SU570767A1

SU570767A1 - Method of measuring deformation in condition of non-stationary temperatures

Info

Publication number: SU570767A1
Application number: SU7402000035A
Authority: SU
Inventors: Евгений Михайлович Иванов
Original assignee: Предприятие П/Я Р-6977
Priority date: 1974-02-22
Filing date: 1974-02-22
Publication date: 1977-08-30

Description

1one

Изобретение относитс к измерительной технике и может быть использовано при измерении деформации с помощью тензометрировани различных материалов, образцов дл исследовани , а также готовых деталей и узлов .The invention relates to a measurement technique and can be used in measuring strain using strain gauges of various materials, test specimens, as well as finished parts and assemblies.

Известен способ измерени деформации в услови х нестационарных температур, состо щий в том, что в исследуемой точке устанавливают тензорезистор и две термопары дл измерени температуры рещетки тензорезистора , и о деформации суд т по сигналам тензорезистора с учетом поправки термочувствительного элемента 1.A known method for measuring strain under unsteady temperature conditions is that a strain gauge and two thermocouples are installed at the point to measure the grating temperature of the strain gauge, and the strain is judged by the strain gauge signals taking into account the correction of the temperature sensitive element 1.

Известен способ измерени деформации в услови х нестационарных температур, заключающийс в том, что закрепл ют на контролируемой поверхности тензорезистор и термочувствительный элемент и о деформации поверхности суд т по сигналам тензорезисторас учетом поправки термочувствительиого элемента 2J.A known method for measuring strain under unsteady temperature conditions consists in fixing a strain gauge and a temperature-sensitive element on a surface to be monitored and judging the surface deformation by the signals of the strain gauge taking into account the correction of the 2J temperature-sensitive element.

Недостатком известного способа вл етс необходимость измерени двух динамических температур рещетки тензорезистора и исследуемой поверхности.The disadvantage of this method is the need to measure the two dynamic temperatures of the resistive strain gauge and the surface under study.

Целью изобретени вл етс повыщение точности измерени , что осуществл етс использованием тензорезистора и термочувствительного элемента с одинаковыми термическими посто нными времени, а температурную поправку формируют из первой производной сигнала термочувствительного элемента с учетом его термической посто нной времени иThe aim of the invention is to increase the measurement accuracy, which is carried out using a strain gauge and a temperature-sensitive element with the same thermal time constants, and a temperature correction is formed from the first derivative signal of the temperature-sensitive element taking into account its thermal time constant and

температурного коэффициента линейного расширени материала исследуемой поверхности. При использовании способа предусматриваетс следующа последовательность оиераций .temperature coefficient of linear expansion of the material of the investigated surface. When using the method, the following sequence of operations is provided.

Изготавливают тензорезисторы и одинаковые по конструкции (за исключением материала ) терморезисторы. Определ ют тензочувствительность тензорезисторов и температурный коэффициент сопротивлени терморезисторов . Определ ют посто нную времени обоих резисторов, что осуществл етс путем установки контрольных терморезисторов на отдельной пластине, помещаемой в рабочие услови , разогрева решеток терморезисторовThey make strain gauges and thermometers of the same design (with the exception of material). The resistance to strain gauges and the temperature coefficient of resistance of thermistors are determined. The time constant of both resistors is determined, which is accomplished by installing control thermistors on a separate plate placed under operating conditions by heating up the thermistor resistors

отдельным мощным источником тока питани , мгновенного подключени терморезисторов к нормальному источнику питани и регистрации показаиий терморезисторов. Кривые охлаждени решеток терморезисторов аппроксимируют экспонентами, по которым определ ют среднее значение TO. Указанное значение распростран ют на все терморезисторы и тензорезисторы данного типа.a separate powerful source of power supply, instantaneous connection of thermistors to a normal power source and recording of thermistor indications. The cooling curves of the thermistor arrays are approximated by exponents, which determine the average value of TO. This value applies to all thermistors and strain gauges of this type.

В каждой точке измерени непосредственноAt each measurement point directly

р дом с самокомпенсирующимс тензорезиv ,;opoM устанавливают терморезистор, включенный в отдельный канал измерени производной от температуры, построенной по припц} пу , когда выходной сигнал терморезистора корректируют с помощью фазоопережающего контура из скорректированного сигнала вычитают пр мой сигнал терморезистора, а полученную разность вторично корректируют посредством аналогичного фазоопережающего контура.next to the self-compensating strain gauge,; opoM, a thermistor is inserted into a separate measurement channel of the derivative of the temperature built in a similar phase-enhancing circuit.

При обработке результатов в каждой точке измерени определ ют величины динамических фиктивных деформацийWhen processing the results, the values of dynamic fictitious deformations are determined at each measurement point.

гди„(/)-:Рп- о-7 р(/)gdi "(/) -: Pn-o-7 p (/)

и ВНОСЯТ поправку в результаты измеренийand enter the amendment to the measurement results

) и(-гд„„(/)) and (-gd „„ (/)

где е(/г)-истинна деформаци в даннойwhere e (/ g) is the true deformation in this

ti.ti.

точке при времениpoint at time

Su(ti) -зарегистрированна деформаци Su (ti) -registered deformation

в точке.at the point.

Рта - коэффициент теплового расширени ,Mouth - coefficient of thermal expansion,

То - посто нна времени, Тг(г -производна от температуры решетки .This is the time constant, Tg (r-derivative of the lattice temperature.

Дл внедрени способа не требзетс разработка специальных устройств, приспособлений и приборов. Установка тензорезисторов и терморезисторов осуществл етс по существующим технологи м наклейки резисторов.For the implementation of the method, the development of special devices, devices and devices is not required. The installation of resistance strain gages and thermistors is carried out according to the existing technology of gluing resistors.

Claims

1. U.N. Seréziov, G. A. Tsareva. Error in strain measurement by wire

resistance strain gages, due to the influence of unsteady heating. Problems of strength, No. 8, 1973, p. 85-87.

2. US patent number 3490272, class. 73-88.5, 1970.