SU1460747A1 - Способ энерго-масс-спектрометрического анализа вторичных ионов и устройство дл энергомасспектрометрического анализа вторичных ионов - Google Patents

Способ энерго-масс-спектрометрического анализа вторичных ионов и устройство дл энергомасспектрометрического анализа вторичных ионов Download PDF

Info

Publication number
SU1460747A1
SU1460747A1 SU864135685A SU4135685A SU1460747A1 SU 1460747 A1 SU1460747 A1 SU 1460747A1 SU 864135685 A SU864135685 A SU 864135685A SU 4135685 A SU4135685 A SU 4135685A SU 1460747 A1 SU1460747 A1 SU 1460747A1
Authority
SU
USSR - Soviet Union
Prior art keywords
energy
field
mass
ions
analyzer
Prior art date
Application number
SU864135685A
Other languages
English (en)
Inventor
Александр Федорович Кузьмин
Вячеслав Данилович Саченко
Original Assignee
Специальное Конструкторское Бюро Аналитического Приборостроения Научно-Технического Объединения Ан Ссср
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Специальное Конструкторское Бюро Аналитического Приборостроения Научно-Технического Объединения Ан Ссср filed Critical Специальное Конструкторское Бюро Аналитического Приборостроения Научно-Технического Объединения Ан Ссср
Priority to SU864135685A priority Critical patent/SU1460747A1/ru
Application granted granted Critical
Publication of SU1460747A1 publication Critical patent/SU1460747A1/ru

Links

Landscapes

  • Electron Tubes For Measurement (AREA)
  • Other Investigation Or Analysis Of Materials By Electrical Means (AREA)

Abstract

Изобретение относитс  к массе- спектрометрии, а именно к квадруполь- ным массоспектрометрам дл  анализа поверхности методом вторичной ионной эмиссии. Цель изобретени  - увеличение чувствительности энергомассоспект- рометрического анализа и сохранение массоспектрометрического разрешени  , при развертке по спектру анализируе-/ мых анергий вторичных ионов. В бес- полевом пространстве над анализируемым образцом путем диафрагмировани  формируют пучок анализируемых вторичных ионов (Р1) в виде расход гоагос  полого конического пучка. Начальную энергию этих И увеличивают, ввод  их в ускор ющее осесимметричное электрическое поле. Эквипотенциали последнего перпендикул рны направлению движени  И. Затем И ввод т в диспергирующее по энерги м осесимметричное электрическое поле в направлении его Эквипотенциали, значение которой равно потенциалу последней экп)(потенци- . али ускор ющего пол . Ионы анализируемого диапазона эпс.ргий из диспер- гирую1иего по энерги м пол  вывод т под углом к его граничной эквипотен- циали с увеличением их энергии, а, все мешаюрще компоненты вторично-ионного излучени  - в направлении экви- потенциалей этого пол . 71иафрагмиро- ванием выдел ют из И анализируемого диапазона энергий И в желаемом интервале энергий (энергетическом окне) л со средним значением их начальной энергии . После того ввод т И в осесим.метричное тормоз 1 дее фокусирующее электрическое поле и Локуси- руют этим полем на вход высокочастот- ,ного диспергирующего по массам гиперболического пол  квадрупольного анализатора с торможением до значени  энергий, обеспечивающих посто нство наибольшей скорости их движени  вдоль оси анализатора. При этом изменение ширины энергетического окна, развертку по спектру начальных энергюЧ анализируемых И и торможение И до энергий их движени  вдоль пол  анализатора осупдествл ют согласованным изменением ускор ющего, диспергирующего по энерги м и тормоз 1цего полей в Соответствии с соотношени ми, приведенным в тексте описани . 2 ил. (О (Л .4; О) ч ч

