SU1495693A1 - Способ обнаружени дефектов поверхности - Google Patents
Способ обнаружени дефектов поверхности Download PDFInfo
- Publication number
- SU1495693A1 SU1495693A1 SU874189280A SU4189280A SU1495693A1 SU 1495693 A1 SU1495693 A1 SU 1495693A1 SU 874189280 A SU874189280 A SU 874189280A SU 4189280 A SU4189280 A SU 4189280A SU 1495693 A1 SU1495693 A1 SU 1495693A1
- Authority
- SU
- USSR - Soviet Union
- Prior art keywords
- defects
- signals
- amplified
- electrical signals
- reflected light
- Prior art date
Links
Landscapes
- Investigating Materials By The Use Of Optical Means Adapted For Particular Applications (AREA)
Abstract
Изобретение относитс к контрольно-измерительной технике и может быть использовано дл обнаружени посторонних включений в структуру материала детали, неодинаковой цветности участков поверхности деталей. Целью изобретени вл етс повышение надежности обнаружени дефектов поверхности деталей, не нарушающих поверхностной сплошности материала детали, про вл ющихс как колебани коэффициента отражени , путем снижени вли ни микрогеометрии поверхности на результаты контрол . Дл этого световой поток направл ют на поверхность контролируемой детали, регистрируют и преобразуют в электрические сигналы зеркально и диффузно отраженные световые потоки. Электрические сигналы обоих каналов усиливают, обеспечива равенство абсолютных мгновенных значений амплитуд перемещенных составл ющих сигналов в услови х отсутстви дефектов. Суммируют усиленные сигналы и по величию электрического импульса суд т о дефектности контролируемой поверхности. 1 ил.
Description
Изобретение относитс к контрольно-измерительной технике и может быть использовано дл обнаружени посторонних включений в структуру материала детали, неодинаковой цветности участков поверхности деталей.
Целью изобретени вл етс повышение надежности обнаружени дефектов поверхности деталей, не нарушающих поверхностной сплошности материала детали.
Hat чертеже представлена блок- схема устройства, реализующего способ .
Устройство включает излучатель 1, фотоприеьшик 2, расположенный по ходу зеркально отраженного от контролируемой детали 3 луча светового потока , фотоприемник 4, расположенный по ходу диффузно отраженного луча светового потока, усилитель 5, входом подключенный к фотоприемнику 2, усилитель 6, входом подключенный к фотоприемнш у 4, сумматор 7, подключенный к выходам усилителей 5 и 6, выход сумматора 7 подключен к формирователю 8 импульсов.
Способ осуществл ют следующим образом .
На поверхность контролируемой детали 3 направл ют световой луч от излучател 1, зеркально и диффузионно
СО СП
О5
со СА:)
отраженные световые потоки регистрируют и преобразуют в электрические сигналы с помощью фотоприемников 2 и 4, Эле1 трические сигналы с фотоприем- пиков 2 и-4 усиливают усилител ми 5 и 6, причем коэффициенты усилени подобраны так, что при отсутствии дефектов на поверхности контролируемой детали абсолютные мгновенные значени амплитуд неременных составл ющих электрических сигналов на вы- кодсГх усилителей j определ емые рельефом контролируемой поверхности, равны межд5 собой, Быравне1Н- ые сигналы суммируют в сумматоре 7.При отсутствии дефектов переменные составл ющие электрических сигналов на выходах усилителей 5 и 6 наход тс в противофазе, так как их фазы определ ютс соответств.енпо зеркальным и диффузным характером отрахсени света и после сложени взаимно компенсируютс .
В случае наличи дефекта, по вл ющегос как нарушение поверхности контролируемой детали (царапины, трещины , сколы, выбоины), импульсы электрических , сигналов, определ емые де- фектами этого типа, на вь.ходах усилителей 5 и 6 противофазны и при сложении также взаимно компенсируютс . При налит-ши на поверхности детали дефектов, не нарушающих микро- рельеф поверхности (посуор онние включени в структуру материала детали, неодинакова цветност-ь участков поверхности и т.п.) импульсы электрических сигналов от дефектов на выходах усилителей 5 и 6 синфазны, так как при отражении света от поверхности с такими дефектами не происходит изменени характера ин- дикатриссы рассеивани света и интенсивность света, отраженного как зеркально, так и диффузно, измен етс синфазно в зависимости от коэффициента отража-ни участка детали. Сложение усиленных электрических сигналов-увеличивает амплитуду результирующего импульса от дефекта.
компенсиру шумы от микронеровностей и механических дефектов поверхности. Из сигнала с выхода сумматора 7 вьщел ют переменную составл ющую и формируют электрический импульс формирователем 8 импульсов, по отсутствию или наличию которого суд т о годности или негодности контролируемой детали.
