SU1293486A1 - Device for checking quality of telescopic optical systems - Google Patents

Device for checking quality of telescopic optical systems Download PDF

Info

Publication number
SU1293486A1
SU1293486A1 SU853983774A SU3983774A SU1293486A1 SU 1293486 A1 SU1293486 A1 SU 1293486A1 SU 853983774 A SU853983774 A SU 853983774A SU 3983774 A SU3983774 A SU 3983774A SU 1293486 A1 SU1293486 A1 SU 1293486A1
Authority
SU
USSR - Soviet Union
Prior art keywords
mirror
control
telescopic optical
optical systems
flat
Prior art date
Application number
SU853983774A
Other languages
Russian (ru)
Inventor
Исак Яковлевич Бубис
Юрий Васильевич Канатов
Сергей Владимирович Любарский
Елена Константиновна Соболева
Владимир Борисович Хорошкеев
Original Assignee
Предприятие П/Я Р-6681
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Предприятие П/Я Р-6681 filed Critical Предприятие П/Я Р-6681
Priority to SU853983774A priority Critical patent/SU1293486A1/en
Application granted granted Critical
Publication of SU1293486A1 publication Critical patent/SU1293486A1/en

Links

Description

раций контролируемой системы определ етс  величина разворота контрольного зеркала, 3 при пергходе из одно го положени  в другое. Определ   -разворот зеркала 3 в каждом положе Изобретение относитс  к измери- тельной технике и может быть использовано , в частности, дл  контрол  качества телескопических оптических Систем.radios of the monitored system, the magnitude of the reversal of the reference mirror is determined, 3 when they are moved from one position to another. Detection of the flip of a mirror 3 in each position The invention relates to measurement techniques and can be used, in particular, to control the quality of telescopic optical systems.

Цель изобретени  - возможност1з КОНТРО41Я крупногабаритных систем.The purpose of the invention is the possibility of controlling large-sized systems.

На чертеже изображена принципиальна  схема устройства дл  контрол  качества телескопических оптических систем.The drawing shows a schematic diagram of a device for controlling the quality of telescopic optical systems.

Устройство содержит последовательно расположенные монохромати-:- ческий источник 1 света, интерференционный блок 2 в виде интерферометра типа Физо, плоское контрольное зеркало 3, плоское зеркало 4, жестко св занное с зеркалом 3 и установленное под пр мым углом к нему, регистрирующий узел - автоколлиматор 5 и направл ющие 6 дл  перемещени  зеркала 3The device contains consecutive monochromat -: - a source of light 1, an interference unit 2 in the form of a Fizeau interferometer, a flat control mirror 3, a flat mirror 4 rigidly connected to the mirror 3 and installed at a right angle to it, the registering node is an autocollimator 5 and guides 6 for moving the mirror 3

Контролируема  телескопическа  оптическа  система представл ет собой два зеркала - вогнутое 7 и выпуклое 8 (хот  в общем случае она может состо ть и из большего числа оптических элементов). Перед контролируемой телескопической системой установлен монохроматический источник 1 света и интерферендионньш блок 2 - интерферометр типа.Физо, Выход щий из интерференционного бло- 2 параллельный пучок лучей расшир етс  контролируемой системой и часть этого пучка падает на контрольное зеркало 3, диаметр которого може быть существенно меньше диаметра зеркала 7 контролируемой системы, Отраженный от зеркала 3 пучок лучей возвращаетс  контролируемой системой и Интерферирует с пучком, отраженнымThe controlled telescopic optical system consists of two mirrors — concave 7 and convex 8 (although in general it may consist of a larger number of optical elements). In front of the monitored telescopic system, a monochromatic light source 1 is installed and the interference unit 2 is an interferometer of the type. mirrors 7 of the controlled system; A beam reflected from the mirror 3 is returned by the controlled system and interferes with the beam reflected

нии, стро т кривую угловых аберра- . ций контролируемого волнового фронта , однозначно св занных с другими геометрическими или волновыми абер- раци ми системы. 1 ил.nii, build the curve of angular aberra-. controlled wavefront unambiguously associated with other geometrical or wave aberrations of the system. 1 il.

