SU1224644A1 - Способ определени числа Френел оптической системы (его варианты) - Google Patents

Способ определени числа Френел оптической системы (его варианты) Download PDF

Info

Publication number
SU1224644A1
SU1224644A1 SU843721976A SU3721976A SU1224644A1 SU 1224644 A1 SU1224644 A1 SU 1224644A1 SU 843721976 A SU843721976 A SU 843721976A SU 3721976 A SU3721976 A SU 3721976A SU 1224644 A1 SU1224644 A1 SU 1224644A1
Authority
SU
USSR - Soviet Union
Prior art keywords
distance
loi
point source
exit pupil
maxima
Prior art date
Application number
SU843721976A
Other languages
English (en)
Inventor
Сергей Станиславович Каземирчук
Константин Иванович Крылов
Сергей Александрович Смирнов
Original Assignee
Ленинградский Ордена Трудового Красного Знамени Институт Точной Механики И Оптики
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Ленинградский Ордена Трудового Красного Знамени Институт Точной Механики И Оптики filed Critical Ленинградский Ордена Трудового Красного Знамени Институт Точной Механики И Оптики
Priority to SU843721976A priority Critical patent/SU1224644A1/ru
Application granted granted Critical
Publication of SU1224644A1 publication Critical patent/SU1224644A1/ru

Links

Landscapes

  • Investigating Or Analysing Materials By Optical Means (AREA)

Abstract

Изобретение относитс  к области измерительной техники и позвол ет повысить точность измерений. По первому варианту исследуемый объектив освещают точечным источником и регистрируют распределение интенсивности в дифракционной картине вдоль оптической оси. Измер ют рассто ние между минимумами энергии главного и первого положительного максимумов или главного и первого отрицательного максимумов , или двух боковых максимумов и по ним определ ют число Френел . Во втором варианте освешение производ т последовательно на двух длинах волн, а рассто ние измер ют между минимумами энергии каждого из главных дифракционных максимумов . Привод тс  формулы дл  определени  числа Френел  в каждом варианте. 2 с.п. ф-лы, 2 ил. к ГС 4;. С

