛЕДОВАНИЯ ДИЭЛЕКТРИЧЕСКИХ. ПАРАМЕТРОВ ЖИДКОСТЕЙ, содержаща кювету, установленную между входным и выходным окнами, отличающа с тем, что, с целью повышени то 1 ности измерений, она дополнительно содержит трехгранную диэлектрическую призму нарушенного полного внутренне i-o отражени , на боковых гран х которой расположены входное и выходное окна, выполненные в виде цилиндрических стаканов, основани которых ориентированы перпендикул рно падающему и выход щему иэлуче нию, а одна из стенок кюветы совмещена с ocHOBaHjieM призмы, причем диэлектрическа призма нарушенного полного внутреннего отражени выполнена с углом при основании Ot arcsin п,., где п,, - показатель преломлени материала призмы относи (Л тельно исследуемой жидкости. с ьэ 9) 00 4 ;е
Description
Изобретение относитс к измерительной технике и может быть использовано в электронной и химической промьшшен Ьсти дл измерени диэлектрической проницаемости и тангенса угла потерь жидких диэлектриков , Известна измерительна чейка дл исследовани диэлектрических параметров жидкостей, содержаща кювет с входным и выходным окнами П . Однако известна кювета не позвол ет производить измерени с вы сокой точностью в миллиметровом и су миллг-тметровом диапазонах длин волн, так как в этом диапазоне вли ние слюд ных пластинок, образующих стенки кюветы, вносит дополнительную пог решность в результаты измерений. Кро ме того, при использовании известной кюветы дл определени диэлектрических параметров жидкости необходимо проводить измерени коэффициента от ражени и прозрачности, что приводит ,- особенно при использовании диэлектриков с малыми потер ми, к значительным экспериментальным трудност м при измерении коэффициента отражени и низкой точности. Наиболее близкой к изобретению вл етс измерительна чейка дл иссле,цовани диэлектрических параметров жидкостей, содержаща кювету установленную между входным и выходным окнами и диэлектрическую оболочку 2 , Однако известна чейка не позвол ет проводить измерени с высокой точность 9 из-за вли ни пленки диэлектрической оболочки. Кроме того, дл определени величины диэлектриче ской проницаемости необходимо проводить дополнительное измерение толщины диэлектрической оболочки с исследуемой жидкостью, Цель изобретени - повышение точ ности измерений. Поставленна цель достигаетс те что измерительна чейка дл исслед вани диэлектрических параметров жидкостей, содержаща кювету, установленную между входным и выходным окнами, дополнительно содержит трех гранную диэлектрическую призму нару шенного полного внутреннего отражеНИН , на боковых гран х которой расположены входное и выходное окна , выполненные в виде цилиндрических стаканов, основани которых ориентированы перпендикул рно падающему и выход щему излучению, а одна из стенок кюветы совмещена с основанием призмы, причем диэлектрическа призма нарушенного полного внутреннего отражени выполнена с углом при основании а arcsin п. , где П2 - показатель преломлени материала призмы относительно исследуемой жидкости. Входное и выходное окна служат дл подсоединени чейки к СВЧ тракту на базе стандарчного цилиндрического лучевода диаметром 20 мм. Материал призмы выбираетс из услови , чтобы на границе призма-исследуема зкндкость выполн лось условие полного внутреннего отражени . Изменение эллипсометрических параметров излучени , отраженного от границы призма-жидкость, позвол ет с высокой точностью определить величину диэлектрической проницаемости и тангенса угла потерь различных жидкостей . Кроме того, при толщине сло жидкости d20,8i эллипсометрические параметры излучени , отраженного от границы призма-жидкость (при выполнении услови полного внутреннего отражени ) не зависит от толщины сло жидкости d и, следовательно , знание толщины при измерении величины диэлектрической проницаемости не об зательно, что ведет к повышению точности измерений. На чертеже приведена конструкци измерительной, чейки. Измерительна чейка дл исследо-. довани диэлектрических параметров жидкостей содержит трехгранную диэлектрическую призму 1 нарушенного . полного внутреннего отражени , кювету 2, входное 3 и выходное 4 окна, вьшолненные в виде цилиндрических стаканов дл подключени стандартных лучеводов диаметром 20 мм и установленные на боковых гран х призмы. Измерительна чейка работает следующим образом. Исследуема жидкость помещаетс в кювету 2, Линейно пол ризованна электромагнитна волна через входное окно 3 поступает в призму 1 и на . границе призма-жидкость испытывает полное внутреннее отражение, Отраженна электромагнитна волна в результате отражени На границе призма-жидкость становитс в общем случае 3 эллиптически пол ризованной и чере входное окно 3 поступает в измерительный тракт. Эллипсометрические параметры отраженной волны определ ютс величиной диэлектрической про ницаемости призмы и жидкости, угл падени на границу призма-жидкость и длиной СВЧ волны. Зна угол падени 1 и величин диэлектрической проницаемости мате ала призмы f. и измерив эллипсомётрические параметры отраженной волны р по формуле еге. рассчитьгоают диэлектрические параметры исследуемой жидкости Sn Первоначально измер ют эллипсометрические .параметры СВЧ волны,отраженной от границы призма-воздух (без исследуемой жидкости), и по приведенной формуле рассчитывают д электрические параметры материала призмы, если они не известны. 49 4 За базу сравнени принимаетс серийно выпускаельш измеритель .параметров диэлектриков Е9-6. Базовое устройство позвол ет с погрешностью +2% измер ть диэлектрическую проницаемость диэлектриков на образцах цилиндрической формы диаметром 49 и 95 мм. При измерении диэлектрической проницаемости жидкостей базовым устройством возникает дополнительна , погрешность,величина которой определ етс точностью дозировки при заполнении исследуемой жидкостью рабочего резонатора и может fl несколько раз превышать погрешность базового устройства при измерении диэлектрической проницаемости твердых образцов. Кроме того, процесс измерени базовым устройством достаточно сложен и требует значительного количества исследуемой жидкости. Предлагаемое устройство по сравнению с базовым обладает более высокой точностью (+1%) измерений диэлектрической проницаемости жидкостей , поскольку исключаетс вли ние точности дозировки исследуемой жидкости .
