SU1255899A1 - Устройство дл исследовани смачивани поверхности припоем - Google Patents
Устройство дл исследовани смачивани поверхности припоем Download PDFInfo
- Publication number
- SU1255899A1 SU1255899A1 SU853864571A SU3864571A SU1255899A1 SU 1255899 A1 SU1255899 A1 SU 1255899A1 SU 853864571 A SU853864571 A SU 853864571A SU 3864571 A SU3864571 A SU 3864571A SU 1255899 A1 SU1255899 A1 SU 1255899A1
- Authority
- SU
- USSR - Soviet Union
- Prior art keywords
- base
- solder
- current leads
- wetting
- pairs
- Prior art date
Links
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N13/00—Investigating surface or boundary effects, e.g. wetting power; Investigating diffusion effects; Analysing materials by determining surface, boundary, or diffusion effects
- G01N13/02—Investigating surface tension of liquids
- G01N2013/0225—Investigating surface tension of liquids of liquid metals or solder
Landscapes
- Electric Connection Of Electric Components To Printed Circuits (AREA)
Abstract
,Изобретение относитс к контрольно-измерительной технике и может найти применение в радиотехнической , электронной , машиностроительной и других отрасл х промьшшен- ности. Целью изобретени вл етс увеличение числа исследуемых параметров . Устройство содержит основание с токоподводами, соединенными внешними концами с приборами контрол электрической цепи. На основании выполнена площадка дл размещени испытуемого припо . Токоподво- ды на основании расположены попарно на лини х, проход щих через центр площадки, причем рассто ние между внутренними концами каждой пары то- коотводов различно. 3 ил. N9 СЛ СЛ 00 со ;о
Description
Изобретение относитс к контрольно-измерительной технике, а именно к устройствам дл .определени параметров смачивани и растекани жидких металлов на поверхности диэлектрических подложек.
Целью изобретени вл етс расширение функциональных возможностей устройства путем обеспечени увеличени числа определ емых параметров. На фиг.1 представлена схема предлагаемого устройства, вид сверху; на фиг.2 - сечение А-А на фиг.; на фиг.З - устройство после нагрева до температуры плавлени припо .
Устройство дл исследовани смачивани поверхности припоем содержит основание 1 с токоподводами 2, сое- диненными внешними концами с приборами контрол электрической цепи 3. Токоподводы 2 представл ют собой контактные дорожки толщиной 0,001 и шириной 0,02 мм соответственно, которые нанос т на основание напылением , гальваническим или другим известным способом. В центре основани имеетс площадка 4 дл размещени исследуемого припо 5. Площадка 4 представл ет собой квадрат размером 4 4 мм. iп определени площади растекани используетс навеска припо объемом 64,0 мм, по форме близка к кубу.
Токоподводы 2 на основании 1 расположены попарно на одной линии с центром площадки 4 с измен ющимис рассто ни ми между внутренними концами , которые симметричны относительно того же центра. Рассто ни f, j, .... , l между внутреними концами пар токоподводов измен ютс (увеличи ваютс по определенному закону, например , линейному или логарифмическому . Например, рассто ние между концами пар токоподводов увеличиваетс по лшieйнoмy закону через 1 мм, а рассто ние Е между ближайши ш токоподводами составл ет 6 мм.
Дл исследовани смачивани припоем основани из диэлектрика материал токоподводов должен иметь температур плавлени не менее, чем на 50-100 С выше температуры плавлени припо . При исследовании смачивани припоем 5 основани 1 из металла токопод- воды 2 нанос т на основание 1 через диэлектрическую пленку 6, в этом случае Токоподводы 2 выполн ютс из
того же материала, что и основание .
Устройство работает следующим образом .
На площадке 4 основани 1 размещают кубик припо 5, совмеща ребра нижней грани куба с границами площадки , при этом оси симметрии нижней грани куба проход т через центр площадки 4. Внещние концы токоподводов 2 основани 1 со.един ют через коммутирующее устройство с приборами контрол электрической цепи, например , включающими измеритель электрических сигналов Т-45-02, микроЭВМ
Электроника 60 с устройством дл вывода информации на буквопечатающее устройство типа Консул или дисплей .
Основание 1 нагревают до температуры расплавлени припо 5, использу дл этого высокоточный регул тор температуры, например, типа.ВРТ-2. При растекании капли 7 припо по основанию 1 происходит замыкание токоподводов 2, которое фиксируетс измерителем. Измеритель переключаетс поочередно на пары токоподводов в последовательности, соответствующей увеличению рассто ни между внутренними концами токоподводов, и контролирует также падение напр жени между токоподводами. Переключение измерител , фиксаци времени по влени контакта между токоподводами производитс от микроэвм Электроника 60.
Данные по фактической температуре основани 1 и ее изменению снимаютс с помощью быстродействующего измерител температуры, например ТТЦ 1-01, соединенного с основанием 1 при помощи термопары ТХП и под- кшоченного также к микроЭВМ Электропика 60.
Таким образом., микроЭВМ Электроника 60 получают данные -о времени замыкани соответствующих пар токоподводов , по которым определ ют площадь и скорость растекани припоев. Данные с микроЭВМ Электроника 60 можноподавать на графопостроитель, например типа ЭМ-7022, и получать при этом информацию о площади и скорости растекани Припоев в виде графиков временной зависимости. По данным с микроэвм Электроника 60 по падению напр жени между соответству
ющими парами токоподводов в зависимости от площади и скорости растекани можно определ ть изменение электрической проводиг ости припоев при смачивании исследуемой поверхности. Зависимость изменени проводимости припоев при смачивании может быть также получена в виде графиков с помощью графопостроител .
