SU1515035A1 - Method of measuring deformation of solids - Google Patents
Method of measuring deformation of solids Download PDFInfo
- Publication number
- SU1515035A1 SU1515035A1 SU874243315A SU4243315A SU1515035A1 SU 1515035 A1 SU1515035 A1 SU 1515035A1 SU 874243315 A SU874243315 A SU 874243315A SU 4243315 A SU4243315 A SU 4243315A SU 1515035 A1 SU1515035 A1 SU 1515035A1
- Authority
- SU
- USSR - Soviet Union
- Prior art keywords
- resistance
- temperature
- microwires
- measurement
- sensing element
- Prior art date
Links
Landscapes
- Measurement Of Length, Angles, Or The Like Using Electric Or Magnetic Means (AREA)
Abstract
Изобретение относитс к измерительной технике, а именно к способам измерени деформаций твердых тел, работающих при измен ющихс температурных услови х. Цель изобретени - повышение точности измерени деформаций при переменных температурах путем уменьшени среднего значени аддитивной температурной погрешности в рабочем диапазоне температур. Дл этого при изготовлении комбинированного чувствительного элемента из пары последовательно соединенных термо- и тензометрической микропроволок, у которых термические коэффициенты сопротивлени в наклеенном состо нии на материал объекта измерени имеют противоположные знаки, номиналы сопротивлений отрезков микропроволок определ ют по температурным характеристикам сопротивлени предварительно линеаризованным методом наименьших квадратов.The invention relates to a measurement technique, in particular, to methods for measuring deformations of solids operating under varying temperature conditions. The purpose of the invention is to improve the accuracy of strain measurement at variable temperatures by reducing the average value of the additive temperature error in the operating temperature range. To do this, in the manufacture of a combined sensing element from a pair of series-connected thermo- and tensometric microwires, in which the thermal resistance coefficients in the glued state on the material of the measurement object have opposite signs, the resistance ratings of the microwire segments are determined by the temperature characteristics of the resistance by the previously linearized least squares method.
Description
Изобретение относитс к измерительной технике, а именно к способам измерени деформаций твердых тел, работающих при измен ющихс температурных услови х.The invention relates to a measurement technique, in particular, to methods for measuring deformations of solids operating under varying temperature conditions.
Цель изобретени - повышение точности измерени деформаций при пере- менньж температурах путем уменьшени среднего значени аддитивной температурной погрешности в рабочем диапазоне температур.The purpose of the invention is to improve the accuracy of measurement of deformations at variable temperatures by reducing the average value of the additive temperature error in the working temperature range.
Способ осуществл ют следующим образом.The method is carried out as follows.
По температурньм характеристикам сопротивлени (ТХС), полученные дл микропроволок в наклеенном состо нии на материал объекта измерени , подбирают пару тензометрической и термометрической микропроволок, термические коэффициенты сопротивлени которых имеют противоположные знаки во всем диапазоне рабочих температур . Последовательно соедин ют подобранные таким образом микропроволоки , например, сваркой. Графики ТХС микропроволок линеаризируют методом наименьших квадратов. По линеаризованньи графикам ТХС рассчитывают отношение номиналов сопротивлений отрезков соединенных микропроволок, обеспечивающее нулевое значение их общего тем пературного приращени сопротивлени при определенной температуре (номиналы сопротивлени отрезков микропроволок должны быть обратно пропорциональны их относительным приращени м сопротивлений в одном и том же интервале температур). В соответствииAccording to the temperature characteristics of the resistance (TCS) obtained for the microwires in the glued state on the material of the measurement object, a pair of tensometric and thermometric microwires are selected, the thermal resistance coefficients of which have opposite signs throughout the entire range of working temperatures. The microwires thus selected are connected in series, for example, by welding. The TCS plots of microwires are linearized by the least squares method. According to linearized TCS graphs, the ratio of the resistance values of the segments of connected microwires is calculated, ensuring zero value of their common temperature increment of resistance at a certain temperature (the resistance ratings of microwire segments should be inversely proportional to their relative resistance increments in the same temperature range). According
слcl
елate
о со слoh so
с определенным таким .образом отношением номиналов сопротивлений термометрической и тензометрической микропроволок и с учетом заданного номинала их общего сопротивлени вырезают чувствительный элемент - последовательно соединенные отрезки микро- проволок. Чувствительный элемент закрепл ют (приклеивают) на объекте из- мерений, свободными концами включают в плечо мостовой измерительной схемы и по изменению сопротивлени чувствительного элемента определ ют деформации объекта при нагружении пос- леднего.With the ratio of the resistances of thermometric and strain-gauge microwires, determined in such a way, and taking into account the predetermined nominal value of their total resistance, the sensitive element is cut out — series of microwires connected in series. The sensing element is fixed (glued) on the measurement object, the free ends are inserted into the shoulder of the bridge measuring circuit, and the deformations of the object under loading of the latter are determined by changing the resistance of the sensing element.
