RU2018112C1 - Device for measuring reflection and transmission coefficients - Google Patents
Device for measuring reflection and transmission coefficients Download PDFInfo
- Publication number
- RU2018112C1 RU2018112C1 SU4945505A RU2018112C1 RU 2018112 C1 RU2018112 C1 RU 2018112C1 SU 4945505 A SU4945505 A SU 4945505A RU 2018112 C1 RU2018112 C1 RU 2018112C1
- Authority
- RU
- Russia
- Prior art keywords
- sample
- plane
- prism
- light beam
- radiation
- Prior art date
Links
Images
Landscapes
- Investigating Or Analysing Materials By Optical Means (AREA)
Abstract
Description
Изобретение относится к измерительной технике, а именно к исследованию материалов с помощью оптических средств, и может быть использовано для точных измерений абсолютного и относительного коэффициентов зеркального отражения плоских поверхностей, а также коэффициента пропускания плоскопараллельных прозрачных пластин (окон, защитных стекол оптических приборов) в широком спектральном диапазоне. The invention relates to measuring technique, namely to the study of materials using optical means, and can be used for accurate measurements of the absolute and relative reflectance of flat surfaces, as well as the transmittance of plane-parallel transparent plates (windows, protective glasses of optical devices) in a wide spectral range.
Известно также устройство, содержащее источник излучения, зеркальную систему, подвижный отражатель, при двух положениях которого образуется измерительный и опорный каналы, держатель образцов и приемник излучения [1]. Недостатком известных устройств является невысокая точность измерения, обусловленная возможностью осуществления однократного или двукратного зондирования образца, кроме того, световой пучок сначала падает на вспомогательное зеркало и, только отразившись от него, попадает на образец, поэтому даже при двукратном зондировании требуется большое количество зеркал, а следовательно, усложняется юстировка устройства и увеличиваются его габариты. Also known is a device containing a radiation source, a mirror system, a movable reflector, at two positions of which a measuring and reference channels, a sample holder and a radiation receiver are formed [1]. A disadvantage of the known devices is the low accuracy of the measurement, due to the possibility of single or double sensing of the sample, in addition, the light beam first falls on the auxiliary mirror and, only reflected from it, enters the sample, therefore, even with double probing, a large number of mirrors are required, and therefore , the adjustment of the device is complicated and its dimensions increase.
Наиболее близким по технической сущности к предлагаемому устройству является устройство для измерения спектральных коэффициентов пропускания и отражения, в состав которого входит источник излучения, зеркальная система, подвижные отражатели, формирующие опорный и измерительный каналы, держатель образцов, линза и приемник излучения. Измеряя отношение величины светового потока при одно- или многократном зондировании образца к величине светового потока, падающего на образец, получаем значение (квадрат, куб) абсолютного коэффициента отражения и пропускания [2]. Недостатком известного устройства является невозможность высокоточного измерения коэффициентов отражения и пропускания образцов с малой площадью при многократном зондировании, наличие большого количества зеркал, трудность в обеспечении равных потерь за счет отражения в соответствующих каналах, большие габариты устройства и сложность его юстировки. The closest in technical essence to the proposed device is a device for measuring spectral transmittance and reflection, which includes a radiation source, a mirror system, movable reflectors forming the reference and measuring channels, sample holder, lens and radiation receiver. Measuring the ratio of the luminous flux during single or multiple sounding of the sample to the luminous flux incident on the sample, we obtain the value (square, cube) of the absolute reflection and transmission coefficient [2]. A disadvantage of the known device is the impossibility of high-precision measurement of reflection and transmission coefficients of samples with a small area during multiple sounding, the presence of a large number of mirrors, the difficulty in ensuring equal losses due to reflection in the corresponding channels, the large dimensions of the device and the complexity of its adjustment.
