SU1442892A2 - Способ контрол дефектов поверхности - Google Patents

Abstract

Изобретение предназначено дл  -контрол  и распознавани  различных рельефных дефектов на детал х, например , типа тел вращени . Цель изобретени  - обеспечение возможности распознавани  дефектов различных типов. Возможность распознавани  типов дефектов обеспечиваетс  тем, что импульсы подсчитывают параллельно на каждом элементарном участке контролируемой поверхности, на каждой паре элементарных участков, на каждой четверке элементарных участков и т.д., сравнивают параллельно результаты счета на соседних элементарных участках , на соседних парах элементарных участков, на соседних четверках элементарных участков и т.д., набор текущих разностей результатов счета периодически сравнивают с эталонными наборами, соответству 01цими типичны; дефектам, по количеству фактов по влени  сигналов о различных дефектах за весь цикл контрол  детали делают окончательный вывод о типе и размерах имеющихс  дефектов, что представл ет собой анализ вычислительными средствами рельефных дефектов по их спектрам пространственных частот, осуществл емый по ходу линии развертки. 1 ил. с J

Description

Изобретение относитс  к контрольно-измерительной технике, может быть использовано дл  контрол  различных рельефных поверхностных дефектов на детал х, например, типа тел вращени  и  вл етс  усовершенствованием способа по авт.св. № 1275273,

Цель изобретени  - обеспечение возиожности распознйвани  дефектов различных типов.

На чертеже представлена схема устройства дл  реализации способа контрол  дефектов поверхности.

Контролируемой детали сообщают движени  развертки, в случае цилиндрической детали - это вращение и осевое перемещение (развертка по винтовой линии). На копт ролируемую поверхность направл ют импульсное свето- диодное излучение, причем каждый элементарный участок поверхности освещают поочередно под различными углами. Отраженное от поверхности излучение

Результаты счета сравнивают с результатами счета на соседнем участке поверхности отдельно дл  каждого счетчика: дл  первого счетчика берут соседние элементарные участки, дл  второго - соседние пары элементарных участков, дл  третьего - соседние учетверенные элементарные участки и т.д. Разности, полученные в результате сравнени  обновл ютс  с кажды.м циклом контрол  элементарного участка первого , через два цикла - дл  второго, через reтыpe цикла - дл  третьего и т.д. Набор четырех разностей после завершени  каждого цикла контрол  элементарного участка сравнивают с эталонными наборами , которые создаютс  путем предва- рктельного изучени  образцов дефектных деталей и осреднени  результатов . Сравнение можно производить но различным алгоритмам, например, провер   расположение разностей в пор д

регистрируют фотоприемником. Электри-25 ке возрастани  и величины отклонений

ческий сигнал фотоприем1шка подвергают пороговой обработке, выдел   тем уровень засветки, превышающий некоторую вааичину. Полученный сигнал в двоичной форме преобразуют затем в последовательность импульсов с частотой изменени  углов падени  светодиодного излучени , Количество поступающих импульсов подсчитывают, при- че подсчет ведут одновременно .(параллельно ) несколькими, например четырьм , счетчиками. С помощью первого счетчика считают количество импульсов за врем  контрол  одного элементарного уч.астка контролируемой по- 40 сортировки детален или дл  вьшвлеии 

верхности, с помощью которого считают числ.о импульсов за врем  контрол  двух элементарных участков поверхности (Б течение этого времени первый счетчик совершает два цикла счета), с помощью третьего счетчика считают число импульсов за врем  контрол  четырех элементарных участков (за это врем  первый счетчик соверщает четыре цикла счета, второй счетчик - два цикла удвоенной длительности), с помощью четвертого счетчика считают импульсы за врем  контрол  восьми эле -1ентарных участков поверхности (за зтс врем  первый счетчик совершает осемь циклов счета, второй - четыре цикла удвоенной длительности, третий - .1;ва учетверен гьгх ци1спа сче- та).

полученных разностей от эталонных, В результате сравнени  выдвигают гипотезу о I ринадлажности текущего набора разностей определенному типу дефекта или дают заключение об отсутствии дефекта на данном участка контролируемой поверхности. За врем  - контрол  всей поверхности раздельно подсчитывают количество одинаковых гипотез, поступающих через каждь й оборот детали, и группируют их определени  размеров дефектов и их осевой координаты. Полученна  информаци  может быть использована дл 

5

0

5

систематического по влени  брака какого-либо ВИДс.

Таким образом, распознавание типов дефектов ведут путем сравнени  наборов текущих разностей с эталонными наборами, которые можно рассматривать как спектры пространстзениых частот рельефа дефектов по ходу линии развертки , причем анализ спектров осуществл етс  чисто электронными вычислительными средствами без каких-либо фильтров.

