SU1499108A1 - Интерферометр дл контрол качества поверхностей вращени - Google Patents
Интерферометр дл контрол качества поверхностей вращени Download PDFInfo
- Publication number
- SU1499108A1 SU1499108A1 SU853972002A SU3972002A SU1499108A1 SU 1499108 A1 SU1499108 A1 SU 1499108A1 SU 853972002 A SU853972002 A SU 853972002A SU 3972002 A SU3972002 A SU 3972002A SU 1499108 A1 SU1499108 A1 SU 1499108A1
- Authority
- SU
- USSR - Soviet Union
- Prior art keywords
- lens
- working
- quality
- interferometer
- rotation
- Prior art date
Links
Landscapes
- Instruments For Measurement Of Length By Optical Means (AREA)
- Testing Of Optical Devices Or Fibers (AREA)
- Length Measuring Devices By Optical Means (AREA)
Abstract
Изобретение относитс к области измерительной техники и предназначено дл контрол качества поверхностей вращени , преимущественно вогнутых асферических. Целью изобретени вл етс упрощение конструкции и расширение диапазона апертур контролируемых поверхностей. Это достигаетс за счет реализации принципа разделени волнового фронта на рабочий и эталонный по полю. Дл этого объектив расположен так, что перекрывает часть пучка излучени , формируемого телескопической системой. При этом задний фокус объектива совпадает с задним фокусом зеркальной системы, образованной исследуемой поверхностью вращени и последней по ходу лучей поверхностью объектива, вл ющейс средством совмещени рабочего и эталонного волновых фронтов. 1 ил.
Description
Изобретение относитс к измерительной технике и предназначено дл контрол качества поверхностей вращени , преимуи(ественно вогнутых асферических ,
Цель изобретени - упрощение конструкции и расширение диапазона апертур контролируемых поверхностей.
На чертеже приведена оптическа схема интерферометра.
Интерферометр содержит источник 1 монохроматического излучени , составленную из линз 2 и 3 телескопическую систему, объектив 4, контролируемую новерхность 5 и блок 6 регистрации .
Интерферометр работает следующим образом.
Лучи света, выход щие из источника 1, попадают в телескопическую систему из линз 2 и 3, котора уменьшает расходимость пучка и расшир ет его диаметр. Центральна часть пучка направл етс в объектив 4, который формирует эталонный волновой фронт. Периферийна часть этого же пучка направл етс на контроли- поверхность 5. Лучи света, отразившись от поверхности 5, а затем от задней поверхности объектива 4, формируют рабочий волновой фронт. О качестве контролируемой поверхности 5 суд т по результатам измерений интерференционной картины, котора воз1П1кает в результате взаимодействи рабочего и эталонного волновых фронтов в блоке 6 регистрации,
Фо рмула изобретени
Интерферометр дл контрол качества поверхностей вращени , содержащий ииследоватсльно установленные источник монохроматического излучени .
;о ;о
00
телескопическую систему, объектив, средство совмещени рабочего и эталонного волновых фронтов, отличающийс тем, что, с целью упрощени конструкции и расширени диапазона апертур контролируемых поверхностей, объектив расположен так, что перекрывает центральную
часть пучка излучени и его задний фокус совмещен с задним фокусом зеркальной системы, образованной исследуемой поверхностью вращени и последней по ходу лучей певерхностью объектива, вл ющейс средством совмещени рабочего и эталонного волновых фронтов.