Прямая призма 2 с шестиугольником в основании и отражающими гранями 4, 5, 6 представляет собой блок трех жестко связанных зеркал, причем грани 4 и 6 образуют двугранный угол β, например 95о. Прозрачные параллельные грани 3 и 7 выполнены с целью упрощения юстировки устройства и предназначены для установки (по углу) призмы 2 в положение, при котором зеркальная грань 5 будет строго параллельна оси, соединяющей источник и приемник излучения, при этом призма 2 устанавливается, например, на каретке, которая перемещается перпендикулярно этой оси по направляющей типа ласточкина хвоста и фиксируется в двух положениях А и В (фиг.1). Так, если боковая отражающая грань 5 призмы 2 параллельна оси выходящего из источника излучения пучка, то угол αмежду отражающей гранью 4 и перпендикуляром к граням 3 и 7 призмы 2 определяет угол ε падения светового пучка на образец следующим соотношением ε=2(45-α).Direct prism 2 with a hexagon in the base and reflecting faces 4, 5, 6 is a block of three rigidly connected mirrors, and faces 4 and 6 form a dihedral angle β, for example 95 about . Transparent
Подвижный отражатель, выполненный в виде двух зеркал 8 и 9, может устанавливаться в двух фиксированных положениях, при которых происходит образование опорного (положение I ) и измерительного (положение II) каналов (при измерении коэффициента отражения). Перевод отражателя из положения I в положение II осуществляется путем поворота на 180о относительно оси вращения ОО1, лежащей в плоскости образца и параллельной зеркальной грани 5 призмы 2. Зеркала 8 и 9 отражателя являются сменными элементами (заменяются в зависимости от режима работы).The movable reflector, made in the form of two
Прозрачная плоскопараллельная пластина 10 и линза 11, установленные на подвижном основании, которое может поступательно перемещаться в направлении, перпендикулярном направлению распространения светового пучка, вводятся в оптическую систему устройства при измерении коэффициента пропускания. Плоскопараллельная пластина 10 может поворачиваться вокруг оси О2, перпендикулярной плоскости падения светового пучка на образец (плоскости чертежа) и устанавливается в фиксированное положение под определенным углом к падающему пучку, при этом оптическая ось линзы 11 пересекает (под прямым углом) ось вращения пластины. Держатель 13 образцов выполнен, например, в виде вертикально расположенного столика, с помощью которого осуществляется введение измеряемого образца или образца сравнения в световой пучок.A transparent plane-
Устройство работает следующим образом. The device operates as follows.
1. Измерение абсолютного коэффициента отражения. 1. Measurement of the absolute reflection coefficient.
При измерении коэффициента отражения пластина 10 и линза 11 выведены из оптической системы. When measuring the reflection coefficient, the
Целью изобретения является расширение класса измеряемых образцов, упрощение устройства и его юстировки, а также уменьшение его габаритов. The aim of the invention is to expand the class of measured samples, simplifying the device and its alignment, as well as reducing its size.
Достигается это тем, что в устройстве для измерения коэффициентов отражения и пропускания, содержащем держатель образцов и оптически связанные источник излучения, зеркальную систему, подвижный отражатель, линзу и приемник излучения, зеркальная система выполнена в виде прямой шестиугольной призмы с тремя отражающими боковыми гранями, две из которых расположены под углом друг к другу, а третья грань, заключенная между ними со стороны вершины угла, перпендикулярна двум прозрачным граням, параллельна плоскости установки образца и подвижному отражателю, состоящему из двух или большего количества зеркал, и установленного с возможностью поворота на 180о относительно оси, лежащей в плоскости установки образца, при этом призма симметрична относительно плоскости, перпендикулярной третьей отражающей грани, и установлена с возможностью поступательного перемещения перпендикулярно плоскости установки образца, кроме того, введен компенсатор в виде поворачивающейся плоскопараллельной пластины с осью вращения, проходящей через центр симметрии пластины и перпендикулярной плоскости падения светового пучка на образец, установленный по ходу светового пучка между призмой и линзой.This is achieved by the fact that in the device for measuring reflection and transmission coefficients, comprising a sample holder and optically coupled radiation source, a mirror system, a movable reflector, a lens and a radiation receiver, the mirror system is made in the form of a straight hexagonal prism with three reflecting side faces, two of which are located at an angle to each other, and the third face, enclosed between them from the side of the apex of the corner, is perpendicular to two transparent faces, parallel to the plane of installation of the sample and movably mu reflector consisting of two or more mirrors, and pivotally mounted at 180 relative to an axis lying in the sample plane of the device, wherein the prism is symmetrical relative to a plane perpendicular to the third reflecting face, and is mounted for translational movement perpendicular to the sample image plane In addition, a compensator was introduced in the form of a rotating plane-parallel plate with an axis of rotation passing through the center of symmetry of the plate and perpendicular to the plane ti incidence light beam on the specimen, set in the course of the light beam between the prism and the lens.
