SU1308956A1

SU1308956A1 - Device for parameter checking of integrated circuits

Info

Publication number: SU1308956A1
Application number: SU864006065A
Authority: SU
Inventors: Михаил Борисович Бейлинсон
Original assignee: Организация П/Я Х-5263
Priority date: 1986-01-06
Filing date: 1986-01-06
Publication date: 1987-05-07

Description

Изобретение отн-оситс к контрольно-измерительной технике и может быть использовано дл параметрическо го контрол интегральных схем.The invention relates to instrumentation engineering and can be used for parametric control of integrated circuits.

Цель изобретени - упрощение уст- ройства при контроле интегральных схем с больи№1м количеством тестов,The purpose of the invention is to simplify the device when controlling integrated circuits with a large number of tests,

На чертеже изображена структурна схема предлагаемого устройства.The drawing shows a structural diagram of the proposed device.

Устройство содержит коммутацион- нзпо матрицу 1 , у которой первые вход и выход соединены с контактирующим блоком 2 провер емой интегральной схемы. Второй выход коммутационной матрицы 1 соединен с вькодом програм мируемого источника 3 питани , а ин формационньщ вход цифрового измерительного прибора 4 соединен с третьи выходом коммутационной матрицы 1. Информационньш выход цифрового при- бора 4 в двоично-дес тичном коде соединен с- первым входом элемента 5 сравнени , Бторой вход последнего соединен - с выходом панели 6 коммута- црш, котора определ ет допустимые значени провер емого параметра. Выход конца измерени прибора соединен с первыми входами формирователей 7-9. Выходы формирователей 7 и 8 соединены соответственно с входами эле ментов 10 и И задержки, которые представл ют собой два последовательно включенных одновибратора. Выход элемента 10 задержки соединен с -входом внешнего- запуска цифрового при- бора 4, а выход элемента 11 задержки - с тактовым входом сдвигающего регистра 12 параметров. Выход формировател 9 соединен с тактовым входом сдвигающего регистра 13.тес- тов и первым входом элемента И 14, второй вход которого соединен с выходом регистра 12 параметров., Выход нулевого состо ни сдвигающего регистра 13 соединен с запрещающим входом регистра 12, Выходы последнего соединены с входом посто рпюго запоминшощего блока (ПЗУ) 15 параметров ,The device contains a switching matrix 1, in which the first input and output are connected to the contacting unit 2 of the tested integrated circuit. The second output of the switching matrix 1 is connected to the code of the programmable power source 3, and the information input of the digital measuring device 4 is connected to the third output of the switching matrix 1. The information output of the digital device 4 is connected to the first input of the element 5 Comparison, the second input of the latter is connected to the output of the switchboard panel 6, which determines the permissible values of the parameter being tested. The output of the measurement end of the instrument is connected to the first inputs of the formers 7-9. The outputs of the formers 7 and 8 are connected respectively to the inputs of the elements 10 and And delays, which are two series-connected single-oscillators. The output of the delay element 10 is connected to the input of the external trigger of the digital device 4, and the output of the delay element 11 is connected to the clock input of the shift register 12 parameters. The output of the imaging unit 9 is connected to the clock input of the shift register of 13.tarts and the first input of the element 14, the second input of which is connected to the output of the register 12 of parameters. The output of the zero state of the shifting register 13 is connected to the inhibiting input of the register 12, The outputs of the latter are connected to the input of the constant memory block (ROM) of 15 parameters,

Выходы регистра 13 тестов, соединены с входом ПЗУ 16 тестов параметров , Вькод ПЗУ 15 параметров соединен с входом Сброс регистра 13 тестов. Вход ПЗУ 17 не мен ющихс в процессе измерени сигналов соединен с выходом элемента И 14, а выход ПЗУ 17 - с BTOpbLM входом коммутационной матрицы 1, С последнейThe outputs of the register of 13 tests are connected to the input of the ROM of 16 parameter tests, the code of the ROM of 15 parameters is connected to the input of the Reset register of 13 tests. The input of the ROM 17 is unchanged in the process of measuring the signals connected to the output of the element And 14, and the output of the ROM 17 to the BTOpbLM input of the switching matrix 1, With the last

также соединены выход ПЗУ 15 параметров и выход ПЗУ 16 тестов параметров , соединенные соответственно с третьимм и четвертым входами матрицы 1, Дл управлени программируемым источником 3 питани его вход соединен с выходом ПЗУ 15 параметров. Выход формировател 18 Пуск соединен с выходом конца измерени прибора 4.Also, the output of the parameter ROM 15 and the output of the ROM 16 of parameter tests are connected to the third and fourth inputs of matrix 1, respectively. To control the programmable power supply 3, its input is connected to the output of the parameter ROM 15. The output of the driver 18 Start is connected to the output of the end of measurement of the device 4.