Claims (1)
- ИЗМЕРИТЕЛЬНАЯ ЯЧЕЙКА ДЛЯ ИССЛЕДОВАНИЯ ДИЭЛЕКТРИЧЕСКИХ. ПАРАМЕТРОВ ЖИДКОСТЕЙ, содержащая кювету, установленную между входным и выходным окнами, отличающая с я тем, что, с целью повышения точности измерений, она дополнительно содержит трехгранную диэлектричес кую призму нарушенного полного внутреннего отражения, на боковых гранях которой расположены входное и .выходное окна, выполненные в виде цилиндрических стаканов, основания которых ориентированы перпендикулярно падающему и выходящему излучению, а одна из стенок кюветы совмещена с основанием призмы, причем диэлектрическая призма нарушенного полного внутреннего отражения выполнена с углом при основании Oi>arcsin п21, где п21 - показатель преломления материала призмы относительно исследуемой жидкости.1 126849
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
SU833633964A SU1126849A1 (ru) | 1983-08-05 | 1983-08-05 | Измерительна чейка дл исследовани диэлектрических параметров жидкостей |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
SU833633964A SU1126849A1 (ru) | 1983-08-05 | 1983-08-05 | Измерительна чейка дл исследовани диэлектрических параметров жидкостей |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
SU1126849A1 true SU1126849A1 (ru) | 1984-11-30 |
Family
ID=21078792
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
SU833633964A SU1126849A1 (ru) | 1983-08-05 | 1983-08-05 | Измерительна чейка дл исследовани диэлектрических параметров жидкостей |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
SU (1) | SU1126849A1 (ru) |
-
1983
- 1983-08-05 SU SU833633964A patent/SU1126849A1/ru active
Non-Patent Citations (1)
Title |
---|
1.Брандт А.А.Исследование диэлектриков на сверхвысоких частотах. М., 1963, с.297. 2. Авторское свидетельство СССР № 878023, кд. G 01 N 22/00, 1980 (прототип). * |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
GB2193313A (en) | Spectral analysis apparatus and method | |
CN103884401B (zh) | 光纤油水分界面的检测装置及检测方法 | |
US3797940A (en) | Refractometer with displacement measured polarimetrically | |
CN104655278A (zh) | 一种波长定标仪 | |
US3733130A (en) | Slotted probe for spectroscopic measurements | |
Stenberg et al. | A new ellipsometric method for measurements on surfaces and surface layers | |
ITAN20070019A1 (it) | Rifrattometro spettrofotometrico | |
King et al. | A comparison of thin film measurement by guided waves, ellipsometry and reflectometry | |
SU1126849A1 (ru) | Измерительна чейка дл исследовани диэлектрических параметров жидкостей | |
US3286581A (en) | Method and apparatus for determining surface birefringences in a transparent material employing a prism place adjacent to the surface | |
Lunazzi et al. | Fabry-Perot laser interferometry to measure refractive index or thickness of transparent materials | |
Karabegov | Metrological and technical characteristics of total internal reflection refractometers | |
Sümer et al. | Investigating the experimental limits of the Brewster's angle method | |
SU815484A1 (ru) | Устройство дл контрол тонкихплЕНОК | |
SU1681279A1 (ru) | Способ измерени диэлектрической проницаемости жидкостей | |
SU878023A1 (ru) | Измерительна чейка дл исследовани диэлектрических параметров жидкостей | |
RU2799977C1 (ru) | Эллипсометрический датчик | |
SU1097921A1 (ru) | Способ измерени показател преломлени | |
RU2730040C1 (ru) | Поляриметр погружной для контроля доли ароматических углеводородов в светлых нефтепродуктах | |
SU754268A1 (ru) | Способ определения показателя преломления прозрачной пленки 1 | |
SU911251A1 (ru) | Проточный рефрактометр | |
RU2148814C1 (ru) | Способ и устройство для определения оптических параметров проводящих образцов | |
SU1567936A1 (ru) | Способ определени коэффициента поглощени и коэффициента диффузии излучени в твердых слабопоглощающих сильнорассеивающих материалах | |
SU1742686A1 (ru) | Способ измерени показател преломлени жидкостей | |
SU1087844A1 (ru) | Способ определени показателей преломлени жидких кристаллов |