Description

11
Изобретение относитс  к массоспек рометрии, а именно квадрупольчмм массоспектрометрам дл  анализ а поверности методом вторичной ионной эмис- сии.
Цель изобретени  - увеличение чувствительности энергомассоспектромет- рического анализа и сохранение массо спектрометрического разрешени  пр развертке по спектру анализируемых энергий вторичных ионов и регулировке щирины энергетического окна при энергоанализе.
Сущность предложени  состоит в том что в бесполевом пространстве над образцом путем диафрагмировани  формируют пучок анализируемых вторичных ионов в виде расход щегос  полого конического пучка, увеличивают начальную энергию ионов, ввод  их в ускор ющее ocecи шeтpичнoe электрическое поле, ввод т эти номы в диспергирующее по энерги м осесимметричное электричес- кое поле в направлении его эквипо- тенциали, значение которой равно потенциалу последней эквипотенциали ускор ющего пол , вывод т ионы анализируемого диапазона энергий из дис- пергирую1цего по энерги м пол  под углом к его граничной эквипотенциали с увеличением их энергии, а все мешающие компоненты вторично-ионного излучени  - в направлении эквипотен- циалей этого пoл j диафрагмирование выдел ют из ионов анализируемого диапазона энергий ионы в желаемом интервале энергий (энергетическом окне) ± д со средним значением их на- чальной энергии , ввод т их в осесимметричное тормоз щее фокусирующее электрическое поле и фокусируют этим полем на вход высокочастотного диспергирующего по массам гиперболического пол  квадрупольного анализатора, с торможением до значени .энергий, обеспечивающих посто нство наибольшей скорости их движени  вдоль оси анализатора, при этом изменение ширины энергетического окна, развертку по спектру начальных энергий анализируемых ионов и торможение ионов до энергий их движени  вдоль пол  анализатфра осуществл ют согласованным изменением ускор ющего, диспергирующего по энерги м и тормоз щего полей в соответствии с соотношени ми
-;(е- -J(eЛб )i &);
20
ю
15
25 30 40 с
35
V i(e +ue- с),
где V - значение граничной эквипо- тенциали ускор ющего пол ;
W - значение граничной эквипо- тенциали диспергирующего по энерги м пол ;
и - значение граничной эквипо- тенциали тормоз щего пол , равной потенциалу оси пол  анализатора; ,
е - зар д иона;
а,Ь - посто нные, св занные с -разрешением по знергии Р посредством следую1цих равенств
2 R
ь I (, - f.,,
где Wjj - значение граничной эквипотен- циали диспергирующего пол , соответствующее условию энергомассоспектрометрйчес- кого анализа частиц со средней начальной энергией Е при нулевом значении граничной потенциали V ускор ющего пол .
Поэтому выбор величин а, в осуществл етс , исход  из требуемого значени  разрешени  по энергии R,
Выбор посто нной с, как следует из физического смысла соотношени 
,
25 30 40 с
0
5
приведенного в формуле изобретени , определ етс  требованием массоспект- рометрического разрешени , максимальна  начальна  энерги  вторичных ионов, пропускаемых на масс- анализ, eU - энерги , которую эти ионы тер ют при входе в масс-анализи- рующее поле. Следовательно, физический смысл с - это максимальна  энерги  движени  ионов в направлении оси масс-анализирующего пол . Именно эта энерги  определ ет врем  движени  ионов через масс-анализирующее поле, число колебаний иона в этом поле и получаемое массоспектрометрическое разрешение.
3
В св зи с изложенным посто нные айв безразмерны, а с измер етс  в единицах энергии, например в элекрон-вольтах .
Положительньй эгЬфект состоит в следующем,
При предлагаемом способе энерго- массанализа значительно (в 100 и более раз) возрастает чувствительность , так как исходные ионы ввод т в область диспергирующего по энерги пол  не через отверстие малого диамра , а через кольцевую щель, ширина которой равна диаметру этого отверс тин, тогда как площадь во много раз превышает площадь упом нутого отверсти .
