SU1416897A1 - Автоматический рефрактометр альтернирующего света - Google Patents
Автоматический рефрактометр альтернирующего света Download PDFInfo
- Publication number
- SU1416897A1 SU1416897A1 SU807771316A SU7771316A SU1416897A1 SU 1416897 A1 SU1416897 A1 SU 1416897A1 SU 807771316 A SU807771316 A SU 807771316A SU 7771316 A SU7771316 A SU 7771316A SU 1416897 A1 SU1416897 A1 SU 1416897A1
- Authority
- SU
- USSR - Soviet Union
- Prior art keywords
- plane
- light
- cuvette
- diaphragm
- differential
- Prior art date
Links
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N21/00—Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
- G01N21/17—Systems in which incident light is modified in accordance with the properties of the material investigated
- G01N21/41—Refractivity; Phase-affecting properties, e.g. optical path length
- G01N21/4133—Refractometers, e.g. differential
Landscapes
- Physics & Mathematics (AREA)
- Health & Medical Sciences (AREA)
- Life Sciences & Earth Sciences (AREA)
- Chemical & Material Sciences (AREA)
- Analytical Chemistry (AREA)
- Biochemistry (AREA)
- General Health & Medical Sciences (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Immunology (AREA)
- Pathology (AREA)
- Investigating Or Analysing Materials By Optical Means (AREA)
- Optical Measuring Cells (AREA)
Abstract
Изобретение относитс к области рефрактометрических измерений проточных веществ, в частности дл контрол процесса и хроматографичес- ких анализов. Цель - упрощение устройства и повышение точности измерений коэффициента преломлени . Через дифференциальную кювету проходит один параллельный световой пучок и последующее разделение производитс так, что на одном приемнике попеременно возникают два световых п тна из которых одно имеет интенсивность, завис щую от отклонени , в то врем , как интенсивность другого, вл ющегос сравнительным, не зависит от отклонени . 1 з.п. ф-лы, 2 ил.
Description
О) 00
со
11
Изобретение относитс к рефрактометрическим измерени м поточных веществ , в частности дл контрол процесса и хроматогрифических анализов в химий, биологии, медицине, в сельском хоз йстве, пищевой промьшшеннос ти и промышленности напитков.
Рефрактометры По принципу отклонени содержат дифференциальную кювету , состо щую из двух примыкающих одно к другому призматических пространств дл исследуемого и эталонного веществ, через которые поочередно проходит световой луч. За проточным пространством находитс разделитель лучей, состо щий из стекл нной призмы , зеркала или двух наклоненных од
на к другой плоскопараллельных стек- л нн.ьп пластин, с помощью которого свет раздел етс на два пучка, попадающих на соответствующую поверхность приемника, В зависимости от величины отклонени свет попадает на один приемник больше, а на другой - меньше.
Такие устройства имеют невысокую точность измерений из-за различной чувствительности обеих поверхностей, в частности различной спектральной чувствительности, различного температурного поведени и различного старени поверхностей.
Известны также устройства с одним приемником, в которых нет этих недостатков. В одном из таких устройств (экономический патент ГДР № 47752, кл. G 01 N 21/46, 15.08.66) световой луч, отклоненный в кювете.
Источник 1 света при помощи линзы 2, за которой в плоскости Е находитс апертурна диафрагма, 3, отображаетс в плоскость E,j. Линза 4 в плоспроходит через диафрагму, размеры ко-до кости Е. отображает плоскость Е. в пе45
торой выбраны так, что в случае отклонени света пучок ограничиваетс одним из краев диафрагмы. Проход щий более узкий световой пучок через вращающуюс диафрагму с отверсти ми падает на приемник и по отклонению света можно измерить длительность светового и myльca.