В св зи с тем, что электрические сигналы фотоприемников усиливают, обеспечива равенство абсолютных мгновенных значений амплитуд переменных составл ющих сигналов на -выходах усилителей в услови х отсутстви дефектов, и суммируют усиленные электрические сигналы, полностью компенсируютс шумы, определ емые микронеровност ми поверхности и дефектами , измен ющими микрорельеф поверхности детали, увеличиваетс отношение сигнал/шум и повышаетс надежность обнаружени дефектов типа посторонних включений в структуру материала детали, изменение цветности участков поверхности и т.п.
Claims (1)
- Формула изобретениСпособ обнаружени дефектов поверхности , заключающийс в том, что световой поток направл ют на поверхность контролируемой детали, регистрируют и преобразуют в -электрические сигналы зеркально и диффузно отраженные световые потоки, по которым суд т о наличии дефектов, отличаю- щ и и. с тем, что, с целью повышени надежности обнаружени дефектов, не нарушающих поверхностной сплошности материала детали, электрические сигналы, соответствующие зеркально и диффузно отраженным световым потокам , усиливают, выравнивают абсолютные мгновенные значени амплитуд переменных составл ющих усиленных сигналов в услови х отсутстви дефектов поверхности, суммируют выравненные сигналы и но амплитуде результирующего сигнала суд т о наличии дефектов.
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
SU874189280A SU1495693A1 (ru) | 1987-02-02 | 1987-02-02 | Способ обнаружени дефектов поверхности |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
SU874189280A SU1495693A1 (ru) | 1987-02-02 | 1987-02-02 | Способ обнаружени дефектов поверхности |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
SU1495693A1 true SU1495693A1 (ru) | 1989-07-23 |
Family
ID=21283597
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
SU874189280A SU1495693A1 (ru) | 1987-02-02 | 1987-02-02 | Способ обнаружени дефектов поверхности |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
SU (1) | SU1495693A1 (ru) |
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
RU2746932C2 (ru) * | 2017-06-20 | 2021-04-22 | ДИДЖИТАЛ КЕА Сп. з о.о. | Устройство для оптического обнаружения дефектов зеркальной поверхности плоских объектов, в частности дисплеев мобильных телефонов и/или смартфонов |
-
1987
- 1987-02-02 SU SU874189280A patent/SU1495693A1/ru active
Non-Patent Citations (1)
Title |
---|
За вка GB -№ 1350189, кл. G 1 А, 1974. Авторское свидетельство СССР № 236024, кл. G 01 Б 11/30, 1969. * |
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
RU2746932C2 (ru) * | 2017-06-20 | 2021-04-22 | ДИДЖИТАЛ КЕА Сп. з о.о. | Устройство для оптического обнаружения дефектов зеркальной поверхности плоских объектов, в частности дисплеев мобильных телефонов и/или смартфонов |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
US4954723A (en) | Disk surface inspection method and apparatus therefor | |
US3986391A (en) | Method and apparatus for the real-time monitoring of a continuous weld using stress-wave emission techniques | |
WO2003073476A3 (en) | Apparatus and methods for optically inspecting a sample for anomalies | |
US3746869A (en) | Method of photometrically plotting light scattering objects | |
SU1495693A1 (ru) | Способ обнаружени дефектов поверхности | |
CN106996962A (zh) | 激光注入光纤与相干探测的激光超声无损检测系统 | |
CA1068371A (en) | Circuit arrangements for controlling detector signals in surface inspection systems | |
JPH0772122A (ja) | 磁性材料内部欠陥の漏洩磁束探傷方法及びその装置 | |
GB1390278A (en) | Device for detecting surface irregularities in plastics-covered cables | |
CN113624363B (zh) | 一种光纤温度监测装置 | |
US4187725A (en) | Method for ultrasonic inspection of materials and device for effecting same | |
JPH01260348A (ja) | ガラスディスクの表面検査装置 | |
SU1335874A1 (ru) | Устройство дл контрол качества бумаги | |
CN105973849B (zh) | 光学材料损耗的测量装置和测量方法 | |
SU1659796A1 (ru) | Устройство дл обнаружени дефектов поверхности | |
JPH04225134A (ja) | 光部品反射点測定方法および装置 | |
RU2035721C1 (ru) | Способ контроля прозрачности плоских светопропускающих материалов | |
SU712687A1 (ru) | Фотометр | |
SU1684599A1 (ru) | Устройство дл измерени смещени светового п тна | |
JPS6021792Y2 (ja) | 欠陥検出装置 | |
JPS59208446A (ja) | レ−ザ式表面検査装置 | |
SU1388725A1 (ru) | Способ обнаружени дефектов поверхности | |
SU1753361A1 (ru) | Устройство контрол затуплени режущего инструмента | |
NL8101508A (nl) | Automatische intermodulatievervormingstestkiezer. | |
SU1107157A2 (ru) | Устройство дл снижени шума воспроизведени монофонической фонограммы |