Claims (1)
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
SU874243315A SU1515035A1 (en) | 1987-05-12 | 1987-05-12 | Method of measuring deformation of solids |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
SU874243315A SU1515035A1 (en) | 1987-05-12 | 1987-05-12 | Method of measuring deformation of solids |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
SU1515035A1 true SU1515035A1 (en) | 1989-10-15 |
Family
ID=21303618
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
SU874243315A SU1515035A1 (en) | 1987-05-12 | 1987-05-12 | Method of measuring deformation of solids |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
SU (1) | SU1515035A1 (en) |
-
1987
- 1987-05-12 SU SU874243315A patent/SU1515035A1/en active
Non-Patent Citations (1)
Title |
---|
Клокова Н.П. Тензодатчики дл измерений при повьппенных температурах. Машиностроение, 1965, с. 76-84. * |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
CA1119830A (en) | Erasable-foil resistance compensation of strain gage transducers | |
US4448078A (en) | Three-wire static strain gage apparatus | |
SU1515035A1 (en) | Method of measuring deformation of solids | |
SU905628A1 (en) | Deformation pickup | |
SU800742A2 (en) | Strain transducer | |
SU1486766A1 (en) | Method of adjusting integrated strain-measuring bridges of membrane-type sensors with radial and circumferential resistive straine gauges | |
US2517628A (en) | Temperature responsive device | |
JPS55163880A (en) | Semiconductor strain gauge bridge circuit | |
SU1174739A1 (en) | Method of tuning integrated strain-gauge bridges | |
SU143246A1 (en) | Method for automatic compensation of changes in sensitivity of differential thermocouple or thermopile with temperature | |
SU1448288A1 (en) | Method of setting up integrated strain-gauge bridges | |
SU570767A1 (en) | Method of measuring deformation in condition of non-stationary temperatures | |
Singh | A feasibility study of a low cost junctionless silicon sensor for high temperature applications | |
SU263211A1 (en) | DEVICE FOR MEASURING DIFFERENCE TEMPERATURES | |
RU2079102C1 (en) | Method for tuning of integral strain-measuring bridge using power supply | |
SU1525442A1 (en) | Method of setting up integral strain measuring bridges | |
SU1368621A1 (en) | Integral strain-measuring bridge and method of adjustment thereof | |
SU397744A1 (en) | TENSOR | |
RU2017060C1 (en) | Method of tuning of semiconductor integrated strain gauges and device for its accomplishment | |
SU625139A1 (en) | Digital temperature measuring device | |
SU447579A1 (en) | Temperature measuring device | |
SU1446459A1 (en) | Strain gauge transducer | |
SU450970A1 (en) | Method of making resistance thermometers | |
SU1486767A1 (en) | Method of adjusting integrated strain-measuring bridge with power supply from the power source | |
SU133603A1 (en) | Measuring device |