реднюю фокальную плоскость Е кол- лиматорного объектива 7. Через дифференциальную кювету 8 проходит параллельный световой пучок, который отклон етс в соответствии с разностью коэффициентов преломлени в дифференциальной кювете 8. Непосредственно перед плоскостью Eg находитс полева линза 5, отображающа вместе с объективом 7 изображение плоскости Е в плоскость Е в передней части кюветы 8, причем отклонение в кювете 8 на положение изображени вли ни не оказывает. В плоскости Е находитс диафрагма 6, котора при помощи объективов 7 и 10 отображаетс в заднюю фокальную плоскость Ej объектива 10. В плоскости Е5 находитс неподвижно установленна диафрагма 11,
В этом устройстве диапазона изме- рений ограничен шириной диафрагмы и чувствительность измерений невысока.
Наиболее близким к изобретению вл етс автоматический рефрактометр альтернирующего света, включающий источник света и расположенные последовательно по ходу излучени осветительную систему, дифференциальную кювету , изображающую систему и фотоприемник (экономический патент ГДР
№ 43561, кл. G 01 J 1/02, 05.12.65).
В этом устройстве измерительный сигнал при помощи компенсационной системы , св занной с измерительным уст
ройством, используетс дл компенсации отклонени , возникающего в кювете . Компенсационна система в этом устройстве представл ет собой сложную механическую конструкцию.
Цель изобретени - упрощение устройства и повышение точности измерений .
. Поставленна цель достигаетс тем, что в автоматический рефрактометр альтернирующего света, включающий источник света и расположение последовательно по ходу излучени осветительную
систему, дифференциальную кювету, изображающую систему и фотоприемник, дополнительно введены формирующа диафрагма , переключатель пучка и измерительна диафрагма, расположенна межДУ дифференциальной кюветой и фотоприемником .
Формирующа диафрагма и переключатель пучка могут быть совмещены в единую деталь в виде диска с клиновидными секторами, соединенного .с приводом в ращенИ .
На фиг. 1 изображена оптическа система рефрактометра; на фиг. 2 - вращающийс диск с клиновидными сек- торами.
Источник 1 света при помощи линзы 2, за которой в плоскости Е находитс апертурна диафрагма, 3, отображаетс в плоскость E,j. Линза 4 в плоскости Е. отображает плоскость Е. в пе5
Q
реднюю фокальную плоскость Е кол- лиматорного объектива 7. Через дифференциальную кювету 8 проходит параллельный световой пучок, который отклон етс в соответствии с разностью коэффициентов преломлени в дифференциальной кювете 8. Непосредственно перед плоскостью Eg находитс полева линза 5, отображающа вместе с объективом 7 изображение плоскости Е в плоскость Е в передней части кюветы 8, причем отклонение в кювете 8 на положение изображени вли ни не оказывает. В плоскости Е находитс диафрагма 6, котора при помощи объективов 7 и 10 отображаетс в заднюю фокальную плоскость Ej объектива 10. В плоскости Е5 находитс неподвижно установленна диафрагма 11,
на которую падает по крайней мере часть изображени диафрагмы 6. Один край диафрагмы 11 расположен перпендикул рно направлению отклонени таким образом, что он проходит через изображение диафрагмы так, что в зависимости от величины отклонени света более или менее больша часть света мимо диафрагмы попадает на приемник 13. Линзой 12 плоскость Е, на которую отклонение света не оказывает воздействие, отображаетс на поверхность приемника, так что свет на нее падает всегда на одну и ту же поверхность и неоднородности поверхности не оказывают воздействие. Вращающийс диск альтернирующего света находитс между дифференциальной кюветой 8 и приемником 13 дл временно- го и пространственного разделени светового пучка. За приемником 13 установлен усилитель 14. Оптически активный вращающийс диск 9 с клиновидными секторами, вызывающий попеременно раз личное отклонение, находитс в параллельном ходе лучей вблизи кюветы 8,
Особенность устройства заключаетс в том, что через дифференциальную кю
вету проходит один параллельный световой пучок и последующее разделение производитс так, что на одном приемнике попеременно возникают два световых п тна, из которых одно имеет интенсивность другого, вл ющегос сравнительными , не зависит от отклонени ,
формула изобре.тени
Claims (2)
1.Автоматический рефрактометр альтернирующего света, включающий источник света и расположенные последовательно по ходу излучени осветительную систему, дифференциальную кювету, изображающую систему и фотоприемник, отличающийс тем, что,
в него дополнительно введены формирующа диафрагма, переключатель пучка и измерительна диафрагма, расположенна между дифференциальной кюветой и фотоприемником.
