SU1293486A1 - Device for checking quality of telescopic optical systems - Google Patents
Device for checking quality of telescopic optical systems Download PDFInfo
- Publication number
- SU1293486A1 SU1293486A1 SU853983774A SU3983774A SU1293486A1 SU 1293486 A1 SU1293486 A1 SU 1293486A1 SU 853983774 A SU853983774 A SU 853983774A SU 3983774 A SU3983774 A SU 3983774A SU 1293486 A1 SU1293486 A1 SU 1293486A1
- Authority
- SU
- USSR - Soviet Union
- Prior art keywords
- mirror
- control
- telescopic optical
- optical systems
- flat
- Prior art date
Links
Description
раций контролируемой системы определ етс величина разворота контрольного зеркала, 3 при пергходе из одно го положени в другое. Определ -разворот зеркала 3 в каждом положе Изобретение относитс к измери- тельной технике и может быть использовано , в частности, дл контрол качества телескопических оптических Систем.radios of the monitored system, the magnitude of the reversal of the reference mirror is determined, 3 when they are moved from one position to another. Detection of the flip of a mirror 3 in each position The invention relates to measurement techniques and can be used, in particular, to control the quality of telescopic optical systems.
Цель изобретени - возможност1з КОНТРО41Я крупногабаритных систем.The purpose of the invention is the possibility of controlling large-sized systems.
На чертеже изображена принципиальна схема устройства дл контрол качества телескопических оптических систем.The drawing shows a schematic diagram of a device for controlling the quality of telescopic optical systems.
Устройство содержит последовательно расположенные монохромати-:- ческий источник 1 света, интерференционный блок 2 в виде интерферометра типа Физо, плоское контрольное зеркало 3, плоское зеркало 4, жестко св занное с зеркалом 3 и установленное под пр мым углом к нему, регистрирующий узел - автоколлиматор 5 и направл ющие 6 дл перемещени зеркала 3The device contains consecutive monochromat -: - a source of light 1, an interference unit 2 in the form of a Fizeau interferometer, a flat control mirror 3, a flat mirror 4 rigidly connected to the mirror 3 and installed at a right angle to it, the registering node is an autocollimator 5 and guides 6 for moving the mirror 3
Контролируема телескопическа оптическа система представл ет собой два зеркала - вогнутое 7 и выпуклое 8 (хот в общем случае она может состо ть и из большего числа оптических элементов). Перед контролируемой телескопической системой установлен монохроматический источник 1 света и интерферендионньш блок 2 - интерферометр типа.Физо, Выход щий из интерференционного бло- 2 параллельный пучок лучей расшир етс контролируемой системой и часть этого пучка падает на контрольное зеркало 3, диаметр которого може быть существенно меньше диаметра зеркала 7 контролируемой системы, Отраженный от зеркала 3 пучок лучей возвращаетс контролируемой системой и Интерферирует с пучком, отраженнымThe controlled telescopic optical system consists of two mirrors — concave 7 and convex 8 (although in general it may consist of a larger number of optical elements). In front of the monitored telescopic system, a monochromatic light source 1 is installed and the interference unit 2 is an interferometer of the type. mirrors 7 of the controlled system; A beam reflected from the mirror 3 is returned by the controlled system and interferes with the beam reflected
нии, стро т кривую угловых аберра- . ций контролируемого волнового фронта , однозначно св занных с другими геометрическими или волновыми абер- раци ми системы. 1 ил.nii, build the curve of angular aberra-. controlled wavefront unambiguously associated with other geometrical or wave aberrations of the system. 1 il.
