SU1420428A1 - Apparatus for checking image quality in optical systems - Google Patents

Apparatus for checking image quality in optical systems Download PDF

Info

Publication number
SU1420428A1
SU1420428A1 SU864162424A SU4162424A SU1420428A1 SU 1420428 A1 SU1420428 A1 SU 1420428A1 SU 864162424 A SU864162424 A SU 864162424A SU 4162424 A SU4162424 A SU 4162424A SU 1420428 A1 SU1420428 A1 SU 1420428A1
Authority
SU
USSR - Soviet Union
Prior art keywords
hartmann
diaphragm
sources
lighting system
photographic plate
Prior art date
Application number
SU864162424A
Other languages
Russian (ru)
Inventor
Илья Петрович Агурок
Михаил Наумович Сокольский
Борис Яковлевич Герловин
Владимир Владимирович Усоскин
Владимир Петрович Трегуб
Original Assignee
Предприятие П/Я А-1705
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Предприятие П/Я А-1705 filed Critical Предприятие П/Я А-1705
Priority to SU864162424A priority Critical patent/SU1420428A1/en
Application granted granted Critical
Publication of SU1420428A1 publication Critical patent/SU1420428A1/en

Links

Landscapes

  • Spectrometry And Color Measurement (AREA)

Abstract

Изобретение относитс  к оптическому приборостроению и может быть использовано как дл  контрол  крупногабаритных систем с диаметром входного зрачка до 2-3 м, так и микрооптики. Цель изобретени  - расширение спектрального диапазона контрол  качества изображени  оптических систем путем определени  полихроматических волновых .аберраций. Цель достигаетс  тем, что в устройстве дл  контрол , состо щем из осветительной системы, диафрагмы Гартма- на и фотопластины, осветительна  система выполнена в виде трех точечных источников, один из которых создает излучение с длиной волны JLi, а два других - с длиной волны Кч. Источники расположены в плоскости , параллельной диафрагме Гартмана, в вершинах равностороннего треугольника со стороной (У а, где а - рассто ние от плоскости источников до фотопластины; а - апертурный угол осветительной системы элемента диафрагмы Гартмана, причем К и 2 соответствуют границам спектрального диапазона . 1 ил. & (ЛThe invention relates to optical instrumentation and can be used both to control large-sized systems with an entrance pupil diameter of up to 2-3 m, and micro-optics. The purpose of the invention is to expand the spectral range of image quality control of optical systems by determining polychromatic wave aberrations. The goal is achieved by the fact that in a control device consisting of a lighting system, a Hartmann diaphragm and a photographic plate, the lighting system is made up of three point sources, one of which generates radiation with a wavelength JLi . Sources are located in a plane parallel to the Hartmann diaphragm, at the apexes of an equilateral triangle with a side (Y a, where a is the distance from the source plane to the photoplate; a is the aperture angle of the lighting system of the Hartmann aperture element, and K and 2 correspond to the boundaries of the spectral range. 1 Il. & (L

Description

иand

юYu

РR

И toAnd to

0000

Изобретение относитс  к оптическому приборостроению и может быть использовано дл  контрол  качества изображени  оптических систем, ошибок изготовлени , сборки и юстировки узлов и изделий в целом.The invention relates to optical instrumentation and can be used to control the image quality of optical systems, manufacturing errors, assembly and alignment of components and products in general.

Цель изобретени  - создание устройства дл  контрол  качества изображени  оптических систем, позвол ющего измер ть характеристики качества в широкой области спектра.The purpose of the invention is to provide a device for monitoring the image quality of optical systems, allowing measurement of quality characteristics in a wide spectral region.

с источником А, а расход ш,ийс  пучок регистрируетс  на фотопластине 9. Поскольку расфокусировка значительна  по величине , то на фотопластине образуетс  набор п тен (гартманограмма), подобный набору отверстий на диафрагме 7. Аналогичен ход лучей дл  двух других источников свет В, С. Их изображени  в точках S и С, а на фотопластине образуютс  еще две гартмано- граммы. Все эти три гартманограммы отWith source A, and flow rate w, the iy beam is recorded on photographic plate 9. Since the defocusing is significant, a set of spots (hartmanogram) is formed on the photographic plate, similar to the set of holes on the diaphragm 7. The light of the two other sources is similar to B, C Their images at points S and C, and two more Hartmannograms are formed on the photographic plate. All these three hartmanograms are from

На чертеже показана схема предлагаемо- 10 трех источников не накладываютс  одна на г6 устройства.другую и экспонируютс  одновременно.The drawing shows a diagram of the proposed 10 three sources are not superimposed one on the r6 device. Another one and are exhibited simultaneously.

