SU1460747A1 - Способ энерго-масс-спектрометрического анализа вторичных ионов и устройство дл энергомасспектрометрического анализа вторичных ионов - Google Patents
Способ энерго-масс-спектрометрического анализа вторичных ионов и устройство дл энергомасспектрометрического анализа вторичных ионов Download PDFInfo
- Publication number
- SU1460747A1 SU1460747A1 SU864135685A SU4135685A SU1460747A1 SU 1460747 A1 SU1460747 A1 SU 1460747A1 SU 864135685 A SU864135685 A SU 864135685A SU 4135685 A SU4135685 A SU 4135685A SU 1460747 A1 SU1460747 A1 SU 1460747A1
- Authority
- SU
- USSR - Soviet Union
- Prior art keywords
- energy
- field
- mass
- ions
- analyzer
- Prior art date
Links
Landscapes
- Electron Tubes For Measurement (AREA)
- Other Investigation Or Analysis Of Materials By Electrical Means (AREA)
Abstract
Изобретение относитс к массе- спектрометрии, а именно к квадруполь- ным массоспектрометрам дл анализа поверхности методом вторичной ионной эмиссии. Цель изобретени - увеличение чувствительности энергомассоспект- рометрического анализа и сохранение массоспектрометрического разрешени , при развертке по спектру анализируе-/ мых анергий вторичных ионов. В бес- полевом пространстве над анализируемым образцом путем диафрагмировани формируют пучок анализируемых вторичных ионов (Р1) в виде расход гоагос полого конического пучка. Начальную энергию этих И увеличивают, ввод их в ускор ющее осесимметричное электрическое поле. Эквипотенциали последнего перпендикул рны направлению движени И. Затем И ввод т в диспергирующее по энерги м осесимметричное электрическое поле в направлении его Эквипотенциали, значение которой равно потенциалу последней экп)(потенци- . али ускор ющего пол . Ионы анализируемого диапазона эпс.ргий из диспер- гирую1иего по энерги м пол вывод т под углом к его граничной эквипотен- циали с увеличением их энергии, а, все мешаюрще компоненты вторично-ионного излучени - в направлении экви- потенциалей этого пол . 71иафрагмиро- ванием выдел ют из И анализируемого диапазона энергий И в желаемом интервале энергий (энергетическом окне) л со средним значением их начальной энергии . После того ввод т И в осесим.метричное тормоз 1 дее фокусирующее электрическое поле и Локуси- руют этим полем на вход высокочастот- ,ного диспергирующего по массам гиперболического пол квадрупольного анализатора с торможением до значени энергий, обеспечивающих посто нство наибольшей скорости их движени вдоль оси анализатора. При этом изменение ширины энергетического окна, развертку по спектру начальных энергюЧ анализируемых И и торможение И до энергий их движени вдоль пол анализатора осупдествл ют согласованным изменением ускор ющего, диспергирующего по энерги м и тормоз 1цего полей в Соответствии с соотношени ми, приведенным в тексте описани . 2 ил. (О (Л .4; О) ч ч
Description
11
Изобретение относитс к массоспек рометрии, а именно квадрупольчмм массоспектрометрам дл анализ а поверности методом вторичной ионной эмис- сии.
Цель изобретени - увеличение чувствительности энергомассоспектромет- рического анализа и сохранение массо спектрометрического разрешени пр развертке по спектру анализируемых энергий вторичных ионов и регулировке щирины энергетического окна при энергоанализе.
