SU146092A1 - Способ определени коэффициента ионизации паров металлов - Google Patents
Способ определени коэффициента ионизации паров металловInfo
- Publication number
- SU146092A1 SU146092A1 SU736176A SU736176A SU146092A1 SU 146092 A1 SU146092 A1 SU 146092A1 SU 736176 A SU736176 A SU 736176A SU 736176 A SU736176 A SU 736176A SU 146092 A1 SU146092 A1 SU 146092A1
- Authority
- SU
- USSR - Soviet Union
- Prior art keywords
- collector
- determination
- ionization coefficient
- metal vapor
- metal
- Prior art date
Links
Landscapes
- Other Investigation Or Analysis Of Materials By Electrical Means (AREA)
Description
Известны способы определени степени ионизации паров щелочноземельных металлов и ртути.
Отличительна особенность описываемого способа определени коэффициента ионизации паров металлов состоит в том, что число ионов , образовавшихс при бомбардировке однородного атомного пучка однородным электрическим пучком, регистрируют электрометрической схемой по ионному току. Причем суммарное число атомов и ионов, пришедших на коллектор, регистрируют по активности коллектора, дл чего используют обогащение металла радиоактивным изотопом.
На чертеже схематически изображено устройство дл осуществлени описываемого способа.
В испаритель, состо щий из тигел /, нагревател 2, тепловых экранов 3, 4 л термопары 5, помещаетс некоторое количество металла 6, обогащенного радиоактивным изотопом. Система диафрагм 7 выдел ет атомный пучок 8 паров металла, который направл етс на коллектор 9, где происходит конденсаци испаренного металла. Электронна пушка, содержаща катод 10 косвенного канала, электроды //, 12 и коллектор 13 электронов, позвол ет получить пучок 14 электронов строго определенной конфигурации с малым разбросом по энерги м. В месте пересечени атомного и электронного пучков происходит ионизаци атомного пучка. Пришедщие на коллектор 9 ионы создают ионный ток, который измер ют электрометрической системой, например ЭМУ-3.
Попадание на коллектор только однозар дных ионов обеспечиваетс отклон ющим магнитом 15, который отклон ет многозар дные ионы от коллектора в случае применени дл ионизации электронов с высокими энерги ми.
Количество ионов, достигших коллектора, определ ют по ионному току. Дл определени полного количества сконденсировавшегос вещества , приход щего на коллектор, используют обогащение мегалла
№ 146092- 2 радиоактивным изотопом и подсчитывают активность коллектора (конденсата ) .
Отношение количества ионов, рассчитанного по ионному току, к массе конденсата, выраженной в числе атомов, определ ет коэффициент ионизации паров металлов.
Предлагаемый способ о-пределени коэффициента ионизации паров металлов может найти применение в масс-спектрометрии при анализе различных металлов и сплавов.
Предмет изобретени
Claims (2)
1.Способ определени коэффициента ионизации паров металлов, отличающийс тем, что, с целью определени числа ионов, образовавшихс при бомбардировке однородного атомного пучка однородным электрическим пучком, их регистрируют электрометрической схемой.
2.Способ по п. 1, отличающийс тем, что, с целью определени суммарного числа атомов и ионов, пришедщих на коллектор, их регистрируют по активности коллектора, вследствие обогащени исследуемого металла радиоактивным изотопом.
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| SU736176A SU146092A1 (ru) | 1961-06-30 | 1961-06-30 | Способ определени коэффициента ионизации паров металлов |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| SU736176A SU146092A1 (ru) | 1961-06-30 | 1961-06-30 | Способ определени коэффициента ионизации паров металлов |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| SU146092A1 true SU146092A1 (ru) | 1961-11-30 |
Family
ID=48301579
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| SU736176A SU146092A1 (ru) | 1961-06-30 | 1961-06-30 | Способ определени коэффициента ионизации паров металлов |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| SU (1) | SU146092A1 (ru) |
-
1961
- 1961-06-30 SU SU736176A patent/SU146092A1/ru active
Similar Documents
| Publication | Publication Date | Title |
|---|---|---|
| Inghram et al. | Surface ionization source using multiple filaments | |
| Krohn Jr | Emission of negative ions from metal surfaces bombarded by positive cesium ions | |
| Szymoński et al. | The sputtering processes during 6 kev Xe ion beam bombardment of halides | |
| Stanton | On the yield and energy distribution of secondary positive ions from metal surfaces | |
| Waters | Kinetic ejection of electrons from tungsten by cesium and lithium ions | |
| SU146092A1 (ru) | Способ определени коэффициента ионизации паров металлов | |
| Fox | Dissociative attachment of electrons in iodine. II. mass spectrographic determination of the energy dependence of the cross section | |
| Moore | Dissociation of Solid SrO by Impact of Slow Electrons | |
| Kashihira et al. | Source for negative halogen ions | |
| US3229157A (en) | Crucible surface ionization source | |
| US2772363A (en) | Method and apparatus for ionization of solids | |
| GB976781A (en) | Ultra high vacuum ion gauge | |
| US2770735A (en) | Non-poisoning mass spectrometer | |
| FR2792773B1 (fr) | Source ionique pour spectrometre de masse a temps de vol analysant des echantillons gazeux | |
| Alton et al. | The production of Ca− through sequential charge exchange with Li vapor | |
| RU2167699C1 (ru) | Способ разделения изотопов низкой природной концентрации в электромагнитном сепараторе с использованием источника ионов | |
| US3761708A (en) | Electron suppressor grid for a mass spectrometer | |
| Wayland | The Ionization of Neon, Krypton and Xenon by Bombardment with Accelerated Neutral Argon Atoms | |
| RU2183985C2 (ru) | Способ промышленного электромагнитного разделения изотопов химических элементов | |
| Pereira et al. | Li enrichment of LiF surfaces bombarded by MeV nitrogen ion beams | |
| Wynter et al. | Molecular beam detection using electron impact ionization | |
| KR20140009641A (ko) | 일정한 온도에서 생성된 이온들의 질량 스펙트럼을 측정하는 방법 | |
| Feeney et al. | Surface Ionization Type Ion Source of Ba+ Ions for Use in Collision Experiments | |
| JPS5832200Y2 (ja) | イオン源装置 | |
| JPH07153419A (ja) | 圧力測定又は質量分析用イオン化室 |