Фокусировка пучка анализируемых ионов н.а вход квадрупольного масс- анализатора, выделенных в заданном энергетическом окне и с заданной среней начальной энергией с одновременным торможением до значени  максимально допустимой энергии, обеспечи- вающей достижение требуемого массо- спектрометрического разделени , позвл ет осуществл ть развертку по энергии или увеличение ширины энергетического окна пропускаемых на масс- анализ ионов без изменени  разрешающей способности по массам.
Цель изобретени  - повышение чувс вительности устройства дл  энерго- масСоспектрометрического анализатор вторичных ионов и сохранение его массоспектрометрического разрешени  при регулировке ширины энергетического окна и развертке по спектру анали
На фиг.1 изображены источник 1 первичного ионного пучка, первичный ионный пучок 2, ана;п зируемый образец 3, квадрупольный масс-анализа- тор 4, ось 5 которого проходит через точку 6 пересечени  первичного ионного пучка с образцом, высокочас- тотный генератор 7 с парафазным выходом , где точка 8 - средн   точка 30 парафазиого выхода этого генератора , электроды 9 масс-анализатора,соединенные с клеммами парафазного выхода этого генератора, первый-конический электрод 10 энергоанализатора, Зц потенциал которого равен потенциалу образца, второй конический электрод 11 энергоанализатора, соосные входные кольцевые отверсти  -12 и 13 в указанных электродах, предназначензируемого диапазона энергий вторичных „,,; ll ...-w..., ,ч-..-о.а..„
. 40 чые дл  ввода анализируемых вторичных
ионов.
Сущность предлагаемого устройства состоит в том, что ось масс-анализатора проходит через анализируемый учас- ток образца, а энергоанализатор выпол- гоанализа нен в виде шести последовательно
установленных между образцом и масс- анализатором соосно масс-анализатору конических электродов, два первые из которых обращены вершинами к масс- анализатору и снабжены кольцевыми отверсти ми , соосными оси масс-анализатора; третий и четвертый, обращенные вершинами к образцу, имеют форму усеченных конусов, вложенных один в другой с кольцевым зазором, в который обращены упом нутые кольцевые отвер с- ти , п тый конус установлен внутри четвертого конуса, выполнен оптически
ионов в кольцевой зазор между третьим коническим электродом 14 и четвертым коническим электродом 15, между которыми расположена область 16 энеркольцевое отверстие 17 в четвертом коническом электроде, к которому обращен своей боковой поверхностью оптически прозрачный п тый конический электрод 18, отверстие 19 в тонкостенном основании четвертого конического электрода, шестой конический электрод 20, траектории 21 анализируемых ионов в энергоанализаторе , направление 22 движени  через 55 энергоанализатор мешающих высокоэнергетических частиц и излучений, а также нейтральной компоненты, корпус 23 масс-анализатора, который обычно имеет тот же потенциал, что
50
10
прозрачным, обра1цен вершиной к образцу , а боковой поверхностью к кольцевому отверстию, выполненному в четвертом конусе; шестой конус выполнен усеченным, обра1чен вершиной к масс- анализатору и установлен перед соос- ным оси масс-анализатора отверстием, выполненном в основании, которым снабжен четвертый конус; а образец электрически соединен со средней точкой парафазного выхода высокочастотного генератора через источник электрического напр жени  посто нного тока , знак полюса которого, соединенного с образцом, обратен знаку зар да анализируемых ионов.
На фиг.1 представлена конструкци  предлагаемого устройства; на фиг.2 - схема по сн юща  способ.