Благодаря использованию отличительных признаков во взаимосвязи друг с другом и в строго определенной последовательности устройство позволяет разрешить трудную задачу, а именно дает возможность производить высокоточные измерения коэффициента отражения и пропускания образцов с малой площадью при многократном зондировании, существенно упростить устройство и его юстировку, а также уменьшить его габариты. Due to the use of distinctive features in interconnection with each other and in a strictly defined sequence, the device allows to solve a difficult problem, namely, it makes it possible to perform high-precision measurements of the reflection coefficient and transmittance of samples with a small area with multiple probing, significantly simplify the device and its adjustment, and also reduce dimensions.
На фиг.1 представлена оптическая схема устройства для измерения коэффициента зеркального отражения и коэффициента пропускания (подвижный отражатель состоит из двух зеркал); на фиг.2 - ход лучей в плоскопараллельной пластине компенсатора. Figure 1 presents the optical diagram of a device for measuring the coefficient of specular reflection and transmittance (moving reflector consists of two mirrors); figure 2 - the path of the rays in a plane-parallel plate of the compensator.
Устройство содержит оптически связанные источник излучения 1, зеркальную систему, выполненную в виде прямой призмы 2 с прозрачной гранью 3, отражающими боковыми гранями (с зеркальным покрытием) 4, 5, 6, второй прозрачной гранью 7, подвижный отражатель, выполненный в виде двух зеркал 8 и 9, установленных параллельно отражающей грани 5 призмы 2 и плоскости установки образца, компенсатор в виде поворачивающейся плоскопараллельной прозрачной пластины 10, установленной по ходу светового пучка между призмой 2 и линзой 11, расположенной перед приемником излучения 12, а также держатель образцов 13. Параллельный световой пучок (призма 2 выведена из светового пучка) попадает на приемник излучения, при этом центр пучка совмещается с центром светочувствительной площадки приемника излучения. Затем посредством каретки в световой пучок вводится призма 2 (положение А), которую устанавливают по углу таким образом, что выходящий из источника излучения световой пучок будет перпендикулярен граням 3 и 7 призмы 2 и не изменит своего положения на светочувствительной площадке приемника излучения (в результате автоматически зеркальная грань 5 призмы 2 будет параллельна оси, соединяющей источник и приемник излучения). Посредством каретки призму 2 устанавливают в положение Б, при этом световой пучок падает на зеркальную грань 4 призмы 2. Подвижный отражатель с сферическими зеркалами 8 и 9 устанавливают в положение I. The device contains optically coupled
Световой пучок, выходящий из источника излучения 1, отразившись от зеркальной поверхности грани 4 призмы 2 (в отсутствие измеряемого образца), попадает на сферическое зеркало 8 отражателя, находящегося в положении I, которое фокусирует его на отражающую грань 5 призмы 2. Отраженный гранью 5 призмы 2 световой пучок попадает на сферическое зеркало 9, фокусирующее его в плоскость зеркальной грани 5 призмы 2 и создающее совместно с отражающей гранью 6 призмы 2 изображение источника излучения на светочувствительном слое приемника излучения 12. Сигнал Io, снятый с приемника излучения 12, соответствует интенсивности светового пучка, прошедшего всю оптическую систему в отсутствие измеряемого образца. Затем отражатель с зеркалами 8 и 9 переводится в положение II, а образец вводится с помощью держателя 13 в световой пучок, при этом образуется измерительный канал (фиг.1, ход лучей показан пунктиром). В этом случае световой пучок от источника излучения 1 падает на измеряемый образец. Отразившись от поверхности образца, пучок попадает на сферическое зеркало 8, которое направляет его обратно на образец и фокусирует на отражающую грань 5 призмы 2. Затем уже расходящийся пучок в третий раз отражается от образца и попадает на сферическое зеркало 9, которое направляет пучок на образец и фокусирует его в плоскость отражающей грани 5 призмы 2. Отразившись от зеркальной поверхности грани 6 призмы 2, световой пучок попадает в приемник излучения 12, причем поперечное сечение пучка и его положение на светочувствительном слое остается неизменным (как и при измерении сигнала Io), т.