Description

Изобретение относитс  к измерительной технике и может быть использовано дл  определени  числа Френел  оптических систем , характеризующего их дифракционное качество, а также позвол ет определ ть р д геометрооптических параметров, таких как диаметр выходного зрачка, его положение и рассто ние от выходного зрачка до параксиального изобретени  точечного источника .
Цель изобретени  - повьпнение точности опредатени  числа Френел  оптической системы.
На фиг. 1 приведено схематичное изображение положений дифракционных максимумов в пространстве изображений оптической системы; на фиг. 2 - схема устройства дл  реализации предлагаемого способа.
Устройство дл  реализации способа содержит передающий блок, в состав которого входит СВЧ-генератор 1 миллиметрового диапазона (например, Г4 104), генератор 2 модулирующего сигнала, аттенюатор 3, излучающа  антенна 4, в качестве которой используетс  открытый срез волновода, направленный ответвитель 5, волномер 6, детекторна  головка 7, осциллограф 8. Кроме того , устройство содержит радиооптическую систему 9. Приемный блок вклЕочает антенну 10 опорного канала (например, в виде пирамидального рупора), и приемную антенну 11, в качестве которой также используетс  открытый срез волновода, детекторные головки 12 и 13, селективные усилители 14 и 15, преобразователь 16 напр жени  и самописец 17.
Способ реализуетс  следующим образом.
СВЧ-сигнал с генератора 1, промодули- рованный по амплитуде низкочастотным сигналом (пор дка 10 кГц) с генератора 2, через направленный ответвитель 5 и аттенюатор 3 поступает в антенну 4 и излучаетс  в открытое пространство. Одновременно часть сигнала через направленный ответвитель подаетс  на волномер 6. К выходу волномера подключена детекторна  головка 7, сигнал с которой поступает в Y-канал осциллографа 8. Эле.менты б, 7, 8 cxe.Miji позвол ют измер ть рабочую длину волны СВЧ-гене- ратора.
Если контролируема  оптическа  система 9 была рассчитана дл  работы на конечных рассто ни х (типа проекционных оптических систем или систем с небольшим увеличением ) то в качестве излучающей антенны 4 можно использовать открытый срез волновода стандартного сечени , раскрыв которого совмещен с плоскостью предметов. В случае проверки систе.мы, рассчитанной на бесконечность (типа фотообъектива), может быть использована антенна в виде пи- рамидаль 1ого рупора с корректирующей линзой, создающа  квазиплоскую электромагнитную волну. Радиооптическа  система
0
9 фор.мирует изображение точечного источника в виде сложного дифракционного распределени . Вдоль оптической оси с помощью специальной системы сканировани  перемещ.аетс  приемна  антенна 11, также выполненна  в виде открытого среза пр моугольного волновода етандартного сечени . С антенны II СВЧ-сигнал поступает на детекторную головку 13 и далее на селективный усилитель 15 (например, У2-6),
Q который настроен на частоту модулирующего сигнала. С выхода усилител  низкочастотный сигнал поступает на вход преобразовател  16 напр жени  (например, В9-2). На другой вход преобразовател  поступает опорный сигнал той же частоты, прощед5 щий через приемную антенну 10, детекторную головку 12 и селективный усилитель 14. С выхода преобразовател  напр жени  сигнал поступает на вход Y двухкоорди- натного самописца 17, на вход X которого одновременно подаетс  сигнал с датчика положени  сканирующей системы. Таким образом , перо самописца вычерчивает в выбранном масштабе кривую дифракционного распределени  интенсивного вдоль оптической оси. Дальнейшее измерение линейных разме5 ров дифракционных максимумов проводитс  на полученном графике с учетом масштабных соотнощений и в зависимости от выбранного варианта способа определени  параметров оптической системы. Необходимо отметить , что в первом и втором вариантах спо0 соба измерени  провод тс  на одной фиксированной частоте (длине волны) СВЧ-сиг- нала. Во втором варианте способа измерени  провод т дважды, сначала на одной длине волны, а затем на другой, дл  этого в передающем блоке либо мен ют генераторную секцию, либо осуществл ют перестройку напр жений на электродах генераторной лампы.
Измерени  проводились по описанной выше схеме (фиг. 2) с использованием пер„ вого и второго вариантов прелагаемого способа . Рабоча  длина волны СВЧ-генератора выбрана равной 3,9 мм. Передающа  антенна в виде открытого среза пр моугольного волновода сечением 3,6Х .8 мм, располагалась на оптической оси объектива на рас5 сто нии 4960 + 5 мм.
Выбор в качестве объекта измерений плосковыпуклой линзы объ сн тс  простотой выполнени  контрольных измерений. В этом случае выходной зрачок совпадает
0 с плоской поверхностью линзы и может быть легко измерен с помощью обычной линейки . Контрольные измерени  радиуса сферической поверхности проводились с помощью индикатора часового типа, при этом определ лась прогиба в разных точках
- поверхности и полученные данные пересчитывались на искомый радиус. Контрольные измерени  дали следуюп ие значени 
параметров линзы: радиус выходного зрачка - ai; 295±l мм; радиус сферической поверхности линзы - гк 570±30 мм; фокусное рассто ние линзы Г к 970±90 мм (с учетом того, что показатель преломлени  оргстекла при л 3,9 мм равен п 1,59±0,07 рассто ние от выходного зрачка до параксиального изображени  точечного источника- R 1200+140 мм. Число Френел , определенное по выборочным средним значени м параметров а, RK и л, равно ,6.
Измерени , проведенные в соответствии с предлагаемым способом, дали следующие результаты: выборочные средние размеры дифракционных максимумов, полученные на основе пр мых изменени , мм: Lo 220;Li 151; L радиус выходного зрачка а и рассто ние от него до параксиального изображени  точечного источника R, определенные косвенным способом: в соответствии с первым вариантом способа R 1094 мм, а 293 мм в соответствии с вариантом R 1114 мм, а 298 мм.
Полученные значени  параметров а и R хорошо согласуютс  со средними выборочными значени ми этих параметров, определенными при контрольных измерени х.

Claims (2)

