SU1495693A1

SU1495693A1 - Способ обнаружени дефектов поверхности

Info

Publication number: SU1495693A1
Application number: SU874189280A
Authority: SU
Inventors: Павел Алексеевич Сорокин; Михаил Михайлович Бабин; Игорь Александрович Клусов; Владимир Пименович Лущенко
Original assignee: Тульский Политехнический Институт
Priority date: 1987-02-02
Filing date: 1987-02-02
Publication date: 1989-07-23

Abstract

Изобретение относитс к контрольно-измерительной технике и может быть использовано дл обнаружени посторонних включений в структуру материала детали, неодинаковой цветности участков поверхности деталей. Целью изобретени вл етс повышение надежности обнаружени дефектов поверхности деталей, не нарушающих поверхностной сплошности материала детали, про вл ющихс как колебани коэффициента отражени , путем снижени вли ни микрогеометрии поверхности на результаты контрол . Дл этого световой поток направл ют на поверхность контролируемой детали, регистрируют и преобразуют в электрические сигналы зеркально и диффузно отраженные световые потоки. Электрические сигналы обоих каналов усиливают, обеспечива равенство абсолютных мгновенных значений амплитуд перемещенных составл ющих сигналов в услови х отсутстви дефектов. Суммируют усиленные сигналы и по величию электрического импульса суд т о дефектности контролируемой поверхности. 1 ил.

Description

Изобретение относитс к контрольно-измерительной технике и может быть использовано дл обнаружени посторонних включений в структуру материала детали, неодинаковой цветности участков поверхности деталей.

Целью изобретени вл етс повышение надежности обнаружени дефектов поверхности деталей, не нарушающих поверхностной сплошности материала детали.

Hat чертеже представлена блок- схема устройства, реализующего способ .

Устройство включает излучатель 1, фотоприеьшик 2, расположенный по ходу зеркально отраженного от контролируемой детали 3 луча светового потока , фотоприемник 4, расположенный по ходу диффузно отраженного луча светового потока, усилитель 5, входом подключенный к фотоприемнику 2, усилитель 6, входом подключенный к фотоприемнш у 4, сумматор 7, подключенный к выходам усилителей 5 и 6, выход сумматора 7 подключен к формирователю 8 импульсов.

Способ осуществл ют следующим образом .

На поверхность контролируемой детали 3 направл ют световой луч от излучател 1, зеркально и диффузионно

СО СП

О5

со СА:)

отраженные световые потоки регистрируют и преобразуют в электрические сигналы с помощью фотоприемников 2 и 4, Эле1 трические сигналы с фотоприем- пиков 2 и-4 усиливают усилител ми 5 и 6, причем коэффициенты усилени подобраны так, что при отсутствии дефектов на поверхности контролируемой детали абсолютные мгновенные значени амплитуд неременных составл ющих электрических сигналов на вы- кодсГх усилителей j определ емые рельефом контролируемой поверхности, равны межд5 собой, Быравне1Н- ые сигналы суммируют в сумматоре 7.При отсутствии дефектов переменные составл ющие электрических сигналов на выходах усилителей 5 и 6 наход тс в противофазе, так как их фазы определ ютс соответств.енпо зеркальным и диффузным характером отрахсени света и после сложени взаимно компенсируютс .

В случае наличи дефекта, по вл ющегос как нарушение поверхности контролируемой детали (царапины, трещины , сколы, выбоины), импульсы электрических , сигналов, определ емые де- фектами этого типа, на вь.ходах усилителей 5 и 6 противофазны и при сложении также взаимно компенсируютс . При налит-ши на поверхности детали дефектов, не нарушающих микро- рельеф поверхности (посуор онние включени в структуру материала детали, неодинакова цветност-ь участков поверхности и т.п.) импульсы электрических сигналов от дефектов на выходах усилителей 5 и 6 синфазны, так как при отражении света от поверхности с такими дефектами не происходит изменени характера ин- дикатриссы рассеивани света и интенсивность света, отраженного как зеркально, так и диффузно, измен етс синфазно в зависимости от коэффициента отража-ни участка детали. Сложение усиленных электрических сигналов-увеличивает амплитуду результирующего импульса от дефекта.

компенсиру шумы от микронеровностей и механических дефектов поверхности. Из сигнала с выхода сумматора 7 вьщел ют переменную составл ющую и формируют электрический импульс формирователем 8 импульсов, по отсутствию или наличию которого суд т о годности или негодности контролируемой детали.

В св зи с тем, что электрические сигналы фотоприемников усиливают, обеспечива равенство абсолютных мгновенных значений амплитуд переменных составл ющих сигналов на -выходах усилителей в услови х отсутстви дефектов, и суммируют усиленные электрические сигналы, полностью компенсируютс шумы, определ емые микронеровност ми поверхности и дефектами , измен ющими микрорельеф поверхности детали, увеличиваетс отношение сигнал/шум и повышаетс надежность обнаружени дефектов типа посторонних включений в структуру материала детали, изменение цветности участков поверхности и т.п.

Claims

Формула изобретени

Способ обнаружени дефектов поверхности , заключающийс в том, что световой поток направл ют на поверхность контролируемой детали, регистрируют и преобразуют в -электрические сигналы зеркально и диффузно отраженные световые потоки, по которым суд т о наличии дефектов, отличаю- щ и и. с тем, что, с целью повышени надежности обнаружени дефектов, не нарушающих поверхностной сплошности материала детали, электрические сигналы, соответствующие зеркально и диффузно отраженным световым потокам , усиливают, выравнивают абсолютные мгновенные значени амплитуд переменных составл ющих усиленных сигналов в услови х отсутстви дефектов поверхности, суммируют выравненные сигналы и но амплитуде результирующего сигнала суд т о наличии дефектов.