SU847255A1 - Способ контрол выравнивани фОТОплЕНОК и уСТРОйСТВО дл ЕгООСущЕСТВлЕНи - Google Patents

Description

Изобретение относится к кинофототехнике, в частности к аэрофотоаппаратуре .

Известны устройство и сг.особ конт роля выравнивания пленки по светотеням, образуемым при освещении плен· ки наклонным пучком лучей [1].

Известен способ контроля выравнивания фотопленок и устройство для его осуществления, в котором тестобъект, содержащий одиночный штрих, освещается двумя источниками света. Время экспонирования регулируется затвором. На пленке образуется два изображения штриха тест-объекта, расстояние между изображениями зависит от величины неровностей пленки (расстояние между фокальной плоскостью и пленкой) . После проявления пленки измеряют расстояние между двумя изображениями штриха и гычисляют величину неровностей пленки Г2] Недостатком известного устройства и способа контроля выравнивания пленки является невысокая точность определения величины неровностей и большая трудоемкость, т.е. требуется замерить расстояние между двумя изображениями штриха и произ-г вести расчет величины неровностей пленки.

Цель изобретения - снижение трудоемкости определения величины неровностей пленки, повышение точности .

Указанная цель достигается тем, что в способе контроля выравнивания фотопленок, заключающемся в фотографировании тест-объекта на пленку, проявлении пленки и определении величины неровностей по изображению тест-объекта на пленке, изображение квадрата на плёнке сравнивают с эталоном, а величину неровности определяют по совпадению изображения на пленке с изображением штрихов в одном из рядов эталона.

Такой способ осуществляется устройством конструкции для контроля выравнивания фотопленок, содержащем тест-объект, расположенный в фокальной плоскости объектива фотоаппарата, и два точечных источника света, расположенные на фиксированном расстоянии относительно тест-объекта, которое снабжено эталоном с выполненными на нем рядами штрихов, причем, каж- ю дый ряд содержит заданное положение штрихов, соответствующее определенному расстоянию пленки от фокальной плоскости, а тест-объект выполнен в виде миры, содержащей квадрат с 15 однонаправленными штрихами.

Кроме того, мира выполнена в виде набора квадратов с однонаправленными штрихами, причем, ширина штриха от квадрата к квадрату возрастает· ₂о На фиг. 1 изображена принципиальная схема устройства для контроля выравнивания пленки в квадратном аэрофотоаппарате; на фиг. 2 - то же, в панорамном аэрофотоаппарате; на фиг. 3 - разрез А-А на фиг. 2; на фиг. 4 - графические построения изображения миры, освещенной двумя источниками света; на фиг. 5 - эталон 'изображений квадрата миры в различ- 30 пых плоскостях; на фиг. 6 - мира; на фиг. 7 - одиночный квадрат миры.

Устройство для контроля выравнивания пленки к кадровом аэрофотоаппа-35 рате содержит миру I с квадратами 2, содержащими однонаправленные штрихи 3, установленную в фокальной плоскости 4 аэрофОтоаппарата (не показан) на выравнивающем стекле 5 перед аэрофотопленкой 6. Два источника света 7 установлены на фиксированном расстоянии друг от друга и от фокальной плоскости 4 объектива фотоаппарата (не показаны). Между источниками света ⁴⁵ 7 и фокальной плоскостью 4 объектива фотоаппарата (не показаны) установлен затвор 8. Ширина штриха 3 миры 1 от квадрата 2 к квадрату 2 возрастает в зависимости от требуемой точности 50 определения величины неровностей пленки 6, а минимальная ширина штриха, соответствующая минимальной величине неровностей пленки 6, определяется зависимостью _ 55 р _ а · ьтлп

L V^Tt_w^' где а - расстояние между источниками света;

- расстояние от источников света до фокальной плоскости объектива;

^min минимальное значение величины неровностей пленки, которое необходимо определить.

Кроме того, устройство снабжено эталоном 9 со штрихами 10 для определения величины неровностей пленки 6. Когда квадрат ’ миры 1 освещается двумя источниками света 7, за плоскостью миры 1 происходит сложение световых потоков, прошедших через щели от двух источников 7.

На различном расстояния от миры 1 квадрата картина освещенности меняется, причем, только в плоскостях 11, соответствующих определенному ряду 12 штрихов 10 эталона 9, картина освещенности представляет собой чередование четких штрихов одинаковой ширины.

Постоянная квадрата 2, от которой зависит расстояние между плоскостями 11, соответствующей определенному ряду 12 эталона 9, определяется зависимостью _ р- - ’ ^L

где Р - ширина штриха соответствующего квадрата.

При срабатывании затвора 8 мира 1 освещается двумя источниками света 7 и на пленке 6 фиксируется изображение миры I.

После проявления пленки 6 производят расшифровку изображения ^не показана) миры 1, для чего сравнивают изображение (не показано) квадрата 2 с эталоном 9, и величину неровности пленки 6.