Устройство работает следующим образом .The device works as follows.

При запуске устройства на выходе формировател 1В Пуск и формирователей 7-9 формируютс одиночные импульсы . Импульсом от формировател 7 запускаетс цифровой измерительный прибор 4 через элемент 10 задержки. Последний необходим дл того, чтобы исключить вли ние переходных процессов на измерени , возникающих при подключении к блоку 2, измерительных сигналов. Импульсы формирователей 8 и 9 запускают соответственно регист-- ры параметров 12 и тестов 13 из исходного (нулевого) состо ни в перво положение, причем регистр, работающий с ПЗУ 16, переключаетс только - в том случае, если приходит Разрешение с ПЗУ 15 параметров. Разрешение приходит только в случае, если в первом параметре есть, измерительные тесты.When the device is started up, a single pulse is generated at the output of the Shaper 1B Start and shapers 7-9. The impulse from the imager 7 starts the digital measuring device 4 through the delay element 10. The latter is necessary in order to eliminate the influence of transients on the measurements that occur when measuring signals are connected to block 2. The pulses of the formers 8 and 9 start the registers of parameters 12 and tests 13 from the initial (zero) state to the primary, respectively, and the register working with ROM 16 switches only if Permission comes from ROM 15 parameters. Permission comes only if there are measurement tests in the first parameter.

Элемент 11 задержки необходим дл того, чтобы при включении питающих напр лсений, которые включаютс регисром 12 параметров, включение их происходило с запаздыванием, чтобы дать врем на отключение напр жени предыдущего теста, так как в противном случае могут быть короткие замыкани The delay element 11 is necessary so that when powering up the supply voltage, which includes 12 registries of parameters, they turn on with a delay to give time to turn off the voltage of the previous test, as there may be short circuits

ПЗУ 17 не измен ющихс в процессе измерении сигналов подключает эти сигналы через коммутационную матрицу 1 при условии, когда приходит первый импульс от формировател 8 и регистр 12 параметров находитс в состо нии, .отличном от нулевого.ROM 17 that does not change the signals during the measurement process connects these signals through the switching matrix 1 under the condition that the first pulse comes from the driver 8 and the parameter register 12 is in a state different from zero.

При измерении какого-либо теста измер ема величина в аналоговой форме с коммутационной матрицы 1 поступает на вход цифрового измерительного прибора 4 и в цифровом коде поступает на элемент 5 сравнени . Требуема величина уставки дл кон- кретного параметра задает с панелью 6 коммутации допустимых значений провер емого параметра. УправлениеWhen measuring any test, the measured value in analog form from the switching matrix 1 is fed to the input of the digital measuring device 4 and in the digital code goes to the comparison element 5. The required setpoint value for a specific parameter sets, with the switching panel 6, the permissible values of the parameter being tested. Control

переключением уставок, а также управление программируемым источником 3 питани производитс от ПЗУ 15 параметров . Подключение требуемых сигналов на каждом тесте к измен емой интегральной схеме производитс коммутационной матрицей 1, управление которой .осуществл етс ПЗУ 15-17.switching settings, as well as control of the programmable power supply 3, is performed from the ROM of 15 parameters. The connection of the required signals at each test to the variable integrated circuit is performed by the switching matrix 1, which is controlled by the ROM 15-17.