Сущность предложени состоит в том что в бесполевом пространстве над образцом путем диафрагмировани формируют пучок анализируемых вторичных ионов в виде расход щегос полого конического пучка, увеличивают начальную энергию ионов, ввод их в ускор ющее ocecи шeтpичнoe электрическое поле, ввод т эти номы в диспергирующее по энерги м осесимметричное электричес- кое поле в направлении его эквипо- тенциали, значение которой равно потенциалу последней эквипотенциали ускор ющего пол , вывод т ионы анализируемого диапазона энергий из дис- пергирую1цего по энерги м пол под углом к его граничной эквипотенциали с увеличением их энергии, а все мешающие компоненты вторично-ионного излучени - в направлении эквипотен- циалей этого пoл j диафрагмирование выдел ют из ионов анализируемого диапазона энергий ионы в желаемом интервале энергий (энергетическом окне) ± д со средним значением их на- чальной энергии , ввод т их в осесимметричное тормоз щее фокусирующее электрическое поле и фокусируют этим полем на вход высокочастотного диспергирующего по массам гиперболического пол квадрупольного анализатора, с торможением до значени .энергий, обеспечивающих посто нство наибольшей скорости их движени вдоль оси анализатора, при этом изменение ширины энергетического окна, развертку по спектру начальных энергий анализируемых ионов и торможение ионов до энергий их движени вдоль пол анализатфра осуществл ют согласованным изменением ускор ющего, диспергирующего по энерги м и тормоз щего полей в соответствии с соотношени ми
-;(е- -J(eЛб )i &);
20
ю
15
25 30 40 с
35
V i(e +ue- с),
где V - значение граничной эквипо- тенциали ускор ющего пол ;
W - значение граничной эквипо- тенциали диспергирующего по энерги м пол ;
и - значение граничной эквипо- тенциали тормоз щего пол , равной потенциалу оси пол анализатора; ,
е - зар д иона;
а,Ь - посто нные, св занные с -разрешением по знергии Р посредством следую1цих равенств
2 R
ь I (, - f.,,
где Wjj - значение граничной эквипотен- циали диспергирующего пол , соответствующее условию энергомассоспектрометрйчес- кого анализа частиц со средней начальной энергией Е при нулевом значении граничной потенциали V ускор ющего пол .
Поэтому выбор величин а, в осуществл етс , исход из требуемого значени разрешени по энергии R,
Выбор посто нной с, как следует из физического смысла соотношени
,
25 30 40 с
0
5
приведенного в формуле изобретени , определ етс требованием массоспект- рометрического разрешени , максимальна начальна энерги вторичных ионов, пропускаемых на масс- анализ, eU - энерги , которую эти ионы тер ют при входе в масс-анализи- рующее поле. Следовательно, физический смысл с - это максимальна энерги движени ионов в направлении оси масс-анализирующего пол . Именно эта энерги определ ет врем движени ионов через масс-анализирующее поле, число колебаний иона в этом поле и получаемое массоспектрометрическое разрешение.
3
В св зи с изложенным посто нные айв безразмерны, а с измер етс в единицах энергии, например в элекрон-вольтах .
Положительньй эгЬфект состоит в следующем,
При предлагаемом способе энерго- массанализа значительно (в 100 и более раз) возрастает чувствительность , так как исходные ионы ввод т в область диспергирующего по энерги пол не через отверстие малого диамра , а через кольцевую щель, ширина которой равна диаметру этого отверс тин, тогда как площадь во много раз превышает площадь упом нутого отверсти .
Фокусировка пучка анализируемых ионов н.а вход квадрупольного масс- анализатора, выделенных в заданном энергетическом окне и с заданной среней начальной энергией с одновременным торможением до значени максимально допустимой энергии, обеспечи- вающей достижение требуемого массо- спектрометрического разделени , позвл ет осуществл ть развертку по энергии или увеличение ширины энергетического окна пропускаемых на масс- анализ ионов без изменени разрешающей способности по массам.