2.Рефрактометр по п. 1, отличающийс тем, что формирующа диафрагма и переключатель пучка совмещены в единую деталь в виде диска с клиновидными секторами, соединенного с приводом вращени .
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
DD21475679A DD237085A3 (de) | 1979-08-02 | 1979-08-02 | Automatisches wechsellichtrefraktometer |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
SU1416897A1 true SU1416897A1 (ru) | 1988-08-15 |
Family
ID=5519523
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
SU807771316A SU1416897A1 (ru) | 1979-08-02 | 1980-07-30 | Автоматический рефрактометр альтернирующего света |
Country Status (4)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPS5649941A (ru) |
DD (1) | DD237085A3 (ru) |
DE (1) | DE3028564A1 (ru) |
SU (1) | SU1416897A1 (ru) |
Families Citing this family (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
DE4123924C2 (de) * | 1991-07-19 | 1995-03-09 | Zeiss Carl Jena Gmbh | Verfahren zur Analyse von Stoffen, insbesondere Flüssigkeiten |
JP4612936B2 (ja) * | 2000-06-30 | 2011-01-12 | 三菱化学メディエンス株式会社 | 薄層クロマトグラフ用の水素炎光度分析器及び水素炎光度分析方法 |
US7027138B2 (en) * | 2004-01-29 | 2006-04-11 | Wyatt Technology Corporation | Enhanced sensitivity differential refractometer incorporating a photodetector array |
DE102007050731B3 (de) | 2007-10-22 | 2009-01-08 | Flexim Flexible Industriemesstechnik Gmbh | Durchlicht-Refraktometer |
-
1979
- 1979-08-02 DD DD21475679A patent/DD237085A3/de not_active IP Right Cessation
-
1980
- 1980-07-28 DE DE19803028564 patent/DE3028564A1/de not_active Withdrawn
- 1980-07-30 SU SU807771316A patent/SU1416897A1/ru active
- 1980-07-30 JP JP10376880A patent/JPS5649941A/ja active Pending
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JPS5649941A (en) | 1981-05-06 |
DE3028564A1 (de) | 1981-02-19 |
DD237085A3 (de) | 1986-07-02 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
US4099872A (en) | Fluorescence spectrophotometer | |
US4451147A (en) | Refractometer | |
US4541688A (en) | Optical beam splitters | |
JPS6318166B2 (ru) | ||
US3518014A (en) | Device for optically scanning the object in a microscope | |
SU1416897A1 (ru) | Автоматический рефрактометр альтернирующего света | |
US3888589A (en) | Reflection grating optical odometer | |
JPH10318924A (ja) | パルスレーザを備えた光学装置 | |
US3347129A (en) | Photoelectric range finder | |
JP2011220903A (ja) | 屈折率測定方法および屈折率測定装置 | |
SU1130747A2 (ru) | Растровый спектрометр с селективной модул цией | |
US1143675A (en) | Hemoglobinometer. | |
US3394628A (en) | Light measuring apparatus | |
SU1104362A1 (ru) | Интерферометр дл контрол качества оптических поверхностей | |
JPH0718791B2 (ja) | 示差屈折率計 | |
Herriott | V Some Applications of Lasers to Interferometry | |
US1959549A (en) | Polarization photometer | |
RU1805347C (ru) | Фотометр-флуориметр-нефелометр | |
SU1753376A1 (ru) | Оптическое устройство регистрации зонального и интегрального светопропускани и отражени в оптическом образце | |
JPS5859418A (ja) | 合焦検出装置 | |
SU517836A1 (ru) | Автоматический рефрактометр | |
RU2087878C1 (ru) | Интерферометр атмосферной когерентности | |
SU920367A1 (ru) | Интерферометр дл контрол вогнутых сферических поверхностей | |
SU1046622A1 (ru) | Осветительное устройство спектрофотометра | |
SU34183A1 (ru) | Спектрофотометр |