SU1230307A1 - Способ определени коэффициента объемной изотермической упругой сжимаемости полупроводников - Google Patents

Способ определени коэффициента объемной изотермической упругой сжимаемости полупроводников

Info

Publication number
SU1230307A1
SU1230307A1 SU833658810A SU3658810A SU1230307A1 SU 1230307 A1 SU1230307 A1 SU 1230307A1 SU 833658810 A SU833658810 A SU 833658810A SU 3658810 A SU3658810 A SU 3658810A SU 1230307 A1 SU1230307 A1 SU 1230307A1
Authority
SU
USSR - Soviet Union
Prior art keywords
patterns
same
semiconductors
workforce
development
Prior art date
Application number
SU833658810A
Other languages
English (en)
Inventor
М.И. Даунов
А.Б. Магомедов
А.Э. Рамазанова
Original Assignee
Институт Физики Дагестанского Филиала Ан Ссср
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Институт Физики Дагестанского Филиала Ан Ссср filed Critical Институт Физики Дагестанского Филиала Ан Ссср
Priority to SU833658810A priority Critical patent/SU1230307A1/ru
Application granted granted Critical
Publication of SU1230307A1 publication Critical patent/SU1230307A1/ru

Links

Landscapes

  • Investigating Or Analyzing Materials By The Use Of Electric Means (AREA)

Abstract

СПОСОБ ОПРЕДЕЛЕНИЯ КОЭФФИЦИЕНТА ОБЪЕМНОЙ ИЗОТЕРМИЧЕСКОЙ УПРУГОЙ СЖИМАЕМОСТИ ПОЛУПРОВОДНИКОВ, основанный на измерении параметров полупроводника при всетороннем упругом сжатии, отличающий- с   тем, что, с дельк) упрощени  и расширени  температурного диапазона измерений в примесном сильнолегированном и сильновьфожденном полупроводнике с одним сортом носи"'елей зар да, при всестороннем упругом сжатии измер ют зависимость холлов- ской разности потенциалов от давлени  и определ ют коэффициент объемной изотермической упругой сжимаемости по формулеdVsL ~ы-Г^ =.6.V.где•Jl* - коэффициент объемной изотермической упругой сжимаемости;oi. - отношение изотермических коэффициентов объемной и линейной сжимаемости; dP - интервал давлений; V^ - холловска  разность потенциалов;dV^ - приращение холловской разности потенциалов.(Л

Description

N:)
со
со
sl j12 Изобретение относитс  к полупроводниковой технике и может быть использовано дл  определени  коэффици нта объемной изотермической упругой сжимаемости полупроводниковых материалов . Цель изобретени  - упрощение и расширение температурного диапазона измерений в примесном сильнолегированном и сильновырожденном полупроводнике с одним сортом носителей зар да . Изобретение по сн етс  графиком, на котором приведены зависимости хол ловской разности потенциалов от всестороннего давлени  дл  образцов n-CdSnASj , измеренные при разных тем пературах. Пример. Измерени  проводились на образцах n-CdSnAs.Данные измерений приведены в таблице. Здесь (У - удельна  электропроводность; R - коэффициент Холла; Р - давление; V - холловска  разность потенциалов . На графике приведены зависимости холловской разности потенциалов от всестороннего давлени . Кривые 1 и 2 относ тс  к образцу 2, кривые 3 и 4 - к образцу 4 (таблица). Кривые 2 и 4 получены при 77,6 К, кривые 1,3- при 300 К. Ось I используетс  дл  кривых 1 и 2, ось II - дл  кривых 3 и 4. На основании экспериментальных данных, приведенных вьппе, расчитан коэффициент объемной изотермической упругой сжимаемости ; он равен дл  темперагуры 77,6 К 2 2,71 10 Па , а дл  температуры 300 К1 2,45-10 Па;
SU833658810A 1983-11-03 1983-11-03 Способ определени коэффициента объемной изотермической упругой сжимаемости полупроводников SU1230307A1 (ru)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
SU833658810A SU1230307A1 (ru) 1983-11-03 1983-11-03 Способ определени коэффициента объемной изотермической упругой сжимаемости полупроводников

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
SU833658810A SU1230307A1 (ru) 1983-11-03 1983-11-03 Способ определени коэффициента объемной изотермической упругой сжимаемости полупроводников

Publications (1)

Publication Number Publication Date
SU1230307A1 true SU1230307A1 (ru) 1986-11-30

Family

ID=21087750

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
SU833658810A SU1230307A1 (ru) 1983-11-03 1983-11-03 Способ определени коэффициента объемной изотермической упругой сжимаемости полупроводников

Country Status (1)

Country Link
SU (1) SU1230307A1 (ru)

Non-Patent Citations (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Title
Физический энциклопедический словарь. - К., Советска энциклопеди , 1965, т. 4, с. 518-521.Верещагин Л.Ф., Кабалкина С.С. Рентгеноструктурные исследовани при высоком давлении. - М.: Наука, 1979, с. 27., *

Similar Documents

Publication Publication Date Title
MY103510A (en) A process for rapidly determining the swelling- clay content of earth frmation
SU1230307A1 (ru) Способ определени коэффициента объемной изотермической упругой сжимаемости полупроводников
Osaki et al. The universality of viscoelastic properties of entangled polymeric systems
Vila et al. Improvements of Prakash's method for analyzing ITC peaks
SU378763A1 (ru) Способ определения температурных изменений коэффициента пуассона и модуля юнга
RU2166768C2 (ru) Способ определения диэлектрических характеристик полимеров
SU1467489A1 (ru) Способ поверки средств неразрушающего контрол
Sheats et al. Fluorescence lifetimes in hydrated bovine serum albumin powders
SU706802A1 (ru) Способ измерени временного изменени начальной магнитной проницаемости
SU637688A1 (ru) Устройство дл измерени магнитного пол
SU441498A1 (ru) Дифференциальный осциллометрический способ анализа веществ
SU1168871A1 (ru) Способ измерени поверхностного сопротивлени высокоомного покрыти на диэлектрической подложке
SU710007A1 (ru) Способ измерени распределени носителей зар да в полупроводниках
JPS57191566A (en) Simple measuring method for resistance value
SU1509629A1 (ru) Способ измерени температуры поверхности твердых тел
JPS5313967A (en) Measuring method for characteristic of vibration gauge
SU1293553A1 (ru) Способ определени пластической твердости образцов сферической формы
BUCK et al. Comparison of acoustic and strain gauge techniques for crack closure measurements[Final Report, 17 Apr.- 31 Dec. 1975]
SU1384931A1 (ru) Способ измерени деформации объекта
SU574012A1 (ru) Датчик магнитного пол
SU1183911A1 (ru) Способ проверки ,самобалансирующихся термисторных мостов
Pozhela et al. Contactless Determination of Charge-Carrier Mobility and Concentration in Semiconductors
SU857889A1 (ru) Способ измерени времени релаксации энергии носителей зар да в полупроводниках
SU1698719A1 (ru) Способ измерени электропроводности
SU598000A1 (ru) Устройство дл измерени напр женности магнитного пол