: Устройство содержит осветительную систему , состо щую из лампы 1 накаливани , конденсора 2 и трех точечных источников 3, перед которыми установлены интерферен- -с ционные фильтры 4 и 5, выдел ющие излучение с длинами волн Я| и К.: The device contains an illumination system consisting of an incandescent lamp 1, a condenser 2, and three point sources 3, in front of which are installed interfering radiation filters 4 and 5, which emit radiation with wavelengths I | and K.

Источники расположены в фокальной плоскости контролируемой системы 6. Диафрагма Гартмана 7 установлена между системой 6 и плоским зеркалом 8. В расфо- 20 системой фотопластинку, отличающеес  тем, кусированной плоскости, смещенной на вели-что, с целью обеспечени  контрол  качестваThe sources are located in the focal plane of the system 6 under control. A Hartmann aperture 7 is installed between system 6 and a flat mirror 8. In a photo system, a photographic plate, characterized by a planed plane shifted by wired or what, to ensure quality control

чину а от фокальной плоскости системы 6,изображени  в широкой области спектра,order a from the focal plane of system 6, images in a wide spectral region,

установлена фотопластина 9, на которой об-осветительна  система выполнена в видеPhotoplate 9 is installed, on which the lighting system is designed as

разуетс  гартманограмма.трех точечных источников, один из которыхa hartmanogram is being developed. three point sources, one of which

Устройство работает следующим образом. создает излучение длиной волны |, а дваThe device works as follows. generates radiation with a wavelength of |, and two

Claims (1)

Формула изобретени Invention Formula Устройство дл  контрол  качества изображени  оптических систем, включающее осветительную систему и установленные последовательно по ходу луча перед контролируемой оптической системой диафрагму Гартмана, а за контролируемой оптическойA device for controlling the image quality of optical systems, including the lighting system and installed in series along the beam in front of the controlled optical system the Hartmann diaphragm, and beyond the controlled optical Излучение от точечного источника после прохождени  системы 6 выходит параллельным пучком, проходит диафрагму Гартмана 7, отражаетс  от плоского зеркала 8, вторично проходит диафрагму 7 и фокусидругих длиной волны Я.2, размещенных в плоскости, параллельной диафрагме Гартмана , по углам равностороннего треугольника со стороной , где а - рассто ние от плоскости источников до фотопластины.Radiation from a point source after passing through the system 6 is emitted by a parallel beam, passes a Hartmann diaphragm 7, is reflected from a flat mirror 8, passes a second aperture 7 and focuses the other wavelengths I.2, located in a plane parallel to the Hartmann diaphragm, at the corners of an equilateral triangle with a side, where a is the distance from the source plane to the photoplate. руетс  системой 6 в ее фокальной плос- ЗО - апертурный угол осветительной сис- кости, например в точке Л , сопр женной темы элемента диафрагмы Гартмана.The system 6 is located in its focal plane — 30 — the aperture angle of the lighting system, for example, at point L, of the conjugate theme of the Hartmann aperture element. с источником А, а расход ш,ийс  пучок регистрируетс  на фотопластине 9. Поскольку расфокусировка значительна  по величине , то на фотопластине образуетс  набор п тен (гартманограмма), подобный набору отверстий на диафрагме 7. Аналогичен ход лучей дл  двух других источников свет В, С. Их изображени  в точках S и С, а на фотопластине образуютс  еще две гартмано- граммы. Все эти три гартманограммы отWith source A, and flow rate w, the iy beam is recorded on photographic plate 9. Since the defocusing is significant, a set of spots (hartmanogram) is formed on the photographic plate, similar to the set of holes on the diaphragm 7. The light of the two other sources is similar to B, C Their images at points S and C, and two more Hartmannograms are formed on the photographic plate. All these three hartmanograms are from трех источников не накладываютс  одна на другую и экспонируютс  одновременно.the three sources do not overlap one another and are exposed simultaneously. системой фотопластинку, отличающеес  тем, что, с целью обеспечени  контрол  качестваA photographic plate system, characterized in that, in order to ensure quality control Формула изобретени Invention Formula Устройство дл  контрол  качества изображени  оптических систем, включающее осветительную систему и установленные последовательно по ходу луча перед контролируемой оптической системой диафрагму Гартмана, а за контролируемой оптическойA device for controlling the image quality of optical systems, including the lighting system and installed in series along the beam in front of the controlled optical system the Hartmann diaphragm, and beyond the controlled optical создает излучение длиной волны |, а дваgenerates radiation with a wavelength of |, and two других длиной волны Я.2, размещенных в плоскости, параллельной диафрагме Гартмана , по углам равностороннего треугольника со стороной , где а - рассто ние от плоскости источников до фотопластины.other wavelengths Я.2, located in a plane parallel to the Hartmann diaphragm, at the corners of an equilateral triangle with a side, where a is the distance from the plane of the sources to the photoplate. - апертурный угол осветительной сис- темы элемента диафрагмы Гартмана. - the aperture angle of the illumination system of the Hartmann aperture element. 99 i к бС у i to bs y Составитель Е. Лыкашева Редактор А. ДолиничТехред И. ВересКорректор Г. РешетникCompiler E. Lykasheva Editor A. DolinichTekhred I. VeresKorrector G. Reshetnik Заказ 4320/45Тираж 847ПодписноеOrder 4320/45 Circulation 847 Subscription ВНИИПИ Государственного комитета СССР по делам изобретений и открытийVNIIPI USSR State Committee for Inventions and Discoveries 113035, Москва, Ж-35, Раушска  наб., д. 4/5 Производственно-полиграфическое предпри тие, г. Ужгород, ул. Проектна , 4113035, Moscow, Zh-35, Raushsk nab. 4/5 Production and printing company, Uzhgorod, ul. Project, 4 5five ъ /ъ /
SU864162424A 1986-12-16 1986-12-16 Apparatus for checking image quality in optical systems SU1420428A1 (en)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
SU864162424A SU1420428A1 (en) 1986-12-16 1986-12-16 Apparatus for checking image quality in optical systems

