SU1627827A2 - Device for multiple reflection in double-beam interferometer - Google Patents

Device for multiple reflection in double-beam interferometer Download PDF

Info

Publication number
SU1627827A2
SU1627827A2 SU884457961A SU4457961A SU1627827A2 SU 1627827 A2 SU1627827 A2 SU 1627827A2 SU 884457961 A SU884457961 A SU 884457961A SU 4457961 A SU4457961 A SU 4457961A SU 1627827 A2 SU1627827 A2 SU 1627827A2
Authority
SU
USSR - Soviet Union
Prior art keywords
mirror
cherkay
double
beam interferometer
multiple reflection
Prior art date
Application number
SU884457961A
Other languages
Russian (ru)
Inventor
Александр Иванович Недбай
Original Assignee
Ленинградский государственный университет
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Ленинградский государственный университет filed Critical Ленинградский государственный университет
Priority to SU884457961A priority Critical patent/SU1627827A2/en
Application granted granted Critical
Publication of SU1627827A2 publication Critical patent/SU1627827A2/en

Links

Landscapes

  • Instruments For Measurement Of Length By Optical Means (AREA)

Abstract

Изобретение относитс  к измери- тельной технике и усовершенствованием изобретени  по an-i.cn, № 1399644. Цель изобретени  - уне- пиченне точности измерений ча CMPI увеличепил эффективно anepr- рн лчн- зы.Луч 0 света,ицуший in интерферометр проходит через фокусирующий элемент 3 и с помощью черкала 5, установленного с возможностью попорота, направл етс  на зеркало 1, ртчмещеппое на контролируемом объекте 2, отр.гжает- с  от зеркала 1 (луч Т() и чоре i юркало 5 почир чпае гг  па фокусируют,-, элемент 3. После этого он отражаетс  уголковым отрадечеиом 4 и снова проходит фокуснрукичип элемент 3, черкало 5, черкало 1, черкало 5 и i фокусирующий элемент 3 вочврагаае i н в интерферонеiр. 1 пл. eg со сThe invention relates to a measurement technique and an improvement of the invention according to an-i.cn, No. 1399644. The purpose of the invention is to limit the measurement accuracy of the CMPI to effectively increase the efficiency of the light, its in-interferometer passes through the focusing element 3 and with the help of a cherkala 5, installed with the possibility of turning, it is directed to the mirror 1, horned on the object to be monitored 2, otrgzha- from mirror 1 (the beam T () and Choré i whirk 5 element 3. After that, it is reflected by corner angle 4 and dreams passes fokusnrukichip element 3 Cherkay 5 Cherkay 1 Cherkay 5 and the focusing element 3 i i n vochvragaae in interferoneir. 1 pl. eg with a

Description

Изобретение относитс  к измерительной технике.This invention relates to a measurement technique.

Цель изобретени  - увеличение точности измерений за счет увеличени  эффективной апертуры линзы.The purpose of the invention is to increase the measurement accuracy by increasing the effective aperture of the lens.

На чертеже представлена принципиальна  схема предлагаемого устройства дл  многократных отражений в двухлучевом инт ерфероме.тре.The drawing shows a schematic diagram of the proposed device for multiple reflections in a two-beam interferome.tre.

Устройство содержит плоское зеркало 1, установленное на контролируемом объекте 2, фокусируюгций элемент 3 в виде собирающей линзы, уголковый отражатель 4 и плоское зеркало 5, установленное на пуги лучей между линзой 3 и зеркалом 1 с возможностью поворота и направл ющее сход щиес  на зеркале 1 лучи.The device contains a flat mirror 1 mounted on the object to be controlled 2, a focusing element 3 in the form of a collecting lens, an angle reflector 4 and a flat mirror 5 mounted on the pugs of rays between the lens 3 and the mirror 1 can be rotated and the rays converging on the mirror 1 .

Устройство работае СЛСДУКМЧНМ образом .The device works in a very SLd manner.