Цель изобретени - повышение чувс вительности устройства дл энерго- масСоспектрометрического анализатор вторичных ионов и сохранение его массоспектрометрического разрешени при регулировке ширины энергетического окна и развертке по спектру анали
На фиг.1 изображены источник 1 первичного ионного пучка, первичный ионный пучок 2, ана;п зируемый образец 3, квадрупольный масс-анализа- тор 4, ось 5 которого проходит через точку 6 пересечени первичного ионного пучка с образцом, высокочас- тотный генератор 7 с парафазным выходом , где точка 8 - средн точка 30 парафазиого выхода этого генератора , электроды 9 масс-анализатора,соединенные с клеммами парафазного выхода этого генератора, первый-конический электрод 10 энергоанализатора, Зц потенциал которого равен потенциалу образца, второй конический электрод 11 энергоанализатора, соосные входные кольцевые отверсти -12 и 13 в указанных электродах, предназначензируемого диапазона энергий вторичных „,,; ll ...-w..., ,ч-..-о.а..„
. 40 чые дл ввода анализируемых вторичных
ионов.
Сущность предлагаемого устройства состоит в том, что ось масс-анализатора проходит через анализируемый учас- ток образца, а энергоанализатор выпол- гоанализа нен в виде шести последовательно
установленных между образцом и масс- анализатором соосно масс-анализатору конических электродов, два первые из которых обращены вершинами к масс- анализатору и снабжены кольцевыми отверсти ми , соосными оси масс-анализатора; третий и четвертый, обращенные вершинами к образцу, имеют форму усеченных конусов, вложенных один в другой с кольцевым зазором, в который обращены упом нутые кольцевые отвер с- ти , п тый конус установлен внутри четвертого конуса, выполнен оптически
ионов в кольцевой зазор между третьим коническим электродом 14 и четвертым коническим электродом 15, между которыми расположена область 16 энеркольцевое отверстие 17 в четвертом коническом электроде, к которому обращен своей боковой поверхностью оптически прозрачный п тый конический электрод 18, отверстие 19 в тонкостенном основании четвертого конического электрода, шестой конический электрод 20, траектории 21 анализируемых ионов в энергоанализаторе , направление 22 движени через 55 энергоанализатор мешающих высокоэнергетических частиц и излучений, а также нейтральной компоненты, корпус 23 масс-анализатора, который обычно имеет тот же потенциал, что
50
10
прозрачным, обра1цен вершиной к образцу , а боковой поверхностью к кольцевому отверстию, выполненному в четвертом конусе; шестой конус выполнен усеченным, обра1чен вершиной к масс- анализатору и установлен перед соос- ным оси масс-анализатора отверстием, выполненном в основании, которым снабжен четвертый конус; а образец электрически соединен со средней точкой парафазного выхода высокочастотного генератора через источник электрического напр жени посто нного тока , знак полюса которого, соединенного с образцом, обратен знаку зар да анализируемых ионов.
На фиг.1 представлена конструкци предлагаемого устройства; на фиг.2 - схема по сн юща способ.
На фиг.1 изображены источник 1 первичного ионного пучка, первичный ионный пучок 2, ана;п зируемый образец 3, квадрупольный масс-анализа- тор 4, ось 5 которого проходит через точку 6 пересечени первичного ионного пучка с образцом, высокочас- тотный генератор 7 с парафазным выходом , где точка 8 - средн точка 0 парафазиого выхода этого генератора , электроды 9 масс-анализатора,соединенные с клеммами парафазного выхода этого генератора, первый-конический электрод 10 энергоанализатора, ц потенциал которого равен потенциалу образца, второй конический электрод 11 энергоанализатора, соосные входные кольцевые отверсти -12 и 13 в указанных электродах, предназначен„ ,,; ll ...-w..., ,ч-..-о.а..„
гоанализа