1. Способ определени  числа Френел  оптической системы преимущественно в миллиметровом и субмиллиметровом диапазонах включающий операции освещени  точечным источником исследуемого объектива и регистрацию распределени  энергии в дифракционной картине вдоль оптической оси, отличающийс  тем, что, с целью повыщени  точности , измер ют рассто ние между минимумами энергии главного максимума (Lo) и первого положительного (Li) или главного (Lo) и первого отрицательного (Li) или двух боковых максимумов Li, Ь-1)и по найденным значени м определ ют число Френел  N по формуле
м а IR
где а - радиус выходного зрачка оптической
системы;
R -рассто ние от выходного зрачка до параксиального изображени  точечного источника; длина волны, причем
Vl2XLoL i(L+Li: (2Li-Lo)
р 6LnLi(Lo-f LI) (2L, -Lo)(Lo+4L.,
или
г, „ dl2}.LoL i(Lo-f LI (Lo-2L,)
R - 6Lo L 1 (Lp-j-L
Lo-f4L i) (Lo-2L,
или
/;.6Ld 3(L, + L-,)-f
a
(L, + L,)432L, Li) или
p6Li
-L.-L,
2. Способ определени  числа Френел  оптической системы преимущественно в миллиметровом и субмиллиметровом диапазонах , включающий операции освещени  точечным источником исследуемого объектива и регистрацию распределени  энергии в дифракционной картине вдоль оптической оси, отличающийс  тем, что, с целью повышени  точности, освещение производ т последовательно на двух длинах волн, измер ют рассто ние между миниумами энергии каждого из главных дифракционных мак- си.мумов (Loi, Lo2) и по найденным значени м определ ют число Френел  Н по формуле
а
г
P.R
где а - радиус выходного зрачка оптической
системы;
R -рассто ние от выходного зрачка до параксиаьного изображени  точечного источника; X -длина волны, при чем
л
LOI Lo2(/v2-Xl) , LOI/-2p , H
, LOI Lo2 { / 2 - A| ) „
r Q
.AiA2( LOI АЗ) (Lo2A2- LoAi) гдеЛ|И.2 - два соседних значени  длин
волн.
фиг.1
SU843721976A 1984-04-02 1984-04-02 Способ определени числа Френел оптической системы (его варианты) SU1224644A1 (ru)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
SU843721976A SU1224644A1 (ru) 1984-04-02 1984-04-02 Способ определени числа Френел оптической системы (его варианты)

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
SU843721976A SU1224644A1 (ru) 1984-04-02 1984-04-02 Способ определени числа Френел оптической системы (его варианты)

Publications (1)

Publication Number Publication Date
SU1224644A1 true SU1224644A1 (ru) 1986-04-15

Family

ID=21111768

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
SU843721976A SU1224644A1 (ru) 1984-04-02 1984-04-02 Способ определени числа Френел оптической системы (его варианты)

Country Status (1)

Country Link
SU (1) SU1224644A1 (ru)

Non-Patent Citations (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Title
Афанасьев В. А. Оптические измерени .-М.-.Высша школа, 1981, с. 148-151. Авторское свидетельство СССР № 706690, кл. G 01 В 11/02, 1979. *

Similar Documents

Publication Publication Date Title
SU1224644A1 (ru) Способ определени числа Френел оптической системы (его варианты)
US3220003A (en) Detector for varying carrier frequency signals
US4558948A (en) Process and apparatus for measuring wave surface distortions introduced by an optical system
US4176954A (en) Equipment for measuring the length of dielectric elements transmitting optical frequencies
SU1134919A2 (ru) Устройство дл определени диаграммы направленности антенны
SU1597655A1 (ru) Способ определени разрешающей способности оптической системы
SU1663576A1 (ru) Способ определени коэффициента отражени материала
JPH07230895A (ja) 電子密度計測装置
SU822073A1 (ru) Анализатор спектра радиосигналов
JP2585263B2 (ja) フイルム画像読取装置
SU861936A1 (ru) Способ измерени поперечных размеров и глубины щели в объектах
SU868496A1 (ru) Способ измерени флуктуаций угла прихода излучени
SU415614A1 (ru)
SU1377690A1 (ru) Устройство дл измерени влажности материалов
RU1779912C (ru) Бесконтактный способ измерени толщины нефт ной пленки на поверхности воды
SU1231411A1 (ru) Оптико-электронное устройство дл измерени амплитуд акустических колебаний поверхности
SU1427196A1 (ru) Способ определени числа Френел оптической системы
SU1733973A1 (ru) Способ измерени концентрации частиц в газе и устройство дл его осуществлени
SU1073639A1 (ru) Способ измерени структурной посто нной показател преломлени атмосферы
SU1749838A1 (ru) Зондирующее устройство
RU170734U1 (ru) Резонаторное устройство измерения модуля и фазы коэффициента отражения листовых материалов
SU1732314A1 (ru) Способ определени параметров планарного оптического волновода
SU1346985A1 (ru) Устройство дл бесконтактного измерени механических резонансных частот
SU1402960A1 (ru) Акустооптический спектроанализатор-частотомер с временным интегрированием
SU789870A1 (ru) Анализатор спектра на ультразвуковых поверхностных волнах