SU1651093A1 - Способ бесконтактного измерени диаметра отверстий - Google Patents

Способ бесконтактного измерени диаметра отверстий Download PDF

Info

Publication number
SU1651093A1
SU1651093A1 SU884646686A SU4646686A SU1651093A1 SU 1651093 A1 SU1651093 A1 SU 1651093A1 SU 884646686 A SU884646686 A SU 884646686A SU 4646686 A SU4646686 A SU 4646686A SU 1651093 A1 SU1651093 A1 SU 1651093A1
Authority
SU
USSR - Soviet Union
Prior art keywords
hole
diameter
controlled
holes
measuring
Prior art date
Application number
SU884646686A
Other languages
English (en)
Inventor
Игорь Анатольевич Нестеренко
Владимир Александрович Остафьев
Юрий Евгеньевич Райфурак
Григорий Семенович Тымчик
Original Assignee
Киевский Политехнический Институт Им.50-Летия Великой Октябрьской Социалистической Революции
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Киевский Политехнический Институт Им.50-Летия Великой Октябрьской Социалистической Революции filed Critical Киевский Политехнический Институт Им.50-Летия Великой Октябрьской Социалистической Революции
Priority to SU884646686A priority Critical patent/SU1651093A1/ru
Application granted granted Critical
Publication of SU1651093A1 publication Critical patent/SU1651093A1/ru

Links

Landscapes

  • Length Measuring Devices By Optical Means (AREA)

Abstract

Изобретение относитс  к измерительной технике и может быть использовано лл  бесконтактного измерени  отверстий, в том числе с переменным диаметром Цель изобретени  - повышение точности и расширение диапазона контролируемых отверстий. Луч лазера делитс  на два пучка, измерительный и эталонный. Измерительным пучком облучают противоположные участки контролируемого отверсти , а эталонным пучком - два зеркала, установленных параллельно друг другу на рассто нии, равном номинальному диаметру контролируемого отверсти . Затем пучки свод т,-регистрируют интенсивность излучени  в интерференционной картине, по которой суд т об отклонении измер емого диаметра от номинального значени . 1 ил. §

Description

Изобретение относитс  к измерительной технике и может быть использовано , дл  бесконтактного измерени  диаметра отверстий , в том числе отверстий с переменным диаметром.
Цель изобретени  - повышение точности и расширение диапазона контролируемых отверстий за счет контрол  отверстий с переменным диаметром.
На чертеже изображена схема устройства , реализующего способ бесконтактного измерени  диаметра от- .верстий.
Устройство содержит лазер 1, светоделитель 2, два светоделителышх куба 3 и 4, установленные по одному в каждом канале после светоделител  2 в корпусе 5, два зеркала 6 и 7, оптически св занные со светоделительным кубом 3 и установленные с возможностью изменени  рассто ни  между собой, светосоединитель 8, расположенный по ходу излучени , прошедшего через светоделительные кубы 3 и 4, объектив 9 и фотоприемник 10, установленные последовательно по ходу излучени  после светосоединител  8, усилитель 11 и вычислительно-информационный блок 12, соединенные последовательно с фотоприемником 10. Светоделитель 2 и светосоединитель 8 могут быть выполнены в виде идентичных моноблоков из двух ромбических призм.
Способ осуществл етс  следующим образом .
Пучок когерентного излучени  лазера 1 поступает на светоделитель 2 и делитс  на два равных по интенсивно ЗЭ
ел
00
сти пучка, измерительный и эталонный , каждый из которых поступает соответственно на один из светодели- тельных кубов 3 или 4 эталонного и из мерительного каналов. После отражени  от зеркал 6 и 7 эталонного канала и диаметрально противоположных участков отверсти  измерительного канала и,
вторично пройд  через светоделитель- ные кубы 3 и 4 соответственно, лучи совмещаютс  на светосоединителе 8,
а объектив 9 создает изображение интерференционной картины на чувствительной площадке фотоприемника 10. В случае, когда диаметр измер емого от- версти  не равен номинальному, интерференционна  картина смещаетс  и интенсивность излучени ,попадающего на фотоприемник 10 по оптической оси уст-- ройства, измен етс . Сигнал, снимаемый с фотоприемника, усиливаетс  уси лителем 11 и поступает в вычислительно-информационный блок 12, который определ ет направление смещени  интер- ференционной картины, пор док максимума , интенсивность которого регистрируетс  на оптической оси устройства , и собственно интенсивность по оптической оси устройства на чувст- вительной площадке фотоприемника,затем , суд т об изменении диаметра отверсти  по формуле
Kb) U
г 2К I.
1 +
cos 4 IT
J
« - «-и , Г , It k-0 L .Л
де у (-Ј-) ехр - (---) ;
- I- с -4 In 2 J
Av - гшрина полосы спектра
излучени  лазера на половине высоты кривой спектра;
Q
15 20 - 25 30 | 35
40
Д - отклонение диаметра оси эталонного номинального размера;
с - скорость света в ваку- Уме;
- длина волны, соответ- ствующа  максимуму кривой спектра излучени  лазера;