ионов в кольцевой зазор между третьим коническим электродом 14 и четвертым коническим электродом 15, между которыми расположена область 16 энеркольцевое отверстие 17 в четвертом коническом электроде, к которому обращен своей боковой поверхностью оптически прозрачный п тый конический электрод 18, отверстие 19 в тонкостенном основании четвертого конического электрода, шестой конический электрод 20, траектории 21 анализируемых ионов в энергоанализаторе , направление 22 движени через 5 энергоанализатор мешающих высокоэнергетических частиц и излучений, а также нейтральной компоненты, корпус 23 масс-анализатора, который обычно имеет тот же потенциал, что
0
5 -
и потенциал на оси масс-анализатора, Ионы с заданным средним значени- экран 24 энергоанализатора, потен-ем их начальной энергии и энерге- циал которого равен потенциалу ана-тическим отклонением от этого значе- лизируемого образца, источник 25 gни ±а Фокусируютс на отверстие в электрического напр жени посто нноготонкостенном плоском основании чет- тока, через который средн точкавертого конического электрода и вво- парафазного выхода высокочастотногод тс в область пол шестого коничес- генератора соединена с образцом. кого электрода. В тормоз щем поле
Работа устройства происходит еле- 10шестого электрода ионы фокусируютс
дующим образом.на вход масс-анализатора и одновреСфокусированный пучок первичныхменно тормоз тс разностью потенцит ионов высокой энергии, обычно 10-aлoвq 5 U, приложенной между об- 25 кэв, направл етс на поверхностьразцом и осью масс-анализатора анализируемого образца. Возникающие 15(фиг.2), так что их максимальна в области бомбардировки продукты вто- энерги движени вдоль оси масс-ана- ричного излучени , в том числе вто-лизатора оказываетс равной Е + и - ричные ионы, интенсивность которых-gU const. Значение этой константы относительно норм к поверхности об-задаетс исход из требуемой разреша- разца носит косинусоидальный харак- 20ющей способности по массам, тер, двига сь в бесполевом пространст- Положительный эффект предлагаемого ве по пр молинейным траектори м, ра-устройства по сравнению с известным диально расход тс от области ихсостоит в следующем, возникновени на образце. Часть этих. Существенно ( -- 10) раз- повышена продуктов поступает в кольцевое от- 25чувствительность устройства примене- верстие в первом коническом элект- .нием высокосветосильного кольцевого роде, увеличивает свою энергию в про--отверсти , ширина которого равна ди- межутке между первым и вторым коничес--аметру входного отверсти известного кими электродами на величину еСр, eVустройства и площадь в 100 и более (фиг.2), где е - зар д частицы, V - 30раз превышает площадь его входного . потенциал на втором электроде относи отверсти , а также применением опти- тельно образца, и вводитс в областьки энергоанализатора, пропускающей диспергирующего по энерги м пол меж-без потерь ионы в полном угле 21Г . ду третьим и четвертым коническими Улучшена экранировка входа квад- электродами. Вторичные ионы анализи- 35 рупольного анализатора от частиц руемого диапазона энергий отклон ютс высоких энергий, излучений и нейт- этим полем к четвертому коническому .ральной компоненты. Вли ние этих ком- электроду, увеличива свою энергиюпонент значительно снижено, когда относительно начального ее значени геометри энергоанализатора (выбором на в еличину e(((f.) eW, где W - 40ширины входного кольцевого отверсти , потенциал на .четвертом коническома также длины третьего и четвертого электроде относительно образца, аконических электродов и ширины зазо- вывод тс под углом к этому электродура между ними) обеспечивает опти- в щелевое отверстие в нем в направ-ческую затененность рабочих поверх- лении п того конического электрода, 45ностей третьего и четвертого кони- который выполнен оптически прозрач-ческих электродов относительно точки ным и играет вспомогательную роль,пересечени первичного ионного пуч- позвол уменьшить угол наклона ион-ка с образцом, как это показано «а ных траекторий относительно оси энер-фиг.1. Это практически исключает так- тоанализатора в цел х улучшени ка- 50же запыление внутренних поверхностей чества фокусировки ионов на отверс-энергоанализатора, возникновение эф- тие в торце четвертого коническогофектов пам ти и зар дки этих поверх электрода. При этом мешающие высоко-ностей.