к. длина хода пучка в опорном и измерительном канале одинаковы. Сигнал I1, снятый с приемника излучения 12, соответствует интенсивности светового пучка, прошедшего всю оптическую систему устройства и испытавшего четырехкратное отражение от измеряемого образца. Таким образом, прямая призма с отражающими боковыми гранями 4, 5, 6 представляет собой зеркальную систему, не только направляющую световой пучок на образец и выводящую отраженный пучок на приемник излучения 12, но и обеспечивающую совместно с подвижным отражателем четырехкратное отражение от образца.The light beam emerging from the
Вычисление абсолютного коэффициента отражения осуществляется по формуле
Rобр= ; n=4, (для схемы на фиг. 1) где Rобр - коэффициент отражения образца;
Iо - интенсивность светового пучка в отсутствие образца;
I1 - интенсивность светового пучка, испытавшего четырехкратное отражение от образца;
n - число отражений от образца.The calculation of the absolute reflection coefficient is carried out according to the formula
R arr. = ; n = 4, (for the circuit in Fig. 1) where R arr is the reflection coefficient of the sample;
I about - the intensity of the light beam in the absence of a sample;
I 1 - the intensity of the light beam that experienced four-fold reflection from the sample;
n is the number of reflections from the sample.
2. Измерение коэффициента отражения относительно образца сравнения осуществляется по схеме измерительного канала (отражатель с зеркалами 8 и 9 находится в положении II при поочередном введении в световой пучок образца сравнения с известным коэффициентом отражения Rэт и измеряемого образца) . Если I2 - сигнал, снятый с приемника излучения 12, соответствующий интенсивности светового пучка, прошедшего всю оптическую систему устройства и испытавшего четырехкратное отражение от образца сравнения, то вычисление коэффициента отражения осуществляется по формуле
Rобр= Rэт.· ; n= 4, где Rэт - коэффициент отражения образца сравнения;
I2 - интенсивность светового пучка, испытавшего 4-кратное отражение от образца сравнения.2. Measurement of the reflection coefficient relative to the comparison sample is carried out according to the scheme of the measuring channel (the reflector with
R arr. = R et. · ; n = 4, where R et is the reflection coefficient of the reference sample;
I 2 - the intensity of the light beam that experienced 4-fold reflection from the reference sample.
3, Измерение коэффициента пропускания. 3, transmittance measurement.
Для измерения коэффициента пропускания в оптическую систему устройства дополнительно вводится компенсатор в виде поворачивающейся прозрачной пластины 10 и линза 11, при этом основание, на котором закреплены эти элементы, устанавливается таким образом, что оптическая ось линзы 11 (пересекающая ось вращения пластины) будет параллельна пучку, но смещена относительно центрального луча этого пучка на расстояние В/2, где В - величина, характеризующая смещение падающего пучка параллельно самому себе за счет преломления на гранях образца, определяемая из соотношения:
B=kdsin1- ; (k=4), где d - толщина образца;
nобp. - показатель преломления образца;
ε - угол падения светового пучка на образец;
k - число прохождений светового пучка сквозь образец.To measure the transmittance, a compensator is additionally introduced into the optical system of the device in the form of a rotating
B = kdsin 1- ; (k = 4), where d is the thickness of the sample;
n arr. - refractive index of the sample;
ε is the angle of incidence of the light beam on the sample;
k is the number of passes of the light beam through the sample.
