SU1654650A1 - Вакуумный дефектоскоп обнаружени непроклеев - Google Patents

Abstract

Изобретение относитс  к измерительной технике и может быть использовано дл  неразрушающего контрол  (дефектоскопии) клееных изделий. Цель изобретени  - уменьшение погрешностей и повышение достоверности контрол . Устройство устанавливаетс  на участок контролируемой клееной поверхности, под чашей устройства создаетс  вакуум. Зоны непрокле  прижимаютс  к матрице светоприемников и затемн ют светоприемники, наход щиес  над зоной непрокле . Светоприемники коорди- натно сопр жены со светоиндикаторами световой панели, устройство снабжено блоком электронной обработки сигналов. В качестве светочувствительного элемента использован фотодиод и/или фоторезистор. Изменение светового потока регистрируетс  светоприемником, сигнал с которого поступает на электронный блок. Дефектоскоп обеспечивает повышение достоверности обнаружени  дефектов, в том числе дефектов малой площади. При диаметре чаши, равном D, может быть обнаружен дефект значительно меньших в Vm раз размеров за счет увеличени  количества (т) светоприемников в полости чаши. 1 ил. Ј

Description

Изобретение относитс  к измерительной технике и может быть использовано дл  обеспечени  неразрушающегос  контрол  дефектоскопии клееных изделий.

Цель изобретени  - уменьшение погрешностей и повышение достоверности контрол .

На чертеже изображена принципиальна  схема предлагаемого дефектоскопа.

Дефектоскоп включает корпус 1, пластину 2 дл  размещени  светоприемников, матрицу 3 светоприемников, источники 4 света, световую панель 5, соединительный жгут 6 из электрических проводников, воздуховод 7 со штуцером дл  подключени  к вакуумной линии и отключени  от нее при помощи вентил  8. Каждый из светоприемников матрицы 3 через блок 9 электронной обработки однозначхо сопр жен с соответствующим светоиндикатором на поле световой панели 5. Пластина 2 размещена вблизи выходного отверсти  так, что между пластиной и контролируемой поверхностью образуетс  зазор, подсвечиваемый источниками 4 света.

Дефектоскоп работает следующим образом .

Установив корпус отверстием на контролируемую клееную поверхность и включив вакуум, наблюдают за показани ми светового индикатора. Если дефекты отсутствуют и клеена  поверхность не отстает от конструкции детали, на световой панели индикаторы не свет тс . Если имеетс  дефект, то обшивка отслаиваетс  и приподнимаетс , устран   зазор между отслоившейс  поверхностью и светоприемником. Освещенность светоприемника падает, соа

СП

ел о

ответственно, уменьшаетс  сигнал с затененного светоприемника. Сигнал усиливаетс  в электронном блоке и преобразуетс  таким образом, чтобы на световой панели высвечивались световые индикаторы, сопр - женные с затемненными светоприемниками. Количество чувствительных светоприемни- ков выбираетс  исход  из требовани  вы влени  дефектов с заданными размерами - чем меньше размер вы вл емого дефекта, тем больше светоприемников устанавливаетс  на пластине.

При диаметре корпуса, равном D, может быть обнаружен дефект значительно мень- ших в V m раз размеров за счет увеличени  количества (т) светоприемников в полости чаши.

Использование предлагаемого дефектоскопа значительно улучшает технологич-

ность процесса контрол  и повышает достоверность вы влени  дефектов и производительность контрол .

Claims (1)

1. Формула изобретени  Вакуумный дефектоскоп обнаружени  непроклеев, включающий корпус в виде полой чаши с выходным отверстием, средство вакуумировани  и индикатор непрокле , о т личающийс  тем, что, с целью уменьшени  погрешностей и повышени  достоверности контрол , индикатор непрокле  выполнен в виде источников света, расположенных по внутренней боковой поверхности стенок чаши со стороны выходного отверсти , пластины с полем светоприемников , обращенных светочувствительной поверхностью в сторону выходного отверсти , и световой панели с полем светоиндикато- ров, каждый из которых координатно сопр жен с соответствующим светоприемником.