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
SU864162424A SU1420428A1 (en) 1986-12-16 1986-12-16 Apparatus for checking image quality in optical systems

Publications (1)

Publication Number Publication Date
SU1420428A1 true SU1420428A1 (en) 1988-08-30

Family

ID=21273285

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
SU864162424A SU1420428A1 (en) 1986-12-16 1986-12-16 Apparatus for checking image quality in optical systems

Country Status (1)

Country Link
SU (1) SU1420428A1 (en)

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US5108174A (en) * 1989-11-10 1992-04-28 Essilor International Cie Generale D'optique Method and device for determining lens characteristics including its power
US5825476A (en) * 1994-06-14 1998-10-20 Visionix Ltd. Apparatus for mapping optical elements

Non-Patent Citations (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Title
Витриченко Э. А. Методы исследовани астрономической оптики, М.: Наука, 1980, с. 24. Оптический нроизводственный контроль п/р Малакары. М.: Машиностроение, 1985. *

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US5108174A (en) * 1989-11-10 1992-04-28 Essilor International Cie Generale D'optique Method and device for determining lens characteristics including its power
US5825476A (en) * 1994-06-14 1998-10-20 Visionix Ltd. Apparatus for mapping optical elements

Similar Documents

Publication Publication Date Title
US4123172A (en) Comparison type colorimeter
US4614974A (en) Range finding system suited for video camera
SU1420428A1 (en) Apparatus for checking image quality in optical systems
EP0022506A1 (en) Optical measuring apparatus
SU1080076A1 (en) Manifold-type gas analyzer
SU1368623A1 (en) Interferometer for checking shape of concave optical aspherical surfaces
US3394628A (en) Light measuring apparatus
SU1157349A2 (en) Device for checking optical cat's eyes
SU1080030A1 (en) Device for evaluating blinding effect of light sources
SU1642434A1 (en) Device for testing photographic camera autofocusing system
SU1182301A1 (en) Test object with regulated contrast
SU819595A1 (en) Device for measuring optical characteristics of camera tubes
SU440568A1 (en) Three-channel cytophotometer
SU1359663A1 (en) Interferometer for checking cylindrical surfaces
SU1268948A1 (en) Device for checking angular parameters of plane-parallel plates
SU1130747A2 (en) Raster spectrometer having selective modulation
SU724994A1 (en) Meter of transmittance of optical paths
SU853379A1 (en) Fourier spectrometer illuminator
CN117666160A (en) Super-resolution imaging device and super-resolution imaging system
SU1627829A1 (en) Interferometer for checking aspherical surface of second order
SU1441208A1 (en) Spectrograph
US1637294A (en) Apparatus for obtaining three-color photographs
SU1245877A1 (en) Method of determining sphericity of mirror
SU1543380A1 (en) Episcope
SU529362A1 (en) Interferometer for studying the quality of surfaces and aberrations of large-sized optical elements and transparent inhomogeneities