SU1580142A1

SU1580142A1 - Method of measuring profile of complex surface

Info

Publication number: SU1580142A1
Application number: SU874195849A
Authority: SU
Inventors: Степан Павлович Радзевич
Original assignee: Днепродзержинский Индустриальный Институт Им.М.И.Арсеничева
Priority date: 1987-02-17
Filing date: 1987-02-17
Publication date: 1990-07-23

Abstract

Изобретение относитс к измерительной технике и может быть использовано дл измерени поверхностей сложной формы. Цель изобретени - повышение точности измерени . Поставленна цель достигаетс тем, что в каждой площадке поверхности стро т сферическое отображение теоритического номинального профил . Настроенными перемещени ми ввод т контролируемую площадку в контакт с наконечникомизмеритрени . Поставленна цель достигаетс тем, что в каждой поверхности стро т сферическое отображение теоретического номинального профил . Настроенными перемещени ми ввод т контролируемую площадку в контакт с наконечником измерительной головки так, чтобы его ось совпала с бинормалью соответствующего сфирического отображени . Сравнивают полученные результаты с теоретическими и по полученным данным суд т о точности профил поверхности.The invention relates to a measurement technique and can be used to measure surfaces of complex shape. The purpose of the invention is to improve the measurement accuracy. The goal is achieved by constructing a spherical display of a theoretical nominal profile in each surface area. The adjusted movements bring the controlled area into contact with the measuring tip. The goal is achieved by constructing a spherical display of a theoretical nominal profile in each surface. The adjusted movements bring the controlled area into contact with the tip of the measuring head so that its axis coincides with the binormal of the corresponding spherical display. The obtained results are compared with the theoretical ones and according to the obtained data the accuracy of the surface profile is judged.

Description

Изобретение относитс к измерительной технике и может быть использовано дл измерени поверхностей сложной формы.The invention relates to a measurement technique and can be used to measure surfaces of complex shape.

Цель изобретени - повышение точности измерений за счет того, что измерение производ т при посто нном усилии поджати измерительного щупа к поверхности детали вдоль каждой из трех осей его перемещени во всем диапазоне относительных перемещений детали и измерительного щупа.The purpose of the invention is to improve the measurement accuracy due to the fact that the measurement is carried out with constant force to press the test probe to the workpiece surface along each of the three axes of its movement throughout the entire range of relative movements of the workpiece and the test probe.

Способ осуществл ют следующим образом .The method is carried out as follows.

Стро т сферические отображени теоретических номинальных профилей контролируемых площадок поверхности с целью определени центра кривизны, положени соприкасающейс плоскости, направлений главной нормали и бинормали к каждой площадке . По полученным данным разрабатывают программу относительных перемещений контролируемой поверхности и измерительного щупа измерительной головки. Привод т поверхность и щуп в относительное перемещение до их контакта таким образом, чтобы ось наконечника совпала с направлением бинормали в каждой площадке. ФиксируютSpherical mappings of theoretical nominal profiles of the surface areas to be tested are constructed to determine the center of curvature, the position of the adjacent plane, the directions of the principal normal and binormal to each area. According to the data obtained, a program of relative displacements of the test surface and the probe of the measuring head is being developed. The surface and probe are brought into relative movement prior to their contact so that the tip axis coincides with the direction of binormal in each pad. Fix

результаты измерени и определ ют на каком направлении от реальной точки поверхности находитс соответствующа точка теоретического номинального профил . По .полученным данным суд т о точности профил поверхности.measurement results and determine which direction from the real point of the surface is the corresponding point of the theoretical nominal profile. According to the data obtained, the accuracy of the surface profile is judged.

Claims

Invention Formula

The method of measuring the profile of a complex surface, by which the surface areas are separated, the theoretical nominal profile of each site is determined, the surface and the tip of the measuring head are brought into relative movement before their contact, the measurement results are recorded, compared with the theoretical ones and the data obtained profile accuracy, characterized in that, in order to improve measurement accuracy, the theoretical nominal profile of each site is determined by a spherical display method, and this is the direction of the corresponding binormal, and the tip during measurement is positioned so that its axis coincides with the direction of the binormal.

(L

ate

oo

4 N3