SU1649258A1 - Растр и способ определени деформаций с помощью растра - Google Patents

Abstract

Изобретение относитс  к измерительной технике и может быть использовано при измерении деформаций с помощью оптических средство Цель изобретени  - повышение точности измерений за счет раздельной регистрации муаровых картин и обеспечение возможности управлени  чувствительностью измерений путем ее дискретного изме- нени . Растр из материала, обладающего пол ризационными свойствами, размещают на поверхности объекта или вблизи нее, освещают растр, регистрируют его изображени  до и после деформации и получают муаровые картины На пути света, прошедшего растр, размещают анализатор с возможностью поворота плоскости пол ризацииt а регистрацию изображений растра производ т фотокамерами раздельно при совмещении плоскостей пол ризации разных систем полос растра и анализато- s ра„ По муаровым картинам определ ют деформации. 1 э0п0ф-лы, 2 ил. Ј2 &

Description

Изобретение относитс  к измерительной технике и может быть использовано при измерении деформаций с помощью оптических средств

Целью изобретени   вл етс  повышение точности измерений за счет раздельной регистрации муаровых картин и обеспечение возможности управле™ ни  чувствительностью измерении путём ее дискретного изменени 

На изображен растр содержащий системы полос, ориентированные друг относительно друга под углом 90°(а, г) и 0° (б,в); на - устройства дл  реализации предлагаемого способа

Устройства дл  реализации способа определени  деформаций с помощью растра содержат растр 1, источник 2 света, анализатор 3, фотокамеру 4.

Полосы выполнены из материала, обладающего пол ризационными свойст- вами, такими, что плоскости пол ри- 3ации полос, относ щихс  к разным системам, ориентированы по разным направлени м Шаг полос в разных системах различен (фиг.1 б,в,). Растр может быть выполнен из полос с одина-- ново ориентированными плоскост ми пол ризации , пространство между которыми заполнено материалом с другой

4W

СП

00

(фиг02в)9 Растр 1 с параллельными си-; стенами полос устанавливают вблизи поверхности объекта При освещении объекта белым светом от источника 2 возникают муаровые картины интерференции полос растра 1 с полосами, спроецированными на поверхность объекта., Начальные картины фотографируют фотоТаким образом, фотографируют муаровые картины после деформировани  15 объекта При этом получают муаровые картины, соответствующие различным шагам полос, т,е„ разной чувствительности системы,,

ориентацией плоскости пол ризации

(фИГ01г)о

Способ определени  деформаций с помощью растра осуществл ют следующим образомо

Растр 1 размещают на поверхности объекта или вблизи нее, освещают .. растр 1,регистрируют его изображени 

до и после деформации и получают муа-jQ камерой 4 при совмещении плоскостей ровые картины.пол ризации анализатора 3 и каждой

Освещение растра 1 производ т с по- системы полос растра в отдельности мощью источника 2 света0 На пути света , прошедшего растр 1, устанавливают (фиго 26, в) анализатор 3 с возможностью поворота плоскости пол ризациио Регистрацию изображений растра производ т раздельно при совмещении плоскостей пол ризации каждой системы полос и ана- 20 ф ° Р м У л а изобретени  лизатора 3„ Таким образом получают10 Растр, содержащий системы подве раздельные картины муаровых по-лос, ориентированные одна относилос , несущие информацию о перемеще-тельно другой под углом, кратным /2,

