SU1594612A1 - Method of monitoring shift register - Google Patents
Method of monitoring shift register Download PDFInfo
- Publication number
- SU1594612A1 SU1594612A1 SU884366164A SU4366164A SU1594612A1 SU 1594612 A1 SU1594612 A1 SU 1594612A1 SU 884366164 A SU884366164 A SU 884366164A SU 4366164 A SU4366164 A SU 4366164A SU 1594612 A1 SU1594612 A1 SU 1594612A1
- Authority
- SU
- USSR - Soviet Union
- Prior art keywords
- register
- control
- signals
- sequence
- shift register
- Prior art date
Links
Landscapes
- Semiconductor Integrated Circuits (AREA)
Abstract
Изобретение относитс к вычислительной технике и микроэлектронике и может быть использовано при производстве сверхбольших интегральных схем со встроенными средствами контрол и диагностики. Цель изобретени - повышение быстродействи способа. Информацию, подлежащую записи в регистр, предварительно обнуленный, дополн ют в начале двум контрольными разр дами с посто нными значени ми 01 и по завершении цикла загрузки провер ют состо ние двух контрольных разр дов. Люба комбинаци , отличающа с от контрольной, свидетельствует о неисправности регистра.The invention relates to computing and microelectronics and can be used in the manufacture of ultra-large integrated circuits with built-in monitoring and diagnostic tools. The purpose of the invention is to increase the speed of the method. The information to be written to the register, previously set to zero, is supplemented at the beginning with two test bits with constant values 01 and after the loading cycle is completed, the state of two test bits is checked. Any combination that differs from the control indicates a register fault.
Description
Изобре тение оп пситс к вычисли- тельнор технике и микроэлектронике и может быть использовано при производстве сверхбо.чыиих интегральных схем (СБИС) со встроенными средствами контрол и диагностики.The invention is based on computing equipment and microelectronics, and can be used in the production of superbore integrated circuits (VLSI) with built-in monitoring and diagnostic tools.
Цель изобрете11и - повьшение быстродействи контрол сдвигового регистра .The purpose of the invention is to increase the speed control of the shift register.
Способ контрол сдвигового регистра заключаетс в следующего.The way to control the shift register is as follows.
Информацию,подлежащую записи в сдвиговый регистр, предварительно обнуленный, дополн ют в ее начале двум контрольными разр дами с посто нными значени ми 01 и по завершении цикла загрузки провер ют состо ние двух контрольных разр дов. Люба комбинаци , отличающа с от контрольной,свидетельствует о неисправности регистра.The information to be written to the shift register, previously set to zero, is supplemented at the beginning with two check bits with constant values 01 and after the loading cycle completes, the state of two check bits is checked. Any combination that differs from the control indicates a register fault.
Рассмотрим примеры загрузки 10- разр дного сдвигового регистра с различными константными неисправност м.Consider the examples of loading a 10-bit shift register with various constant faults.
IlycTi) в регистр необходимо загрузить последовательность сигналов Oll001110f, где два первых разр да вл ютс контроль)1ыми.IlycTi) it is necessary to load the sequence of signals Oll001110f into the register, where the first two digits are the control).
В регистре имеетс неисправность в виде залипа1 и в 1 п того разр да :There is a malfunction in the register in the form of a stuck1 and in 1 n of the same bit:
01 1001 1 101 О О О 1 О О О О 0.01 1001 1 101 О О О 1 О О О О 0.
Через три такта сдвига:After three shear cycles:
0110011 - 1 О 1 О 1 1 1 1 О 0. Через дес ть тактов сдвига:0110011 - 1 О 1 О 1 1 1 1 О 0. 0. After ten shear cycles:
О 1 1 О 1 1 1 1 П. В регистре имеетс неисправность ,в виде залипани в О п того рл - р да:O 1 1 O 1 1 1 1 P. In the register there is a malfunction in the form of sticking in O p rl - p yes:
011001 1 101 -0000000000011001 1 101 -0000000000
ПP
SsDSsd
Череа три такта сдвига;Three steps of shear;
on 00 Г) 101000 о 000on 00 D) 101000 about 000
дес ть тактов сдвига ten shift cycles
го 1 1 о о о о (3 , go 1 1 o o o o (3,
AHaj:orH4Ho можно построить сдвиговый регистр из чеек пам ти с чис лом устойчивьпс состо ний -т л, Б эт случае в регистр загру:Е:аетс инфюр- маци cm контролъньп,ш сигналами и провер етс состо ние ш чеек пе- м ти,.AHaj: orH4Ho it is possible to build a shift register from memory cells with a number of stable states –tl, In this case, the register is loaded: E: the control signals are wired, signals are checked and the state of the cells is checked. ,
Способ контрол сдвиг о во г:: регистра позвол ет произзоцкть контроль сдвигового регистра любой длины во врем ввода рабочей информации заThe way to control the shift in the v :: register allows the production of the control of the shift register of any length during the input of the working information for
счет последовательного перевода каждой чейки пам ти во все ее возможные состо ни . Б хомеит окончани : загрузки имеетс полна- информаци о том, исправен регист: пли нет,.an account of the successive translation of each memory cell into all its possible states. B homeite ending: downloads are full; information about whether the register is good: or not ,.