энергетические частицы излучени и Обеспечена неизменность массонейтральна компонента вывод тс че- 55спектрометрического разрешени при
рез щелевой зазор меаду третьим исканировании по спектру начальных
четвертым коническими электродами,энергий ионов и изменению энергетичем исключаетс их вли ние на процесс ческого разброса вторичных ионов,
энергомассоанализа.пропускаемых на масс-анализ.
7
В испытываемом макете предлагаемого устройства потенциалы на его электродах (фиг.2), при которых обеспечиваетс пропускание на масс-анали вторичных положительно зар женных ионов.со средней начальной энергией 15 эВ при энергетическом окне энергоанализатора -2,5 эВ и наибольшей энергии движени ионов вдоль оси масс-анализатора, равной 5 эВ, равны (относительно образца): на первом коническом электроде - потенциалу образца, на втором коническом электроде Ср, -235 В, на третьем коническом электроде с, -t-Cf i 200 В, на четвертом коническом .электроде Ч гг -535 В, на п том коническом электроде Cf -60 В, на шестом коническом электроде 19,9В, на оси и корпусе масс-.шализатора tf5 12,5В
Формула
изобретени
1.Способ энергомассоспектрометри- ческого анализа вторичных ионов , заключающийс в формировании в беспо- левом пространстве над образцом пучвале энергий Е -лБ, ввод т их в осесимметричное тормоз щее электрическое поле и фокусируют этим полем на вход высокочастотного диспергирующего по массам пол квадрупольного |Масс-анализатора с торможением до значени их энергий, обеспечивающих посто нство наиболыией скорости их движени вдоль пол масс-а«ализа- тора, при этом изменение ширины энергетического окна, развертку по спектру анализируемого диапазона энергий и торможение до энергий движени ионов вдоль пол масс-анализатора, осука вторичных ионов путем диаАрагмиро- 30 ществл ют согласованным изменением ус5
0
Ь
электрическое поле в направлении его эквипотенциали, значение которой равно потенциалу последней эквипотенциали ускор ющего пол , вывод т ионы анализируемого диапазона энергий из диспергирующего по энерги м пол под углом к его граничной эквипотенциали (i увеличением их энергии, а нейтральную и высокоэнергетическую зар женную компоненты и излучение вывод т в направлении эквипотенциалей этого пол , диафрагмированием выдел ют из ионов анализируемого диапазона энергий ионы в исследуемом интер- +
0
5
вале энергий Е -лБ, ввод т их в осесимметричное тормоз щее электрическое поле и фокусируют этим полем на вход высокочастотного диспергирующего по массам пол квадрупольного |Масс-анализатора с торможением до значени их энергий, обеспечивающих посто нство наиболыией скорости их движени вдоль пол масс-а«ализа- тора, при этом изменение ширины энергетического окна, развертку по спектру анализируемого диапазона энергий и торможение до энергий движени ионов вдоль пол масс-анализатора, осу0 ществл ют согласованным изменением ус
вани , ввода этих,ионов в диспергирующее по энерги м электрическое поле , разделении их по энергии и фокусировке по начал1 ному угловому разбросу , выделении сфокусированного пуч- ка ионов с .определе-Е ной. энергией путем диафрагмировани , ввода его в диспергирующее по массам высокочастотное гиперболическое поле квадрупольного масс-анализатора, разделе- ни в этом поле по массам, и регист.