Фор м у ла изобретени
Устройство дп исследовани смачивани поверхности припоем, содержащее
основание с токоподводами, соединенными внешними концами с приборами контрол электрической цепи, на котором выполнена площадка дл размещени испытуемого припо , -отличающеес тем, что, с целью увеличени числа исследуемых параметров , токоподво ды на основании расположены попарно на лини х, проход щих через центр площадки, причем рассто ние ме-жду внутренними концами каждой пары токопроводов различно .
(pui.f
-/
фиг. 2
Редактор А.Шандор
(риг.З
Составитель А.Кощеев Техред М.Ходанич
Заказ Д814/42 Тираж 778Подписное
ВНИИПИ Государственного комитета СССР
по делам изобретений и открытий 113035, Москва, Ж-35, Раушска наб., д. 4/5
Производственно-полиграфическое предпри тие, г.Ужгород, ул.ПроектнаЛ,4
Корректор В.Бут га
Claims (1)
- Формула изобретенияУстройство для исследования смачивания поверхности припоем, содержащее основание с токоподводами, соединенными внешними концами с приборами контроля электрической цепи, на котором выполнена площадка для разме щения испытуемого припоя, отличающееся тем, что, с целью увеличения числа исследуемых параметров , токоподводы на основании расположены попарно на линиях, проходящих через центр площадки, причем расстояние ме.жду внутренними концами каждой пары токопроводов различно .J фиг.З
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| SU853864571A SU1255899A1 (ru) | 1985-03-05 | 1985-03-05 | Устройство дл исследовани смачивани поверхности припоем |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| SU853864571A SU1255899A1 (ru) | 1985-03-05 | 1985-03-05 | Устройство дл исследовани смачивани поверхности припоем |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| SU1255899A1 true SU1255899A1 (ru) | 1986-09-07 |
Family
ID=21166037
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| SU853864571A SU1255899A1 (ru) | 1985-03-05 | 1985-03-05 | Устройство дл исследовани смачивани поверхности припоем |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| SU (1) | SU1255899A1 (ru) |
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US5563338A (en) * | 1994-06-09 | 1996-10-08 | L'air Liquide, Societe Anonyme Pour L'etude Et L'exploitation Des Procedes Georges Claude | Method and device for measuring wettability under controlled atmosphere |
| WO2007131916A1 (de) * | 2006-05-11 | 2007-11-22 | Siemens Aktiengesellschaft | Verfahren zum bestimmen der benetzungsfähigkeit eines lotmaterials |
-
1985
- 1985-03-05 SU SU853864571A patent/SU1255899A1/ru active
Non-Patent Citations (1)
| Title |
|---|
| Авторское свидетельство СССР № 457013, кл. G 01 N 13/00, 1968. Авторское свидетельство СССР № 481377, кл. В 23 К 1/00, 1973. Авторское свидетельство СССР № 561637, кл. В 23.К 3/00, 1974. * |
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US5563338A (en) * | 1994-06-09 | 1996-10-08 | L'air Liquide, Societe Anonyme Pour L'etude Et L'exploitation Des Procedes Georges Claude | Method and device for measuring wettability under controlled atmosphere |
| WO2007131916A1 (de) * | 2006-05-11 | 2007-11-22 | Siemens Aktiengesellschaft | Verfahren zum bestimmen der benetzungsfähigkeit eines lotmaterials |
Similar Documents
| Publication | Publication Date | Title |
|---|---|---|
| EP0173368A3 (en) | A thermal imaging device and a method of manufacturing a thermal imaging device | |
| US4776706A (en) | Universal connector and compensating terminal apparatus for temperature responsive instruments | |
| CN1952667A (zh) | 探针片粘贴架、探针卡、半导体检测装置及其制造方法 | |
| US2607223A (en) | Apparatus for measuring rate of fluid flow | |
| SU1255899A1 (ru) | Устройство дл исследовани смачивани поверхности припоем | |
| EP0444873B1 (en) | Apparatus for measuring distribution of magnetic field | |
| KR102416052B1 (ko) | 저항 측정 장치 및 저항 측정 방법 | |
| CN211453448U (zh) | 一种铋硅高温熔体动态电阻的测量装置 | |
| JPS5775438A (en) | Semiconductor element | |
| CA1253570A (en) | Current measurement shunt | |
| ATE37119T1 (de) | Platte als schaltungstraeger mit mindestens einer schichtfoermigen leiterbahn. | |
| FR2592490A1 (fr) | Procede et dispositif de mesure de la resistance thermique d'un echantillon tel que notamment un composant de circuit electronique. | |
| SU1323940A1 (ru) | Неразрушающий способ контрол адгезии металла к диэлектрику | |
| SU1320771A1 (ru) | Устройство дл измерени удельного электрического сопротивлени грунта | |
| AU631821B2 (en) | Monitoring of pyrometallurgical processes | |
| SU1456908A1 (ru) | Способ измерени сопротивлений жидкометаллических рабочих тел и контактов | |
| SU1548731A1 (ru) | Термоэлектрический датчик | |
| SU1247782A1 (ru) | Способ определени тангенса угла диэлектрических потерь материала покрытий | |
| SU970094A1 (ru) | Способ определени шероховатости поверхности | |
| JPS6367505A (ja) | 耐火物損耗量検知センサ− | |
| SU1658058A1 (ru) | Способ контрол упрочнени стальных поверхностей и устройство дл его осуществлени | |
| MATZEN | Apparatus for measuring semiconductor device resistance[Patent] | |
| SU1092021A1 (ru) | Устройство дл контрол микросварных соединений в процессе контактной сварки | |
| JPS60108267A (ja) | 薄膜磁気ヘツドの研摩装置 | |
| PL121239B1 (en) | System for driving and control of position of electrodes in apparatus for electroslag meltingodov v ustanovke dlja ehlektroshlakovojj pereplavki |