На фиг.1 изображены источник 1 первичного ионного пучка, первичный ионный пучок 2, ана;п зируемый образец 3, квадрупольный масс-анализа- тор 4, ось 5 которого проходит через точку 6 пересечени  первичного ионного пучка с образцом, высокочас- тотный генератор 7 с парафазным выходом , где точка 8 - средн   точка 0 парафазиого выхода этого генератора , электроды 9 масс-анализатора,соединенные с клеммами парафазного выхода этого генератора, первый-конический электрод 10 энергоанализатора, ц потенциал которого равен потенциалу образца, второй конический электрод 11 энергоанализатора, соосные входные кольцевые отверсти  -12 и 13 в указанных электродах, предназначен„ ,,; ll ...-w..., ,ч-..-о.а..„
гоанализа
ионов в кольцевой зазор между третьим коническим электродом 14 и четвертым коническим электродом 15, между которыми расположена область 16 энеркольцевое отверстие 17 в четвертом коническом электроде, к которому обращен своей боковой поверхностью оптически прозрачный п тый конический электрод 18, отверстие 19 в тонкостенном основании четвертого конического электрода, шестой конический электрод 20, траектории 21 анализируемых ионов в энергоанализаторе , направление 22 движени  через 5 энергоанализатор мешающих высокоэнергетических частиц и излучений, а также нейтральной компоненты, корпус 23 масс-анализатора, который обычно имеет тот же потенциал, что
0
5 -
и потенциал на оси масс-анализатора, Ионы с заданным средним значени- экран 24 энергоанализатора, потен-ем их начальной энергии и энерге- циал которого равен потенциалу ана-тическим отклонением от этого значе- лизируемого образца, источник 25 gни ±а Фокусируютс  на отверстие в электрического напр жени  посто нноготонкостенном плоском основании чет- тока, через который средн   точкавертого конического электрода и вво- парафазного выхода высокочастотногод тс  в область пол  шестого коничес- генератора соединена с образцом. кого электрода. В тормоз щем поле
Работа устройства происходит еле- 10шестого электрода ионы фокусируютс 
дующим образом.на вход масс-анализатора и одновреСфокусированный пучок первичныхменно тормоз тс  разностью потенцит ионов высокой энергии, обычно 10-aлoвq 5 U, приложенной между об- 25 кэв, направл етс  на поверхностьразцом и осью масс-анализатора анализируемого образца. Возникающие 15(фиг.2), так что их максимальна  в области бомбардировки продукты вто- энерги  движени  вдоль оси масс-ана- ричного излучени , в том числе вто-лизатора оказываетс  равной Е + и - ричные ионы, интенсивность которых-gU const. Значение этой константы относительно норм к поверхности об-задаетс  исход  из требуемой разреша- разца носит косинусоидальный харак- 20ющей способности по массам, тер, двига сь в бесполевом пространст- Положительный эффект предлагаемого ве по пр молинейным траектори м, ра-устройства по сравнению с известным диально расход тс  от области ихсостоит в следующем, возникновени  на образце. Часть этих. Существенно ( -- 10) раз- повышена продуктов поступает в кольцевое от- 25чувствительность устройства примене- верстие в первом коническом элект- .нием высокосветосильного кольцевого роде, увеличивает свою энергию в про--отверсти , ширина которого равна ди- межутке между первым и вторым коничес--аметру входного отверсти  известного кими электродами на величину еСр, eVустройства и площадь в 100 и более (фиг.2), где е - зар д частицы, V - 30раз превышает площадь его входного . потенциал на втором электроде относи отверсти , а также применением опти- тельно образца, и вводитс  в областьки энергоанализатора, пропускающей диспергирующего по энерги м пол  меж-без потерь ионы в полном угле 21Г . ду третьим и четвертым коническими Улучшена экранировка входа квад- электродами. Вторичные ионы анализи- 35 рупольного анализатора от частиц руемого диапазона энергий отклон ютс высоких энергий, излучений и нейт- этим полем к четвертому коническому .ральной компоненты. Вли ние этих ком- электроду, увеличива  свою энергиюпонент значительно снижено, когда относительно начального ее значени геометри  энергоанализатора (выбором на в еличину e(((f.) eW, где W - 40ширины входного кольцевого отверсти , потенциал на .