Claims (1)

  1. К - потери в пучках; 10 - интенсивность излучени  лазера; I - на фотоприемнике. По значению Д суд т об истинном значении диаметра контролируемого отверсти . Формула изобретени 
    Способ бесконтактного измерени  диаметра отверстий, заключающийс  в том ,что формируют зондирующий пучок , облучают контролируемое отверстие , формируют интерференционную картину , по которой суд т о величине ди-- аметра контролируемого отверсти , отличающийс  тем, что, с целью повышени  точности и расширени  диапазона контролируемых отверстий , формируют зондирующий пучок с длиной волны, по крайней мере на по р док большей средней величины микронеровностей поверхности контролируемого отверсти , перед облучением контролируемого отверсти  дел т зондирующей пучок на эталонный и измерительный , облучение контролируемого отверсти  осуществл ют измерительным пучком перпендикул рно оси отверсти , с помощью эталонного пучка формируют пучок сравнени , а интерференционную картину формируют с помощью пучка сравнени  и измерительного пучка, прошедшего контролируемое отверстие.
SU884646686A 1988-12-13 1988-12-13 Способ бесконтактного измерени диаметра отверстий SU1651093A1 (ru)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
SU884646686A SU1651093A1 (ru) 1988-12-13 1988-12-13 Способ бесконтактного измерени диаметра отверстий

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
SU884646686A SU1651093A1 (ru) 1988-12-13 1988-12-13 Способ бесконтактного измерени диаметра отверстий

Publications (1)

Publication Number Publication Date
SU1651093A1 true SU1651093A1 (ru) 1991-05-23

Family

ID=21427023

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
SU884646686A SU1651093A1 (ru) 1988-12-13 1988-12-13 Способ бесконтактного измерени диаметра отверстий

Country Status (1)

Country Link
SU (1) SU1651093A1 (ru)

Non-Patent Citations (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Title
Авторское свидетельство СССР У 773429, кл. GQ1 В 11/12, -1980. *

Similar Documents

Publication Publication Date Title
US4022532A (en) Sample point interferometric system for optical figure monitoring
US4148587A (en) Laser gauge for measuring changes in the surface contour of a moving part
US3809477A (en) Measuring apparatus for spatially modulated reflected beams
US3572937A (en) Method and apparatus for interferometric measurement of machine slide roll
GB1512245A (en) Detection of backscattered radiation
US4009965A (en) Method and apparatus for determining object dimension and other characteristics using diffraction waves
SU1651093A1 (ru) Способ бесконтактного измерени диаметра отверстий
JPS6413403A (en) Interference length measuring apparatus
WO1993020458A3 (en) Laser distance measurement
SE8901554D0 (sv) Laservarnare
SE8800097L (sv) Foerfarande foer att faststaella en upptraedande diskrepans mellan tvaa optiska vaegstraeckor samt anordning anpassad foer utfoerande av foerfarandet
RU2092787C1 (ru) Способ определения коротких дистанций до диффузно-отражающих объектов и устройство для его осуществления
JPS5459166A (en) Visual sensibility measuring apparatus of interferometer
SU1046683A1 (ru) Способ определени параметров вращательного движени диффузно рассеивающих объектов
SU849006A1 (ru) Устройство дл измерени скорости
SU1620826A1 (ru) Способ определени диаметра отверстий и устройство дл его осуществлени
SU1413415A1 (ru) Способ определени диаметра отверстий
SU1735710A1 (ru) Способ измерени размеров издели
SU953451A2 (ru) Интерферометр дл контрол вогнутых сферических поверхностей
JPS6359930A (ja) 血流計
SU1241062A1 (ru) Лазерный измеритель линейных перемещений поверхности
RU1810748C (ru) Устройство дл определени линейных продольных перемещений поверхности
SU1375949A1 (ru) Способ выставлени нулевой разности хода в плечах интерферометра
SU1755050A1 (ru) Способ измерени рельефа поверхности
SU972294A1 (ru) Устройство дл измерени задней вершинной рефракции очковых линз