- рации ионных токов выделенных масс, отличающийс тем, что, с целью увеличени чувствительности энергомассоспектрометрического ана- лиза и сохранени разрешающей способности массоспектрометрического разделени при развертке по спектру ана-. лизируемого диапазона энергий и регулировке ширины энергетического ок- на при энергоанализе, в бесполевом пространстве над образцом формируют диафрагмированием пучок вторичных ионов в виде расход щегос полого конического пучка, увеличивают началь- кую энергию этих ионов путем ввода в ускор ющее осесимметричное электрическое поле, ввод т ионы в диспергирующее по энерги м осесимметричнре
кор ющего, диспергирующего по энерги м и тормоз щего полей в соответствии с соотношени ми
( - а й6), W -- (-Ь- л5) ,
U -i ( ),
де V - значение граничной эквипотенциали ускор ющего пол . В;
W - значение граничной зквипо- тенциали диспергирующего по энерги м пол , Bj
и - значение граничной эквипотенциали тормоз щего пол , равной потенциалу оси пол анализаторов. В;
е - зар д иона. К;
S - энерги йналтизируемых ионов на выходе диспергирующего по энергии пол , Лж; а,Ь - посто нные, св занные с разрешением R по энергии, соответственно соотношени ми
2 R
|
(1
)
fo:
где W - значение W, соответствующее условию энергомассоспектро- метрического анализа частиц со средней начальной энергией при V 0; с - посто нна , задаваема ,
исход из требований кмассо- спектрометрическому разрешению , максимальна энерги ионов в направлении оси масс анализующего пол . 2.Устройство дл энергомассоспект- рометрического анализа вторичных ионов , содержащее источник дервичного пучка, держатель образца, масс-ана- лизатор, включающий четыре по еобра- зующих электрода, электрически соединенные с выходом пдрафазного высокочастотного генератора, и энергоанализатор , установленный между держа- телем образда и масс-анализатором, отличающееЪ тем, что, с целью повьпиени чувствительности энергетического и массоспектромет- 1рического анализа вторичных ионов, а также сохранени разрешающей способности массоспектрЪметрического разделени при регулировке ширины энергетического окна энергоанализатора и развертке по спектру анализируемого диапазона энергий вторичных ионов, ось масс-анализатора проходит
24
через точку пересечени ионно-опти- ческой оси источника первичного ионного пучка с предметной плоскостью держател образца,. энергоанализатор выполнен в виде шести последовательно установленных соосно масс-анализатору конических электродов, два первые из которых обращены вершинами к массанализатору и снабжены кольцевыми отверсти ми, соосными маос-анализато- ру, третий и четвертый, обращенные вершинами к образцу, имеют форму усечённых конусов, вложенных один
в другой с кольцевым зазором, в который обращены упом нутые кольцевые отверсти , п тый конический электрод установлен внутри четвертого, выполнен оптически прозрачным и обращен
вершиной к держателю образца, а боковой поверхностью - к кольцевому отверстию , выполненному в четвертом коническом электроде, шестой конический электрод выполнен усеченным,
обращен вершиной к масс-анализатору и установлен перед соосным оси масс- анализатора отверстием,выполненным в основании, которым снабжен четвертый конический электрод-.
Кроме того, дополнительно введен источник электрического напр жени посто нного тока, один полюс которого со знаком, обратным знаку зар да анализируемых ионов, соединен с держателем образца, а другой полюс - со средней точкой парафазного выхода высокочастотного генератора.