ци х точек исследуемого объекта вотличающийс  тем, что,

двух различных направлени х По муа- 25 с целью повышени  точности измерений, ровым картинам определ ют деформации0полосы выполнены из материала, облаСлособ -может быть реализован с по- дающего пол ризационными свойствами, мощью различных устройств (фиг02а,б,вА такими, что плоскости пол ризации поИо схеме (фиг,2а) анализатор 3 мо- лос, относ щихс  к разным системам, жет быть размещен между растром 3 и 0 ориентированы по разным направлени м,, источником 2 света, а регистраци  муа-20 Растр по п01, о т л и ч а ю ровых картин ведетс  раздельно двум  фотокамерами 40 Кажда  фотокамера 4 регистрирует свою систему полос при совмещении плоскостей пол ризации этой системы и анализатора 30 В результате наложени  изображений недеформированного и деформированного растров I на негативах фотокамер 4 ТОм, что растр размещают на поверх- образуютс  две раздельные картины муа-4о ности объекта или вблизи нее, осве- ровых полос, несущие информацию о де- растр, регистрируют его изобра- формацилх по двум направлени м:,жени  до и после деформации, получаНо схеме (фиг02б) растр 1 нане-ют муаровые картины и по ним опредесен на объект и на прозрачную плас-л ют деформации, отличающийтину , помещенную вблизи поверхности 45 с   тем, что, с целью повышени  точ- объектас На поверхности объекта - из- ности измерений и обеспечени  воз- вестный растр на пластине - пред- можности управлени  чувствительностью лагаемыно После деформации объектаизмерений путем ее дискретного измевозникают муаровые картины, которыенени , на пути света, прошедшего

фотографируют раздельно фотокамерой растр, устанавливают анализатор с воз- 4 при совмещении плоскостей пол риза- . можностью поворота плоскости пол ри- ции анализатора 3 с плоскост ми пол - зации, совмещают плоскости пол риза- рнзации каждой системы полос растра 10 щщ каждой системы и анализатора и

Предлагаемый способ может быть pea- производ т раздельную регистрацию лизован но схеме теневого муара изображений растра0

щ и и с   тем, что, с целью обеспечени  возможности управлени  чувствительностью измерений путем ее дис- 35 кратного изменени , шаг полос в разных системах различено

30 Способ определени  деформаций с помощью растра, заключающийс  в

(фиг02в)9 Растр 1 с параллельными си-; стенами полос устанавливают вблизи поверхности объекта При освещении объекта белым светом от источника 2 возникают муаровые картины интерференции полос растра 1 с полосами, спроецированными на поверхность объекта., Начальные картины фотографируют фотоТаким образом, фотографируют муаровые картины после деформировани  объекта При этом получают муаровые картины, соответствующие различным шагам полос, т,е„ разной чувствительности системы,,

системы полос растра в отдельности ф ° Р м У л а изобретени  10 Растр, содержащий системы поТОм , что растр размещают на поверх- ности объекта или вблизи нее, осве- растр, регистрируют его изобра- жени  до и после деформации, получащ и и с   тем, что, с целью обеспечени  возможности управлени  чувствительностью измерений путем ее дис- кратного изменени , шаг полос в разных системах различено

30 Способ определени  деформаций с помощью растра, заключающийс  в

г

s

Z

m

/

ЙЙ2222)

ZZ2ZZZZZZZ

Л

CT

8

фиг.1

Claims (2)

Формула изобретения

1® Растр, содержащий системы полос, ориентированные одна относительно другой под углом, кратным ^7/2, отличающийся тем, что, с целью повышения точности измерений, полосы выполнены из материала, обладающего поляризационными свойствами, такими, что плоскости поляризации полос, относящихся к разным системам, ориентированы по разным направлениям®

2® Растр по π®1, отличающийся тем, что, с целью обеспечения возможности управления чувствительностью измерений путем ее дискретного изменения, шаг полос в разных системах различено

Зо Способ определения деформаций с помощью растра, заключающийся в том, что растр размещают на поверхности объекта или вблизи нее, освещают растр, регистрируют его изображения до и после деформации, получают муаровые картины и по ним определяют деформации, отличающийся тем, что, с целью повышения точности измерений и обеспечения возможности управления чувствительностью измерений путем ее дискретного изменения, на пути света, прошедшего растр, устанавливают анализатор с возможностью поворота плоскости поляризации, совмещают плоскости поляризации каждой системы и анализатора и производят раздельную регистрацию изображений растра® фиг.2