Кроме того, сферические зеркала 8 и 9 отражателя, установленного в положение I, заменяются на плоские, параллельный пучок, выходящий из источника излучения 1, отразившись от зеркальной поверхности грани 4 призмы 2 (в отсутствие измеряемого образца) попадает на плоское зеркало 8 отражателя, которое направляет его на отражающую грань 5 призмы 2. Затем пучок света, последовательно отразившись от зеркала 9 (отражателя) и зеркальной поверхности грани 6 призмы 2 попадает на плоскопараллельную пластину 10, установленную таким образом, что падающий пучок образует угол j с перпендикуляром к поверхности пластины, который может быть найден из предварительно вычерченного графика j = f(B) для определенных значений В (пример приведен в приложении 1). Значения В графика получены путем подстановки различных углов j в выражение
B= = 2Dsinj1- где D - толщина плоскопараллельной пластины;
j - угол между падающим пучком и перпендикуляром к поверхности пластины;
ω - угол преломления светового пучка в пластине;
nпл. - показатель преломления пластины, которое в неявном виде выражает зависимость В = f(j) и может быть получено из простых геометрических построений (фиг.2).In addition, the
B = = 2Dsinj 1- where D is the thickness of the plane-parallel plate;
j is the angle between the incident beam and the perpendicular to the surface of the plate;
ω is the angle of refraction of the light beam in the plate;
n pl - the refractive index of the plate, which implicitly expresses the dependence B = f (j) and can be obtained from simple geometric constructions (figure 2).
Параллельный пучок, преломленный пластиной 10, попадает на линзу 11, которая формирует на светочувствительном слое приемника излучения 12 световой пучок необходимого поперечного сечения. Сигнал, снятый с приемника излучения 12, соответствует интенсивности светового пучка, прошедшего всю оптическую систему устройства (в режиме измерения коэффициента пропускания) в отсутствие измеряемого образца. Затем с помощью держателя в пучок света вводится измеряемый образец (плоскопараллельная прозрачная пластина с просветляющим покрытием или без него). В этом случае параллельный пучок света последовательно отражается от зеркальной поверхности грани 4 призмы 2, зеркала 8 отражателя, отражающей грани 5 призмы 2, зеркала 9 отражателя, зеркальной поверхности грани 6 призмы 2, при этом четырежды пройдя сквозь образец, и попадает на плоскопараллельную пластину 10, установленную таким образом (фиг. 2), что падающий пучок образует угол -j с перпендикуляром к поверхности пластины. Световой пучок, преломленный пластиной 10, попадает на линзу 11, которая проецирует его на приемник излучения 12, при этом поперечное сечение пучка и его положение на светочувствительном слое остается неизменным (как и при измерении сигнала Io) ,так как возникающее в процессе прохождения через образец смещение падающего пучка параллельно самому себе, компенсируется с помощью плоскопараллельной пластины 10. Сигнал I1, снятый с приемника излучения 12, соответствует интенсивности светового пучка, прошедшего всю оптическую систему устройства и четырежды прошедшего сквозь образец. Вычисление коэффициента пропускания осуществляется по формуле
T= ; n=4, где Т - коэффициент пропускания образца;
Io - интенсивность светового пучка в отсутствие образца;
I1 - интенсивность светового пучка, четырежды прошедшего через образец.A parallel beam refracted by the
T = ; n = 4, where T is the transmittance of the sample;
I o - the intensity of the light beam in the absence of a sample;
I 1 - the intensity of the light beam four times passed through the sample.
Если призма 2 выведена из оптической системы устройства, в пучок излучения может вводиться прозрачный образец и осуществляться измерение коэффициента пропускания при однократном прохождении излучения. Устройство позволяет проводить измерения коэффициента отражения при падении на образец как параллельного, так и расходящегося пучка, однако следует учитывать, что режим работы устройства при падении на образец расходящегося пучка позволяет измерять коэффициент отражения образцов меньшей площади, чем режим работы устройства в параллельном пучке. If the prism 2 is removed from the optical system of the device, a transparent sample can be introduced into the radiation beam and the transmission coefficient can be measured with a single transmission of radiation. The device allows measurements of the reflection coefficient when both a parallel and a diverging beam is incident on a sample, however, it should be noted that the device’s operating mode when a diverging beam is incident on a sample allows measuring the reflection coefficient of samples of a smaller area than the mode of operation of the device in a parallel beam.