/9
Фиг.}
51оfz;- -- Г22 -I
fz
- +
-u-ffco&t t
с
Г2
fz
«v
/г/
/2- Р22-н
fs(J
Физ.2
Claims (2)
- Формула изобретения1.Способ энергомассоспектрометрического анализа вторичных ионов , заключающийся в формировании в бесполевом пространстве над образцом пучка вторичных ионов путем диафрагмирования, ввода этих,ионов в диспергирующее по энергиям электрическое поле, разделении их по энергии и фокусировке по начальному угловому разб электрическое поле в направлении его эквипотенциали, значение которой равно потенциалу последней эквипотенциа5 ли ускоряющего поля, выводят ионы анализируемого диапазона энергий из диспергирующего по энергиям поля под углом к его граничной эквипотенци али С увеличением их энергии, а нейтЮ ральную и высокоэнергетическую заряженную компоненты и излучение выводят в направлении эквипотенциалей этого поля, диафрагмированием выделяют из ионов анализируемого диапазо1Ь на энергий ионы в исследуемом интервале энергий ζ - , вводят их в осесимметричное тормозящее электрическое поле и фокусируют этим полем на вход высокочастотного диспергирую20 щего по массам поля квадрупольного |Масс-анализатора с торможением до значения их энергий, обеспечивающих постоянство наибольшей скорости их движения вдоль поля масс-анализа25 тора, при этом изменение ширины энергетического окна, развертку по спект.ру анализируемого диапазона энергий и торможение до энергий движения ионов вдоль поля масс-анализатора, осу30 ществляют согласованным изменением ускоряющего, диспергирующего по энергиям и тормозящего полей в соответствии с соотношениями росу, выделении сфокусированного пучка ионов с .определенной.энергией путем диафрагмирования, ввода его в диспергирующее по массам высокочастотное гиперболическое поле квадрупольного масс-анализатора, разделе- до ния в этом поле по массам, и регист,рации ионных токов выделенных масс, отличающийся тем, что, с целью увеличения чувствительности энергомассоспектрометрического ана- 45 лиза и сохранения разрешающей способности массоспектрометрического разделения при развертке по спектру ана-. лизируемого диапазона энергий и регулировке ширины энергетического ок- · jq на при энергоанализе, в бесполевом пространстве над образцом формируют диафрагмированием пучок вторичных ионов в виде расходящегося полого конического пучка, увеличивают началь- 55 ную энергию этих ионов путем ввода в ускоряющее осесимметричное электрическое поле, вводят ионы в диспергирующее по энергиям осесимметричноеV = -- (Е - а йЕ) , еW = -- ( £ - b Λ 8 ) , е ’ υ = -ί (ε +йЕ-с), егде V - значение граничной эквипотенциали ускоряющего поля, В;W - значение граничной эквипотенциали диспергирующего по энергиям поля, В)U - значение граничной эквипотенциали тормозящего поля, равной потенциалу оси поля анализаторов, В;е - заряд иона, К;S - энергия анализируемых ионов на выходе диспергирующего по энергии поля, Дж;’ а,Ь - постоянные, связанные с разрешением R по энергии, соответственно соотношениями
2 а = R ) Ео . ’ 5 через точку пересечения ионно-оптической оси источника первичного ионного пучка с предметной плоскостью держателя образца,, энергоанализатор выполнен в виде шести последовательно где WQ - значение W, соответствующее условию энергомассоспектрометрического анализа частиц со средней начальной энергией £ = ЕО при V = 0;с - постоянная, задаваемая, исходя из требований к массоспектрометрическому разрешению, максимальная энергия ионов в направлении оси массаналйзующего поля. - 2.Устройство для энергомассоспект-.рометрического анализа вторичных ио нов, содержащее источник первичного пучка, держатель образца, масс-анализатор, включающий четыре полеобра зующих электрода, электрически сое диненныес. выходом парафазного высо кочастотного генератора, и энергоана лизатор, установленный между держателем образца и масс-анализатором, отличающееся тем, что, с' целью повышения чувствительности энергетического и массоспектромет'ричес.