SU1224644A1 - Способ определени числа Френел оптической системы (его варианты) - Google Patents
Способ определени числа Френел оптической системы (его варианты) Download PDFInfo
- Publication number
- SU1224644A1 SU1224644A1 SU843721976A SU3721976A SU1224644A1 SU 1224644 A1 SU1224644 A1 SU 1224644A1 SU 843721976 A SU843721976 A SU 843721976A SU 3721976 A SU3721976 A SU 3721976A SU 1224644 A1 SU1224644 A1 SU 1224644A1
- Authority
- SU
- USSR - Soviet Union
- Prior art keywords
- distance
- loi
- point source
- exit pupil
- maxima
- Prior art date
Links
Landscapes
- Investigating Or Analysing Materials By Optical Means (AREA)
Abstract
Изобретение относитс к области измерительной техники и позвол ет повысить точность измерений. По первому варианту исследуемый объектив освещают точечным источником и регистрируют распределение интенсивности в дифракционной картине вдоль оптической оси. Измер ют рассто ние между минимумами энергии главного и первого положительного максимумов или главного и первого отрицательного максимумов , или двух боковых максимумов и по ним определ ют число Френел . Во втором варианте освешение производ т последовательно на двух длинах волн, а рассто ние измер ют между минимумами энергии каждого из главных дифракционных максимумов . Привод тс формулы дл определени числа Френел в каждом варианте. 2 с.п. ф-лы, 2 ил. к ГС 4;. С
Description
Изобретение относитс к измерительной технике и может быть использовано дл определени числа Френел оптических систем , характеризующего их дифракционное качество, а также позвол ет определ ть р д геометрооптических параметров, таких как диаметр выходного зрачка, его положение и рассто ние от выходного зрачка до параксиального изобретени точечного источника .
Цель изобретени - повьпнение точности опредатени числа Френел оптической системы.
На фиг. 1 приведено схематичное изображение положений дифракционных максимумов в пространстве изображений оптической системы; на фиг. 2 - схема устройства дл реализации предлагаемого способа.
Устройство дл реализации способа содержит передающий блок, в состав которого входит СВЧ-генератор 1 миллиметрового диапазона (например, Г4 104), генератор 2 модулирующего сигнала, аттенюатор 3, излучающа антенна 4, в качестве которой используетс открытый срез волновода, направленный ответвитель 5, волномер 6, детекторна головка 7, осциллограф 8. Кроме того , устройство содержит радиооптическую систему 9. Приемный блок вклЕочает антенну 10 опорного канала (например, в виде пирамидального рупора), и приемную антенну 11, в качестве которой также используетс открытый срез волновода, детекторные головки 12 и 13, селективные усилители 14 и 15, преобразователь 16 напр жени и самописец 17.
Способ реализуетс следующим образом.
СВЧ-сигнал с генератора 1, промодули- рованный по амплитуде низкочастотным сигналом (пор дка 10 кГц) с генератора 2, через направленный ответвитель 5 и аттенюатор 3 поступает в антенну 4 и излучаетс в открытое пространство. Одновременно часть сигнала через направленный ответвитель подаетс на волномер 6. К выходу волномера подключена детекторна головка 7, сигнал с которой поступает в Y-канал осциллографа 8. Эле.менты б, 7, 8 cxe.Miji позвол ют измер ть рабочую длину волны СВЧ-гене- ратора.
