SU1273984A1 - Датчик контрол глубины обработки рабочей поверхности тонкопленочной магнитной головки - Google Patents

Датчик контрол глубины обработки рабочей поверхности тонкопленочной магнитной головки Download PDF

Info

Publication number
SU1273984A1
SU1273984A1 SU853837305A SU3837305A SU1273984A1 SU 1273984 A1 SU1273984 A1 SU 1273984A1 SU 853837305 A SU853837305 A SU 853837305A SU 3837305 A SU3837305 A SU 3837305A SU 1273984 A1 SU1273984 A1 SU 1273984A1
Authority
SU
USSR - Soviet Union
Prior art keywords
electrically conductive
processing
working surface
depth
thin
Prior art date
Application number
SU853837305A
Other languages
English (en)
Inventor
Михаил Григорьевич Собко
Николай Петрович Шкурат
Николай Георгиевич Осадчий
Original Assignee
Предприятие П/Я А-1439
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Предприятие П/Я А-1439 filed Critical Предприятие П/Я А-1439
Priority to SU853837305A priority Critical patent/SU1273984A1/ru
Application granted granted Critical
Publication of SU1273984A1 publication Critical patent/SU1273984A1/ru

Links

Classifications

    • GPHYSICS
    • G11INFORMATION STORAGE
    • G11BINFORMATION STORAGE BASED ON RELATIVE MOVEMENT BETWEEN RECORD CARRIER AND TRANSDUCER
    • G11B5/00Recording by magnetisation or demagnetisation of a record carrier; Reproducing by magnetic means; Record carriers therefor
    • G11B5/127Structure or manufacture of heads, e.g. inductive
    • G11B5/31Structure or manufacture of heads, e.g. inductive using thin films
    • G11B5/3163Fabrication methods or processes specially adapted for a particular head structure, e.g. using base layers for electroplating, using functional layers for masking, using energy or particle beams for shaping the structure or modifying the properties of the basic layers
    • G11B5/3166Testing or indicating in relation thereto, e.g. before the fabrication is completed

Landscapes

  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Manufacturing & Machinery (AREA)
  • Magnetic Heads (AREA)

Abstract

Изобретение относитс  к магнитной записи и позвол ет повысить точность контрол  глубины обработки рабочей поверхности. На диэлектрической подложке расположены электропровод щие слои 1 и 2. На слое 1 размещен диэлектрический слой 4 с пр молинейной кромкой, сопр женньп со слоем 2. При формировании рабочей поверхности уменьшаетс  площадь контакта между сло ми 1 и 2, что приводит к уменьшению силы тока, определ ющей глубину рабочего зазора. 3 ил. (О to со со ас 4 U/1 Фиг.1

Description

Изобретение относится к приборостроению, а именно к технике магнитной записи.
Цель изобретения - повышение точности контроля глубины обработки рабочей поверхности.
На фиг. 1 изображена тонкопленочная магнитная головка с датчиком контроля глубины обработки рабочей поверхности; на фиг. 2 - сечение А-А на фиг. 1; на фиг. 3 - сечение Б-Б на фиг. 1.
Датчик контроля глубины обработки рабочей поверхности состоит из двух электропроводящих слоев 1 и 2, распо- 15 ложенных на диэлектрической подложке 3, диэлектрического слоя 4, определяющего границу расхождения полюсных наконечников нижнего 5 и верхнего 6 тонкопленочных слоев магнито- 20 и 2 определяется линией В-В, совпадающей с началом ступеньки полюсных наконечников.
При формировании рабочей поверхί ности методом механической обработки изменяется сила тока, пропускаемого через электропроводящее слои 1 и 2, за счет уменьшения площади их контакта. Определенная сила тока со10 ответствует заданной глубине рабочего зазора.