00
5five
00
5five
00
5five
5five
от эталонной поверхности пластины интерферометра типа Физо. Соответст вующей настройкой схемы -добиваютс .по влени в поле зрени интерференционной картины. В данном, случае, в поле зрени интерферометра будет видна интерференционна картина вол- :нового фронта, проход щего через I верхнюю краевую часть контролируемой системы. Затем.контрольное зеркало 3 по направл ющим 6 перемещают перпендикул рно параллельному пучку лучей, выход щему из контролируемой системы, так, чтобы сечение контролируемого пучка измер лось не менее чем в 16-18 точках и в каждом сечении настраивают интерференционную картину на минимальное число интерференционных полос. Направл ющие 6 расположены перпендикув нгно параллельному пучку лучей, выход щему из контролируемой системы, и обеспечивают перемещение зеркала 3 по всему сечению этого пучка. С зеркалом 3 жестко св зано плоское зеркало 4, которое вл етс отражателем автоколлиматора 5, оптическа ось которого совпадает с направлением перемещени зеркал 3 и 4. При этом при переходе зеркала 3 в очередное положение с помощью автоколлиматора 5 определ ют величину разворота зеркала 3, вызванного ошибками волнового фронта контролируемой системы , т.е. ее угловые аберрации. Следовательно, определ разворот зеркала 3 в каждом положении, стро т кривую угловых аберраций контролируемого волнового фронта, однозначно св занных с другими геометрическими или во(новыми аберраци м системы. Таким образом с помощью зеркала 3 небольшого диаметра может контролироватьс волновой фронт неограниченного размера.from the reference surface of a plate of a Fizo interferometer. The corresponding setting of the scheme is similar to those in the field of view of the interference pattern. In this case, in the field of view of the interferometer, the interference pattern of the wave-: new front passing through the first upper edge part of the monitored system will be visible. Then, the control mirror 3 along the guides 6 is moved perpendicular to the parallel beam of rays emerging from the system being monitored, so that the cross section of the monitored beam is measured at least 16-18 points and in each section adjust the interference pattern to the minimum number of interference fringes . The guides 6 are arranged perpendicular to the parallel beam of radiation coming out of the system being monitored, and provide the movement of the mirror 3 over the entire cross section of this beam. Mirror 3 is rigidly connected to a flat mirror 4, which is a reflector of autocollimator 5, whose optical axis coincides with the direction of movement of mirrors 3 and 4. In this case, when the mirror 3 moves to the next position, the magnitude of the turn of the mirror 3 caused by errors of the wave front of the controlled system, i.e. her angular aberrations. Therefore, the rotation of the mirror 3 is determined at each position, and a curve of the angular aberrations of the controlled wave front is clearly associated with other geometrical or new aberrations of the system. Thus, the wave front can be controlled with a small diameter and of unlimited size.
3. 129348643. 12934864
Claims (1)
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
SU853983774A SU1293486A1 (en) | 1985-12-03 | 1985-12-03 | Device for checking quality of telescopic optical systems |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
SU853983774A SU1293486A1 (en) | 1985-12-03 | 1985-12-03 | Device for checking quality of telescopic optical systems |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
SU1293486A1 true SU1293486A1 (en) | 1987-02-28 |
Family
ID=21207779
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
SU853983774A SU1293486A1 (en) | 1985-12-03 | 1985-12-03 | Device for checking quality of telescopic optical systems |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
SU (1) | SU1293486A1 (en) |
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
RU2561018C1 (en) * | 2014-07-18 | 2015-08-20 | Открытое акционерное общество "Научно-исследовательский институт оптико-электронного приборостроения" (ОАО "НИИ ОЭП") | Interferometric method of adjusting two-mirror lens with aspherical elements |
-
1985
- 1985-12-03 SU SU853983774A patent/SU1293486A1/en active
Non-Patent Citations (1)
Title |
---|
Авторское свидетельство СССР ;№ 480904, кл. G 01 В 11/24, 1972. Креопалова Г.В., Пур ев Д.Т. Исследование и контроль оптических сист ём. -М.: Машиностроение, 1978, с. 140-141. * |
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
RU2561018C1 (en) * | 2014-07-18 | 2015-08-20 | Открытое акционерное общество "Научно-исследовательский институт оптико-электронного приборостроения" (ОАО "НИИ ОЭП") | Interferometric method of adjusting two-mirror lens with aspherical elements |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
US4652130A (en) | Method of and arrangement for an interferometer | |
US5309217A (en) | Fourier spectrometer | |
JP3590068B2 (en) | Interferometer | |
SU1293486A1 (en) | Device for checking quality of telescopic optical systems | |
US4115008A (en) | Displacement measuring apparatus | |
US4179219A (en) | Revolving mirror scanning interferometer | |
EP0333822B1 (en) | Optical devices for interferometric measuring systems | |
SU1427174A1 (en) | Device for reproducing angles | |
SU759849A1 (en) | Unit for monitoring angular errors of isosceles optical prisms | |
SU1113671A1 (en) | Device for measuring angular displacements | |
SU1649263A1 (en) | Device for non-contact quality check of flat part surface finish | |
SU1603190A1 (en) | Apparatus for measuring linear dimensions | |
SU911143A1 (en) | Interferometer for checking plane grinding surfaces of articles | |
SU1610248A1 (en) | Interferometer for checking the shape of convex spherical parts | |
SU1067909A1 (en) | Interferrometer for checking shape of surfaces of convex spherical parts | |
SU1285550A1 (en) | Device for adjusting the reflecting surface of aerial | |
SU1343242A1 (en) | Interferometer for checking shape of spherical surfaces | |
SU1506269A1 (en) | Interferometer for measuring angular and linear position of object | |
SU657240A1 (en) | Device for checking the shape of aspheric concave surfaces | |
JPS56118609A (en) | Measuring method for azimuth angle of magnetic head | |
SU1543277A1 (en) | Device for monitoring the centring of optical system | |
SU844994A1 (en) | Device for obtaining parallel light beams | |
SU1054677A1 (en) | Interference device for gauging displacement | |
SU1631372A1 (en) | Interference - shadow instrument | |
SU1425434A1 (en) | Interfercmeter for measuring linear displacements of object |