четвертом коническома также длины третьего и четвертого электроде относительно образца, аконических электродов и ширины зазо- вывод тс  под углом к этому электродура между ними) обеспечивает опти- в щелевое отверстие в нем в направ-ческую затененность рабочих поверх- лении п того конического электрода, 45ностей третьего и четвертого кони- который выполнен оптически прозрач-ческих электродов относительно точки ным и играет вспомогательную роль,пересечени  первичного ионного пуч- позвол   уменьшить угол наклона ион-ка с образцом, как это показано «а ных траекторий относительно оси энер-фиг.1. Это практически исключает так- тоанализатора в цел х улучшени  ка- 50же запыление внутренних поверхностей чества фокусировки ионов на отверс-энергоанализатора, возникновение эф- тие в торце четвертого коническогофектов пам ти и зар дки этих поверх электрода. При этом мешающие высоко-ностей.
энергетические частицы излучени  и Обеспечена неизменность массонейтральна  компонента вывод тс  че- 55спектрометрического разрешени  при
рез щелевой зазор меаду третьим исканировании по спектру начальных
четвертым коническими электродами,энергий ионов и изменению энергетичем исключаетс  их вли ние на процесс ческого разброса вторичных ионов,
энергомассоанализа.пропускаемых на масс-анализ.
7
В испытываемом макете предлагаемого устройства потенциалы на его электродах (фиг.2), при которых обеспечиваетс  пропускание на масс-анали вторичных положительно зар женных ионов.со средней начальной энергией 15 эВ при энергетическом окне энергоанализатора -2,5 эВ и наибольшей энергии движени  ионов вдоль оси масс-анализатора, равной 5 эВ, равны (относительно образца): на первом коническом электроде - потенциалу образца, на втором коническом электроде Ср, -235 В, на третьем коническом электроде с, -t-Cf i 200 В, на четвертом коническом .электроде Ч гг -535 В, на п том коническом электроде Cf -60 В, на шестом коническом электроде 19,9В, на оси и корпусе масс-.шализатора tf5 12,5В
Формула
изобретени 
1.Способ энергомассоспектрометри- ческого анализа вторичных ионов , заключающийс  в формировании в беспо- левом пространстве над образцом пучвале энергий Е -лБ, ввод т их в осесимметричное тормоз щее электрическое поле и фокусируют этим полем на вход высокочастотного диспергирующего по массам пол  квадрупольного |Масс-анализатора с торможением до значени  их энергий, обеспечивающих посто нство наиболыией скорости их движени  вдоль пол  масс-а«ализа- тора, при этом изменение ширины энергетического окна, развертку по спектру анализируемого диапазона энергий и торможение до энергий движени  ионов вдоль пол  масс-анализатора, осука вторичных ионов путем диаАрагмиро- 30 ществл ют согласованным изменением ус5
0
Ь
электрическое поле в направлении его эквипотенциали, значение которой равно потенциалу последней эквипотенциали ускор ющего пол , вывод т ионы анализируемого диапазона энергий из диспергирующего по энерги м пол  под углом к его граничной эквипотенциали (i увеличением их энергии, а нейтральную и высокоэнергетическую зар женную компоненты и излучение вывод т в направлении эквипотенциалей этого пол , диафрагмированием выдел ют из ионов анализируемого диапазона энергий ионы в исследуемом интер- +
0
5
вале энергий Е -лБ, ввод т их в осесимметричное тормоз щее электрическое поле и фокусируют этим полем на вход высокочастотного диспергирующего по массам пол  квадрупольного |Масс-анализатора с торможением до значени  их энергий, обеспечивающих посто нство наиболыией скорости их движени  вдоль пол  масс-а«ализа- тора, при этом изменение ширины энергетического окна, развертку по спектру анализируемого диапазона энергий и торможение до энергий движени  ионов вдоль пол  масс-анализатора, осу0 ществл ют согласованным изменением ус