кого анализа вторичных ионов, а также сохранения разрешающей способности массоспектрометрического разделения при регулировке ширины энергетического окна энергоанализа тора и развертке по спектру анализируемого диапазона энергий вторичных установленных соосно масс-анализатору конических электродов, два первые из которых обращены вершинами к масс10 анализатору и снабжены кольцевыми отверстиями, соосными масс-анализатору, третий и четвертый, обращенные вершинами к образцу, имеют форму усечённых конусов, вложенных один 15 в другой с кольцевым зазором, в который обращены упомянутые кольцевые отверстия, пятый конический электрод установлен внутри четвертого, выполнен оптически прозрачным и обращен 20 вершиной к держателю образца, а боковой поверхностью - к кольцевому отверстию, выполненному в четвертом коническом электроде, шестой конический электрод выполнен усеченным, 25 обращен вершиной к масс-анализатору и установлен перед соосным оси массанализатора отверстием,выполненным в основании, которым снабжен четвертый конический электрод.Кроме того, дополнительно введен источник электрического напряжения постоянного тока, один полюс которого со знаком, обратным знаку заряда 35 анализируемых ионов, соединен с держателем образца, а другой полюс со средней точкой парафазного выхода ионов, ось масс-анализатора проходит высокочастотного генератора.I
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
SU864135685A SU1460747A1 (ru) | 1986-07-04 | 1986-07-04 | Способ энерго-масс-спектрометрического анализа вторичных ионов и устройство дл энергомасспектрометрического анализа вторичных ионов |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
SU864135685A SU1460747A1 (ru) | 1986-07-04 | 1986-07-04 | Способ энерго-масс-спектрометрического анализа вторичных ионов и устройство дл энергомасспектрометрического анализа вторичных ионов |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
SU1460747A1 true SU1460747A1 (ru) | 1989-02-23 |
Family
ID=21263245
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
SU864135685A SU1460747A1 (ru) | 1986-07-04 | 1986-07-04 | Способ энерго-масс-спектрометрического анализа вторичных ионов и устройство дл энергомасспектрометрического анализа вторичных ионов |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
SU (1) | SU1460747A1 (ru) |
-
1986
- 1986-07-04 SU SU864135685A patent/SU1460747A1/ru active
Non-Patent Citations (1)
Title |
---|
Авторское свидетельство СССР № 1138856, кл. Н 01 J 49/30, 1985. Int.J.Mass Spectrom.Ion Physics, 1973, v .II, № 1, p. 23-25. * |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
US5814813A (en) | End cap reflection for a time-of-flight mass spectrometer and method of using the same | |
US7531793B2 (en) | Tandem mass spectrometry system | |
US5166518A (en) | Mass spectrometer with electrostatic energy filter | |
DE3913965A1 (de) | Direkt abbildendes sekundaerionen-massenspektrometer mit laufzeit-massenspektrometrischer betriebsart | |
GB1145107A (en) | Ion beam microanalyser | |
CA2055609A1 (en) | Charged-particle energy analyzer and mass spectrometer incorporating it | |
US4556794A (en) | Secondary ion collection and transport system for ion microprobe | |
Liebl | Design of a combined ion and electron microprobe apparatus | |
CN1816383B (zh) | 质谱仪和相关的离子发生器及方法 | |
US4952803A (en) | Mass Spectrometry/mass spectrometry instrument having a double focusing mass analyzer | |
US4146787A (en) | Methods and apparatus for energy analysis and energy filtering of secondary ions and electrons | |
US4924090A (en) | Double focusing mass spectrometer and MS/MS arrangement | |
Beynon et al. | A novel, double-focusing spectrometer for translational-energy-loss spectroscopy | |
US5095208A (en) | Charged particle generating device and focusing lens therefor | |
GB1533526A (en) | Electro-static charged particle analyzers | |
SU1460747A1 (ru) | Способ энерго-масс-спектрометрического анализа вторичных ионов и устройство дл энергомасспектрометрического анализа вторичных ионов | |
JPS6334844A (ja) | 絶縁材料のイオン分析方法および装置 | |
US3733483A (en) | Electron spectroscopy | |
EP0551999A1 (en) | Mass spectrometry systems | |
US4171482A (en) | Mass spectrometer for ultra-rapid scanning | |
RU2144237C1 (ru) | Оптическая колонка для излучения частиц | |
US3217161A (en) | Electrode means to electrostatically focus ions separated by a mass spectrometer on a detector | |
CN109767971A (zh) | 二维离子束偏转装置 | |
CN203481184U (zh) | 一种脉冲式离子源及质谱仪 | |
Krasnova et al. | Cone electrostatic energy analyser, used for concurrent energy-and angle-resolved measurements |