00

5five

00

5five

00

5five

5five

от эталонной поверхности пластины интерферометра типа Физо. Соответст вующей настройкой схемы -добиваютс .по влени  в поле зрени  интерференционной картины. В данном, случае, в поле зрени  интерферометра будет видна интерференционна  картина вол- :нового фронта, проход щего через I верхнюю краевую часть контролируемой системы. Затем.контрольное зеркало 3 по направл ющим 6 перемещают перпендикул рно параллельному пучку лучей, выход щему из контролируемой системы, так, чтобы сечение контролируемого пучка измер лось не менее чем в 16-18 точках и в каждом сечении настраивают интерференционную картину на минимальное число интерференционных полос. Направл ющие 6 расположены перпендикув нгно параллельному пучку лучей, выход щему из контролируемой системы, и обеспечивают перемещение зеркала 3 по всему сечению этого пучка. С зеркалом 3 жестко св зано плоское зеркало 4, которое  вл етс  отражателем автоколлиматора 5, оптическа  ось которого совпадает с направлением перемещени  зеркал 3 и 4. При этом при переходе зеркала 3 в очередное положение с помощью автоколлиматора 5 определ ют величину разворота зеркала 3, вызванного ошибками волнового фронта контролируемой системы , т.е. ее угловые аберрации. Следовательно, определ   разворот зеркала 3 в каждом положении, стро т кривую угловых аберраций контролируемого волнового фронта, однозначно св занных с другими геометрическими или во(новыми аберраци м системы. Таким образом с помощью зеркала 3 небольшого диаметра может контролироватьс  волновой фронт неограниченного размера.from the reference surface of a plate of a Fizo interferometer. The corresponding setting of the scheme is similar to those in the field of view of the interference pattern. In this case, in the field of view of the interferometer, the interference pattern of the wave-: new front passing through the first upper edge part of the monitored system will be visible. Then, the control mirror 3 along the guides 6 is moved perpendicular to the parallel beam of rays emerging from the system being monitored, so that the cross section of the monitored beam is measured at least 16-18 points and in each section adjust the interference pattern to the minimum number of interference fringes . The guides 6 are arranged perpendicular to the parallel beam of radiation coming out of the system being monitored, and provide the movement of the mirror 3 over the entire cross section of this beam. Mirror 3 is rigidly connected to a flat mirror 4, which is a reflector of autocollimator 5, whose optical axis coincides with the direction of movement of mirrors 3 and 4. In this case, when the mirror 3 moves to the next position, the magnitude of the turn of the mirror 3 caused by errors of the wave front of the controlled system, i.e. her angular aberrations. Therefore, the rotation of the mirror 3 is determined at each position, and a curve of the angular aberrations of the controlled wave front is clearly associated with other geometrical or new aberrations of the system. Thus, the wave front can be controlled with a small diameter and of unlimited size.

3. 129348643. 12934864

Claims (1)