вани , ввода этих,ионов в диспергирующее по энерги м электрическое поле , разделении их по энергии и фокусировке по начал1 ному угловому разбросу , выделении сфокусированного пуч- ка ионов с .определе-Е ной. энергией путем диафрагмировани , ввода его в диспергирующее по массам высокочастотное гиперболическое поле квадрупольного масс-анализатора, разделе- ни  в этом поле по массам, и регист.- рации ионных токов выделенных масс, отличающийс  тем, что, с целью увеличени  чувствительности энергомассоспектрометрического ана- лиза и сохранени  разрешающей способности массоспектрометрического разделени  при развертке по спектру ана-. лизируемого диапазона энергий и регулировке ширины энергетического ок- на при энергоанализе, в бесполевом пространстве над образцом формируют диафрагмированием пучок вторичных ионов в виде расход щегос  полого конического пучка, увеличивают началь- кую энергию этих ионов путем ввода в ускор ющее осесимметричное электрическое поле, ввод т ионы в диспергирующее по энерги м осесимметричнре
кор ющего, диспергирующего по энерги м и тормоз щего полей в соответствии с соотношени ми
( - а й6), W -- (-Ь- л5) ,
U -i ( ),
де V - значение граничной эквипотенциали ускор ющего пол . В;
W - значение граничной зквипо- тенциали диспергирующего по энерги м пол , Bj
и - значение граничной эквипотенциали тормоз щего пол , равной потенциалу оси пол  анализаторов. В;
е - зар д иона. К;
S - энерги  йналтизируемых ионов на выходе диспергирующего по энергии пол , Лж; а,Ь - посто нные, св занные с разрешением R по энергии, соответственно соотношени ми
2 R
|
(1
)
fo:
где W - значение W, соответствующее условию энергомассоспектро- метрического анализа частиц со средней начальной энергией при V 0; с - посто нна , задаваема ,
исход  из требований кмассо- спектрометрическому разрешению , максимальна  энерги  ионов в направлении оси масс анализующего пол . 2.Устройство дл  энергомассоспект- рометрического анализа вторичных ионов , содержащее источник дервичного пучка, держатель образца, масс-ана- лизатор, включающий четыре по еобра- зующих электрода, электрически соединенные с выходом пдрафазного высокочастотного генератора, и энергоанализатор , установленный между держа- телем образда и масс-анализатором, отличающееЪ  тем, что, с целью повьпиени  чувствительности энергетического и массоспектромет- 1рического анализа вторичных ионов, а также сохранени  разрешающей способности массоспектрЪметрического разделени  при регулировке ширины энергетического окна энергоанализатора и развертке по спектру анализируемого диапазона энергий вторичных ионов, ось масс-анализатора проходит
24
через точку пересечени  ионно-опти- ческой оси источника первичного ионного пучка с предметной плоскостью держател  образца,. энергоанализатор выполнен в виде шести последовательно установленных соосно масс-анализатору конических электродов, два первые из которых обращены вершинами к массанализатору и снабжены кольцевыми отверсти ми, соосными маос-анализато- ру, третий и четвертый, обращенные вершинами к образцу, имеют форму усечённых конусов, вложенных один
в другой с кольцевым зазором, в который обращены упом нутые кольцевые отверсти , п тый конический электрод установлен внутри четвертого, выполнен оптически прозрачным и обращен
вершиной к держателю образца, а боковой поверхностью - к кольцевому отверстию , выполненному в четвертом коническом электроде, шестой конический электрод выполнен усеченным,
обращен вершиной к масс-анализатору и установлен перед соосным оси масс- анализатора отверстием,выполненным в основании, которым снабжен четвертый конический электрод-.
Кроме того, дополнительно введен источник электрического напр жени  посто нного тока, один полюс которого со знаком, обратным знаку зар да анализируемых ионов, соединен с держателем образца, а другой полюс - со средней точкой парафазного выхода высокочастотного генератора.
/9
Фиг.}
51оfz;- -- Г22 -I
fz
- +
-u-ffco&t t
с
Г2
fz
«v
/г/
/2- Р22-н
fs(J
Физ.2