Устройство дл  реапизации способа содержит генератор I импульсов, распределитель 2 иьпгульсов, гюдключен- ный к выходу генератора 1, светодиодную матрицу 3, подключенную к выходам распределител  2, фотоприемкик 4, пороговый элемент 5, подключенный к выходу фотоприамника 4, элемент И 6, один КЗ входов которого соединен с выходом порогового элемента 5, а второй вход соединен с выходом генератора 1, четыре счетчика 7-10 импульсов, счетные входы которых объединены и подключены к выходу эле 1ента И 6, четыре линии 11-14 задержки, выходы ког торых соединены с входами установки 10 в нуль счетчиков соответственно 7-10, четыре блока 15-18 вычислени  разности , имеющие каждый свою буферную пам ть (лева  по схеме часть блоков) с информационны: .И входами и входом 15 разрешени  записи числа, делители 19- 21 частоты следовани  импульсов на два без изменени  длительности им- пупьсов, соединенные между собой последовательно , а также блок 22 срав-- 20 ени  набора текущих разностей с эта- j.энными наборами 23 разностей.

Выход одного из разр дов распределител  2 импульсов соединен с входом делител  19 частоты, с входом 25 1 1 задержки и входом разрешени  запнсд числа в пам ть блока 15. Выход делител  19 частоты соединен с входом слсдзпощегс делител  20 частоты, с вхо;;;ок линии 2 задержки и с входом 30 разрешени  запис : в пам ть блока 16. делител  20 соединен с входом следующего делител  21 частоты, с входом линии 3 задержки и с входом

разрешени  записи блока 17. Выход де- 35 каждый лител  2i св зан с входом линии 14 задержки и с входом разрешени  записи блока 8.

Входы блока 22 сравнени  подключены к выходам блоков 15-18, а выходы - к последую11и1м вычислительным устройствам (не показаны) в зависимости от конкретного использовани  информации о дефектах, например к накопителю. При этом каждый из выходов блока 22 сравнени  соответствует какому-либо одному классу дефектов, например первый - царапинам, второй - трещинам, третий - вм тинам, четвертый - забоинам и т.д.59

Импульсы ютс  распред ную матрицу поочередно. И та И 6 посту только тогда емника 4 пре Состо ни  сч ваютс  в буф ветственно 1 HiiH импульсов распределител делителей i с  счетчики п сами, задерж Таким образом счетчиком 7 м вует времени тарного учас счета вторым больше и соо рол  двух эл врем  счета четыре раза ком 10 - в Е цикл контр ка сьген етс  вычислени  р ла - выходно четыре цикла восемь цикло Сравнение на с эталонными

Формул

40

45

Способ ко ности по авт ч а ю щ и и распознаван11 пов, параллел сов на каждо контролируем вают и myльc стках, где т параллельно ченньп набор зультатов сч 1ШМИ наборам нени  суд т тов.

Устройство работает следующим образом .

каждый

Импульсы генератора 1 распредел ютс  распределителем 2 на светодиодную матрицу 3, включа  светодиодл поочередно. Импульсы с выхода элемента И 6 поступают на счетчики 7-10 только тогда, когда засветка фотоприемника 4 превышает заданный порог. Состо ни  счетчиков 7-10 перезаписываютс  в буферную пам ть блоков соответственно 15-18 в моменты поступле- HiiH импульсов с ОДНОГО иэ выходов распределител  2 и выходов цепочки делителей i9-2 частоты, а обнул ютс  счетчики после перезаписи иг-отуль- сами, задержанными в лини х 11-14. Таким образом, врем  счета первым . счетчиком 7 мин имально и соответствует времени контрол  одного элементарного участка поверхности,,, врем  счета вторым счетчиком 8 в два раза больше и соответствует времеш контрол  двух элементарных участков, врем  счета третьим счетчиком 9 в четыре раза больше, четвертым счетчиком 10 - в Еосемь раз. Через каждап : цикл контрол  элементарг ого участка сьген етс  выходной сигнал блока i5 вычислени  разности, через два ц.ик- ла - выходной сигнал блока 16. чер еч четыре цикла - сигнал блока 17, чере: восемь цикло в - сигнал блока 18. Сравнение наборов текупдах разностей с эталонными наборами производитс  цикл.

Claims (1)

1. Формула изобретени 

   Способ контрол  дефектов поверхности по авт. св. № «275273, о т л и ч а ю щ и и с   тем, что, с целью распознаван11  дефектов различных типов , параллельно с подсчетом импульсов на каждом элементарном участке контролируемой.поверхности подсчитывают и myльcы на 2т элементарных участках , где ,2,4,85...f сравнивают параллельно результаты счета,- полу- ченньп набор текущих разностей результатов счета срав 1ивают с эталон- 1ШМИ наборами и по результатам сравнени  суд т о типе и размерах дефектов .