Устройство для определения величины неровностей пленки 6 панорамного фотоаппарата установлено на качающейся ферме 13 между объективом 14 и экспозиционной щелью 15, перемещающейся вдоль выравнивающего барабана 16 с неподвижной в процессе фотографирования пленкой 6. Мира 1 установлена в экспозиционной щели 15 аппарата (не показана). Два мнимых источника света изображения 17 создаются с помощью стробоскопической лампы 18, двух диафрагм 19 и наклонных зеркал 20. .

Ферма 13, качаясь вокруг оси 21, перемещается вдоль выравнивающего барабана 16 с пленкой 6, При этом, мира 1 освещается импульсами света

847255 6 стробоскопической лампы 18 и на пленку 6 периодически впечатывается изображение (не показано) миры 1, освещенной двумя источниками света от стробоскопической лампы 18. После про- 5 явления пленки 6 определение величины ее неровностей производят аналогично, как в кадровом аппарате.

Контроль выравнивания пленки осуществляется следующим способом. 10

Мира 1 фотографируется на пленку 6, затем пленка проявляется и по изображению определяется величина неровностей пленки 6. Изображение квадрата на пленке зависит от того, 15 на каком расстоянии от фокальной плоскости находится пленка в момент фотографирования, т.е. от величины неровностей пленки, сравнивают с эталоном и определяют номер ряда 12 штрихов 20 на эталоне 9, штрихи 10 которого совпадают с изображением (не показано) штрихов 3 миры 1.

Величину неровностей пленки определяют по формуле _о ²⁵

S = п, где - постоянная квадрата, η - номер ряда штрихов эталона.

Использование устройства и способа определения величины невыравнива- зо ния пленки позволяет повысить точность, значительно снизить трудоемкость определения величины неровностей пленки за счет исключения операции измерения. Кроме того, пред- 35 лагаемое устройство можно использовать для определения величины неровностей пленки в панорамных аппаратах.

Claims (2)