Claims (2)
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
SU4945505 RU2018112C1 (en) | 1991-06-17 | 1991-06-17 | Device for measuring reflection and transmission coefficients |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
SU4945505 RU2018112C1 (en) | 1991-06-17 | 1991-06-17 | Device for measuring reflection and transmission coefficients |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
RU2018112C1 true RU2018112C1 (en) | 1994-08-15 |
Family
ID=21579296
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
SU4945505 RU2018112C1 (en) | 1991-06-17 | 1991-06-17 | Device for measuring reflection and transmission coefficients |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
RU (1) | RU2018112C1 (en) |
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
EP3537134A1 (en) * | 2018-03-09 | 2019-09-11 | The Boeing Company | Specular variable angle absolute reflectance method and reflectometer |
-
1991
- 1991-06-17 RU SU4945505 patent/RU2018112C1/en active
Non-Patent Citations (2)
Title |
---|
Авторское свидетельство СССР N 1229661, кл. G 01N 21/55, 1983. * |
Бухштаб М.М. Измерение малых оптических потерь, Л.: Энергоатомиздат, 1988, с.32. * |
Cited By (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
EP3537134A1 (en) * | 2018-03-09 | 2019-09-11 | The Boeing Company | Specular variable angle absolute reflectance method and reflectometer |
CN110243787A (en) * | 2018-03-09 | 2019-09-17 | 波音公司 | Mirror surface variable-angle absolute reflectance method and reflectometer |
CN110243787B (en) * | 2018-03-09 | 2024-07-19 | 波音公司 | Mirror surface variable angle absolute reflectance method and reflectometer |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
US5712705A (en) | Arrangement for analysis of substances at the surface of an optical sensor | |
US3827811A (en) | Optical measuring device employing a diaphragm with reflecting surfaces | |
RU2697436C1 (en) | Method for angular reflector angular parameters measurement and device for its implementation | |
US3619070A (en) | Method and apparatus for measuring thickness | |
JPH08114421A (en) | Non-contact type measuring device for measuring thickness ofmaterial body comprising transparent material | |
US3499716A (en) | Wide range absolute reflectometer | |
RU2018112C1 (en) | Device for measuring reflection and transmission coefficients | |
US3285124A (en) | High precision pointing interferometer with modified kosters prism | |
CN212390974U (en) | High-resolution one-dimensional angle measurement laser sensor | |
US3347130A (en) | Optical measuring instruments | |
SU883714A1 (en) | Manifold optical tray | |
US3420138A (en) | Variable angle attenuated total reflection attachment | |
RU2377542C1 (en) | Device for determining optical absorption losses in thin films | |
RU222790U1 (en) | DEVICE FOR DETERMINING THE REFRACTIVE INDEX OF A SAMPLE | |
RU80954U1 (en) | DEVICE FOR DETERMINING OPTICAL LOSS ON ABSORPTION IN THIN FILMS | |
SU1458779A1 (en) | Autocollimation method of determining refraction indexes of wedge-shaped specimens | |
JPS6242327Y2 (en) | ||
RU2102702C1 (en) | Device for nondestructive measurement of width of dielectric and semiconductor films | |
US3394628A (en) | Light measuring apparatus | |
SU1578599A1 (en) | Method of determining refrigeration index of optical glass | |
RU2032166C1 (en) | Method of determination of refractive index of wedge-shaped articles | |
SU1644001A1 (en) | Differential method for measuring optical constants of liquids | |
SU916977A1 (en) | Device for checking precision in prism production | |
RU1824547C (en) | Reflectometer for concave mirrors | |
SU1485077A1 (en) | Interference refractometer of multiply disturbed total internal reflection |