SU1663428A1

SU1663428A1 - Способ неразрушающего контрол толщины пленочного покрыти издели

Info

Publication number: SU1663428A1
Application number: SU884419124A
Authority: SU
Inventors: Владимир Николаевич Чернышов; Анатолий Петрович Пудовкин; Юрий Леонидович Муромцев; Евгений Петрович Емельянов; Татьяна Ивановна Чернышова
Original assignee: Тамбовский институт химического машиностроения; Владимирский химический завод
Priority date: 1988-05-03
Filing date: 1988-05-03
Publication date: 1991-07-15

Abstract

Изобретение относитс к измерительной технике, а именно к способам измерени и контрол толщины пленочных покрытий изделий неразрушающими тепловыми методами. Цель изобретени заключаетс в повышении точности, что достигаетс путем использовани дл нагрева поверхности плоского источника пр моугольной формы посто нной мощности, теплоизолированного от внешней среды, измерени температуры поверхности при установившемс тепловом режиме в центре площадки контакта поверхности с источником и определени толщины покрыти по расчетной формуле, полученной из анализа соответствующей математической модели. 1 з.п. ф-лы.

Description

Изобретение относитс к измерительной технике, а именно к способам контрол толщины пленочных покрытий изделий неразрушающими тепловыми методами.

Цель изобретени - повышение точности .

Способ неразрушающего контрол толщины пленочного покрыти издели осуществл етс следующим образом.

На поверхность издели без покрыти помещают плоский источник тепловой энергии посто нной мощности пр моугольной формы и теплоизолируют его от внешней среды. Осуществл ют нагрев поверхности издели и измер ют избыточную температуру в центре площадки контакта поверхности с источником. При установившемс тепловом режиме эта температура становитс посто нной , т.е. Ti const. Затем помещают источник на поверхность издели с покрытием , теплоизолируют его, осуществл ют нагрев поверхности и измер ют значение

избыточной температуры T2 const при установившемс режиме в центре площадки контакта.

Искомую толщину покрыти hn определ ют по формуле, полученной из анализа соответствующей математической модели ,

hn ATAnlb/q,(1)

где ДТ Т2-Тк

An - теплопроводность материала покрыти ;

q-мощность установившегос теплового потока от источника к исследуемому изделию;

I и b - размеры источника.

Чтобы избежать погрешностей, вносимых в определение толщины покрыти неточностью значений Ал и q, изготавливают эталонный образец, идентичный изделию о- покрытием известной толщины, котора может быть найдена, например, с помощью

(Л

С

о о

OJ

го

00

разрушающих методов, осуществл ют нагрев поверхности эталонного образца без покрыти и с покрытием с помощью одного и того же источника тепловой энергии, измер ют значени избыточных температур при установившемс тепловом режиме в центре площадок контакта поверхности с источником и на основе выражени (1) искомую толщину покрыти издели определ ют по формуле

hn Пэт -ДТ/ДТэт,

где Пэт - толщина покрыти на эталонном образце;

АТ.АТэт - разность установившихс избыточных температур издели и эталонного образца соответственно, с покрытием и без покрыти .

Способ может быть использован в системах автоматического неразрушающего контрол толщины пленочных покрытий изделий в различных отрасл х промышленности .

Claims

Формула изобретени 1. Способ неразрушающего контрол толщины пленочного покрыти издели , заключающийс в том, что осуществл ют нагрев поверхности издели без покрыти , измер ют значение избыточной температуры нагретой поверхности издели , затем осуществл ют нагрев поверхности издели с покрытием и измер ют значение избыточной температуры поверхности покрыти , а

толщину покрыти определ ют с учетом измеренных значений температур и теплопроводности материала покрыти , отличающийс тем, что, с целью повышени точности, нагрев поверхности осуществл ют с помощью плоского источника пр моугольной формы посто нной мощности, размещенного на нагреваемой поверхности и теплоизолированного от внешней среды, избыточную температуру измер ют

в установившемс режиме в центре площадки контакта с источником и по полученным данным определ ют толщину покрыти .
2. Способ по п. 1,отличающийс

тем, что изготавливают эталонный образец, идентичный изделию, с покрытием известной толщины, с помощью того же источника осуществл ют нагрев поверхности эталонного образца без покрыти и нагрев поверхности образца с покрытием с помощью того же источника, размещенного на их поверхности , измер ют значени избыточных температур в установившемс режиме в центрах площадок контакта с источником и

учитывают полученные значени при определении толщины покрыти .