Если контролируема оптическа система 9 была рассчитана дл работы на конечных рассто ни х (типа проекционных оптических систем или систем с небольшим увеличением ) то в качестве излучающей антенны 4 можно использовать открытый срез волновода стандартного сечени , раскрыв которого совмещен с плоскостью предметов. В случае проверки систе.мы, рассчитанной на бесконечность (типа фотообъектива), может быть использована антенна в виде пи- рамидаль 1ого рупора с корректирующей линзой, создающа квазиплоскую электромагнитную волну. Радиооптическа система
0
9 фор.мирует изображение точечного источника в виде сложного дифракционного распределени . Вдоль оптической оси с помощью специальной системы сканировани перемещ.аетс приемна антенна 11, также выполненна в виде открытого среза пр моугольного волновода етандартного сечени . С антенны II СВЧ-сигнал поступает на детекторную головку 13 и далее на селективный усилитель 15 (например, У2-6),
Q который настроен на частоту модулирующего сигнала. С выхода усилител низкочастотный сигнал поступает на вход преобразовател 16 напр жени (например, В9-2). На другой вход преобразовател поступает опорный сигнал той же частоты, прощед5 щий через приемную антенну 10, детекторную головку 12 и селективный усилитель 14. С выхода преобразовател напр жени сигнал поступает на вход Y двухкоорди- натного самописца 17, на вход X которого одновременно подаетс сигнал с датчика положени сканирующей системы. Таким образом , перо самописца вычерчивает в выбранном масштабе кривую дифракционного распределени интенсивного вдоль оптической оси. Дальнейшее измерение линейных разме5 ров дифракционных максимумов проводитс на полученном графике с учетом масштабных соотнощений и в зависимости от выбранного варианта способа определени параметров оптической системы. Необходимо отметить , что в первом и втором вариантах спо0 соба измерени провод тс на одной фиксированной частоте (длине волны) СВЧ-сиг- нала. Во втором варианте способа измерени провод т дважды, сначала на одной длине волны, а затем на другой, дл этого в передающем блоке либо мен ют генераторную секцию, либо осуществл ют перестройку напр жений на электродах генераторной лампы.
Измерени проводились по описанной выше схеме (фиг. 2) с использованием пер„ вого и второго вариантов прелагаемого способа . Рабоча длина волны СВЧ-генератора выбрана равной 3,9 мм. Передающа антенна в виде открытого среза пр моугольного волновода сечением 3,6Х .8 мм, располагалась на оптической оси объектива на рас5 сто нии 4960 + 5 мм.
Выбор в качестве объекта измерений плосковыпуклой линзы объ сн тс простотой выполнени контрольных измерений. В этом случае выходной зрачок совпадает
0 с плоской поверхностью линзы и может быть легко измерен с помощью обычной линейки . Контрольные измерени радиуса сферической поверхности проводились с помощью индикатора часового типа, при этом определ лась прогиба в разных точках
- поверхности и полученные данные пересчитывались на искомый радиус. Контрольные измерени дали следуюп ие значени
параметров линзы: радиус выходного зрачка - ai; 295±l мм; радиус сферической поверхности линзы - гк 570±30 мм; фокусное рассто ние линзы Г к 970±90 мм (с учетом того, что показатель преломлени оргстекла при л 3,9 мм равен п 1,59±0,07 рассто ние от выходного зрачка до параксиального изображени точечного источника- R 1200+140 мм. Число Френел , определенное по выборочным средним значени м параметров а, RK и л, равно ,6.
Измерени , проведенные в соответствии с предлагаемым способом, дали следующие результаты: выборочные средние размеры дифракционных максимумов, полученные на основе пр мых изменени , мм: Lo 220;Li 151; L радиус выходного зрачка а и рассто ние от него до параксиального изображени точечного источника R, определенные косвенным способом: в соответствии с первым вариантом способа R 1094 мм, а 293 мм в соответствии с вариантом R 1114 мм, а 298 мм.
Полученные значени параметров а и R хорошо согласуютс со средними выборочными значени ми этих параметров, определенными при контрольных измерени х.