Claims (2)

  1. Формула изобретения
    1.Способ энергомассоспектрометрического анализа вторичных ионов , заключающийся в формировании в бесполевом пространстве над образцом пучка вторичных ионов путем диафрагмирования, ввода этих,ионов в диспергирующее по энергиям электрическое поле, разделении их по энергии и фокусировке по начальному угловому разб электрическое поле в направлении его эквипотенциали, значение которой равно потенциалу последней эквипотенциа5 ли ускоряющего поля, выводят ионы анализируемого диапазона энергий из диспергирующего по энергиям поля под углом к его граничной эквипотенци али С увеличением их энергии, а нейтЮ ральную и высокоэнергетическую заряженную компоненты и излучение выводят в направлении эквипотенциалей этого поля, диафрагмированием выделяют из ионов анализируемого диапазо1Ь на энергий ионы в исследуемом интервале энергий ζ - , вводят их в осесимметричное тормозящее электрическое поле и фокусируют этим полем на вход высокочастотного диспергирую20 щего по массам поля квадрупольного |Масс-анализатора с торможением до значения их энергий, обеспечивающих постоянство наибольшей скорости их движения вдоль поля масс-анализа25 тора, при этом изменение ширины энергетического окна, развертку по спект.ру анализируемого диапазона энергий и торможение до энергий движения ионов вдоль поля масс-анализатора, осу30 ществляют согласованным изменением ускоряющего, диспергирующего по энергиям и тормозящего полей в соответствии с соотношениями росу, выделении сфокусированного пучка ионов с .определенной.энергией путем диафрагмирования, ввода его в диспергирующее по массам высокочастотное гиперболическое поле квадрупольного масс-анализатора, разделе- до ния в этом поле по массам, и регист,рации ионных токов выделенных масс, отличающийся тем, что, с целью увеличения чувствительности энергомассоспектрометрического ана- 45 лиза и сохранения разрешающей способности массоспектрометрического разделения при развертке по спектру ана-. лизируемого диапазона энергий и регулировке ширины энергетического ок- · jq на при энергоанализе, в бесполевом пространстве над образцом формируют диафрагмированием пучок вторичных ионов в виде расходящегося полого конического пучка, увеличивают началь- 55 ную энергию этих ионов путем ввода в ускоряющее осесимметричное электрическое поле, вводят ионы в диспергирующее по энергиям осесимметричное
    V = -- (Е - а йЕ) , е
    W = -- ( £ - b Λ 8 ) , е ’ υ = -ί (ε +йЕ-с), е
    где V - значение граничной эквипотенциали ускоряющего поля, В;
    W - значение граничной эквипотенциали диспергирующего по энергиям поля, В)
    U - значение граничной эквипотенциали тормозящего поля, равной потенциалу оси поля анализаторов, В;
    е - заряд иона, К;
    S - энергия анализируемых ионов на выходе диспергирующего по энергии поля, Дж;’ а,Ь - постоянные, связанные с разрешением R по энергии, соответственно соотношениями
    2 а = R ) Ео . ’ 5
    через точку пересечения ионно-оптической оси источника первичного ионного пучка с предметной плоскостью держателя образца,, энергоанализатор выполнен в виде шести последовательно где WQ - значение W, соответствующее условию энергомассоспектрометрического анализа частиц со средней начальной энергией £ = ЕО при V = 0;
    с - постоянная, задаваемая, исходя из требований к массоспектрометрическому разрешению, максимальная энергия ионов в направлении оси массаналйзующего поля.
  2. 2.Устройство для энергомассоспект-.
    рометрического анализа вторичных ио нов, содержащее источник первичного пучка, держатель образца, масс-анализатор, включающий четыре полеобра зующих электрода, электрически сое диненные
    с. выходом парафазного высо кочастотного генератора, и энергоана лизатор, установленный между держателем образца и масс-анализатором, отличающееся тем, что, с' целью повышения чувствительности энергетического и массоспектромет'ричес.кого анализа вторичных ионов, а также сохранения разрешающей способности массоспектрометрического разделения при регулировке ширины энергетического окна энергоанализа тора и развертке по спектру анализируемого диапазона энергий вторичных установленных соосно масс-анализатору конических электродов, два первые из которых обращены вершинами к масс10 анализатору и снабжены кольцевыми отверстиями, соосными масс-анализатору, третий и четвертый, обращенные вершинами к образцу, имеют форму усечённых конусов, вложенных один 15 в другой с кольцевым зазором, в который обращены упомянутые кольцевые отверстия, пятый конический электрод установлен внутри четвертого, выполнен оптически прозрачным и обращен 20 вершиной к держателю образца, а боковой поверхностью - к кольцевому отверстию, выполненному в четвертом коническом электроде, шестой конический электрод выполнен усеченным, 25 обращен вершиной к масс-анализатору и установлен перед соосным оси массанализатора отверстием,выполненным в основании, которым снабжен четвертый конический электрод.
    Кроме того, дополнительно введен источник электрического напряжения постоянного тока, один полюс которого со знаком, обратным знаку заряда 35 анализируемых ионов, соединен с держателем образца, а другой полюс со средней точкой парафазного выхода ионов, ось масс-анализатора проходит высокочастотного генератора.
    I
SU864135685A 1986-07-04 1986-07-04 Способ энерго-масс-спектрометрического анализа вторичных ионов и устройство дл энергомасспектрометрического анализа вторичных ионов SU1460747A1 (ru)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
SU864135685A SU1460747A1 (ru) 1986-07-04 1986-07-04 Способ энерго-масс-спектрометрического анализа вторичных ионов и устройство дл энергомасспектрометрического анализа вторичных ионов

