SU1230307A1 - Способ определени коэффициента объемной изотермической упругой сжимаемости полупроводников - Google Patents
Способ определени коэффициента объемной изотермической упругой сжимаемости полупроводниковInfo
- Publication number
- SU1230307A1 SU1230307A1 SU833658810A SU3658810A SU1230307A1 SU 1230307 A1 SU1230307 A1 SU 1230307A1 SU 833658810 A SU833658810 A SU 833658810A SU 3658810 A SU3658810 A SU 3658810A SU 1230307 A1 SU1230307 A1 SU 1230307A1
- Authority
- SU
- USSR - Soviet Union
- Prior art keywords
- patterns
- same
- semiconductors
- workforce
- development
- Prior art date
Links
Landscapes
- Investigating Or Analyzing Materials By The Use Of Electric Means (AREA)
Abstract
СПОСОБ ОПРЕДЕЛЕНИЯ КОЭФФИЦИЕНТА ОБЪЕМНОЙ ИЗОТЕРМИЧЕСКОЙ УПРУГОЙ СЖИМАЕМОСТИ ПОЛУПРОВОДНИКОВ, основанный на измерении параметров полупроводника при всетороннем упругом сжатии, отличающий- с тем, что, с дельк) упрощени и расширени температурного диапазона измерений в примесном сильнолегированном и сильновьфожденном полупроводнике с одним сортом носи"'елей зар да, при всестороннем упругом сжатии измер ют зависимость холлов- ской разности потенциалов от давлени и определ ют коэффициент объемной изотермической упругой сжимаемости по формулеdVsL ~ы-Г^ =.6.V.где•Jl* - коэффициент объемной изотермической упругой сжимаемости;oi. - отношение изотермических коэффициентов объемной и линейной сжимаемости; dP - интервал давлений; V^ - холловска разность потенциалов;dV^ - приращение холловской разности потенциалов.(Л
Description
N:)
со
со
sl j12 Изобретение относитс к полупроводниковой технике и может быть использовано дл определени коэффици нта объемной изотермической упругой сжимаемости полупроводниковых материалов . Цель изобретени - упрощение и расширение температурного диапазона измерений в примесном сильнолегированном и сильновырожденном полупроводнике с одним сортом носителей зар да . Изобретение по сн етс графиком, на котором приведены зависимости хол ловской разности потенциалов от всестороннего давлени дл образцов n-CdSnASj , измеренные при разных тем пературах. Пример. Измерени проводились на образцах n-CdSnAs.Данные измерений приведены в таблице. Здесь (У - удельна электропроводность; R - коэффициент Холла; Р - давление; V - холловска разность потенциалов . На графике приведены зависимости холловской разности потенциалов от всестороннего давлени . Кривые 1 и 2 относ тс к образцу 2, кривые 3 и 4 - к образцу 4 (таблица). Кривые 2 и 4 получены при 77,6 К, кривые 1,3- при 300 К. Ось I используетс дл кривых 1 и 2, ось II - дл кривых 3 и 4. На основании экспериментальных данных, приведенных вьппе, расчитан коэффициент объемной изотермической упругой сжимаемости ; он равен дл темперагуры 77,6 К 2 2,71 10 Па , а дл температуры 300 К1 2,45-10 Па;
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
SU833658810A SU1230307A1 (ru) | 1983-11-03 | 1983-11-03 | Способ определени коэффициента объемной изотермической упругой сжимаемости полупроводников |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
SU833658810A SU1230307A1 (ru) | 1983-11-03 | 1983-11-03 | Способ определени коэффициента объемной изотермической упругой сжимаемости полупроводников |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
SU1230307A1 true SU1230307A1 (ru) | 1986-11-30 |
Family
ID=21087750
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
SU833658810A SU1230307A1 (ru) | 1983-11-03 | 1983-11-03 | Способ определени коэффициента объемной изотермической упругой сжимаемости полупроводников |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
SU (1) | SU1230307A1 (ru) |
-
1983
- 1983-11-03 SU SU833658810A patent/SU1230307A1/ru active
Non-Patent Citations (1)
Title |
---|
Физический энциклопедический словарь. - К., Советска энциклопеди , 1965, т. 4, с. 518-521.Верещагин Л.Ф., Кабалкина С.С. Рентгеноструктурные исследовани при высоком давлении. - М.: Наука, 1979, с. 27., * |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
MY103510A (en) | A process for rapidly determining the swelling- clay content of earth frmation | |
SU1230307A1 (ru) | Способ определени коэффициента объемной изотермической упругой сжимаемости полупроводников | |
Osaki et al. | The universality of viscoelastic properties of entangled polymeric systems | |
Vila et al. | Improvements of Prakash's method for analyzing ITC peaks | |
SU378763A1 (ru) | Способ определения температурных изменений коэффициента пуассона и модуля юнга | |
RU2166768C2 (ru) | Способ определения диэлектрических характеристик полимеров | |
SU1467489A1 (ru) | Способ поверки средств неразрушающего контрол | |
Sheats et al. | Fluorescence lifetimes in hydrated bovine serum albumin powders | |
SU706802A1 (ru) | Способ измерени временного изменени начальной магнитной проницаемости | |
SU637688A1 (ru) | Устройство дл измерени магнитного пол | |
SU441498A1 (ru) | Дифференциальный осциллометрический способ анализа веществ | |
SU1168871A1 (ru) | Способ измерени поверхностного сопротивлени высокоомного покрыти на диэлектрической подложке | |
SU710007A1 (ru) | Способ измерени распределени носителей зар да в полупроводниках | |
JPS57191566A (en) | Simple measuring method for resistance value | |
SU1509629A1 (ru) | Способ измерени температуры поверхности твердых тел | |
JPS5313967A (en) | Measuring method for characteristic of vibration gauge | |
SU1293553A1 (ru) | Способ определени пластической твердости образцов сферической формы | |
BUCK et al. | Comparison of acoustic and strain gauge techniques for crack closure measurements[Final Report, 17 Apr.- 31 Dec. 1975] | |
SU1384931A1 (ru) | Способ измерени деформации объекта | |
SU574012A1 (ru) | Датчик магнитного пол | |
SU1183911A1 (ru) | Способ проверки ,самобалансирующихся термисторных мостов | |
Pozhela et al. | Contactless Determination of Charge-Carrier Mobility and Concentration in Semiconductors | |
SU857889A1 (ru) | Способ измерени времени релаксации энергии носителей зар да в полупроводниках | |
SU1698719A1 (ru) | Способ измерени электропроводности | |
SU598000A1 (ru) | Устройство дл измерени напр женности магнитного пол |