Формула и 3 о б р е. 1Formula and 3 about b e e. 1
Способ контрол сдвигового стра, заключающийс в подаче го сигнала, подаче исходной л вательности сигналов на вход Р ра,сдвиге последовательности сиThe method of controlling the shear country, which consists in applying a signal, applying the original signal source to the input of Pa, shifting the sequence
на.п+1 разр д (где п - разр ди регистра) , о т л и ч а ю к; и и тем, что, с целью noBbnucHv:; бы действи способа,, число кочете о сигналов выбирают равным числу ньпс устойчивых состо ний одног р да регистра, подают поел ел о ность контрольных ссгналон н регистра, причем послад пм :-г Л от логического нул , г; последователь ность онтролт г-л;-: налов на п-нп ра )р дов (гд|;: v: СТОЙ ИВЫХ СОСТОЯ иП одного регистра ), сравнииают п-лу-сн1 выходе регистра контрольное с с исходными, в (;луч :е iicco; : ;n.p + 1 bit (where n is the bit of the register), m and h and k; and by the fact that, with a view to noBbnucHv :; if the method of operation, the number of signals is chosen to be equal to the number of stable states in a single register row, the control signal is sent to the control signal and the control register: the signal from the logical zero, g; the ontrolt sequence g;;:: cash on p-np pa) rows (rd | ;: v: STAND WIRED STATE of one register), compare p-lu-ch1 register output control with the original, in (; ray : e iicco;:;
делают зывол о нераг;отосппсс::; I .регистра.they make a sign about a non-enemy; otospss ::; I .register.
Claims (1)
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
SU884366164A SU1594612A1 (en) | 1988-01-18 | 1988-01-18 | Method of monitoring shift register |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
SU884366164A SU1594612A1 (en) | 1988-01-18 | 1988-01-18 | Method of monitoring shift register |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
SU1594612A1 true SU1594612A1 (en) | 1990-09-23 |
Family
ID=21350733
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
SU884366164A SU1594612A1 (en) | 1988-01-18 | 1988-01-18 | Method of monitoring shift register |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
SU (1) | SU1594612A1 (en) |
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
MD1240G2 (en) * | 1998-07-22 | 1999-10-31 | Генадие БОДЯН | Method for testing of operative memories |
-
1988
- 1988-01-18 SU SU884366164A patent/SU1594612A1/en active
Non-Patent Citations (1)
Title |
---|
патент FR N- 2537323, кл. С, 11 с 29/00, 1984. П тснт DE N 2306993, кл, С 11 С 29/00, 1977. * |
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
MD1240G2 (en) * | 1998-07-22 | 1999-10-31 | Генадие БОДЯН | Method for testing of operative memories |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
EP0491290B1 (en) | IC Tester | |
US3940601A (en) | Apparatus for locating faults in a working storage | |
EP0053665A1 (en) | Testing embedded arrays in large scale integrated circuits | |
CN1274159A (en) | Inner disk data comparator with variable data and comparable results compression function | |
US9564245B2 (en) | Integrated circuit defect detection and repair | |
US5450418A (en) | Pseudo master slave capture mechanism for scan elements | |
US4888715A (en) | Semiconductor test system | |
SU1594612A1 (en) | Method of monitoring shift register | |
JPH0391188A (en) | Fifo memory | |
KR900003884A (en) | Large scale semiconductor integrated circuit device | |
US7546505B2 (en) | Built in self test transport controller architecture | |
US5029133A (en) | VLSI chip having improved test access | |
KR930005771B1 (en) | Interrupt control circuit | |
EP0263312A2 (en) | Semiconductor memory device with a self-testing function | |
JPH04195899A (en) | Semiconductor device | |
JPH04351118A (en) | Counter circuit | |
JPS5827438Y2 (en) | shift register | |
GB1265645A (en) | ||
KR100206124B1 (en) | Circuit for built-in test | |
JPS60187870A (en) | Semiconductor integrated logical circuit | |
SU796860A1 (en) | Digital unit testing device | |
SU565287A1 (en) | Discrete systems controlling device | |
SU1136169A1 (en) | Device for testing check of digital units | |
SU428387A1 (en) | COMPUTATIONAL DEVICE FOR MINIMIZATION OF STRUCTURES OF LOGICAL SCHEMES | |
SU799011A1 (en) | Storage |