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
SU864135685A SU1460747A1 (ru) 1986-07-04 1986-07-04 Способ энерго-масс-спектрометрического анализа вторичных ионов и устройство дл энергомасспектрометрического анализа вторичных ионов

Publications (1)

Publication Number Publication Date
SU1460747A1 true SU1460747A1 (ru) 1989-02-23

Family

ID=21263245

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
SU864135685A SU1460747A1 (ru) 1986-07-04 1986-07-04 Способ энерго-масс-спектрометрического анализа вторичных ионов и устройство дл энергомасспектрометрического анализа вторичных ионов

Country Status (1)

Country Link
SU (1) SU1460747A1 (ru)

Non-Patent Citations (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Title
Авторское свидетельство СССР № 1138856, кл. Н 01 J 49/30, 1985. Int.J.Mass Spectrom.Ion Physics, 1973, v .II, № 1, p. 23-25. *

Similar Documents

Publication Publication Date Title
US5814813A (en) End cap reflection for a time-of-flight mass spectrometer and method of using the same
US7531793B2 (en) Tandem mass spectrometry system
US5166518A (en) Mass spectrometer with electrostatic energy filter
DE3913965A1 (de) Direkt abbildendes sekundaerionen-massenspektrometer mit laufzeit-massenspektrometrischer betriebsart
GB1145107A (en) Ion beam microanalyser
CA2055609A1 (en) Charged-particle energy analyzer and mass spectrometer incorporating it
US4556794A (en) Secondary ion collection and transport system for ion microprobe
Liebl Design of a combined ion and electron microprobe apparatus
CN1816383B (zh) 质谱仪和相关的离子发生器及方法
US4952803A (en) Mass Spectrometry/mass spectrometry instrument having a double focusing mass analyzer
US4146787A (en) Methods and apparatus for energy analysis and energy filtering of secondary ions and electrons
US4924090A (en) Double focusing mass spectrometer and MS/MS arrangement
Beynon et al. A novel, double-focusing spectrometer for translational-energy-loss spectroscopy
US5095208A (en) Charged particle generating device and focusing lens therefor
GB1533526A (en) Electro-static charged particle analyzers
SU1460747A1 (ru) Способ энерго-масс-спектрометрического анализа вторичных ионов и устройство дл энергомасспектрометрического анализа вторичных ионов
JPS6334844A (ja) 絶縁材料のイオン分析方法および装置
US3733483A (en) Electron spectroscopy
EP0551999A1 (en) Mass spectrometry systems
US4171482A (en) Mass spectrometer for ultra-rapid scanning
RU2144237C1 (ru) Оптическая колонка для излучения частиц
US3217161A (en) Electrode means to electrostatically focus ions separated by a mass spectrometer on a detector
CN109767971A (zh) 二维离子束偏转装置
CN203481184U (zh) 一种脉冲式离子源及质谱仪
Krasnova et al. Cone electrostatic energy analyser, used for concurrent energy-and angle-resolved measurements