Claims (2)
1. Способ определени числа Френел оптической системы преимущественно в миллиметровом и субмиллиметровом диапазонах включающий операции освещени точечным источником исследуемого объектива и регистрацию распределени энергии в дифракционной картине вдоль оптической оси, отличающийс тем, что, с целью повыщени точности , измер ют рассто ние между минимумами энергии главного максимума (Lo) и первого положительного (Li) или главного (Lo) и первого отрицательного (Li) или двух боковых максимумов Li, Ь-1)и по найденным значени м определ ют число Френел N по формуле
м а IR
где а - радиус выходного зрачка оптической
системы;
R -рассто ние от выходного зрачка до параксиального изображени точечного источника; длина волны, причем
Vl2XLoL i(L+Li: (2Li-Lo)
р 6LnLi(Lo-f LI) (2L, -Lo)(Lo+4L.,
или
г, „ dl2}.LoL i(Lo-f LI (Lo-2L,)
R - 6Lo L 1 (Lp-j-L
Lo-f4L i) (Lo-2L,
или
/;.6Ld 3(L, + L-,)-f
a
(L, + L,)432L, Li) или
p6Li
-L.-L,
2. Способ определени числа Френел оптической системы преимущественно в миллиметровом и субмиллиметровом диапазонах , включающий операции освещени точечным источником исследуемого объектива и регистрацию распределени энергии в дифракционной картине вдоль оптической оси, отличающийс тем, что, с целью повышени точности, освещение производ т последовательно на двух длинах волн, измер ют рассто ние между миниумами энергии каждого из главных дифракционных мак- си.мумов (Loi, Lo2) и по найденным значени м определ ют число Френел Н по формуле
а
г
P.R
где а - радиус выходного зрачка оптической
системы;
R -рассто ние от выходного зрачка до параксиаьного изображени точечного источника; X -длина волны, при чем
л
LOI Lo2(/v2-Xl) , LOI/-2p , H
, LOI Lo2 { / 2 - A| ) „
r Q
.AiA2( LOI АЗ) (Lo2A2- LoAi) гдеЛ|И.2 - два соседних значени длин
волн.
фиг.1
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
SU843721976A SU1224644A1 (ru) | 1984-04-02 | 1984-04-02 | Способ определени числа Френел оптической системы (его варианты) |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
SU843721976A SU1224644A1 (ru) | 1984-04-02 | 1984-04-02 | Способ определени числа Френел оптической системы (его варианты) |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
SU1224644A1 true SU1224644A1 (ru) | 1986-04-15 |
Family
ID=21111768
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
SU843721976A SU1224644A1 (ru) | 1984-04-02 | 1984-04-02 | Способ определени числа Френел оптической системы (его варианты) |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
SU (1) | SU1224644A1 (ru) |
-
1984
- 1984-04-02 SU SU843721976A patent/SU1224644A1/ru active
Non-Patent Citations (1)
Title |
---|
Афанасьев В. А. Оптические измерени .-М.-.Высша школа, 1981, с. 148-151. Авторское свидетельство СССР № 706690, кл. G 01 В 11/02, 1979. * |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
SU1224644A1 (ru) | Способ определени числа Френел оптической системы (его варианты) | |
US3220003A (en) | Detector for varying carrier frequency signals | |
US4558948A (en) | Process and apparatus for measuring wave surface distortions introduced by an optical system | |
US4176954A (en) | Equipment for measuring the length of dielectric elements transmitting optical frequencies | |
SU1134919A2 (ru) | Устройство дл определени диаграммы направленности антенны | |
SU1597655A1 (ru) | Способ определени разрешающей способности оптической системы | |
SU1663576A1 (ru) | Способ определени коэффициента отражени материала | |
JPH07230895A (ja) | 電子密度計測装置 | |
SU822073A1 (ru) | Анализатор спектра радиосигналов | |
JP2585263B2 (ja) | フイルム画像読取装置 | |
SU861936A1 (ru) | Способ измерени поперечных размеров и глубины щели в объектах | |
SU868496A1 (ru) | Способ измерени флуктуаций угла прихода излучени | |
SU415614A1 (ru) | ||
SU1377690A1 (ru) | Устройство дл измерени влажности материалов | |
RU1779912C (ru) | Бесконтактный способ измерени толщины нефт ной пленки на поверхности воды | |
SU1231411A1 (ru) | Оптико-электронное устройство дл измерени амплитуд акустических колебаний поверхности | |
SU1427196A1 (ru) | Способ определени числа Френел оптической системы | |
SU1733973A1 (ru) | Способ измерени концентрации частиц в газе и устройство дл его осуществлени | |
SU1073639A1 (ru) | Способ измерени структурной посто нной показател преломлени атмосферы | |
SU1749838A1 (ru) | Зондирующее устройство | |
RU170734U1 (ru) | Резонаторное устройство измерения модуля и фазы коэффициента отражения листовых материалов | |
SU1732314A1 (ru) | Способ определени параметров планарного оптического волновода | |
SU1346985A1 (ru) | Устройство дл бесконтактного измерени механических резонансных частот | |
SU1402960A1 (ru) | Акустооптический спектроанализатор-частотомер с временным интегрированием | |
SU789870A1 (ru) | Анализатор спектра на ультразвуковых поверхностных волнах |