SU894336A1 - Способ измерени толщины слоев материала - Google Patents

Способ измерени толщины слоев материала Download PDF

Info

Publication number
SU894336A1
SU894336A1 SU782698901A SU2698901A SU894336A1 SU 894336 A1 SU894336 A1 SU 894336A1 SU 782698901 A SU782698901 A SU 782698901A SU 2698901 A SU2698901 A SU 2698901A SU 894336 A1 SU894336 A1 SU 894336A1
Authority
SU
USSR - Soviet Union
Prior art keywords
layers
thickness
measuring
current
inductive
Prior art date
Application number
SU782698901A
Other languages
English (en)
Inventor
Виктор Григорьевич Брандорф
Юрий Николаевич Кизилов
Жозеф Александрович Ямпольский
Original Assignee
Львовский Лесотехнический Институт
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Львовский Лесотехнический Институт filed Critical Львовский Лесотехнический Институт
Priority to SU782698901A priority Critical patent/SU894336A1/ru
Application granted granted Critical
Publication of SU894336A1 publication Critical patent/SU894336A1/ru

Links

Landscapes

  • Measurement Of Length, Angles, Or The Like Using Electric Or Magnetic Means (AREA)

Description

(54) СПОСОБ ИЗМЕРЕНИЯ ТОЛЩИНЫ СЛОЕВ МАТЕРИАЛА
1
Изобретение относитс  к средства электромагнитной размерометрии и может быть использовано дл  измерени  толщины материала с токонесущими прослойками в их структуре.
Известен способ контрол  толщины материала с токонесущими прослойками , заключающийс  б том, что регистрируют накладным индуктивным преобразователем магнитное поле создаваемое этими прослойками, и по сигналам преобразовател  суд т о результатах контрол  ij.
Однако точность контрол  этим способом недостаточна , так как отсутствуют средства дл  фиксации прос±ранственно-временных параметров указанногоПОЛЯ.
Наиболее близким к изобретению по технической сущности  вл етс  способ измерени  толщины слоев материала с токонесущими прослойками, заключающийс  в том, что регистрируют накладным индуктивным преобразователем параметры магнитного пол , создаваемого этими прослойками, и по ним суд т о результатах измерени  2.
Однако точность измерени  материалов со сложным профилем этим
;;пособом недостаточна , так как при измерении профил  сигналы индуктивного преобразовател  неоднозначно соответствуют толщине материала.
Цель изобретени  - повышение точности измерени  материалов со .сложным профилем.
Эта цель достигаетс  тем, что регистрируют градиенты магнитной ин10 дукции пол  по ортогональным направлени м и по величине суммарного сигнала определ ют толщину сло .
Рекомендуетс  токонесущие прослойки располагать между сло ми
15 материала в плоскости его сечени , поочередно возбуждать в этих прослойках токи, перемещать индуктивный накладной преобразователь в зоны фиксированных значений его сигналов
2Q и по величине перемещени  определ ть толщину сло  между указанными прослойками .
На чертеже представлена блок-схема устройства, реализующего данный
25 способ.
Устройство содержит источник 1 переменного тока, подключаемый посредством коммутатора 2 к электропровод щим прослойкам в структуре 30 материала 3, накладной индуктивный

Claims (2)

  1. Формула' изобретения
    1. Способ измерения толщины слоев материала с токонесущими про слойками, заключающийся в том,что регистрируют накладным индуктивным преобразователем параметры магнитного поля, создаваемого этими прослойками, и по ним судят о решения точности измерения материала со сложным профилем, регистрируют градиенты магнитной индукции поля .по ортогональным направлениям и по величине суммарного сигнала определяют толщину слоя.
  2. 2. Способ по п.1, отличающийся тем, что токонесущие прослойки располагают между слоями 15 материала в плоскости его сечения, поочередно возбуждают в этих прослойках токи, перемещают индуктивный накладной преобразователь в зоны фиксированных значений его сигналов 20 и по величине перемещения определяют толщину слоя между указанными прослойками.
SU782698901A 1978-12-20 1978-12-20 Способ измерени толщины слоев материала SU894336A1 (ru)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
SU782698901A SU894336A1 (ru) 1978-12-20 1978-12-20 Способ измерени толщины слоев материала

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
SU782698901A SU894336A1 (ru) 1978-12-20 1978-12-20 Способ измерени толщины слоев материала

Publications (1)

Publication Number Publication Date
SU894336A1 true SU894336A1 (ru) 1981-12-30

Family

ID=20799480

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
SU782698901A SU894336A1 (ru) 1978-12-20 1978-12-20 Способ измерени толщины слоев материала

Country Status (1)

Country Link
SU (1) SU894336A1 (ru)

Similar Documents

Publication Publication Date Title
ATE116431T1 (de) Positionskompensationswindung für wegaufnehmer.
SU894336A1 (ru) Способ измерени толщины слоев материала
SU789730A1 (ru) Способ многочастотного вихретокового контрол и преобразователь дл его осуществлени
RU2031403C1 (ru) Вихретоковый преобразователь для неразрушающего контроля параметров материалов
SU864105A1 (ru) Способ измерени параметров электропровод щих тел
SU578610A1 (ru) Способ многопараметрового контрол методом вихревых токов
SU866465A1 (ru) Устройство дл измерени глубины поверхностных трещин в немагнитных материалах
SU578558A1 (ru) Способ контрол толщины диэлектрических покрытий
SU1698740A1 (ru) Накладной вихретоковый преобразователь дл контрол параметров металлических изделий
SU892378A1 (ru) Датчик неоднородности магнитного пол
SU1153231A1 (ru) Способ градуировки индуктивного преобразовател перемещений
RU2011189C1 (ru) Накладной вихретоковый преобразователь
SU1002994A1 (ru) Устройство дл измерени магнитных параметров образцов разомкнутой формы
SU922502A1 (ru) Магнитоупругий датчик механических напр жений
SU1179096A2 (ru) Толщиномер диэлектрических покрытий
SU1578451A1 (ru) Устройство дл измерени толщины слоев многослойных изделий
SU920525A1 (ru) Электромагнитный преобразователь параметров движени
SU1567867A1 (ru) Способ измерени толщин и деформаций слоев многослойных конструкций с плоской поверхностью
SU828061A1 (ru) Электромагнитное устройство дл изМЕРЕНи ТОлщиНы диэлЕКТРичЕСКиХпОКРыТий HA НЕМАгНиТНОМ ОСНОВАНии
SU616570A1 (ru) Вихретоковой преобразователь дл измерени длины трещин в электропровод щих материалах
SU1022040A1 (ru) Способ контрол напр женно-деформированного состо ни металлических изделий и устройство дл его осуществлени
SU932207A1 (ru) Устройство дл вихретоковой размерометрии
SU1083140A1 (ru) Способ бесконтактного измерени электропроводности цилиндрических провод щих немагнитных образцов
SU1020756A1 (ru) Измерительный преобразователь механических напр жений
RU93030410A (ru) Электромагнитный преобразователь для дефектоскопии