Claims (1)
- Фо рмула изобретенияИнтерферометр для контроля качества поверхностей вращения, содержащий последовательно установленные источник монохроматического излучения,SU 1499108 А1 часть пучка излучения и его задний фокус совмещен с задним фокусом зер кальной системы, образованной иссле· $ дуемой поверхностью вращения и последней по ходу лучей певерхностью объектива, являющейся средством совмещения рабочего и эталонного волновых фронтов.телескопическую систему, объектив, средство совмещения рабочего и эталонного волновых фронтов, отличающийся тем, что, с целью упрощения конструкции и расширения диапазона апертур контролируемых поверхностей, объектив расположен так, что перекрывает центральную
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| SU853972002A SU1499108A1 (ru) | 1985-11-05 | 1985-11-05 | Интерферометр дл контрол качества поверхностей вращени |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| SU853972002A SU1499108A1 (ru) | 1985-11-05 | 1985-11-05 | Интерферометр дл контрол качества поверхностей вращени |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| SU1499108A1 true SU1499108A1 (ru) | 1989-08-07 |
Family
ID=21203587
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| SU853972002A SU1499108A1 (ru) | 1985-11-05 | 1985-11-05 | Интерферометр дл контрол качества поверхностей вращени |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| SU (1) | SU1499108A1 (ru) |
-
1985
- 1985-11-05 SU SU853972002A patent/SU1499108A1/ru active
Non-Patent Citations (1)
| Title |
|---|
| Авторское свидетельство СССР № 155964, кл. G 01 В П/30, 1962. * |
Similar Documents
| Publication | Publication Date | Title |
|---|---|---|
| GB1465816A (en) | Laser-doppler anemometer | |
| US6061131A (en) | Optical axis adjustment apparatus and method for particle size distribution measuring equipment | |
| SU1499108A1 (ru) | Интерферометр дл контрол качества поверхностей вращени | |
| SU953451A2 (ru) | Интерферометр дл контрол вогнутых сферических поверхностей | |
| US3792918A (en) | Laser refractor | |
| SU529362A1 (ru) | Интеферометр дл исследовани качества поверхностей и аберраций крупногабаритных оптических элементов и прозрачных неоднород ностей | |
| SU848996A1 (ru) | Интерферометр дл контрол качествапОВЕРХНОСТЕй,ОпРЕдЕлЕНи АбЕРРАцийКРупНОгАбАРиТНыХ ОпТичЕСКиХ элЕМЕНТОВи иССлЕдОВАНи пРОзРАчНыХ НЕОдНОРОдНОСТЕй | |
| SU848999A1 (ru) | Интерферометр дл контрол изменени АбЕРРАций лиНз и зЕРКАл пРи зАКРЕплЕНиииХ B ОпРАВы | |
| SU1359663A1 (ru) | Интерферометр дл контрол цилиндрических поверхностей | |
| SU844995A1 (ru) | Интерферометр дл контрол поверхно-СТи дЕТАли | |
| SU1612273A1 (ru) | Интерференционный резольвометр | |
| SU1425437A1 (ru) | Интерферометр дл контрол выпуклых параболоидов | |
| SU1226041A1 (ru) | Интерферометр дл контрол цилиндрических поверхностей | |
| SU1368623A1 (ru) | Интерферометр дл контрол формы вогнутых оптических асферических поверхностей | |
| SU1413415A1 (ru) | Способ определени диаметра отверстий | |
| SU1067449A1 (ru) | Когерентный оптический анализатор пространственных спектров двумерных сигналов | |
| SU1249322A1 (ru) | Интерферометр дл контрол формы выпуклых сферических поверхностей оптических деталей | |
| SU1422046A1 (ru) | Способ записи интерферограммы контрол объектов в виде линз и объективов | |
| SU1383128A1 (ru) | Способ определени положени фокальной плоскости оптической системы | |
| SU1523909A1 (ru) | Способ контрол формы поверхности и устройство дл его осуществлени | |
| JPS646705A (en) | Displacement quantity and speed measuring apparatus | |
| SU894351A1 (ru) | Интерферометр дл контрол вогнутых параболических поверхностей | |
| US3799673A (en) | Scatterplate interferometer | |
| SU1733920A1 (ru) | Сканирующий интерферометр | |
| SU1640538A1 (ru) | Устройство дл определени внутренних напр жений в объекте |