Формула изобретени можности контрол  крупногабаритныхClaims of the invention of the ability to control large-sized систем, оно снабжено плоским зерка-.systems, it is equipped with a flat mirror. Устройство дл  контрол  качества лом, жестко св занным с контрольным телескопических оптических систем, со- зеркалом и установленным под пр мым держащее последовательно расположен- 5 УГЛОМ к нему, контрольное зеркало ные монохроматический источник света, выполнено с возможностью перемещени  интерференционный блок и плоское перпендикул рно параллельному пучку контрольное зеркало, установленное . лучей, а регистрирующий узел выпол- в параллельном пучке лучей, выход - нен в виде автоколлиматора, установ- щем из контролируемой системы, ре- О ленного так, что его оптическа  ось гистрирующий узел, о т л и ч а ю - совпадает с направлением перемеще- щ е е с   тем, что, с целью воз- ни  контрольного зеркала.A device for quality control of scrap, rigidly connected with a control telescopic optical system, a mirror mounted under the direct holding is sequentially located - 5 ANGLE to it, the control mirror monochromatic light source, is arranged to move the interference unit and flat perpendicularly parallel to it beam control mirror installed. rays, and the registering node is performed in a parallel beam of rays, the output is not in the form of an autocollimator, which is installed from the controlled system, which is designed so that its optical axis is a core node, coincides with the direction moving so that, with the aim of the appearance of the control mirror.
SU853983774A 1985-12-03 1985-12-03 Device for checking quality of telescopic optical systems SU1293486A1 (en)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
SU853983774A SU1293486A1 (en) 1985-12-03 1985-12-03 Device for checking quality of telescopic optical systems

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
SU853983774A SU1293486A1 (en) 1985-12-03 1985-12-03 Device for checking quality of telescopic optical systems

Publications (1)

Publication Number Publication Date
SU1293486A1 true SU1293486A1 (en) 1987-02-28

Family

ID=21207779

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
SU853983774A SU1293486A1 (en) 1985-12-03 1985-12-03 Device for checking quality of telescopic optical systems

Country Status (1)

Country Link
SU (1) SU1293486A1 (en)

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
RU2561018C1 (en) * 2014-07-18 2015-08-20 Открытое акционерное общество "Научно-исследовательский институт оптико-электронного приборостроения" (ОАО "НИИ ОЭП") Interferometric method of adjusting two-mirror lens with aspherical elements

Non-Patent Citations (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Title
Авторское свидетельство СССР ;№ 480904, кл. G 01 В 11/24, 1972. Креопалова Г.В., Пур ев Д.Т. Исследование и контроль оптических сист ём. -М.: Машиностроение, 1978, с. 140-141. *

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
RU2561018C1 (en) * 2014-07-18 2015-08-20 Открытое акционерное общество "Научно-исследовательский институт оптико-электронного приборостроения" (ОАО "НИИ ОЭП") Interferometric method of adjusting two-mirror lens with aspherical elements

Similar Documents

Publication Publication Date Title
US4652130A (en) Method of and arrangement for an interferometer
US5309217A (en) Fourier spectrometer
JP3590068B2 (en) Interferometer
SU1293486A1 (en) Device for checking quality of telescopic optical systems
US4115008A (en) Displacement measuring apparatus
US4179219A (en) Revolving mirror scanning interferometer
EP0333822B1 (en) Optical devices for interferometric measuring systems
SU1427174A1 (en) Device for reproducing angles
SU759849A1 (en) Unit for monitoring angular errors of isosceles optical prisms
SU1113671A1 (en) Device for measuring angular displacements
SU1649263A1 (en) Device for non-contact quality check of flat part surface finish
SU1603190A1 (en) Apparatus for measuring linear dimensions
SU911143A1 (en) Interferometer for checking plane grinding surfaces of articles
SU1610248A1 (en) Interferometer for checking the shape of convex spherical parts
SU1067909A1 (en) Interferrometer for checking shape of surfaces of convex spherical parts
SU1285550A1 (en) Device for adjusting the reflecting surface of aerial
SU1343242A1 (en) Interferometer for checking shape of spherical surfaces
SU1506269A1 (en) Interferometer for measuring angular and linear position of object
SU657240A1 (en) Device for checking the shape of aspheric concave surfaces
JPS56118609A (en) Measuring method for azimuth angle of magnetic head
SU1543277A1 (en) Device for monitoring the centring of optical system
SU844994A1 (en) Device for obtaining parallel light beams
SU1054677A1 (en) Interference device for gauging displacement
SU1631372A1 (en) Interference - shadow instrument
SU1425434A1 (en) Interfercmeter for measuring linear displacements of object