Входной луч света 1, идущий из интерферометра (не показано), падает на линзу 3 параллельно ее оптической оси, проходит ее и с попош-ю зеркала 5 направл етс  на черкало 1, отражаетс  от зеркала 1 (луч 1 и зеркалом 5 возвращаетс  нл линчу 3, после которой отражаетс  уголковым отражателем 4, проходит линзу Т, отражаетс  последовательно от зеркала 5, плоского зеркала 1, сноьа от черкала 5 и черьз линзу 3 (луч 12) го - вращаетс  в интерферометр, в KOTI ром используетс  предлагаемое устроит;но многократных отражений.The input beam of light 1, coming from the interferometer (not shown), falls on the lens 3 parallel to its optical axis, passes it, and from the mirror of the mirror 5, directs to glass 1, reflects from mirror 1 (beam 1 and mirror 5 returns nl lynch) 3, after which it is reflected by the corner reflector 4, passes the lens T, is reflected successively from the mirror 5, the flat mirror 1, the remnant from Cherkala 5, and the yellow lens 3 (beam 12) go to the interferometer, the proposed arrangement is used in KOTI rum, but multiple reflections.

CUCU

toto

0000

РR

N5N5

Claims (1)

Формула изобретенияClaim Устройство для многократных отражений в двухлучевом интерферометре по авт.св. Ν’ 1399644, отличающееся тем, что, с целью увеличения точности измерений, оно снабжено дополнительным плоским зеркалом, оптически сопряженным с. зеркалом, устанавливаемым на контролируемом объекте, и собирающей линзой, и установленным с возможностью поворота.A device for multiple reflections in a two-beam interferometer according to ed. 13 ’1399644, characterized in that, in order to increase the accuracy of measurements, it is equipped with an additional flat mirror, optically paired with. a mirror mounted on a controlled object, and a collecting lens, and mounted with the possibility of rotation.
SU884457961A 1988-07-11 1988-07-11 Device for multiple reflection in double-beam interferometer SU1627827A2 (en)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
SU884457961A SU1627827A2 (en) 1988-07-11 1988-07-11 Device for multiple reflection in double-beam interferometer

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
SU884457961A SU1627827A2 (en) 1988-07-11 1988-07-11 Device for multiple reflection in double-beam interferometer

Related Parent Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
SU1399644 Addition

Publications (1)

Publication Number Publication Date
SU1627827A2 true SU1627827A2 (en) 1991-02-15

Family

ID=21388657

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
SU884457961A SU1627827A2 (en) 1988-07-11 1988-07-11 Device for multiple reflection in double-beam interferometer

Country Status (1)

Country Link
SU (1) SU1627827A2 (en)

Non-Patent Citations (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Title
Авторское свидетельство СССР № 1399644, кл. О 01 И 9/0, . *

Similar Documents

Publication Publication Date Title
SU1627827A2 (en) Device for multiple reflection in double-beam interferometer
US3002419A (en) Alignment theodolite
SU151063A1 (en) Reflexometric measurement method
SU411356A1 (en)
JPH0518893A (en) Refractive index measuring device
SU1290233A2 (en) Device for checking optical catъs eye
SU1416865A1 (en) Device for monitoring small angular displacements
SU1490463A1 (en) Device for multiple reclections in two-beam interferometer
JPH05500853A (en) Method and apparatus for determining glass tube wall thickness
SU450077A1 (en) Device for controlling the shape of a parabolic surface
SU1515039A2 (en) Photoelectric autocollimator for fixing angular position of object
SU410243A1 (en)
SU1453188A1 (en) Spectrophotometric installation for measuring reflection factor of spherical concave mirrors
SU1193542A1 (en) Reflectometer for checking concave mirrors
SU1543308A1 (en) Device for measuring absolute coefficients of mirror reflection
RU2018112C1 (en) Device for measuring reflection and transmission coefficients
SU1315794A1 (en) Null-indicator
SU419721A1 (en) OPTICAL SYSTEM OF PHOTOELECTRIC ANGLOMERS OF FOLLOWING DEVELOPMENT
RU1774162C (en) Method of checking prismatic mirror components for correct right angle in their manufacture
SU1446465A2 (en) Device for monitoring surface roughness
KR0178434B1 (en) Absolute measurement method of reflection rate using light splitter
SU1113671A1 (en) Device for measuring angular displacements
SU143557A1 (en) The method of controlling the accuracy of processing non-spherical surfaces
SU1504497A1 (en) Apparatus for measuring linear dimensins and shape of elements on planar objects with diffraction test structures
SU808835A1 (en) Interferential transducer for measuring rotation angle of an object