SU1352207A1 - Ультразвуковой способ контрол шероховатости поверхности издели - Google Patents

Abstract

П:юбретенис относитс  к области измерени  1иеро.ховатости иоверхностей, 11е, 1ыо изобретени   вл ютс  иовын1ение точности и расипфение OO.IISCTH п имеиснп  1имсд- ствие обеспечени  возможносги контрол  из де, П1Й и.з материален С бo.llvии i к(Г:и1к{1и- циентом затухани  и oTC rpoiiKH от дифракционных эффектов и iC - } } - качсства акустического контакта б,1агода|1  H3N:epe- нию максима, ibHoii амн, нмну.льса структурногч) И1ума в нрид()1по11 .(оно. Импульс у,т1 тразвуковых Ko. ie6ainiii ir-i.u Haior в изле, через контро.чирх кмцч lo ч() ность н нринимают доннь ; ахо - ,.ii)C и нлп1у, П)СЫ структурного . 11з им1 к)т амп, пггуды донного , ii,ca ji л аксималь- ного нмпу,тьса структурн()го Hiyva н нридон- Hoii области, а высоту iieposiHOCTeii KOHi poЛНруеМО поверхности OniUMC/lHiOT но ТН()шению измеренных амн. штуд с х четом конкретного 1атерна,та ii то.чнип ы контро, мого изде.ш . 2 ил. U5

Description

Изобретение относитс  к измерению шероховатости поверхностей и может быть использовано при контроле высоты неровностей поверхности различных изделий, например отливок из чугуна.

Целью изобретени   вл етс  повышение точности и расширение области применени  за счет обеспечени  возможности контрол  изделий, на которых невозможно получить второй донный эхо-импульс ультразвуковых (УЗ) колебаний, с меньшей зависимостью результатов измерений от дифракционных эффектов и нестабильности акустического контакта.

На фиг. 1 представлена временна  развертка эхо-сигналов, полученных в результате излучени  в контролируемое изделие импульса УЗ-колебаний; на фиг. 2 - эмпирическа  зависимость высоты h неровностей от отно1пени  A.I/AJII измер емых амплитуд.

В изделие через контролируемую поверхность излучают импульс УЗ-колебаний. Прини.мают импульс УЗ-колебани , отраженный донной поверхностью и возвращаюший- с  к контролируемой поверхности через врем  ti от посылки зондируюш.его импульса, и УЗ-импульсы структурного шума. Измер ют амплитуду Ал донного импульса и амплитуду AUI .максимального импульса структурного шума в интервале времени длительностью , равной длительности Сч донного сигнала , причем начало этого интервала отстоит от посылки зондируюшего импульса на врем  t.-i-Ci, и определ ют высоту h неровностей контролируемой поверхности издели  но зависимости

Аа/йш

h а(10 Ь)+С, где а, b и с - коэффициенты, определ емые материалом контролируемого издели .

Ультразвуковой способ контрол  шероховатости поверхности издели  реализуетс  следующим образом.

Устанавливают на контролируе.мой но- верхности издели , напри.мер-отливке из чугуна ЖЧЮХШ, УЗ-преобразователь. Излучают в изделие через слой контактной жидкости импульс УЗ-колебаний и принимают УЗ-преобразователем отраженные в изделии эхо-сигналы. На экране УЗ-де- фектоскопа наблюдаетс  осциллограмма (фиг. 1). Измер ют длительностьч:д донного эхо-сигнала и вре.м  1д его прихода и выдел ют на временной развертке интервал, начало которого находитс  в точке .i, а конец - в точке л. Определ ют .максимальный сигнал структурного шума в выделенном временно.м интервале и из.мер ют его амплитуду Аш. Измер ют амплитуду Ад донного сигнала и вычисл ют отношение Ач/А.и измеренных амплитуд. Получив отношение А 1/А 1, определ ют высоту h неровностей контролируемой поверхности издели 

по эмпирическому графику (фиг. 2) или по зависимости

h a()+C,

0

5

0

0

5

0

5

0

где а, b и с - экспериментально определ емые коэффициенты, зави- с шие от материала контролируемого издели  и его толшины.

Увеличение высоты неровностей контактной поверхности приводит к ухудшению качества акустического контакта вследствие изменени  толщины сло  контактной жидкости , в результате чего уменьшаетс  амплитуда вошедшего в изделие сигнала и, следовательно , амплитуда донного сигнала. Однако при изменении высоты неровностей контактной поверхности интенсивность вошедшего в изделие УЗ-сигнала сохран етс  практически посто нной, а так как амплитуда структурных шумов зависит именно от интенсивности , а не от амплитуды вводимого в изделие импульса а.мплитуда Am максимального сигнала структурного шу.ма в придонной области также практически не измен етс . Таким образом, амплитуда структурного шума зависит только от материала контролируемого издели  и его толшины , что позвол ет использовать а.мплитуду АН. в качестве посто нного параметра при определении высоты неровностей контактной поверхности при использовании в качестве информативного параметра амплитуды первого донного сигнала.

Claims (1)

1. Формула изобретени 

   Ультразвуковой способ контрол  шероховатости поверхности издели , заключающийс  в том, что излучают в изделие через контролируемую поверхность импульс ультразвуковых колебаний, принимают отраженный донной поверхностью имнульс, измер ют амплитуду AI прин тых колебаний и по измеренной амплитуде определ ют высоту h неровностей контролируемой поверхности издели , отличающийс  тем, что, с целью повышени  точности и расширени  области применени , дополнительно принимают ультразвуковые импульсы структурного шума, измер ют максимальную амплитуду Аш дополнительно прин того импульса структурного шума в интервале времени, равном длительности донного и.мпульса и расположенном непосредственно перед послед- ни.м, а высоту h неровностей определ ют по зависимости

   h а(10

   Ад Ми

   -Ь)-Ьс,

   55

   где а, Ь и с - коэффициенты, определ емые материалом контролируемого издели .

   U2. l

   -35 -30 -25 -20 -f5 -Ю а6

   /7ш (Риг. 2

   „„ „.Составитель В. Гондаревский

   Заказ™27Ш34 ехред R ВересКорректор И. Муска

   ои,лыпмТираж 677Подписное

   ВНИИ11И Государственного комитета СССР по делам изобретений и открытий

   I 13035, Москва, Ж-35, Раушска  наб., д. 4/5 Производственно-полиграфическое предпри тие, г. Ужгород, ул. Проектна , 4