Claims (1)

  1. Фо рмула изобретения
    Датчик контроля глубины обработки рабочей поверхности тонкопленочной магнитной головки, содержащий подложку, первый и второй электропроводящие слои, причем первый из них сопряжен с подложкой, отличающийпровода, между которыми находится электропроводящая обмотка 7. Причем начало расхождения электропроводящих слоев 1 и 2, выполненных из того же материала, что и слои 5 и 6, совпадают с началом расхождения полюсных наконечников так, что граница конс я тем, что, с целью повышения точности контроля глубины обработки, в него введен диэлектрический слой с прямолинейной кромкой, расположен25 ный на первом электропроводящем слое, а второй электропроводящий слой сопряжен как с диэлектрическим, так такта двух электропроводящих слоев
    А-А
    У7Л V771 vm
    Б-Б и с первым электропроводящим слоем.
    (Риг. 2
    Фиг.5
SU853837305A 1985-01-04 1985-01-04 Датчик контрол глубины обработки рабочей поверхности тонкопленочной магнитной головки SU1273984A1 (ru)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
SU853837305A SU1273984A1 (ru) 1985-01-04 1985-01-04 Датчик контрол глубины обработки рабочей поверхности тонкопленочной магнитной головки

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
SU853837305A SU1273984A1 (ru) 1985-01-04 1985-01-04 Датчик контрол глубины обработки рабочей поверхности тонкопленочной магнитной головки

Publications (1)

Publication Number Publication Date
SU1273984A1 true SU1273984A1 (ru) 1986-11-30

Family

ID=21156131

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
SU853837305A SU1273984A1 (ru) 1985-01-04 1985-01-04 Датчик контрол глубины обработки рабочей поверхности тонкопленочной магнитной головки

Country Status (1)

Country Link
SU (1) SU1273984A1 (ru)

Non-Patent Citations (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Title
Патент US № 4219854, кл. G 11 В 5/20, 1981. Патент US № 4155106, кл. G 11 В 5/38, 1980. *

Similar Documents

Publication Publication Date Title
US6623330B2 (en) Lapping sensor used in fabrication of magnetic head with magnetoresistive effect element and lapping control method using the sensor
US4613843A (en) Planar coil magnetic transducer
JPS6435717A (en) Magnetoresistance effect type reader/converter
DE3563479D1 (en) Method for manufacturing a measuring transducer for measuring mechanical quantities
SE8402031L (sv) Fuktsensor av tunnskiktstyp
EP0161690A3 (en) Ion selective electrode pair and method of manufacturing the same
DE3679635D1 (de) Wickelkondensator.
SU1273984A1 (ru) Датчик контрол глубины обработки рабочей поверхности тонкопленочной магнитной головки
EP0032230A3 (en) Integrated magnetic transducer and method of manufacturing the same
KR890007230A (ko) 회전 변압기
US4754354A (en) Ferrite film insulating layer in a yoke-type magneto-resistive head
KR890016509A (ko) 박막 자기헤드의 가공량 검지용 마커 및 이 마커를 사용한 박막 자기헤드의 제조 방법
EP0414473A2 (en) Magnetic head device
WO1999006844A3 (en) Magnetic current sensing and short circuit detection in plate structure
CA2279598A1 (en) Apparatus for determining properties of an electrically conductive object
KR940020304A (ko) 자기저항효과형 박막자기헤드 및 바이어스특성 측정방법
SU917072A1 (ru) Модул ционный вихретоковый преобразователь
SU1490461A1 (ru) Устройство дл контрол формы поверхностей
JPS61184711A (ja) 薄膜磁気ヘツド
SU1092437A2 (ru) Способ косвенного контрол неравномерности воздушного зазора электрической машины
JPS6212911A (ja) 薄膜磁気ヘツドの製造法
JP2586915B2 (ja) 磁気検出器
SU829937A1 (ru) Способ контрол потери сплошностипОРОдНОгО МАССиВА
SU1117722A2 (ru) Способ контрол качества герметизированных магнитоуправл емых контактов
SU894336A1 (ru) Способ измерени толщины слоев материала