SU1663576A1

SU1663576A1 - Способ определени коэффициента отражени материала

Info

Publication number: SU1663576A1
Application number: SU894620829A
Authority: SU
Inventors: Герман Анатольевич Ведюшкин
Priority date: 1989-10-28
Filing date: 1989-10-28
Publication date: 1991-07-15

Abstract

Изобретение относитс к технике измерений на СВЧ. Цель изобретени - повышение точности измерений коэффициента отражени (КО) материала, КО которого близок к единице. Дл этого колебани СВЧ-генератора 1, пройд первый интерферометр, образованный передающей антенной 2 и образцом 3, одновременно выполн ющим роль коллиматора, проход т по образцу 4, име плоский фронт волны и многочисленные узкие полосы пропускани . Пройд через второй интерферометр, образованный образцами 3 и 4, к приемной антенне 5 подойдет плоский фронт волны и спектр с большим свободным спектральным интервалом, т.е. с малым числом полос. Этот сигнал поступает на индикатор 6, где производитс измерение ширины отфильтрованной интерферометрами полосы пропускани системы, с помощью которой по формуле определ етс КО. 1 ил.

Description

Изобретение относитс к технике измерений на СВЧ, может использоватьс дл измерени коэффициента отражени листовых материалов в свободном пространстве и регул рных волноводах.

Цель изобретени - повышение точности измерений коэффициента отражени материала, коэффициент отражени которого близок к единице.

На чертеже приведена структурна электрическа схема устройства, реализующего способ определени коэффициента отражени материала

Устройство содержит генератор 1 СВЧ, сферическую передающую антенну 2, первый плоский образец 3 исследуемого материала , помещенный на половине фокусного рассто ни передающей антенны 2, второй плоский образец 4 исследуемого материала,

приемную антенну 5, индикатор 6, например панорамный рефлектометр.

Способ определени коэффициента отражени материала реализуетс следующим образом.

Колебани генератора 1, пройд первый интерферометр, образованный передающей антенной 2 и образцом 3, одновременно выполн ющим роль коллиматора, проход т к образцу 4, име плоский фронт волны и многочисленные узкие полосы пропускани . Пройд через второй интерферометр , образованный образцами 3 и 4. к приемной антенне 5 подойдет плоский фронт волны и спектр с большим свободным спектральным интервалом (рассто нием между полосами пропускани ), т.е с мапым числом полос, например одной полосой в диапазоне частот рефлектометра

О

о со ел

4 О

Этот сигнал поступит на индикатор б, где будет произведено измерение ширины отфильтрованной интерферометрии полосы пропускани системы, по которой будет определен коэффициент отражени по форму- ле,

, KgAVd .pcatf-d2 ;

Х1.2-Л2

где R Xi,22 при Xi.2 1 - коэффициент отражени по мощности;

1 1 б Я С (т5- - т-) полоса пропускани ;

ЧТ1 Т2

f 1 и fa - частоты на уровне трех децибелл слева и справа от максимума;

d - рассто ние между образцами;

РЈ коэффициент отражени материала по напр жению;

Л,-длина волны;

с - скорость света.

Система обладает избирательными свойствами, обеспечива высокую точность измерений.

Claims

Формула изобретени

Способ определени коэффициента от- ражени материала, заключающийс в облучении плоского образца исследуемого материала плоской электромагнитной волной с помощью передающей антенны, отличающийс тем, что, с целью повышени точности измерений коэффициента отражени материала, коэффициент отражени которого близок к единице, плоский образец

2 3

исследуемого материала устанавливают на рассто нии, равном половине фокусного рассто ни передающей антенны, перемещают плоский образец исследуемого материала вдоль оптической оси передающей антенны до получени максимального отношени сигнал/шум и минимального числа полос пропускани , затем параллельно плоскому образцу исследуемого материала на рассто нии от него, равном нескольким длинам волн, устанавливают дополнительный плоский образец исследуемого материала, перемещают его вдоль оптической оси передающей антенны до получени максимального отношени сигнал/шум и минимального числа полос пропускани , измер ют ширину полосы пропускани по уровню трех децибелл и определ ют коэффициент отражени материала по формуле

6 Ipw rdr77.

л:(дЯ) Xi.2 -Я2

где R Xi,2 . при Xi.2 1 - коэффициент отражени по мощности;

1 1

(5 А С (т- - т-) полоса пропускани ; 41 12

f I, f2 - частоты на уровне трех децибелл слева и справа от максимума:

рЕ - VR- коэффициент отражени материала по.напр жению;

d - рассто ние между образцами;

Я - длина волны;

с - скорость света.