1. Изобретение относитс  к кинофототехнике , в частности к аэрофотоаппаратуре . Известны устройство и способ кон рол  выравнивани  пленки по светотен м , образуемым при освещении пле ки наклонным пучком лучей U}Известен способ контрол  выравнивани  фотопленок и устройство дл  его осуществлени , в котором тестобъект , содержащий одиночный штрих, освещаетс  двум  источниками света. Врем  экспонировани  регулируетс  затвором. На пленке обпазуетс  два изображени  штриха тест-объекта, рассто ние между изображени ми зависит от величины неровностей пленки (рассто ние между фокальной плоскостью и пленкой). После про влени  пленки измер ют рассто уше между двум  изображени ми штриха и 1ычисл ют величину неровностей пленки Г2 Недостатком известного устройства и способа контрол  выравнивани  пленки  вл етс  невысока  точность определени  величины неровностей и больша  трудоемкость, т.е. требуетс  замерить рассто ние между двум  изображени ми штриха и произ-г вести расчет величины неровностей пленки. Цель изобретени  - снижение трудоемкости определени  величины неровностей пленки, повышение точности . Указанна  цель достигаетс  тем, что в способе контрол  выравнивани  фотопленок, заключающемс  в фотографировании тест-объекта на пленку , про влении пленки и определении величины .неровностей по изображению тест-объекта на пленке, изображение квадрата на пленке сравнивают с эталоном, а величину неровности определ ют по совпадению изображени  на пленке с изображением штрихов в одном из р дов эталона. 38 Такой способ осзпдествл етс  устройством конструкции дл  контрол  выравнивани  фотопленок, содержащем тест-объект, расположенный в фокальной плоскости объектива фотоаппарата и два точечных источника света, расположенные на фиксированном рассто нии относительно тест-объекта, которое снабжено эталоном с выполненными на нем р дами штрихов, причем, каждый р д содержит заданное положение штрихов, соответствующее определенному рассто нию пленки от фокальной плоскости, а тест-объект выполнен в виде миры, содержащей квадрат с однонаправленными штрихами. Кроме того, hfflpa выполнена в виде набора квадратов с однонаправленными штрихами. Причем, ширина штриха от квадрата к квадрату возрастает На фиг. 1 изображена принципиальна  схема устройства дл  контрол  выравнивани  пленки в квадратном аэрофотоаппарате; на фиг. 2 - то же в панорамном аэрофотоаппарате; на фиг. 3 - разрез А-А на фиг. 2; на фиг. 4 - графические построетш  изоб ражени  миры, освещенной двум  источниками света; на фиг. 5 - эталон изображений квадрата миры в различiftix плоскост х; на фиг. 6 - мира; на фиг. 7 - одиночный квадрат миры. Устройство дл  контрол  выравнивани  пленки к кадровом аэрофотоаппа рате содержит миру I с квадратами 2 содержащими однонаправленные штрихи 3, установленную в фокальной плоскос ти 4 аэрофотоаппарата (не показан) на выравнивающем стекле 5 перед аэро фотопленкой 6. Два источника света установлены на фиксированном рассто  нии друг от друга и от фокальной пло кости 4 объектива фотоаппарата (не показаны) . Между источниками света 7 и фокальной плоскостью 4 объектива фотоаппарата (не показаны) установлен затвор 8. Ширина штриха 3 миры от квадрата 2 к квадрату 2 возраста в зависимости от требуемой точности опредеТГени  величины неровностей плен 6, а минимальна  ширина штриха, соотве ствующа  минимальной величине неровностей пленки 6, определ етс  зависимостью т, Р л, Kinin L + тлп где а - рассто ние между источниками света; - рассто ние от источников света до фокальной плоскости объектива; минимальное значение величины неровностей пленки, которое необходимо определить. Кроме того, устройство снабжено эталоном 9 со штрихами 10 дл  определени  величины неровностей пленки 6. Когда квадрат миры 1 освещаетс  двум  источниками света 7, за плоскостью миры происходит сложение световых потоков, прошедших через щели от двух источников 7. На различном рассто ни  от миры 1 квадрата карти 1а освещенности мен етс , причем, только в плоскост х 11, соответствующих определенному р ду )2 штрихов 10 эталона 9, картина освещенности представл ет собой чередование четких штрихов одинаковой шириш. Посто нна  квадрата 2, от которой зависит рассто ние между плоскост ми 11, соответствующей определенному р ду 12 эталона 9, определ етс  зависимостью „ . р. - Л 1 а - Р где - ширина штриха соответствующего квадрата. При срабатывании затвора 8 мира 1 освещаетс  двум  источниками света 7 и на пленке 6 фиксируетс  изображение миры 1, После про влени  пленки 6 производ т расшифровку изображени  не показана ) миры 15 дл  чего сравнивают изображение (не показано) квадрата 2 с эталоном 9, и величину неровности гшенки 6. Устройство дл  определени  величины неровносте пленки 6 панорамного фотоаппарата установлено на качающейс  ферме 3 между объективом I4 и экспозиционной щелью 15, перемещающейс  вдоль выравнивающего барабана 16 с неподвижной в процессе фотографировани  пленкой 6. Мира 1 установлена в экспозиционной щели 15 аппарата (не показана). Два мнимых источника света изображени  17 создаютс  с помощью стробоскопической лампы 18з двух диафрагм 19 и наклонных зеркал 20.. . Ферма 13, кача сь вокруг оси 21, перемещаетс  вдоль выравнивающего барабана 16 с пленкой 6, При этом, мира освещаетс  импульсами света стробоскопической лампы 18 и на плен ку 6 периодически впечатываетс  изоб ражение (не показано) миры I, освещенной двум  источниками света от стробоскопической лампы 18. После пр  влени  пленки 6 определе1ше величины ее неровностей производ т аналогично , как в кадровом аппарате. Контроль выравнивани  пленки осуществл етс  следуюшсим способом. Мира 1 фотографируетс  на пленку 6, затем пленка про вл етс  и по изображению определ етс  величина не ровностей пленки 6. Изображение квадрата на пленке зависит от того, на каком рассто нии от фокальной пло кости находитс  пленка в момент фото графировани , т.е. от величины неров ностей пленки, сравнивают с эталоном 9и определ ют номер р да 12 штрихов 10на эталоне 9, штрихи 10 которого совпадают с изображением (не показан штрихов 3 миры 1. Величину неровностей пленки определ ют по формуле S Е,. п, где B-J посто нна  квадрата, п - номер р да штрихов эталона. Использование устройства и способа определени  величины невыравнивани  пленки позвол ет повысить точность , значительно снизить трудоемкость определени  величины неровностей пленки за счет исключени  операции измерени . Кроме того, предлагаемое устройство можно использовать дл  определени  величины неровностей пленки в панорамных аппаратах Формула изобретени  I . Способ контрол  выравнивани  фотопленок, заключающийс  в фотографировании тест-объекта на пленку. про влении пленки в цел х определени  величины неровностей по изображению тест-объекта на пленке, о тличающийс  тем, что, с целью снижени  трудоемкости определени  величины неровностей, изображение квадрата на пленке сравнивают с эталоном, а величину неровности определ ют по совпадению изображени  на пленке с изображением штрихов в одном из р дов эталона, 2.Устройство дл  осуществлени  способа контрол  выравнивани  фотопленок по п. t, содержащее тестобъект , расположенный в фокальной плоскости объектива фотоаппарата, и два точечные; источника света, расположенные на фиксированном рассто иии относительно тест-объекта, отличающеес  тем, что она снабжено эталоном с выполненными на нем р дами штрихов, причем каждый р д содержит заданное положение штрихов, соответствующее определенному рассто нию пленки от фокальной плоскости, а тест-объект выполнен в виде миры, содержащей квадрат с однонаправленными штрихами. 3.Устройство по п. 2, о т л ичающеес  тем, что, с целью повышени  точности определени  рассто ни  пленки от фокальной плоскости , мира выполнена в виде набора квадратов с однонаправленными штрихами , причем, ширина штриха (уг квадрата к квадрату возрастает. Источники информации, прин тые во внимание при экспертизе 1 . Авторское свидетельство СССР№ 106527, кл.С 03 В 43/00, 1956г.
2. 2. Инструкци  по эксплуатации устройства дл  контрол  выравнивани  . пленки в фотоаппаратах. Красногорский механический завод, 1979 (прототип ) .

   f 2

   fe.« ,2

   mm

   ошшг

   000

   х

   иг.6