Дл обеспечени режима кольца используетс импульс Конец измерени цифрового измерительного прибора . Этим импульсом запускаютс формирователи 7-9 при последующих (после первого) тестах. В случаеTo ensure the ring mode, a pulse is used. End of measurement of a digital meter. This pulse triggers the formers 7–9 in subsequent (after the first) tests. When

через посто нный запоминающий блок не мен ющихс в процессе измерени сигналов соединен с третьим входом коммутационной матрицы, выход сдвигающего тестов через посто нный запоминающий блок тестов параметра соедтшен с четвертым входом коммутационной матрицы, а информационный выход посто нного запоминающегоthrough a permanent storage unit, the signals not changing during the measurement process are connected to the third input of the switching matrix, the output of the shift tests through the permanent storage unit of parameter test connections to the fourth input of the switching matrix, and the information output of the permanent storage

сигнала. Брак, снимаемого с элемен- 15 измерени сигналов,выход элемента И та 5 сравнени , на формирователи 7-9 приходит Запрет и цикл измерени на этом тесте остановлен.signal. The break taken from the element of the 15th measurement of signals, the output of the element and that 5 comparison, the Prohibition comes to the formers 7–9 and the measurement cycle on this test is stopped.

Устройство параметрического контрол легко перестраиваетс с одного 20 типа ИС на другой посредством замены одной печатной платы ПЗУ, не требует математического обеспе- ени , имеет высокое быстродействие и точность измерени и малые габариты, что 25 блока параметров соединен с п тым позвол ет использовать его как в се- входом коммутационной матрицы, выход рийном производстве, так и при перио- формировател Пуск соединен с пер- дических испытани х со стационарными выми входами первого, второго и камерами тепла, барокамерами или дл третьего формирователей и выходом измерени параметров в процессе элек-jg цифрового измерительного прибора, тротермотренировки.вход запуска которого через первыйThe parametric control device can be easily rebuilt from one 20 type of IC to another by replacing one printed circuit board ROM, does not require mathematical support, has high speed and accuracy of measurement and small dimensions, so that 25 parameter blocks are connected to fifth and can be used as in at the input of the switching matrix, at the output of production, and at the initiator, the Start is connected to the actual tests with stationary outlets of the first, second and heat chambers, pressure chambers or for the third formers and the output of measurement parameters in the process of electr-jg of a digital measuring device, thermal testing.

элемент задержки соединен с выходомdelay element connected to the output

Claims

The claims of the first former, the output of the second

shaper through the second element

The parametric control device is a delay from the input of the integrated circuits, containing a shift register of parameters, a comparison element, a switching panel, a switching matrix, a contacting block of the chip under investigation, element And, a programmable source 40 of the papapi, a digital measuring device and a Start device, moreover, the first input and output of the switching matrix are connected respectively to the output and input of the contacting unit to the input of the programmed source of the microcircuit under study, the second nickname of the power supply The third output is from the input to the output of a programmable power supply, the second output to the measuring input of a digital measuring instrument, the informational 50 output of which is connected to the first

the output of which is connected to the gene with the first input by elements, the second input of which is connected to the output of the third shaper and the clock input of the shift test register, the reset input of which is connected to the first output of the permanent storage parameter block, the second output of which is connected to the switching panel, the input to the second The fourth output is shifted to a1; its parameter register, and the output of the reference element is connected to the second inputs of the first, second, and third drivers.

the input of the comparison element, the second input of which is connected to the output of the switching panel, characterized in that, in order to simplify the device when monitoring integrated circuits with a large number of tests, iiei o introduces the first, second and third drivers, the first and second delay elements, shift registers of tests and parameters element. And, a permanent storage unit of parameters, a permanent storage unit of parameter tests and a permanent storage unit that does not change in the process

through a permanent storage unit, the signals not changing during the measurement process are connected to the third input of the switching matrix, the output of the shift tests through the permanent storage unit of parameter test connections to the fourth input of the switching matrix, and the information output of the permanent storage

signal measurements, element output, and

the parameter block is connected to the fifth input of the switching matrix, the output of the start generator is connected to the first inputs of the first, second and third drivers and the output of the digital measuring device, the start input of which through the first

delays from the current input of the shift register of parameters, is transmitted to the input of the power source being progrgted, the third output is from the input

The output of which is connected is the Gene with the first input elements, the second input of which is connected to the output of the third driver and the clock input of the shift test register, the reset input of which is connected to the first output of the permanent storage parameter block, the second output of which connects the shift of the parameter register, the first output - not with the input of the power supply unit being progrgted, the third output - with input

the house of the switching panel, the input — with the second shift output — 1; its register of parameters, and the output of the comparison element is connected to the second inputs of the first, second, and third drivers.